Académique Documents
Professionnel Documents
Culture Documents
Sommaire .............................................................................................................................. 2
Introduction ........................................................................................................................... 5
Aperçu............................................................................................................................ 5
Défis liés à la conception ................................................................................................ 5
Pré-requis pour le TP ..................................................................................................... 5
Section 0 : Introduction à l’acquisition de données ................................................................ 6
Principe .......................................................................................................................... 6
Exercice 0 : mesure de température avec LabVIEW et ELVIS ........................................... 7
Objectif ........................................................................................................................... 7
Conception ..................................................................................................................... 7
Procédure....................................................................................................................... 8
Génération analogique................................................................................................ 8
Acquisition analogique ................................................................................................ 9
Mise à l’échelle et affichage des données ..................................................................11
Cadencement et condition d’arrêt ..............................................................................12
Défi ............................................................................................................................13
Interface Homme-Machine ............................................................................................13
Mesure de température avec NI ELVIS et une thermistance .........................................13
Section 1 : saisie de schémas ..............................................................................................14
NI Multisim ....................................................................................................................14
Design Toolbox ..........................................................................................................14
Spreadsheet View......................................................................................................15
Composants ..................................................................................................................15
Barres de menus des composants .............................................................................16
Navigateur de composants ........................................................................................17
Câblage .........................................................................................................................17
Câblage automatique par broches de composants ....................................................19
Connexion automatique .............................................................................................19
Exercice 1 : saisie de schémas .........................................................................................21
Objectifs ........................................................................................................................21
Conception ....................................................................................................................21
Procédure......................................................................................................................21
A. Saisie ..................................................................................................................21
2
B. Câblage ..............................................................................................................25
Fin de l’exercice - ..........................................................................................................25
Section 2 : simulation de circuits ..........................................................................................26
Aperçu...........................................................................................................................26
L’approche de la simulation avec Multisim.....................................................................26
Barre de menus de simulation ...................................................................................26
Instruments virtuels .......................................................................................................27
Barre de menus d’instruments ...................................................................................27
L’oscilloscope ............................................................................................................28
L’analyseur de Bode (gain/phase)..............................................................................28
Générateur de fonctions ............................................................................................29
Sondes de mesures ...................................................................................................29
Instruments NI ELVIS II .............................................................................................30
Analyses .......................................................................................................................30
Aperçu .......................................................................................................................30
Grapher .........................................................................................................................31
Exercice 2A : simulation de circuits ...................................................................................32
Objectifs ........................................................................................................................32
Conception ....................................................................................................................32
Procédure......................................................................................................................32
Fin de l’exercice – .........................................................................................................36
Exercice 2B : analyses SPICE ..........................................................................................37
Objectif ..........................................................................................................................37
Conception ....................................................................................................................37
Procédure......................................................................................................................37
Utilisation d’une sonde de mesure .................................................................................40
Travailler avec l’outil Grapher ........................................................................................42
Fin de l’exercice - ..........................................................................................................45
Section 3 : Prototypage et mesures ......................................................................................46
Aperçu...........................................................................................................................46
Prototypage avec NI ELVIS ...........................................................................................48
Exercice 3 : Prototypage virtuel 3D ...................................................................................50
Objectif ..........................................................................................................................50
Conception ....................................................................................................................50
Procédure......................................................................................................................50
Fin de l’exercice - ..........................................................................................................56
Section 4 : Comparaison entre mesures et simulations ........................................................57
Aperçu...........................................................................................................................57
LabVIEW SignalExpress ...............................................................................................57
3
LabVIEW et NI ELVISmx ...............................................................................................58
Instruments NI ELVIS ................................................................................................58
Exercice 4 : Comparaison entre mesures et simulation .....................................................59
Objectif ..........................................................................................................................59
Conception ....................................................................................................................59
Procédure......................................................................................................................59
Validation du fonctionnement en mode transitoire......................................................59
Validation de la fréquence .........................................................................................61
Comparaisons............................................................................................................62
Fin de l’exercice - ..........................................................................................................63
Section 5 : Co-simulation analogique/numérique ..................................................................64
Aperçu...........................................................................................................................64
Capacités de co-simulation des moteurs de LabVIEW et Multisim .............................64
Exercice 5 : Co-simulation avec Multisim et Multisim ........................................................65
Objectif ..........................................................................................................................65
Procédure......................................................................................................................65
Création d’un circuit analogique dans Multisim ..........................................................65
Création d’un contrôleur numérique dans LabVIEW ..................................................69
Effectuer une co-simulation entre LabVIEW et Multisim ................................................78
Fin de l’exercice - ..........................................................................................................79
Conclusion ....................................................................................................................79
Annexe A – Instruments and Analyses in Multisim ...............................................................80
Multisim Instruments ..................................................................................................80
Multisim Analyses ......................................................................................................81
4
Introduction
Aperçu
Ce cours est conçu pour fournir une initiation à la plate-forme National Instruments
d’enseignement de l’électronique. La plate-forme NI d’enseignement de l’électronique est
une combinaison unique d’outils incluant le logiciel de saisie de schéma et de simulation
SPICE (Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis), NI Multisim, la plate-forme de
conception et de prototypage de circuits NI ELVIS, l’environnement de conception graphique
NI LabVIEW et NI LabVIEW SignalExpress, logiciel de mesure interactive.
Les exercices de ce cours sont conçus sous forme de projet. Chaque exercice est une étape
du processus de conception. Le projet consiste à concevoir un filtre passe-bande à l’aide
d’un amplificateur opérationnel 741.
Dans les exercices, Multisim est utilisé pour saisir le schéma du filtre et en étudier les
caractéristiques telles que le gain et la bande passante à l’aide de la simulation.
L’environnement de simulation 3D sera aussi étudié notamment pour le prototypage d’un
circuit sur une carte de prototypage en 3D. Avec le laboratoire intégré NI ELVIS ou NI ELVIS
II (National Instruments Educational Laboratory Virtual Instrumentation Suite), vous pouvez
prototyper le circuit et en mesurer les caractéristiques. La dernière étape consistera à
comparer le comportement du circuit dans un environnement réel avec les résultats de la
simulation effectuée avec NI Multisim. La Figure 1 montre les différentes étapes du processus
de conception et les exercices correspondants.
Pré-requis pour le TP
5
Section 0 : Introduction à l’acquisition de données
Avant de vous lancer dans la conception et la validation de schéma à l’aide de NI Multisim et
de la plate-forme ELVIS, nous allons d’abord présenter une méthode simple d’effectuer une
acquisition de données à l’aide de LabVIEW.
Plus tard, durant cette session de travaux pratiques, une autre méthode d’acquisition de
données vous sera présentée afin d’établir une correspondance entre simulation et mesure.
Dans cette section, la plateforme ELVIS sera utilisée afin de réaliser, avec un
conditionnement de signal minimal, une mesure de température. Ainsi, grâce à cette mesure
analogique, aux principes de conception et validation de circuit et à l’utilisation de la co-
simulation LabVIEW-Multisim, vous aurez une vue globale des fonctionnalités de la
plateforme de conception de circuit de National Instruments.
Principe
Au cours de cette section, une mesure de température sera réalisée. Afin de limiter le
conditionnement de signal nécessaire au maximum, et d’établir une mesure simple à
effectuer avec NI ELVIS, une thermistance est utilisée comme capteur.
Le montage est déjà réalisé sur la plateforme de prototypage. Avant de créer le programme
permettant, dans LabVIEW, d’obtenir une mesure précise de température, nous allons
revenir sur la théorie permettant de convertir la variation de résistance de la thermistance en
variation de température.
