Formation APT-9600

TAKAYA APT-9600
Tables des matières
1 Présentation ................................................................................................... 5
1.1 Domaine d’utilisation ......................................................................................................5
1.2 Installation du logiciel et des mises à jour ........................................................................5
2 Le logiciel ...................................................................................................... 5
2.1 Généralités ....................................................................................................................5
2.2 Lancement du logiciel .....................................................................................................6
2.3 La structure du logiciel....................................................................................................6
3 Description des menus .................................................................................... 6
3.1 Menu EDIT ....................................................................................................................6
3.2 Menu OPTIMISATION .....................................................................................................7
3.3 Menu TOOL ...................................................................................................................8
3.4 Menu REFERENCE ..........................................................................................................8
3.5 Menu TEST ....................................................................................................................9
3.6 Menu TOTAL ..................................................................................................................9
3.7 Menu COORDINATE ..................................................................................................... 10
3.8 Menu SELF DIAG .......................................................................................................... 10
3.9 Menu CONVERT ........................................................................................................... 11
4 Paramétrage de base de la machine .................................................................12
4.1 Le système optique ...................................................................................................... 12
4.2 Point de référence Machine ........................................................................................... 13
4.3 Offset capteur Open checker / probe ............................................................................. 14
5 Création d’un programme de test.....................................................................15
5.1 Programme 1 seule face. .............................................................................................. 15
5.1.1 Importation du fichier CA8 provenant de TE 9.2. ........................................................ 15
5.1.2 Configuration du menu Data Mode ............................................................................ 17
5.1.2.1 VERIFICATION DU POINT DE REFERENCE. ........................................................ 17
5.1.2.2 LA GESTION DES COORDONNEES ..................................................................... 18
5.1.2.3 PRESSION DES SONDES ................................................................................... 19
5.1.3 Recalcule des coordonnées sur les emplacements réels des mires. .............................. 20
5.2 Programme 2 faces. .................................................................................................... 22
5.2.1 Importation des fichiers CA8 provenant de TE 9.2. ..................................................... 22
5.2.2 Configuration du menu Data Mode ............................................................................ 27
5.2.2.1 GESTION DU CONVOYEUR ................................................................................ 27
5.2.2.2 VERIFICATION DU POINT DE REFERENCE. ........................................................ 29
5.2.3 Recalcule des coordonnées sur les emplacements réels des mires. .............................. 31
5.3 Définition des High Fly \ No contact Zones : ................................................................... 33
5.4 Apprentissage des mires. .............................................................................................. 37
5.5 La Real Map. ................................................................................................................ 39
5.6 Apprentissage de l’Open Checker. ................................................................................. 48
5.7 Points de garde automatiques ....................................................................................... 49
TAKAYA APT-9600– Version 1.0– 2/105

