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Diffractomètres de poudre
Diffractomètre de Poudre
• Origine et caractéristiques des RX
• Trajet du faisceau RX
• Eléments Optiques
• Détection des RX
Diffractomètre de Poudre
• Origine et caractéristiques des rayons X
– Générateur haute tension
– Tube à rayons X
– Sélection de la haute tension et
Courant d’Émission
– Sélection de l’Anode
Diffractomètre de Poudre
• Trajet du faisceau RX
– Fentes de Soller
– Fentes de Divergence
– Masques
– Échantillon
– Fentes Anti-Diffusion
– Fentes de Réception
– Monochromateur
Diffractomètre de Poudre
• Éléments Optiques
– Fente de Divergence
– Fente Anti-Diffusion
– Foyer du Tube
– Fente de Réception
– Filtre -β
– Monochromateur
– Fentes de Soller
Origine et Caractéristiques des RX
Que sont les rayons X ?
Spectre continu
Absorption
Les rayons X ?
Radiations Electromagnétiques
Longueur d ’onde entre 0.01 nm et 10.0 nm
Energie entre 124 keV et 0.124 keV
Et 2 foyers ponctuels
Tubes RX en céramique, avantages
Positionnement très précis de la Cathode
Pas d’effet thermique sur la position de l’anode du à l’expansion
Autres tube à rayons X
Remarques :
• Des tubes très puissants (12 kW) sont obtenus dans le cas
d'anodes tournantes. La rotation de l'anode amène des
surfaces nouvelles sous le faisceau d'électrons. Ces tubes
sont démontables et nécessitent un pompage continu.
• Des tubes à micro-foyer existent avec des foyers ponctuels
pouvant atteindre 50 mm.
• Des tubes de puissance limitée (< 300 W) ne nécessitent
qu'un refroidissement à l'air. Ils sont alors facilement associés
à des appareils portables.
Origine et Caractéristiques des RX
• Le spectre de rayons X provenant d’un tube est
essentiellement composé :
– d’un fond continu
– de radiations caractéristiques
• Dans une expérience de diffraction, seules les
radiations caractéristiques sont utilisées
Spectre Continu (Bremsstrahlung)
• Le spectre continu est causé par la décélération des e- dans la cible.
Cette décélération n'est pas la même pour tous les e- et un spectre
continu de longueurs d'onde est obtenu. Les e- qui sont arrêtés en un
seul impact transforment toute leur énergie (eV) en une énergie de
photons X (hν) qui est alors maximale. Il lui correspond la longueur
d'onde minimale λm du spectre :
hc
eV = hυmax =
λm
• Les e- simplement ralentis ne transforment qu'une partie de leur énergie
incidente en énergie de photons X. La longueur d'onde de ces photons X
est donc supérieure à λ m.
Spectre Continu
niveau K
α2 α1
I
niveau L II
III
Radiations Caractéristiques
ra
5
4
Les raies K sont les plus intenses :
M 3
2
1
I Kα = 2 I Kα2 = 10 I K β
1
Lα
3
Les raies K ont une largeur spectrale de
L 2 l'ordre de 0,001 Å.
1
On appelle doublet Kα une longueur
Kα 1 Kα Kβ d'onde moyenne pondérée sur Kα1 et
2
K Kα2 :
λ K α + 2λ K α
λ Kα = 2 1
3
Radiations Caractéristiques
Spectre du Molybdène à 35 kV
Doublet Ka résolu sur la figure
de droite (échelle en λ
agrandie)
Radiations Caractéristiques
Conditions d’utilisation du tube à RX
L’utilisation du tube à rayons X
Dépend de: • La nature de l’anode
• La puissance
• Du type de Foyer
En géneral kV = 3 à 5 x Vc
Conditions d’utilisation du tube à RX
Le spectre de rayons X dépend de la tension appliquée et de la
nature de l’anode. La figure montre le spectre caractéristique
pour une anode Mo en fonction de la tension d’utilisation.
Conditions d’utilisation du tube à RX
• Dépend de la longueur
d’onde utilisée
Filtres Kβ
Le phénomène d’absorption de longueur d’onde
peut-être utilisé pour absorber sélectivement les
longueurs d’ondes indésirées
Filtres Kβ
Pour éliminer la
composante Kβ du spectre
de rayons X, on interpose
un filtre en un matériau
dont la discontinuité
d'absorption λK du filtre se
trouve entre λKβ et λKα du
rayonnement incident.