Une thermistance de type CNT (Coefficient de Température Négatif), comme celle utilisée
ici, peut être caractérisée de façon simplifiée en prenant les coefficients suivants :
D’où :
6
Notre montage électrique est le suivant :
Donc :
et
En identifiant, on obtient :
Objectif
Conception
Pour faire fonctionner la thermistance, il faut fournir une tension d’excitation. Le VI que vous
allez créer va donc avoir deux objectifs : générer une tension d’excitation sur la source
variable de NI ELVIS et mesurer sur la voie AI3 la tension aux bornes de la résistance fixe
du pont diviseur de tension.
7
Procédure
Il existe plusieurs méthodes pour générer et acquérir des signaux avec le matériel DAQ et
ELVIS de National Instruments. Il est possible d’utiliser des fonctions de bas niveaux qu’il est
nécessaire de paramétrer ou des fonctions de haut niveau qu’on peut configurer via des
boîtes de dialogue.
Ici, puisqu’il n’y a pas besoin de paramétrer les fonctions de façon très précise (comme
lorsqu’on souhaite personnaliser une synchronisation de plusieurs cartes), vous allez utiliser
un VI Express de haut niveau qui sera plus simple et plus rapide à configurer.
Génération analogique
1. Dans LabVIEW, ouvrez un nouveau VI : Fichier » Nouveau VI
c. Faites un clic gauche sur la Boucle While dans la palette puis placez la sur le
diagramme en dessinant un rectangle.
f. Faites un clic droit sur l’entrée Device Name et choisissez Créer » Commande.
g. Renommez la commande Alias ELVIS.
h. Faites alors un clic droit sur l’entrée Supply+ (V) et choisissez Créer » Constante.
i. Entrez la valeur 1 dans la constante.
Acquisition analogique
1. Faites un clic droit sur le diagramme pour afficher la palette de fonction.
9
Figure E0- 4. Emplacement de l’assistant DAQ
c. Dans la fenêtre qui s’ouvre alors, choisissez Acquérir des signaux »Entrée
analogique » Tension
d. Choisissez ensuite, dans la boîte de dialogue, votre ELVIS (par défaut Dev1) et la
voie de mesure à utiliser : AI3 (qui est déjà câblée sur la platine de prototypage).
e. Cliquez sur Terminer
f. Dans la fenêtre qui s’ouvre alors, changez le mode d’acquisition : Dans la partie
Paramètres de cadencement, choisissez 1 échantillon (sur demande) comme
mode de cadencement (voir Figure E0- 5).
11
a. Dans la palette de fonctions (clic droit sur le diagramme pour la faire apparaître)
cliquez sur sélectionner un VI puis naviguez sur le disque dur jusqu’à l’endroit
indiqué par votre formateur.
b. Déposez le VI sur votre diagramme.
c. Connectez alors la constante Supply+ (V) à l’entrée Vi du VI Echelle Thermistor.
d. Connectez la sortie Scalaire du VI Convertir des données dynamiques à l’entrée
Vs du VI Echelle Thermistor.
e. Faites un clic droit sur les 3 autres entrées du VI Echelle Thermistor (R0, Rb et B
value) et sélectionnez à chaque fois Créer » Constante. Compte tenu de la
thermistance utilisée et du montage, les valeurs de ces constantes doivent être :
R0 : 10000
Rb : 1000
B value : 3450
Si besoin, modifiez les valeurs pour qu’elles correspondent à cela.
f. Faites enfin un clic droit sur la sortie Temperature Deg C et choisissez Créer »
Indicateur.
Vous pouvez explorer le Sous-VI afin de voir comment l’équation a été implémentée.
Refermez ensuite le VI sans le modifier ni le sauvegarder.
12
Figure E0- 9. Diagramme final du VI
Défi
Cette partie est facultative. Si vous souhaitez voir une implémentation possible, vous pouvez
ouvrir le VI de solution.
Interface Homme-Machine
Vous avez pu, durant cet exercice, réaliser une acquisition de données simple à l’aide des VI
Express de LabVIEW et de la plate-forme NI ELVIS.
13
Section 1 : saisie de schémas
NI Multisim
L’interface utilisateur NI Multisim est composée d’éléments standards illustrés dans la figure
ci-dessous.
Design Toolbox
Utilisez la Design Toolbox (boîte à outils de conception) pour gérer les différents éléments
du schéma. À l’aide de l’onglet Visibility situé en bas de la toolbox, vous pouvez
sélectionner le calque que vous souhaitez rendre visible sur la feuille de travail. L’onglet
Hierarchy contient une arborescence indiquant les dépendances des différents fichiers
ouverts. L’onglet Project indique des informations concernant le projet en cours. Vous
pouvez ajouter de nouveaux fichiers au projet en cours, gérer et accéder aux fichiers ou
archiver des circuits.
14
Spreadsheet View
Avec la Spreadsheet View, vous pouvez facilement visualiser et éditer les paramètres de
votre montage à savoir les détails concernant le composant comme les empreintes, les
informations relatives aux concepteurs, les contraintes de conception, les attributs. Cette vue
fournit aussi des informations générales concernant les propriétés de vos objets.
Composants
Les composants de la base de données constituent la base de tout circuit. Tout ce qui peut
être placé sur votre schéma peut être considéré comme étant un composant. Multisim définit
deux catégories de composants : les composants réels et les composants virtuels. Il est
important de comprendre la différence entre ces deux types de composants pour tirer
pleinement parti de leurs avantages.
Les composants réels peuvent être différenciés des composants virtuels notamment par le
fait qu’ils ont une valeur spécifique qui ne peut être modifiée de même qu’une empreinte
PCB réelle.
15
Barres de menus des composants
Avec la barre de menus des composants de Multisim, vous pouvez rapidement et facilement
placer les composants les plus communément utilisés pour créer votre circuit. Il existe
plusieurs barres de menus disponibles. La barre de menus des composants donne accès à
plusieurs catégories de composants telles que les composants numériques, analogiques ou
des composants passifs comme des résistances et des condensateurs. La barre de menus
des composants présentée en
Figure 4 est visible par défaut.
Multisim fournit aussi une barre de menus pour le placement direct de composants tels que
des résistances, des condensateurs et des sources de courant. Les barres de menus de
composants basiques ne sont pas affichées par défaut. Vous pouvez constituer votre
propre barre de menus visible en cliquant sur son nom dans le menu View » Toolbars. Les
Figure 5 et Figure 6 illustrent les barres de menus que vous pouvez utiliser pour le
placement direct de composants.
Depuis Multisim 10.1, les instruments NI ELVIS sont accessibles à partir de la barre
d’instruments NI ELVISmx. Ces instruments NI ELVISmx permettent à l’utilisateur d’intégrer
des instruments virtuels dans le schéma et d’accéder à leur face-avant.
16
Navigateur de composants
Utilisez le navigateur de composants pour sélectionner les composants d’un circuit. Pour
accéder au navigateur de composants, cliquez sur n’importe quelle icône dans la barre de
menus des composants ou sélectionnez Place/Component. Double-cliquez sur le composant
désiré et placez-le sur le schéma. Une image du composant est attachée au pointeur de la
souris tant que vous n’avez pas cliqué à nouveau sur le bouton de gauche de votre souris
pour le placer. La Erreur ! Source du renvoi introuvable.illustre le navigateur de
composants.
Pour effectuer une recherche dans cette vue, tapez simplement le nom du composant désiré
et l’éditeur affiche automatiquement les résultats correspondants. En outre, pour une
recherche plus détaillée, cliquez sur le bouton de recherche Search.