Accelonix – Zac du long Buisson – 260 rue Clément Ader – 27000 Evreux
Tél : 0232356480 – Fax : 0232350066 – email : info@accelonix.fr – www.accelonix.fr
5.8 Mise au point du programme ........................................................................................ 50
5.8.1 Description des outils................................................................................................ 51
5.8.2 Comment mettre au point ? ...................................................................................... 53
5.9 Optimisation ................................................................................................................ 56
5.9.1 Réarrangement et combinaison ................................................................................. 56
5.9.2 Hauteur des sondes. ................................................................................................. 57
5.10 Exploitation du programme en mode ‘TEST’ ................................................................... 59
5.10.1 Paramétrage du mode TEST ................................................................................. 59
5.10.1.1 PRIMARY SETUP. ............................................................................................. 60
5.10.1.2 STARTING/ENDING MESSAGE. .......................................................................... 60
5.10.1.3 GROUP SEQUENTIAL TEST. .............................................................................. 61
5.10.1.4 FAILURE DATA STORAGE. ................................................................................ 61
5.10.1.5 ALL TEST DATA STORAGE. ............................................................................... 62
6 La panélisation ..............................................................................................62
6.1 Définition du type de panel ........................................................................................... 63
6.2 Ajustement des cordonnées XY ..................................................................................... 63
6.3 Ajout de mires locales................................................................................................... 63
6.4 Génération du panel .................................................................................................... 70
6.5 Déplacement des mires................................................................................................. 74
7 Le Bottom Tools. ...........................................................................................76
7.1 Les supports pins. ........................................................................................................ 76
7.1.1 Configurer la position. .............................................................................................. 76
7.1.2 Vérifier la position. ................................................................................................... 78
7.2 Les bottom probes. ...................................................................................................... 79
7.2.1 Configurer la position. .............................................................................................. 80
7.2.2 Vérifier la position. ................................................................................................... 81
7.2.3 Création d’un pas de test pour la Bottom Probe. ......................................................... 81
8 La référence supplémentaire en test électrique. .................................................83
9 La fonction Probe permission. ..........................................................................85
9.1.1 Règles d’application des probes permissions. ............................................................. 86
9.1.2 Représentation des probes permissions. .................................................................... 87
10 Le Contact Point Information et l’Identification Net.............................................88
10.1 Le Contact Point Information. ....................................................................................... 88
10.2 L’identification Net Name. ............................................................................................. 90
11 Test de régulateur et de relais avec la carte PDC. ..............................................92
11.1 Configuration de l’Option Mode. .................................................................................... 92
11.2 Test de régulateur. ....................................................................................................... 93
11.2.1 Création d’un pas de test. ..................................................................................... 93
11.2.2 Debug du test de régulateur. ................................................................................ 96
11.3 Test de relais. .............................................................................................................. 97
11.3.1 Création d’un pas de test. ..................................................................................... 97
11.3.1.1 LES ATTRIBUTS. ............................................................................................ 97
11.3.1.2 DECLARATION DANS LA PART LIBRARY. ...................................................... 97
11.3.1.3 DEFINITION DU BROCHAGE. ......................................................................... 97
11.3.1.4 DESCRIPTION DU RELAIS DANS LE APT9400.CNF .............................................. 98
11.3.2 Debug du test de relais. ........................................................................................ 99
12 Paramétrage du testeur ..................................................................................99
12.1 Structure du soft (paramétrage) .................................................................................... 99
12.2 Initialisation du système (configuration minimum) ........................................................ 100
12.2.1 Configuration CAMERA ........................................................................................ 100
12.2.2 Point de Référence Machine ................................................................................ 100
12.3 Configuration du test .................................................................................................. 102
12.4 Paramétrage supplémentaire....................................................................................... 103
Tableau de suivi des évolutions de version
Version Date Objet de la modification

1.0 15/10/2012 Création de la documentation
Tableau de validation
Version Rédacteur Vérificateur / approbateur

Nom / date / visa Nom / date / visa
1.0 E. Delpire-15/10/2012 E. Delpire-15/10/2012

1 Présentation
Cette documentation a été réalisée dans le but de décrire la procédure de création d’un
programme et plus globalement d’aider le développeur et l’opérateur à exploiter un
testeur Takaya APT94XXCE.
1.1 Domaine d’utilisation
L’utilisation de cette documentation est réservée aux testeurs de la gamme 9411 à partir
de la version de logiciel 1.0-7.
1.2 Installation du logiciel et des mises à jour

Le logiciel TAKAYA est fourni sur CD ROM
Le CD ROM fourni contient :
- L’installation complète du logiciel Takaya.

- La mise à jour du système - dernière version.
Pour toutes les autres mises à jour à venir, vous pourrez les obtenir sur le site
ACCELONIX :
http://www.accelonix.fr/wwww/
Dans le cadre de la garantie ou d’un contrat de maintenance, un Login et un mot de

passe vous seront fournis pour accéder à la zone de téléchargement.
Pour plus d’informations concernant l’installation, merci de vous référer à la

documentation d’installation du logiciel.
2 Le logiciel
2.1 Généralités
Le logiciel Takaya fonctionne sous Windows 2000/NT/XP. L’interface graphique est

commune aux plates-formes 8000 et 9000 de la gamme Takaya, permettant ainsi une
compatibilité entre les systèmes.
Cette compatibilité s’exerce tant au niveau de l’utilisation qu’au niveau de la

programmation.
Le logiciel est protégé par un système de clé, et ceci pour les applicatifs testeurs et
station de travail.
Dans le cas d’un testeur APT9411, cette clé peut être parallèle ou USB.

