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5 131 Etats de Surfaces 2013 3
5 131 Etats de Surfaces 2013 3
Plan du cours
Plan du chapitre
Surfaces:
géométrique spécifiée
réelle
mesurée
La surface mesurée est liée à la méthode de mesure choisie
palpeur de mesure
Ra
2mm
4e ordre: ARRACHEMENT, MARQUE D’OUTIL
Profil réel (fente apériodique)
Définitions préliminaires
Longueur d’évaluation
Longueur de base
Ligne enveloppe supérieure (LES)
Segments de droite joignant les points les plus hauts des saillies locales
W1 Wn
W avec n 3.
n
AW: Pas moyen de l’ondulation
AW1 AWn
AW avec n 3.
n
(n: nombre de longueurs de base)
z1 z n
z x dx ou
1 1
Ra
l
0
Ra
n
l: longueur de base
Échantillons viso-tactiles
Appareils électroniques à palpeur
Appareils optiques
Échantillons viso-tactiles
Rugosité suivant le procédé d’usinage
Comparaison visuelle et au toucher
Peu coûteux, rapide
Échantillons obtenus par usinage contrôlé
Appareils optiques
Défauts de 3e et 4e ordres
Microscope à éclairage oblique
2 lumières de couleurs différentes augmentent la qualité des détails
Microscope interférentiel
Franges lumineuses d’interférence éclairent une mince partie
Réflectomètre
Relation entre rugosité et quantité de lumière incidente diffractée
Plages de rugosité de
surfaces brutes et
usinées en fonction des
procédés de fabrication