Vous pouvez utiliser le caractère ‘*’ pour obtenir tous les résultats possibles proches de votre
recherche. Par exemple, “LM*7AD” retourne les résultats “LM101AD” et “LM108AD,” ainsi
que de nombreux autres résultats.
Câblage
Multisim garantit un fonctionnement non modal : l’action effectuée par le curseur de la souris
dépend de l’emplacement du curseur. Il n’est pas nécessaire de sélectionner un outil ou un
mode lorsque l’on travaille avec Multisim. Le curseur change en fonction de l’objet sur lequel
il se trouve. La Figure 9 décrit les différentes icônes affichées par le curseur de la souris.
Si le curseur se trouve sur une broche ou un terminal d’un composant, vous pouvez
facilement câbler ce composant par un clic gauche. Lorsque le curseur se trouve sur un
câble existant proche d’une broche ou d’un terminal, vous pouvez facilement continuer le
câblage. Autre possibilité, vous pouvez effectuer un clic gauche sur le terminal pour
17
commencer le câblage, puis effectuer une nouvelle fois un clic gauche sur le terminal de
destination pour le terminer.
Lorsque vous placez un fil, Multisim lui attribue automatiquement une référence numérique.
La valeur de cette référence (net) est initialisée à 1 et s’incrémente de façon séquentielle.
Les fils reliés à la masse portent toujours la référence 0. Il s’agit d’une contrainte des
simulateurs de type SPICE. Pour modifier la valeur de la référence ou lui attribuer un nom,
double-cliquez simplement sur le fil (Figure 10) et saisissez la valeur dans le champ Net
name. Cochez la case Show, si vous souhaitez visualiser la référence sur votre schéma.
18
Câblage automatique par broches de composants
Multisim permet également de connecter automatiquement des broches de composants aux
fils et des composants entre eux. Pour connecter automatiquement des composants à des
broches ou des nœuds existants, placez simplement le composant de façon à ce que ses
broches touchent un fil existant ou la broche d’un autre composant.
Connexion automatique
Multisim permet de placer des composants directement sur un fil existant. Pour placer
automatiquement le composant sur le fil sans créer de court-circuit, placez-le directement sur
le fil existant (Figure 12).
19
Figure 12. Connexion automatique
20
Exercice 1 : saisie de schémas
Objectifs
Concevoir un filtre passe-bande à l’aide d’un amplificateur opérationnel op-amp 741. Cet
exercice a été conçu pour présenter le navigateur de composants aux utilisateurs. À la fin de
cet exercice, vous serez capable de lancer le navigateur de composants, de chercher, de
placer et de connecter vos composants sur un circuit de base avec NI Multisim.
Conception
Le schéma complet du filtre passe-bande à concevoir est illustré Figure E1- 1. Cet exercice
vous apprend à saisir ce schéma sous Multisim.
Procédure
A. Saisie
La première étape consiste à sélectionner et à placer les composants du circuit.
Multisim exécutera ensuite la recherche et listera tous les composants intitulés 741. Vous
pouvez aussi utiliser des astérisques (« * ») pour étendre votre recherche. Par exemple, une
recherche dont l’intitulé serait « *741 » retournerait les diodes Zener SML4741, de même
que les amplificateurs opérationnels 741op-amp.
21
d. Validez votre choix en cliquant sur OK. Notez que le navigateur de composants
présenté en Figure E1- 2 affiche maintenant l’emplacement exact du 741 (Analog
Group, OPAMP Family).
e. Cliquez à nouveau sur OK. Une image du composant est maintenant attachée au
pointeur de la souris. Cliquez n’importe où dans l’espace de travail pour valider votre
placement.
f. Cliquez sur CLOSE au sein du navigateur de composants pour le fermer.
g. Effectuez un clic droit sur le 741 et choisissez Flip Vertically pour avoir l’entrée
négative (V-) positionnée vers le haut.
2. Placez les composants passifs en utilisant la barre de menus des composants de type
Basic en utilisant la Figure E1- 3. Pour rendre la barre de menus des composants de
type Basic visible, cliquez sur View » Toolbars » Basic.
Figure E1- 3. Barre de menus des composants de type Basic (placement direct)
22
Si vous n’êtes pas satisfait de l’emplacement dans lequel vous avez placé un composant,
vous pouvez simplement effectuer un clic droit et déplacer le composant vers un nouvel
emplacement. Multisim rétablira automatiquement les câblages initiaux.
Placez VCC, VEE et GND en utilisant la barre de composants Power Sources illustrée
Figure E1- 4.
Figure E1- 4. Barre de menus des composants Power Source (placement direct)
a. Sélectionnez View » Toolbars » Basic pour voir la barre de menus des composants
Power Source Components Toolbar.
b. Cliquez sur le bouton VCC et placez le composant sur le schéma.
23
Figure E1- 5. Barre de menus des composants Power Source (placement direct)
24
B. Câblage
La seconde étape de cet exercice consiste à câbler les composants sélectionnés
précédemment dans la section A. Pour créer un fil, il vous suffit de cliquer sur le point de
départ du fil, puis de cliquer une seconde fois sur le second point à câbler. Multisim établit
automatiquement la connexion entre les deux terminaux.
Fin de l’exercice -
25
Section 2 : simulation de circuits
Aperçu
Un bon montage faisant suite à un bon schéma, il vous est possible de faire un bon montage
à l’aide de la simulation. Avec Multisim, vous pouvez intégrer des instruments virtuels
développés avec LabVIEW sur vos schémas. Multisim fournit aussi de puissantes capacités
de simulation et des fonctionnalités qui facilitent grandement le processus de simulation des
circuits.
Simuler un circuit permet de réduire les erreurs de montage et le nombre de prototypes.
Lorsque vous simulez un circuit, vous réduisez significativement le cycle de conception.
En plus de l’utilisation d’un moteur de simulation SPICE (Simulation Program with Integrated
Circuit Emphasis), Multisim inclut un simulateur XSPICE, permettant une simulation rapide et
la simulation de composants numériques.
La simulation avec Multisim est conçue sur la base du standard industriel du domaine,
SPICE. La simulation SPICE utilise des algorithmes complexes qui ont fait leur preuve pour
converger avec précision sur une solution mathématique en ce qui concerne le
fonctionnement d’un circuit.
Avec Multisim, vous pouvez tirer avantage de la simulation SPICE sans avoir besoin de
connaissances précises dans le domaine. Vous pouvez rapidement simuler des circuits
élémentaires de façon interactive à l’aide d’instruments intégrés, ou simuler des applications
plus complexes.
Multisim intègre la version 3F5 du moteur d’exécution SPICE et XSPICE comme principal
moteur de simulation personnalisée avec une optimisation des performances de simulation
et pour améliorer la convergence.
26
Instruments virtuels
Multisim fournit plus de 25 instruments virtuels pour mesurer le comportement des circuits.
Ces instruments, comme les oscilloscopes, générateurs de fonctions ou multimètres,
fonctionnent à l’image de leurs correspondants réels. Ils ont un aspect identique à celui des
instruments sur table des laboratoires ce qui facilite la transition de la simulation au monde
réel et vice-versa. Chaque instrument virtuel est associé à trois vues. L’icône identifie
l’instrument une fois placé sur le circuit. À travers la face-avant, les utilisateurs peuvent
paramétrer l’instrument et visualiser les données. L’utilisation d’instruments virtuels est le
meilleur moyen d’étudier le comportement d’un circuit et de visualiser les résultats. L’Annexe
A liste les différents instruments virtuels disponibles.