2.2 Lancement du logiciel
Après l’installation, des icônes et raccourcis correspondant

au type de votre testeur ont été créés. Pour lancer le
logiciel, il suffit donc de sélectionner par exemple dans le
menu Démarrer, le logiciel APT-9411.
2.3 La structure du logiciel
Le logiciel TAKAYA est structuré en fonction des éléments suivants :
La gestion des fichiers

La configuration
La création, la modification et l’optimisation de nomenclatures et de coordonnées
XY
La création et l’apprentissage des mesures
La mise au point et les optimisations
La production.
Ces fonctions sont disponibles à travers la barre des menus du logiciel, mais aussi à
travers les onglets qui servent globalement de raccourcis. Vous retrouverez sur ces
onglets toutes les fonctions couramment utilisées.
3 Description des menus
3.1 Menu EDIT
Ce menu permet l’édition du programme au format texte. Il offre la possibilité de

modification (ou de création) des informations de nomenclature, du type de test, des
positions de sondes…

Menu du mode Edit
Edition des XY
des clous
Rechercher, changer
les paramètres
Ressources de l’éditeur
3.2 Menu OPTIMISATION
Réarrangement par
type d’impact
Réarrangement par
tri des composants
Optimisation des
déplacements
Gestion des combinaisons
Ce menu permet de diminuer le temps de test par optimisation mécanique.

3.3 Menu TOOL
Menu d’aide à la programmation
Menu recherche et remplace
Génération des localisations
Outil de panélisation
3.4 Menu REFERENCE
Création de tests d’OPEN par rapport aux

coordonnées XY
Copie des valeurs de nomenclature en

référence (programmation manuelle)
Auto-apprentissage des valeurs

sur plusieurs cartes
Auto apprentissage des

valeurs sur 1 carte

3.5 Menu TEST
Recherche
Utilisation des sondes

externes
Mise au point du programme
Test des cartes
Correction des coordonnées
Configuration du mode test
Configuration du programme de test
3.6 Menu TOTAL
Différents modes pour les Statistiques

3.7 Menu COORDINATE
Recalcul des coordonnées avec trois points
Recalcul des coordonnées avec deux points
Changement du point de réf.
Retourner la carte
Rotation à 270° dans le sens des aiguilles d’une montre
Rotation à 180°
Rotation à 90° dans le sens des aiguilles d’une montre
3.8 Menu SELF DIAG
Autotest de l’open-Checker
Test hauteur des probes.
Changement des probes.
Mesure des capacités parasitiques entre sondes.
Compteur d’impacts.
Autotest des relais.
Autotest de l’unité de mesures.
Test des capteurs.
Test des sécurités.
Test du clavier TAKAYA.
Test de la descente des sondes.

3.9 Menu CONVERT
Importation / Exportation format ASCII.
Importation / Exportation format CA8.
Importation / Exportation format apt8000 Dos.
Importation / Exportation format apt8000 Windows.
Importation / Exportation format apt9000 Windows.

4 Paramétrage de base de la machine
4.1 Le système optique
Avant tout paramétrage, il est nécessaire de configurer le système de vision du testeur.

Il existe trois types de système, le TOS41, le TOS4 et le TOS5. Suivant le type de
testeur, le type de TOS sera automatiquement détecté.
Pour paramétrer le système optique, cliquer sur l’onglet MODE puis sur OPTION MODE.
L’écran suivant apparaît :
1 : Activer l’utilisation du
système optique.
2 : Choisir le format
de l’image (PAL).
3 : Les autres paramètres

doivent être désactivés.
Ce paramétrage est à faire une seule fois à l’installation de la machine.

4.2 Point de référence Machine
Sa fonction est de calibrer les axes X, Y, Z du testeur ainsi que l’offset entre la caméra
et les sondes. La calibration en Z permet d’ajuster la pression des sondes.
L’offset probe/caméra permet d’indiquer au testeur la distance entre les sondes et la
caméra.
Pour lancer une calibration, cliquer sur l’onglet MODE, puis sur MASTER MODE et cliquer
sur MACHINE REFERENCE POINT.
Choisir AUTOMATIC SETUP pour lancer la calibration automatique du point de réf.

machine et l’offset caméra.
Ce réglage est à faire régulièrement.
Pour plus de précisions, voir chapitre 7.