Pour une anode de
numéro atomique Z, le
matériau du filtre est de
numéro atomique Z-1 ou
Z-2
Filtres Kβ
Anode Filtre IKα/IKβ Epasseur pour après filtre IKα avant filtre
Masque
Détecteur
Plate-forme porte-
échantillon
Echantillon
Diffractomètre de Poudre
Optiques de Base
Masque EchantillonPolycrystallin
Fente de divergence
Le système α1-reflection
Fentes de Soller
Fentes de réception
D
étecteur
Fentes de Soller
Fente anti-diffusion
Fente d’Irradiation
Tube RX
(foyer linéaire)
Echantillon Polycrystallin
monochromateur Fente de divergence
Pour le faisceau programmable
incident
Le capillaire tournant
Anti-scatter
housing
Soller slits
Anti-scatter
Hybrid monochromator housing
Position Sensitive
X-ray tube Detector (PSD)
(line focus)
Powder sample in
∆ θ= 18" - 25" capillary spinner
Divergence slit
Optiques parallèles
Detector
Slit 0.1 mm
Beam mask
Divergence slit Thin layers
Bragg-Brentano λα1 et λα1 + λα2
Bragg-Brentano et Parallel Beam
Alpha-1 et Hybrid
Stratégie d’acquisition de données
• Dépend de l’application :
• Deux alternatives
– Fente de Divergence fixe
– Longueur irradiée fixe
Fentes de Divergence
Optiques
La Fente de
Divergence
Fente de Divergence
• Le choix de la taille de la fente de divergence dépend du
domaine angulaire
• Une fente de divergence de petite taille permettra
d’irradier une petite longueur à la surface de l’échantillon,
sans dépasser les limites de cet échantillon, à bas
angles
• Une fente de divergence de 1° et une fente de réception
de 0.1 mm permet de commencer un scan à 1.25°2θ. En
dessous de cette valeur, le faisceau direct atteindra le
détecteur
Fente de Divergence
Divergence illuminated length on the sample at a 200mm radius
slit size °
1mm 2mm 5mm 10mm 15mm 20mm
minimum 2θ angle
1/32 12.6 6.4 2.6 1.2 0.84 0.63
1/16 25.2 12.6 5.0 2.6 1.6 1.2
1/8 52.0 25.2 10.0 5.0 3.4 2.6
¼ 122.0 51.8 20.2 10.0 6.6 5.0
½ 122.0 41.0 20.2 13.4 10.0
1 88.6 41.0 17.0 20.2
2 88.6 55.6 41.5
4 137.6 88.8
W = sin α x B
Instrumentation
Optiques Primaires
Effet des
Fentes de
Soller
Optiques Bragg-Brentano
• La surface de l’échantillon est
la bissectrice du faisceau
incident et du faisceau
diffracté ⇔
• Le foyer du faisceau diffracté
est à la même distance que le
foyer du tube
• Résolution optimale
Optiques parallèles
Surface rugueuse
Films minces
Bonne résolution
Bragg-Brentano et faisceau Parallèle
Bragg-Brentano Faisceau parallèle
± para focussing ± non focalisant
± échantillons plans ± échantillons rugueux
± réflexion ± géométrie en réflexion et en
transmission
± Bonne statistique de
comptage ± statistique de comptage moins
bonne
± intensité contre résolution
± intensité contre résolution
± erreur de déplacement possible
± erreur de déplacement
impossible
Erreur de positionnement
• Un déplacement
d’échantillon entraine un
décalage de pics
2 s cos θ
∆ 2θ =
R
Fente Anti-diffusion
• Définie la longueur irradiée
– A un effet majeur sur l’intensité
– Utilisée pour diminuer le bruit de fond
– Idéalement l’aire observée est représentative de l’aire
irradiée
• Deux possibilités :
– Même configuration que la PDS (2)
– Derrière la PRS (Réflectometrie)
Fente de Réception
• Cette fente est placée juste après l’échantillon
devant la fente anti-diffusion ou juste après la
fente anti-diffusion.
• La résolution du diffractomètre dépend
pricipalement de l’ouverture de cette fente de
Réception
• L’ouverture optimale de la fente de réception est
sensiblement plus grande que la largeur
apparente du faisceau W
Fente de Réception
L’ouverture optimale à un angle take-off de 6° est:
• Pour un tube BF 0.2 mm
• Pour un tube NF 0.1 mm
• Pour un tube FF 0.05 mm
• Pour un tube LFF 0.05 mm
Fente de Réception
Effet de l’ouverture de
la Fente de Réception
Optiques Programmables Bragg-Brentano
Platformes échantillons PreFIX
• Passeur pour 15 ou 45 échantillons
Instrumentation
• Plate-forme porte-
échantillon:
• Pour porte-
échantillon circulaire
• Issus du PW1800
Instrumentation
• Plate-forme porte-
échantillon:
• Multi Purpose Sample stage
• Pour échantillons plats et
aux formes irrégulières
• Echantillons de plus de 1 kg
Instrumentation
• Plate-forme porte-échantillon :
Sample spinner