Avec Multisim, vous pouvez intégrer des instruments virtuels développés sous LabVIEW.
Ces instruments vous permettent de personnaliser et d’étendre les capacités de simulation
de NI et ne nécessitent pas d’installer LabVIEW. Certains de ces instruments sont
disponibles en téléchargement gratuit sur notre site Web, www.ni.com.
Pour obtenir une description approfondie et des tutoriaux détaillés sur la méthode
d’utilisation de ces instruments, consultez l’aide Multisim pour toute information
complémentaire.
27
L’oscilloscope
L’oscilloscope à deux voies, défini par défaut sous NI Multisim, affiche l’amplitude et la
fréquence d’un signal électrique variable. Il fournit un graphe composé d’un ou deux signaux
en fonction du temps et permet la comparaison d’un signal par rapport à l’autre.
Icône de la
barre de Symbole du montage Face-avant de l’instrument
menus
Icône de la
barre de Symbole du montage Face-avant de l’instrument
menus
28
Générateur de fonctions
Le générateur de fonctions est une source de tension qui fournit des signaux sinusoïdaux,
triangulaires ou carrés. Il offre un moyen agréable et réaliste de simuler une excitation ou le
signal d’entrée d’un circuit. Vous pouvez modifier le type de signal ou changer la fréquence
du signal généré, son amplitude, son rapport cyclique ou ajouter une composante continue.
La gamme de fréquence est assez importante pour reproduire des signaux usuels de même
que des signaux audio ou RF.
Icône de la
barre de Symbole du montage Face-avant de l’instrument
menus
Sondes de mesures
La sonde de mesures est un moyen rapide et facile de mesurer ponctuellement une tension,
un courant, une fréquence à différents points du circuit. En cliquant sur l’icône de la sonde, le
curseur de la souris est changé en sonde. En faisant passer la souris au-dessus de
n’importe quel nœud du circuit au cours de la simulation, les différentes valeurs en ce point
du circuit sont affichées. De manière facultative, cliquer sur le fil avant ou pendant la
simulation vous permettra de placer différentes sondes de façon à observer plusieurs
nœuds.
Icône de la
barre de Symbole du montage
menus
29
Instruments NI ELVIS II
À partir de la barre de menus d’instruments présentée en Figure 14, il vous est possible de
choisir des instruments NI ELVIS II à partir du sous-menu NI ELVISmx Instruments.
XLV2
FGEN
Analyses
Aperçu
Multisim offre de nombreuses fonctions d’analyse. Chaque fonction d’analyse fait appel à la
simulation pour générer les données nécessaires au type d’analyse désiré. Ces fonctions
d’analyse vont des fonctions élémentaires aux fonctions extrêmement complexes et
nécessitent d’être effectuées séparément. Pour configurer et débuter une analyse,
sélectionnez Simulate » Analyses et choisissez l’analyse désirée. La Figure 15 liste toutes
les fonctions d’analyse disponibles avec NI Multisim. Ces fonctions d’analyse sont toutes
décrites dans l’annexe A. Pour chacune d’entre elles, il est possible de définir les paramètres
d’analyse de façon à indiquer à Multisim comment l’on souhaite exécuter son analyse. Il est
aussi possible de créer des analyses personnalisées à l’aide de commandes SPICE.
Pour préparer une analyse, configurez les paramètres spécifiques à l’analyse tels que la
gamme en fréquence pour une analyse AC, comme l’indique la Figure 16. Il est aussi
recommandé de sélectionner le type de signaux en sorties. Il est important de nommer les
différents points du circuit à mesurer de façon à éviter toute confusion dans l’analyse des
résultats. Ils sont affichés sur un graphe dans le Multisim Grapher et sauvegardés pour du
post-traitement avec le Postprocessor. Certains résultats sont aussi écrits dans un fichier
d’erreur et d’enregistrement accessible ici Simulate » Simulation Error Log/Audit Trail.
30
Figure 16. Boîte de dialogue des analyses AC
Grapher
L’outil Grapher, affichant graphiques et graphes déroulants, vous permet de voir les résultats
de vos analyses. De plus, il peut être utilisé pour voir des traces provenant d’instruments
virtuels. Il est possible de personnaliser les graphiques, de sélectionner des vues variées,
d’importer et d’exporter des résultats d’analyses. Pour voir le Grapher, présenté à la fin de
cette section, dans l’exercice 2B, sélectionnez View » Grapher.
31
Exercice 2A : simulation de circuits
Objectifs
Utiliser les outils de simulation interactive pour mesurer le gain, la bande passante et la
fréquence centrale d’un filtre passe-bande. Intégrer des modifications de paramètres des
composants pendant la simulation pour visualiser l’impact sur le fonctionnement du circuit.
Conception
Procédure
32
c. Connectez le générateur de fonction (terminal +) à l’entrée du circuit.
d. Connectez le terminal central de référence à la masse.
R2
XFG1 VEE
C1 1kΩ -15V
1uF 50%
Key=A
4 U1
R1 C2
2
1.0kΩ 1uF 6
3
R3
1kΩ 7 1 5 741
VCC
15V
Changez ensuite la couleur du câblage en sortie du circuit (voie B). La couleur du signal
visualisé au niveau de l’oscilloscope est identique à celle des fils.
d. Effectuez un clic droit sur le fil rouge en sortie du circuit. Sélectionnez Segment
Color. Choisissez une couleur bleue dans la fenêtre de dialogue.
33
XSC1
Ext T rig
+
_
A B
+ _ + _
R2
XFG1 VEE
C1 1kΩ -15V
1uF 50%
Key=A
4 U1
R1 C2
2
1.0kΩ 1uF 6
3
R3
1kΩ 7 1 5 741
VCC
15V
Votre montage est maintenant prêt à être simulé. Il devrait correspondre au montage de la
Figure E2- 7.
34
XSC1
XBP1
Ext T rig
+
_
A B IN OUT
+ _ + _
R2
XFG1 VEE
C1 1kΩ -15V
1uF 50%
Key=A
4 U1
R1 C2
2
1.0kΩ 1uF 6
3
R3
1kΩ 7 1 5 741
VCC
15V
Figure E2- 11. Analyseur de Bode montrant une mesure de fréquence centrale
e. Déplacez le curseur sur la face-avant de l’analyseur de Bode pour mesurer les deux
points à -3 dB. Vous pouvez aussi effectuer un clic droit sur le curseur et en fonction
de son emplacement, choisir Set Y_Value => ou Set Y_Value <=. Saisissez -9
comme valeur et appuyez sur OK.
Vous pouvez sauvegarder les résultats de votre simulation pour pouvoir ensuite les
comparer aux résultats mesurés en cliquant sur le bouton Save de chaque face-avant.
36
Fin de l’exercice –
37
Exercice 2B : analyses SPICE
Objectif
Conception
Nous utiliserons pour cet exercice le même montage que pour les exercices précédents
(Figure E2- 12).
Enregistrez-le sous le nom Exercise 2b - Bandpass Filter (Complete).ms10.
Procédure
o Frequency Parameters
Pour paramétrer les fréquences de départ et d’arrêt de la simulation, une gamme de
fréquence ou un balayage en fréquence
o Output
Pour sélectionner les nœuds sur lesquels s’effectuera la simulation.
o Analysis Options
Pour sélectionner les paramètres de simulation SPICE comme la tolérance des composants,
etc.
o Summary
Pour obtenir un résumé des paramètres sélectionnés.