4.3 Offset capteur Open checker / probe
Le testeur dispose de deux capteurs open Checker permettant de détecter les broches de
composants non soudées.
Le réglage de ces sondes se fait de manière visuelle. Voici une méthode pour le faire :
- Aller dans FILE puis NEW pour créer un nouveau programme.
- Ensuite placer dans la machine une carte (n’importe laquelle).
- Aller dans MODE puis DATA MODE puis BOARD REFERENCE POINT et définir un point de
référence sur la carte. L’idéal est de choisir le point haut d’un via qui se trouve dans une
zone dégagée de la carte (voir dessin ci-dessous).
Point à prendre.
- Valider ce point de référence carte par OK.
- Ensuite, pour effectuer le réglage, aller dans MODE puis OPTION MODE et IC OPEN.
- Appuyer sur TEST START, puis suivre les indications présentes à l’écran.
- La sonde 3 se déplace et en appuyant sur « PROBE DOWN », vous verrez qu’elle
descend sur le point de référence choisi précédemment. NE PAS MODIFIER cette position
et valider par ENTER (2x).
- Ensuite, la sonde bouge de nouveau. En appuyant de nouveau sur « Probe down », la
sonde O/C descend. Utiliser les flèches du clavier machine pour que la position de la
sonde O/C soit juste au-dessus du point de référence choisi ci-dessus :
Sonde O/C
Via
- L’ajustement de cette position se fait de manière visuelle. Lorsque c’est OK, valider par
ENTER
- Ensuite, la sonde se déplace et vient sur le point de référence machine. Vérifier qu’elle
cache ce point de référence.
- Faire de même avec la sonde 2 puis valider par OK pour finir.
Note : Le capteur ne doit pas présenter d’offset dans l’axe des X. Le seul réglage possible
dans le logiciel est pour l’axe des Y. Pour vérifier que le réglage en X est correct,
apporter manuellement le bras concerné au-dessus d’une carte, descendre la sonde
(électrique) sur un point repérable et sans bouger en X, descendre la sonde O/C sur la
carte. Le point repéré précédemment doit être dans l’axe central de la sonde O/C. Si vos
capteurs présentent un décalage en X, merci de prendre contact avec le service
technique Accelonix.

5 Création d’un programme de test
Avant de commencer à créer un programme de test, vérifier bien que le testeur soit
correctement paramétré ; globalement que les fonctions de la section précédente soient
exécutées correctement.
5.1 Programme 1 seule face.

5.1.1 Importation du fichier CA8 provenant de TE 9.2.
Le chargement des données issues du logiciel Test expert est réalisé soit par le menu
FILE puis OPEN ou par l’onglet CONVERT / CA8.
Le menu qui apparaît est dans les 2 cas le même.

INDEX SEARCH permet la recherche d’un
programme en fonction d’un index entré à la
création.
Ces boutons permettent le filtrage des

informations.
Par exemple :
91W : Programme de test APT9411
90W : Programme de test APT9400-9401
80W : Programme de test APT8XXX pour
Windows
80D : Programme de test APT8XXX pour Dos
CA9 : Données CAO
3
1

Une fois la conversion effectuée, vous arrivez dans le menu de configuration de votre
programme DATA MODE.
5.1.2 Configuration du menu Data Mode

Le Menu Data mode permet de configurer les différents paramètres liés au programme
de test.
Vous indiquez dans le

champ Width la dimension
de votre carte.
Cette distance mesurée en
mm correspond à la
largeur (Y) de celle-ci.
5.1.2.1 Vérification du point de référence.
Ce réglage vous permet de donner la position de la carte dans le testeur et ainsi de

référencer les coordonnées par rapport à un zéro carte (X=0, Y=0).
Pour ajuster, placer la carte et appuyer sur TEST START.
Puis à l’aide de la caméra, aller chercher le point de référence de la carte. Ce point

correspond à la « USER ORIGIN » défini sur le logiciel AE7.0.0.
Une fois l’ajustement terminé, valider la position à l’aide de la touche ENTER sur le
clavier du testeur, et ensuite, cliquer sur OK dans le menu DATA MODE.

1
5.1.2.2 La gestion des coordonnées
La section « Coordinates Management » est destinée à paramétrer :
• le système de gestion de coordonnées :

o « Teaching system » qui ne travaille qu’avec des coordonnées
o « Point system » qui utilise des numéros de clous.
• l’association de deux programmes TOP et BOT en un seul (side A/B).
• la gestion du mode de panélisation :

o Soit en dupliquant les cartes (clous + pas de test) : option désactivée.
o Soit en n’utilisant qu’une carte et en donnant les offset entre les cartes :
option active.
• la gestion des accès de sonde.
• la gestion de la Net List.