38
Sélectionnez l’onglet Frequency Parameters et saisissez les valeurs suivantes (Figure E2-
13) :
3. Sélectionnez l’onglet Output et paramétrez une analyse AC en sortie du filtre (Figure E2-
14) : sélectionnez V(outpout)
39
Figure E2- 14. Onglet sortie de l’analyse AC
4. Cliquez sur le bouton Add. Notez que V(ouput) est maintenant dans la catégorie
Selected variable for analysis.
5. Cliquez sur le bouton Simulate.
6. Le graphe d’analyse va s’ouvrir. Si le fond d’affichage du graphe est noir et que vous
voulez modifier la couleur, cliquez sur le bouton Reverse (
7. Figure E2- 15).
40
Reverse
Button
Dans cette partie de l’exercice, une sonde de mesure est utilisée pour nommer et identifier le
nœud qui va être étudié. Auparavant, durant l’analyse, le nœud d’intérêt avait été
sélectionné via son nom, V(output), ce qui peut être compliqué dans un schéma de grande
taille.
La sonde de mesure peut être utilisée pour identifier un nœud lors d’une analyse mais aussi
pour fournir une mesure instantanée lors d’une simulation interactive.
2. La sonde sera ensuite rattachée au pointeur de la souris comme lorsque vous placez un
composant. Vous pouvez la placer sur n’importe quelle partie du circuit (Figure E2- 17).
41
Figure E2- 17. Sonde de mesure au niveau de la sortie du filtre passe-bande
3. Cliquez sur le bouton interactif simulate ou appuyez sur la touche F5 de votre clavier.
Notez qu’en faisant une simulation interactive, vous accédez directement aux valeurs de
tension, courant et fréquence du nœud sur lequel se situe la sonde (voir Figure E2- 18).
4. Arrêtez la simulation.
5. Double-cliquez sur votre sonde (Probe 1).
6. Dans la boîte de dialogue Probe Properties qui s’ouvre, saisissez « output » dans la
fenêtre RefDes (Figure E2- 19).
7. Cliquez sur le bouton OK.
42
Figure E2- 19. Propriétés de la sonde de mesure
Dans cette partie de l’exercice, l’outil Grapher (Grapher View) est utilisé afin de montrer
comment simplifier vos analyses.
Les trois outils présentés dans la Figure E2- 20 seront utilisés dans cette partie.
43
1 2 3
1. Pour afficher la grille sur le Grapher, effectuez un clic gauche sur le graphique de
magnitude de l’AC Analysis et cliquez alors sur le bouton Show/Hide Grid
(Figure E2- 20 – 1).
2. Effectuez un clic gauche sur le graphique de phase de l’AC Analysis et cliquez sur le
bouton Show/Hide Grid (Figure E2- 20 – 1). La vue Grapher devrait maintenant
ressembler à la Figure E2- 21.
3. Faites un clic gauche sur le graphique de magnitude puis cliquez sur le bouton
Show/Hide Legend (Figure E2- 21 – 2). La légende du graphique sera ainsi affichée.
4. Cliquez sur le bouton Show/Hide Cursors (Figure E2- 21 – 3). La fenêtre de valeurs va
alors apparaître, affichant les différentes valeurs des coordonnées X et Y telles que
mesurées par les curseurs (Figure E2- 22)
5. Cliquez sur le curseur de couleur vert fluorescent (Figure E2- 22 – 1). Déplacez le
curseur de gauche à droite sur le graphique et observez comment la fenêtre de valeurs
se met à jour à chaque emplacement.
44
1
Il est souvent utile de comparer les différentes analyses réalisées afin de mieux appréhender
les décisions de conception. Par exemple, dans la leçon 2, nous avons utilisé un
potentiomètre positionné à 1 kΩ et, au cours de cet exercice, il a été fixé à 500 Ω. Il est
possible de vérifier la différence existant entre ces deux analyses en superposant les
résultats dans un même repère axial.
45
17. Sélectionnez le graphique de magnitude
18. Sélectionnez Tools » Overlay Traces
19. Dans la boîte de dialogue Select a Graph, sélectionnez le Graph 1 (graphique de
magnitude) de la dernière analyse que vous avez effectuée. Ici, comme indiqué dans la
Figure E2- 24, sélectionnez Page_2:Graph_1[Tab_Name:AC Analysis,Graph_Title:AC
Analysis].
20. Cliquez sur OK
Multisim va alors fusionner les graphiques de Bode des différentes analyses sur un seul
repère axial (voir Figure E2- 25).
Figure E2- 25. Représentation fusionnée des tracés de Bode des différentes analyses
Fin de l’exercice -
46
Section 3 : Prototypage et mesures
Aperçu
Prototyper est le procédé qui consiste à transposer un concept dans le monde réel. Avec le
prototypage virtuel, il est possible de transposer une conception de circuits dans un
environnement 3D virtuel. Multisim fournit nativement une platine de montage 3D, une
version virtuelle 3D de NI ELVIS ainsi qu’une carte d’essai 3D ELVIS II virtuelle. Il est ainsi
possible de développer un prototype de montage expérimental de façon virtuelle avant de le
mettre en pratique en laboratoire.
Réaliser un montage électronique sur une carte d’essai dédiée est l'une des méthodes les
plus courantes pour la construction d'un circuit, qu’il soit simple ou complexe. Une carte
d’essai (Breadboard) est une structure plastique rectangulaire dotée de centaines de petits
trous métallisés, des connecteurs. Un grand nombre de ces connecteurs sont connectés
électriquement de façon interne, de telle sorte qu’il est possible de placer des composants
sur la carte tout en les connectant entre eux par le biais de cavaliers.
Figure 17. Prototype virtuel 3D NI ELVIS II Figure 18. Prototype réel NI ELVIS II
L’outil virtuel « Virtual 3D NI ELVIS » est disponible pour des schémas de circuits créés à
partir du modèle NI ELVIS de conception de circuits. Pour créer un nouveau schéma basé
sur le modèle NI ELVIS, sélectionnez File » New » NI ELVIS I Schematic ou NI ELVIS II
Schematic. Le modèle NI ELVIS contient toutes les connexions disponibles sur la carte
d’essai réelle de NI ELVIS. Le modèle propose également, de façon intégrée, les différents
instruments de mesure de NI ELVIS afin de pouvoir réaliser des mesures simulées.
Il est à noter que la barre d’outils principale est modifiée dans ce mode pour refléter le travail
sur carte d’essai. La figure et le tableau ci-dessous listent les nouveaux boutons disponibles
dans cette vue. La barre d’outils principale pour la vue 3D est présentée en Figure 19.
47
Boutons Fonction
1 Changer la couleur du câble
2 Tourner la carte d’essai de 180°
3 Modifier les paramètres de la carte d’essai
4 Afficher les nœuds actuels de la carte d’essai
5 Réaliser une vérification des règles de conception et de la connectivité
Lors de l’utilisation de la vue 3D, il est important de noter les trois points suivants :
o Pour réaliser une rotation de la vue : cliquez et déplacez le pointeur sur une zone
blanche de la carte d’essai.
o Pour placer des composants : cliquez et déposez les composants depuis la barre de
composants en bas de l’écran.
o Pour connecter des câbles : cliquez sur un emplacement (trou) source, puis cliquez
sur l’emplacement de destination.
En utilisant les conseils ci-dessus, il est possible de construire facilement votre circuit de
façon virtuelle à partir des composants utilisés dans votre schéma de conception.
Multisim peut vous aider dans votre décision lors de la connexion de câbles. Lorsque vous
cliquez sur un emplacement vide afin de commencer le placement d’un fil, l’environnement
3D met en surbrillance tous les trous qui seront sur le même groupement de nœuds,
connectés en interne, que le câble que vous êtes en train de connecter. Un exemple des
connexions à l’intérieur de la carte d’essai est présenté en Figure 20.