Système de
coordonnées (gestion
ou non des clous).
Panélisation sans duplication des

Association de 2 pas de test (si actif).
programmes
TOP/BOT en 1 seul.
Autorise la gestion
des accès de sonde.
Prise en compte de
la Net List.
5.1.2.3 Pression des sondes
Cette fonction permet d’ajuster la pression des sondes appliquée au produit.
Les valeurs habituelles vont

de 0.5mm à 2mm. Sachant
que 2mm correspond à env.
150g et 0.5mm à env. 60g

5.1.3 Recalcule des coordonnées sur les emplacements réels des mires.
Cette étape permettra de recalculer les positions exactes des clous de test à partir des
mires de la carte et ainsi de mettre en phase les coordonnées théoriques avec la carte
présente dans la machine. Cette opération n’est pas obligatoire puisque le système refait
ce calcul à chaque lancement de carte en test. Par contre, elle est nécessaire en cas de
changement de point auxiliaire ou d’une panélisation.
Attention : Sortir la carte de la machine et la remettre annule ce réglage.
1
2
3
2 : La commande « Amend » recalcule les coordonnées avec 2 points (mire principale +

auxiliaire).
3 : La commande « Amend S » recalcule les coordonnées avec 3 points (mire principale
+ 2 auxiliaires).
Faire une des deux opérations selon le nombre de mires sur la carte.
Cliquer sur « Yes ».

4
Appuyer sur TEST START

pour démarrer le réglage.
Bien positionner la cible au dessus de la mire

principale et de la mire auxiliaire. Valider les
positions par un clic droit ou par la touche
ENTER.
Valider par OK dans la fenêtre REVISE.

Le calcul des coordonnées est maintenant terminé.

5.2 Programme 2 faces.
5.2.1 Importation des fichiers CA8 provenant de TE 9.2.
Lors de la génération du programme sur Test expert, le programme se retrouve

généralement sur 2 faces car les accès sur tous les équipotentielles de la carte ne sont
pas possible sur un seul côté.
Dans ce cas-là l’import des deux fichiers CA8 s’effectue simultanément.

Vous allez dans le menu File\Convert\A/B Data Convert.

La fenêtre ci-dessous vous demande de sélectionner la face TOP :
Ensuite vous sélectionnez la face BOTTOM :

Choisissez l’Y-direction.
Puis la fenêtre suivante apparait :

Si vous avez le même point de référence côté bottom et top vous cochez la case :
A cette étape vous pouvez également effectuer une rotation de la carte.
Ensuite vous pouvez exécuter le probing point optimization.

Et le Coordinates Sort :
A la question ci-dessous, vous répondez Yes.
A la fin de l’optimisation, vous arrivez dans le menu Data Mode.

5.2.2 Configuration du menu Data Mode
Le Menu Data mode permet de configurer les différents paramètres liés au programme
de test.
5.2.2.1 Gestion du convoyeur

Sur les testeurs In line, cette étape permet de définir la largeur du convoyeur.
Dans PCB size, vous indiquez la largeur de la carte et vous cliquez sur ‘TEST START’, le
convoyeur va s’initialiser à sa position home et se déplace à la largeur indiquée.
Le PCB Thickness permet de régler les bottom probes.

Pour cela il est nécessaire d’indiquer l’épaisseur du PCB.
Vous cliquez sur ‘Bottom probes setting’ , ‘Next’ et ‘TEST START’.

Le testeur effectue le réglage des sondes bottom.
Après cette étape vous validez OK dans le ‘Data mode’

5.2.2.2 Vérification du point de référence.
Ce réglage vous permet de donner la position de la carte dans le testeur et ainsi de

référencer les coordonnées par rapport à un zéro carte (X=0, Y=0).
Pour ajuster, placer la carte et appuyer sur TEST START.
Puis à l’aide de la caméra, aller chercher le point de référence de la carte. Ce point

correspond à la « USER ORIGIN » défini sur le logiciel TE 9.2.
Cette opération est à effectuer aussi pour la référence Bottom si celle-ci est différente de
la référence Top.

Une fois l’ajustement terminé, valider la position à l’aide de la touche ENTER sur le
clavier du testeur, et ensuite, cliquer sur OK dans le menu DATA MODE.