48
Une fois que tous les composants sont placés et tous les nœuds connectés, il est conseillé
de lancer l’analyse des règles de conception et des tests de connectivité (Design Rules and
Connectivity Check). Cliquez sur le bouton DRC dans la barre d’outils principale, Multisim
vous fournira alors une liste des éventuelles erreurs de connexion.
En outre, tous les composants et toutes les connexions deviennent verts sur le schéma du
circuit lorsqu’ils ont été correctement placés et connectés dans l’environnement 3D de
prototypage. Il est possible de modifier les paramètres gérant cela via l’option Global
Preferences du menu Options.
NI ELVIS est une plate-forme pédagogique pour la conception et le prototypage basée sur
LabVIEW, dédiée aux écoles et universités de science et d’ingénierie. Cette plate-forme est
composée de deux éléments clefs : le support matériel contenant une suite de 12
instruments et le logiciel, suivant le concept d’instrumentation virtuelle.
Les instruments NI ELVIS sont créés à partir de LabVIEW et utilisent les drivers NI-DAQmx
et NI ELVISmx.
De cette combinaison résulte une suite prête-à-l’emploi d’instruments requis dans la plupart
des laboratoires. Comme le système s'appuie sur LabVIEW, il assure la flexibilité nécessaire
à la réalisation simple de l'ensemble de l’acquisition de données et du prototypage.
La suite NI ELVIS II offre plusieurs méthodes pour réaliser des mesures à partir de la plate-
forme.
Le Launcher, présenté en Figure 21, permet un accès rapide aux 12 instruments de la plate-
forme NI ELVIS. Vous pouvez accéder à ce Launcher via le menu Démarrer » Tous les
programmes » National Instruments » NI ELVISmx » NI ELVISmx Instrument Launcher. En
utilisant le sélecteur d’instruments, il est possible d’accéder rapidement aux instruments via
des interfaces pré-construites.
49
Les instruments NI ELVISmx sont capables de montrer à la fois les mesures réelles venant
de la plate-forme NI ELVIS II et des données simulées résultant de Multisim, permettant une
comparaison simple et efficace de la théorie avec la pratique. Enfin, LabVIEW offre des
capacités encore plus étendues pour de l’analyse de données avancée. Les Figure 22 et
Figure 23 illustrent la plate-forme de travail NI ELVIS II ainsi que la face-avant interactive de
l’oscilloscope NI ELVISmx.
50
Exercice 3 : Prototypage virtuel 3D
Objectif
Conception
Multisim dispose d’un environnement 3D de prototypage pour NI ELVIS et NI ELVIS II. Tout
d’abord, ouvrez le circuit de filtre développé lors des précédents exercices en utilisant le
modèle NI ELVIS II. Passez ensuite à la vue 3D virtuelle de la carte d’essai et réalisez le
prototype du circuit.
Procédure
2. Dans la barre d’outils principale, cliquez sur l’icône Breadboard (carte d’essai) pour
ouvrir l’environnement de prototypage 3D NI ELVIS (Figure E3- 1). L’environnement 3D
est présenté en Figure E3- 2.
51
3. Placez les composants sur la carte d’essai 3D en les faisant glisser depuis la barre de
composants située au bas de la fenêtre. Connectez les broches ensemble à l’aide de
câbles en cliquant d’abord sur le trou source puis sur le trou de destination. Prototypez
l’ensemble du filtre passe-bande à l’aide de ces techniques.
Suite à ce prototypage virtuel, le circuit qui a été conçu est prêt à être réalisé dans
l’environnement réel, sur la plate-forme ELVIS II, pour réaliser des mesures et des tests.
52
b. Connectez le terminal positif de la voie 1 (Channel 1) de l’oscilloscope sur la broche
AI0 + de la portion Analog Input Signals du schéma virtuel de NI ELVIS II ; cette
dernière est liée à la sortie de l’amplificateur opérationnel 741.
c. Connectez une masse aux terminaux négatifs des voies 0 et 1 de l’oscilloscope.
d. Double-cliquez sur le générateur de fonctions pour ouvrir sa face-avant interactive.
L’icône du générateur de fonctions est présentée en Figure E3- 5.
Function
Generator
53
Figure E3- 6. Face-avant interactive du générateur de fonctions
54
Oscilloscop
e
55
Figure E3- 8. Face-avant interactive de l’oscilloscope ELVISmx
56
j. Avec un circuit réalisé sur la carte d’essai réelle de la plate-forme NI ELVIS II, il est
possible d’ajouter la sortie du circuit réel à la visualisation actuelle présentée sur la
face-avant interactive de l’oscilloscope. Pour ce faire, arrêtez la simulation en cliquant
sur le bouton stop simulation.
k. Dans la partie inférieure de la face-avant interactive, cliquez sur le menu des
périphériques (Device) et sélectionnez NI ELVIS II. Répétez la même opération pour
le générateur de fonctions.
l. Cliquez sur le bouton Run après vous être assuré que les deux entrées « Simulated
Data » et « Real Data » sont bien validées.
m. Observez la superposition des données mesurées sur le matériel avec les données
du circuit simulé. Cela permet de comparer les résultats obtenus par votre
implémentation matérielle avec le résultat théorique du circuit que vous avez conçu.
Le résultat que vous devez obtenir devrait être similaire à la figure ci-dessous.
Figure E3- 10. Superposition des signaux réel et simulé sur l’oscilloscope ELVISmx
Fin de l’exercice -
57
Section 4 : Comparaison entre mesures et simulations
Aperçu
Comparer les simulations et les mesures réelles est la dernière et la plus importante des
étapes de toutes les procédures de conception. En comparant, il est possible de comprendre
les différences entre vos prévisions (la théorie) et le comportement réel (la pratique). En
affichant la simulation sur la même représentation graphique que les mesures, il est facile
d’identifier les différences et de commencer un véritable examen, en termes d’ingénierie, des
causes profondes de ces différences.
LabVIEW SignalExpress
58
LabVIEW et NI ELVISmx
NI LabVIEW est un environnement de programmation graphique qui peut être utilisé pour
ses fonctions d'automatisation des tests et mesures dans le but de tester et valider les
conceptions de circuit. LabVIEW peut être directement utilisé avec les instruments NI
ELVISmx. Il permet de programmer directement les instruments ELVISmx par le biais
d’instruments virtuels (VIs) et peut charger de façon simple des fichiers de simulation venant
de Multisim au format .lvm ou .tdm, là encore par le biais de VIs. L’utilisateur peut alors
superposer les données de simulation et les mesures réelles pour rapidement vérifier des
conceptions de circuits.
Instruments NI ELVIS
NI ELVIS II peut être contrôlé directement dans LabVIEW grâce aux VIs Express NI
ELVISmx. Ces VIs Express ont été prévus pour réaliser des opérations spécifiques et
contiennent des interfaces utilisateurs personnalisées. Ces instruments se trouvent dans la
palette E/S de mesure » ELVISmx. Il y a 10 VIs Express disponibles pour NI ELVIS II qui
permettent à la fois d’analyser et de générer des données depuis LabVIEW.
Pour utiliser ces VIs, il suffit de les placer sur le diagramme de votre programme et de fournir
les entrées nécessaires aux fonctions. La configuration peut se faire par le biais d’une
interface utilisateur ou en reliant directement des commandes. Si l’interface est configurée
correctement, les entrées de fonctions de seront pas requises sur le diagramme de votre
programme et ne nécessiteront donc pas d’être câblées à des commandes. L’utilisateur a
bien sûr le choix de fournir des commandes pour réaliser un contrôle par programmation des
instruments ELVISmx.