5.2.3 Recalcule des coordonnées sur les emplacements réels des mires.
Cette étape permettra de recalculer les positions exactes des clous de test à partir des
mires de la carte et ainsi de mettre en phase les coordonnées théoriques avec la carte
présente dans la machine. Cette opération n’est pas obligatoire puisque le système refait
ce calcul à chaque lancement de carte en test. Par contre, elle est nécessaire en cas de
changement de point auxiliaire ou d’une panélisation.
Attention : Sortir la carte de la machine et la remettre annule ce réglage.
A la question ci-dessous, vous répondez Yes, la mise en phase des coordonnées

s’effectuera en vérifiant le point de référence et les auxiliaires.

Bien positionner la cible au-dessus de la mire
principale et de la mire auxiliaire. Valider les
positions par un clic droit ou par la touche
ENTER.
Valider par OK dans la fenêtre REVISE.

Le calcul des coordonnées est maintenant terminé autant pour la ce Top que la face
Bottom.

5.3 Définition des High Fly \ No contact Zones :
Cette étape a pour but de définir des zones que les sondes du testeur devront survoler,
ainsi que les zones où ces sondes ne devront pas descendre.
« Cette étape est très importante et devra être exécutée avant de commencer la mise au
point du programme » (Risque de casser des sondes).
Définitions importantes :
- Une HIGH-FLY ZONE indique au système qu’il devra remonter les sondes à une
hauteur définie dans une surface définie. Il n’interdit absolument pas aux sondes
de descendre dans cette zone et ne tiens pas compte des inclinaisons de ces
sondes.
- Une NO-CONTACT ZONE interdit aux sondes de rentrer en contact avec la carte
sur une surface définie.
- Une HIGH-FLY/NO-CONTACT ZONE indique aux sondes de remonter à une hauteur
définie dans une surface définie avec INTERDICTION pour les sondes de
descendre à l’intérieur de cette zone. Dans ce cas, le système à une
représentation 3D du composant et tiens compte de l’angle des sondes.
Attention : Ces zones ne peuvent en AUCUN CAS interdire aux sondes de survoler
une surface définie. La hauteur MAXIMALE d’un composant côté TEST est donc de
40mm.
Pour créer ces zones, aller dans le menu EDIT puis LIST.
1
2
Une fois la liste des pas de test affichée, aller dans TOOL puis HIGH-FLY/NO CONTACT
ZONE.

La fenêtre suivante s’affichera après avoir validé la position des mires.
Définition d’une zone à survoler

Note : L’association
des deux options est
Définition d’une zone sans contact possible en validant les
deux.
Autorisation à la sonde O/C de descendre

dans une no-contact zone.
Définition de la hauteur de la zone
Nom de la Zone.
Définition de la surface de la zone
5 : Double cliquer sur le champ « Lower left corner » et, avec l’aide de la camera,
positionner le curseur sur l’angle en bas à gauche de l’obstacle (connecteur, pile, rebord
métallique…etc.)

Une fois le curseur bien positionné, valider par la touche ENTER sur le testeur, et faire le
même réglage pour l’angle en haut à droite de l’obstacle.
Une fois le curseur bien positionné, valider par la touche ENTER sur le testeur.
Cliquer sur SETUP pour confirmer la création de la zone dans le programme.

Cette zone va apparaître sur l’interface de test par la suite.
High Fly \ No Contact

Zone

5.4 Apprentissage des mires.
Cette étape va permettre d’utiliser le système optique pour la reconnaissance

automatique des mires.
Aller dans la menu MODE / DATA MODE / AUXILIARY REFERENCE POINT(S) puis suivre
les indications 1, 2 et 3 ci-dessous.
1
Cette manipulation permettra d’apprendre les mires de la carte en optique. Une autre
solution est d’aller dans l’onglet REFERENCE puis O.REF.
Attention :
Avant de réaliser cette étape, assurez-vous de bien avoir fait le recalcule des
coordonnées (chapitre 5.3) et de ne pas avoir sorti la carte de la machine entre
temps !!!
Valider par YES.

1
1- Définir la taille de l’image à apprendre.

2- Régler le Gain et l’offset afin d’avoir un bon contraste
noir/blanc.
3- Valider en cliquant sur « Mark OK »
4- Définir la zone de recherche de la mire. Attention à ne
pas faire cette zone trop petite dans le cas du « Board
Reference Point ».
5- Valider par « AREA OK »
Faire les mêmes manipulations pour la (ou les) mire(s) auxiliaire(s).
Une fois cette opération terminée, vous appuyez sur TEST STOP (clavier testeur) pour
pouvoir continuer.

5.5 La Real Map.
Sur le testeur APT9600, vous pouvez vous aider de la Real Map pour mieux visualiser vos
clous côté Bottom en scannant votre carte à l’aide de la caméra.
Vous allez dans le menu Real Map et cocher ‘Use Real Map Function’.
En cliquant sur ‘PCB Image Capture’, vous choisissez la face à scanner et validez ‘TEST START’.

Vous allez spécifiez le côté en bas à gauche et en haut à droite de la carte :
Vous déplacez la caméra sur le coin en bas gauche de la carte :

Vous déplacez la caméra sur le coin en haut à droite de la carte :

Si l’image n’est pas correcte, vous pouvez ajuster la brillance, le contraste et la
luminosité des LED.

En validant OK, la capture d’image débute :
Une fois la capture effectuée vous validez sur OK.

Vous effectuez la même opération pour la face Bottom de la carte en spécifiant le côté en
bas à gauche et en haut à droite de la carte :

En validant OK, la capture d’image débute :

La real Map une fois effectuée, vous permet de bien visualiser la position de vos clous par rapport au
PCB en debug par exemple :

5.6 Apprentissage de l’Open Checker.
L’Open Checker est le système permettant de vérifier si les broches des CIs et des
connecteurs sont correctement soudées.
Ce système fonctionne par apprentissage. Durant cette phase d’apprentissage, le
système va acquérir plusieurs paramètres qui sont :
- la hauteur du composant sous test

- la valeur de référence.
L’apprentissage se lance comme suit :

1
2 3
Attention ! Il faut désactiver la

génération automatique des
tolérances.
Appuyer ensuite sur TEST START
Une fois l’apprentissage terminé, il faudra passer en revue les valeurs apprises lors de la
phase de DEBUG.

5.7 Points de garde automatiques
Dans le soft APT-9411, il existe une option pour gérer automatiquement les points de
garde. Cette option permettra d’avoir des mesures plus stables.
Cette fonction est activée en cliquant sur l’onglet TEST, REVIEW et AUTOMATIC GUARD
POINT SETTING.
Environ 70% à 80% des points de garde seront positionnés en automatique. Le reste est
à faire manuellement en DEBUG.

5.8 Mise au point du programme
La partie mise au point est destinée à stabiliser les mesures ainsi qu’à apprendre les
images des tests visuels d’un programme de test. Le testeur présentera l’écran de mise
au point à chaque instabilité de mesure.
Cette fonction est activée en cliquant sur l’onglet TEST, REVIEW et STEP DATA REVIEW.
La fenêtre suivante apparaît :

5.8.1 Description des outils
Champs Commentaire
Step Numéro du pas en cours de test
Accepted Indicateur permettant au programmeur de marquer un test
START (=) Continue de dérouler le programme de test
Parts Nom ou label du composant testé
Value Valeur du composant testé ou commentaire utilisé pour
renseigner le pinning du composant testé
Comment Commentaire limité à 14 caractères sauf pour OPEN CHECKER
Reference Etalon du test, valeur que l’on retrouve à la tolérance près
Loc Situation géographique du composant sur la carte, exprimée à
l’aide d’un code alphanumérique ou du type « mots croisés ».
Elément Elément du pont de mesure utilisé pour cette mesure(R.L.C.D).
Function
BLANK Aucune fonction
JUMP (H) Saut du pas en cours
HOLD Pause sur le pas en cours, l’opérateur doit réappuyer sur TEST
START pour relancer le test
SHORT (Shift A) Test de court circuit, la mesure de résistance faite doit être
inférieure à 10Ω.
OPEN (Shift B) Test d’isolation, la mesure de résistance faite doit être supérieure
à 100Ω.
ADJUST Permet le réglage de potentiomètre avec des outils électriques
spécifiques.
>NG< Mesure Fail si comprise entre les tolérances
NG> REF Mesure Fail si supérieure à la référence value
NG< Réf Mesure Fail si inférieure à la référence value.
Group jump Saut du groupe de mesures
Visual test by camera Test vidéo à décision humaine
Temp.Value Buffer de saisie de la référence value. Permet de changer cette