Les deux types de configuration des instruments sont présentés dans la figure ci-dessous.
59
Exercice 4 : Comparaison entre mesures et simulation
Objectif
Comparer les résultats simulés avec des données mesurées pour valider le bon
fonctionnement du montage.
Conception
Procédure
60
Figure E4- 1. Vérification du fonctionnement d’un circuit réel en transitoire
61
Validation de la fréquence
Utilisez l’analyseur de Bode NI ELVISmx pour vérifier rapidement la réponse en fréquence.
AI0: Signal
AI1: FGEN
62
Comparaisons
Utilisez LabVIEW SignalExpress pour piloter NI ELVIS II, faire un diagramme de Bode et
charger les signaux SPICE précédemment enregistrés en simulation.
Fin de l’exercice -
64
Section 5 : Co-simulation analogique/numérique
Aperçu
65
Exercice 5 : Co-simulation avec Multisim et Multisim
Objectif
Cet exercice a pour but de vous montrer comment mettre au point une co-simulation de
circuits permettant d’échanger des données analogiques et numériques entre les logiciels
LabVIEW et Multisim. Vous pourrez apprendre à contrôler, depuis LabVIEW, la tension
délivrée par une source DC dans un circuit électrique de type filtre RLC conçu et simulé dans
Multisim ; de la même manière, vous pourrez ensuite transmettre les valeurs de tension en
sortie du filtre à LabVIEW afin de les tracer dans un graphique.
Procédure
1. Faites un clic droit et sélectionnez "Place component" dans le menu contextuel. Dans la
boîte de dialogue qui s’ouvre alors, choisissez :
2. Cliquez sur OK afin de placer le composant en question sur le schéma du circuit (voir
Figure E5- 1). Il est possible de modifier le gain de cette source, c.à.d. le ratio entre la
valeur de tension générée et celle demandée, en double-cliquant sur le composant. Un
ratio de 1V/V assure que le composant voltage-controlled power supply génère, dans
Multisim, 1 V pour chaque volt demandé depuis LabVIEW.
Figure E5- 1. Composant voltage-controlled power supply placé sur le schéma Multisim
3. Placez à présent une résistance, une inductance et une capacité sur le circuit (voir
Figure E5- 2). Voici les paramètres à utiliser pour des composants idéaux :
66
4. Depuis la version 12.0 de Multisim, il est possible d’utiliser des composants non idéaux
afin d’ajouter des paramètres “parasites” aux composants. Si vous souhaitez utiliser des
composants non idéaux, voici l’arborescence à utiliser pour poser vos composants :
Figure E5- 2. Circuit avec les différents composants électriques placés et connectés
5. Une fois les composants placés, il est nécessaire de double-cliquer sur chacun d'entre
eux afin de changer la valeur du composant non idéal. Il est aussi possible, dans la
fenêtre de paramétrage (Figure E5- 3), d’ajuster les composantes parasites optionnelles.
Pour relier les composants, cliquez simplement sur les extrémités des composants à
relier.
8. Vous pouvez imposer une rotation aux connecteurs, afin de les placer comme sur la
figure suivante, en maintenant la touche Ctrl enfoncée et en appuyant sur R. Vous
pouvez à présent connecter les différents éléments du circuit comme représenté dans la
Figure E5- 5.
10. Dans le cadre de cet exercice, IO1 est une entrée de type tension et IO2 une sortie de
type tension, les autres paramètres restant inchangés (voir Figure E5- 6Erreur ! Source
du renvoi introuvable.).
Dans la fenêtre LabVIEW Co-simulation Terminals, vous pouvez voir que l’aperçu
Multisim design VI preview est mis à jour selon les sélections de paramètres effectuées.
Cet aperçu reflète l’instrument virtuel (VI) qui sera disponible dans LabVIEW pour s’interfacer
avec ce circuit Multisim.
11. Vous pouvez changer les noms des terminaux d’entrée et de sortie de ce VI Multisim en
modifiant le texte de la colonne LabVIEW Terminal. Pour cet exercice, entrez les noms
69
Voltage_In et Voltage_Out pour, respectivement, le terminal d’entrée et celui de sortie
(voir Figure E5- 7).
Figure E5- 7. Aperçu du VI Multisim tel qu’il sera utilisé dans LabVIEW
Le circuit analogique terminé consiste donc en une source de tension contrôlable en tension
par LabVIEW, branchée en série avec une inductance, une capacité et une résistance. La
valeur de tension en entrée de la source de tension sera imposée depuis une commande
dans un VI LabVIEW ; la valeur de tension en sortie du filtre RLC sera, quant à elle,
transmise à LabVIEW afin d’être comparée, dans un graphique, avec la valeur fournie en
entrée.
12. Sauvegardez votre schéma Multisim dans un répertoire de votre choix (par exemple sur
le bureau de Windows) où vous pourrez facilement le retrouver lors de la programmation
de votre VI LabVIEW. Vous allez pouvoir, à présent, créer le VI LabVIEW qui
communiquera avec ce circuit Multisim.
70
Figure E5- 8. Boucle de contrôle et simulation
2. Paramétrez la simulation comme indiqué dans la Figure E5- 9 ci-dessous ; ces réglages
permettent des résultats efficaces en ce qui concerne le tracé des données sur un
graphe déroulant LabVIEW avec les paramètres utilisés plus loin dans ce tutorial.
71
Figure E5- 9. Paramètres de simulation
3. Ajoutez une fonction d’arrêt Halt Simulation dans la boucle de contrôle et simulation (voir
Figure E5- 10). Faites un clic droit sur le diagramme et naviguez vers Conception de
contrôle et simulation»Simulation»Utilities»Halt Simulation. Faites un clic gauche
afin de déposer la fonction sur le diagramme puis faites un clic droit sur l’entrée
booléenne de celle-ci et sélectionnez Créer»Commande.
Vous venez de créer un bouton booléen sur la face-avant du VI permettant d’arrêter la
simulation durant son exécution.
72
Figure E5- 10. Ajout de la fonction d’arrêt de simulation
4. Ensuite, placez le VI Multisim Design qui permet la communication entre les moteurs de
simulation de LabVIEW et de Multisim. Pour ce faire, faites un clic droit sur le
diagramme, naviguez vers Conception de contrôle et simulation»Simulation»
External Models»Multisim»Multisim Design et placez le VI dans la boucle de contrôle
et simulation.
5. La boîte de dialogue Select a Multisim Design apparaît une fois que vous avez placé le
VI Multisim Design sur le diagramme (voir Figure E5- 11). Vous pouvez à présent
spécifier le chemin où le schéma Multisim a été précédemment enregistré ou naviguer
jusqu’au répertoire le contenant sur le disque dur en cliquant sur le bouton parcourir.
73
Figure E5- 11. Étapes d’insertion du schéma Multisim dans la simulation LabVIEW
7. Pour envoyer des données vers la simulation Multisim, créez d’abord une commande
numérique sur la face-avant du VI (voir Figure E5- 12). Une façon simple de procéder
consiste à effectuer un clic droit sur l’entrée Voltage_In et à sélectionner
Créer»Commande. Cette méthode permet de connecter directement le terminal de la
commande numérique à l’entrée du VI Multisim et de placer la commande
correspondante sur l’interface utilisateur du VI LabVIEW. Pour vérifier le résultat sur le
diagramme et la face-avant, vous pouvez basculer de l’un à l’autre avec le raccourci
Ctrl+E.
74
Figure E5- 12. Schéma Multisim intégré à la simulation LabVIEW
Pour renvoyer des données de Multisim vers LabVIEW, vous devez créer un indicateur pour
afficher les données. Étant donné qu’on souhaite tracer à la fois la tension d’entrée du circuit
Multisim et la tension résultante en sortie du filtre, un graphe déroulant est l’indicateur le plus
approprié.
9. Sur la face-avant, faites un clic droit sur un espace vide et naviguez dans les palettes
vers Argent»Graphe»Graphe déroulant. Redimensionnez le graphique si nécessaire
(voir Figure E5- 14).
75
Figure E5- 14. Face-avant finale
10. Pour afficher correctement les tensions d’entrée et de sortie ensemble, il faut regrouper
les signaux dans un tableau. Faites un clic droit sur le diagramme, naviguez dans les
palettes vers Programmation»Tableau»Construire un tableau puis faites un clic
gauche pour poser la fonction sur le diagramme (voir Figure E5- 15).
Pour finir, une dernière fonction doit être déposée afin de créer une Waveform à temps
simulé à l’intérieur de la boucle pour afficher efficacement les deux valeurs de tension.
13. Faites un clic droit sur le diagramme et, dans la palette de fonctions, naviguez vers
Conception de contrôle et simulation»Simulation» Graph Utilities»Simulation Time
Waveform. Ce VI dépose automatiquement un graphe déroulant. Supprimez simplement
le nouveau graphique créé et reconnectez la sortie du VI Simulation Time Waveform à
l’entrée du graphe posé précédemment.
15. Pour créer un graphe déroulant plus facile à lire, basculez sur la face-avant, faites un clic
droit sur le graphe et sélectionnez Propriétés. Allez dans l’onglet Format d’affichage et
sélectionnez Formatage automatique dans la liste de Type et 4 pour l’entrée Chiffres
(voir Figure E5- 17).
77
Figure E5- 17. Paramètres d’affichage du graphe
16. Naviguez ensuite dans l’onglet Échelles et décochez la case Échelle automatique pour la
valeur Time (X-Axis). Enfin, basculez de Time (X-Axis) à Amplitude (Y-Axis) et
décochez également la case Échelle automatique. Cela permet de garder constantes les
valeurs des axes du graphique. Cliquez sur OK pour appliquer vos modifications (voir
Figure E5- 18).
18. Sauvegardez votre VI LabVIEW dans le même répertoire que le schéma Multisim
puisque les deux fichiers sont liés.
Vous avez à présent créé un circuit analogique dans Multisim et un contrôleur numérique
dans LabVIEW et vous avez établi une méthode de communication entre les deux. Il est à
présent possible d’effectuer une co-simulation entre les deux environnements de simulation
et de visualiser les résultats sur le graphe déroulant de la face-avant de votre VI LabVIEW.
79
Figure E5- 20. Exemple de co-simulation LabVIEW/Multisim
Vous pouvez modifier les valeurs des paramètres RLC du circuit dans Multisim pour modifier
la réponse du circuit à un changement de la tension d’entrée.
Fin de l’exercice -
Afin de disposer d’un modèle plus paramétrable, il faut introduire la possibilité de modifier les
paramètres de capacité, de résistance et d’inductance au cours d’une co-simulation
transitoire. Pour cela, vous pouvez utiliser les éléments voltage-controlled capacitor, resistor
et inductor de Multisim et transmettre des valeurs de contrôle de tension dans Multisim via
des commandes LabVIEW.
Conclusion
80
Annexe A – Instruments and Analyses in Multisim
Multisim Instruments
Instrument Description
2-Channel Scope Displays the magnitude and frequency variations of electronic
signals.
4-Channel Scope See above.
Ammeter Displays instantaneous current through a wire.
Bode Plotter Produces a graph of a circuit’s frequency response and is
most useful for analyzing filter circuits.
Current Probe Converts transient current into voltages for display on the
oscilloscope.
Distortion Analyzer Provides distortion measurements for signals in the range of
20 Hz to 100 kHz, including audio signals.
Frequency Counter Measures the frequency of a given signal.
Function Generator Supplies sine, triangular, or square waves.
IV Analyzer Measures the current-voltage curves of diodes, PNP BJTs,
NPN BJTs, PMOS transistors, and NMOS transistors.
Logic Analyzer Displays the levels of up to 16 digital signals in a circuit. It is
used for fast data acquisition of logic states and advanced
timing analysis to help design large systems and carry out
troubleshooting.
Logic Converter Perform several transformations of a circuit representation or
digital signal to generate circuitry or derive truth tables for
digital circuits.
Measurement Probe Connects to any node in the circuit and reports various
metrics such as current, voltage, frequency, and so on.
Multimeter Measures voltages, currents, resistances, or decibels.
Network Analyzer Measures the scattering parameters (or S-parameters) of a
circuit; commonly used to characterize a circuit intended to
operate at higher frequencies.
Spectrum Analyzer Measures signal amplitude versus frequency.
Voltmeter Displays the voltage between two points of a circuit.
Wattmeter Displays the power dissipated by a given circuit branch.
Word Generator Sends digital words or patterns of bits into circuits to provide
stimulus to digital circuits.
Agilent Function Simulated Agilent 33120A function generator
Generator
Agilent Multimeter Simulated Agilent 34401A multimeter
Agilent Scope Simulated Agilent 54662D oscilloscope
Tektronix Scope Simulated Tektronix TDS2024 oscilloscope
81
Multisim Analyses
Analysis Description
AC Used to calculate the frequency response of linear circuits.
Batched Performs a sequence of arbitrary analyses in order.
DC Operating Point Determines the DC operating point of a circuit.
DC Sweep Simulates the circuit many times, sweeping the DC values
within a predetermined range.
Distortion Analyzes signal distortion that may not be evident using
transient analysis. Signal distortion is usually the result of
gain nonlinearity or phase nonuniformity in a circuit. Multisim
simulates harmonic distortion and intermodulation distortion
for analog small-signal circuits.
Fourier Analyzes complex periodic waveforms. It permits any
nonsinusoidal period function to be resolved into sine or
cosine waves (possibly an infinite number) and a DC
component.
Monte Carlo Helps you explore how changing component properties
affects circuit performance. A statistical technique, Monte
Carlo Analysis performs DC, AC, or transient analysis and
varies the component properties.
Nested Sweep Performs temperature and parameter sweep analyses in a
nested fashion, with a series of sweeps being performed,
each is conducted within the constraints of the sweep before
it.
Noise Calculates the noise contribution from each resistor and
semiconductor device at the specified output node.
Noise Figure Specifies exactly how noisy a device is. For a transistor,
noise figure (NF) is simply a measure of how much noise the
transistor adds to the signal during the amplification process.
Pole Zero Determines the stability of electronic circuits by calculating
the poles and zeros of the circuit’s transfer function.
Parameter Sweep Verifies the operation of a circuit by simulation across a range
of values for a component parameter.
Sensitivity Calculates the change produced in an output voltage or
current by changing each parameter independently.
Temperature Sweep Simulates the circuit several times at defined temperatures.
Trace Width Calculates the minimum trace width needed in the circuit to
handle the RMS current at any trace/wire.
Transfer Function Calculates the DC small-signal transfer function between an
input source and two output nodes (for voltage) or an output
variable (for current) in a circuit.
Transient Computes the circuit’s response as a function of time.
User Defined Allows manually loaded SPICE card or netlists and user-
control over actual SPICE commands to be performed.
Worst Case Explores the worst possible effects of variations in
component parameters on the performance of a circuit.
82