dernière manuellement
Measure Mode
AUTO MODE La ressource utilisée par la machine pour tester ce composant
sera choisi par le système en fonction de la stabilité de la mesure.
DC-CV Courant constant, tension variable.
DC-CC Courant constant, tension constante
DC-CC4 Mesure 4 fils pour les résistances de faible valeur « de 0.4O à
4O »
AC160 Tension alternative 160Hz
AC1.6K Tension alternative 1.6Khz
AC16K Tension alternative 16Khz
AC160K Tension alternative 160Khz
IAC160 Courant alternatif 160Hz
IAC1.6K Courant alternatif 1.6Khz
IAC16K Courant alternatif 16Khz
IAC160K Courant alternatif 160Khz
DC-ZD Test de diode zéner qui n’est paramétrable que manuellement et
qui nécessite que la tension zéner soit exprimée dans le champ
Value.
DC-VM (N’apparaît qu’en test de diode) Mesure de tension entre deux
sondes.
DT-PNP Test de transistor PNP saturé : Diode entre E et C garde sur B. La
tension E C mesurée doit être inférieure à 0.3V. (N’apparaît qu’en
test de diode)
DT-NPN Idem ci-dessus pour transistor NPN. (N’apparaît qu’en test de
diode)
DC-PC test d’opto-coupleur : Polarisation de la LED, mesure de la tension EC du
phototransistor qui doit être inférieure à 0.3V
LD-CN Open Checker. (N’apparaît qu’en test de diode)
Range Calibre. Dépend de la ressource utilisée.

Measure Time Délai de mesure, temps entre l’établissement de l’alimentation du
test et la mesure.
+Limit Tolérance haute
-Limit Tolérance basse
Speed Permet de décroître la vitesse de descente des sondes.
0 = Vitesse max, 15=Vitesse min
Pos H, M ou L correspond à la hauteur de vol de sondes.
Les positions de hauteur de M et L sont variables, cette valeur se
gère dans le ‘Data Mode’ en ‘Top Position of Probe’
P1 P2 P3 P4 0 0 0 0 correspond à la position la plus basse des 4 sondes
Chacune de ces positions peut varier de :
0 = position la plus basse = réglage machine
F = position la plus haute = réglage machine + 15 mm.
On relève les sondes pour obtenir le contact sur une carte fille par
exemple qui peut être surélevée jusqu’à 15mm par rapport à la
carte à tester.
Auto Polarity (5) Polarité de la mesure : permet la visualisation des sondes
utilisées comme point chaud (+), froid (-), non utilisées (N),
garde (G) ou antenne Open Checker (A). Permet de changer les
sondes utilisées au profit d’autres.
Par défaut, le testeur attribut les sondes 1 et 4 aux tests.
Avec cette fonction, le programmeur peut en choisir d’autres
Test –1 Premier test effectué à l’arrivé à ce pas.
Test –2 Si le premier test est déclaré Fail, le testeur relève les sondes et
effectue un deuxième test dont le résultat se trouve affiché dans
ce champ.
Judge Jugement de la mesure
PASS La mesure est conforme
UP-NG La mesure est plus haute que la tolérance haute
LOW-NG La mesure est plus basse que la tolérance basse
SHORT La mesure est en court circuit
OPEN La mesure est infinie
H-pin Numéro de clou utilisé comme point chaud.

L-pin Numéro de clou utilisé comme point froid
G-P1 Numéro de clou utilisé comme point de garde N°1.
G-P2 Numéro de clou utilisé comme clou de garde N°2
Probe X [+202.0400, +072.0400] Bras utilisé et coordonnées associées
Data
Auto Input (1) Effectue un auto-apprentissage de la mesure en cours. Le résultat

de cette mesure se lit dans la case Temp.Value
Input (2) Effectue une mesure avec les paramètres de son choix. Le
résultat de cette mesure se lit dans la case Temp.Value.
Store (0) Sauvegarde des modifications affectant ce pas de test. Le contenu
de Temp.Value est copié dans le champ Référence lors de cette
sauvegarde
Guard
Input Mise en place d’un ou deux points de garde.
Delete Efface un ou deux points de garde.
Search Mise de point de garde automatique
Search Recherche dans le programme pa

Part name Le nom du composant
Value search La valeur théorique
Pin number Le numéro de clou
Measure
Polarity Check (4) Lecture de la mesure dans les deux sens de polarité.
Le résultat de cette mesure se retrouve dans les fenêtres Polarity
ainsi que sur la représentation graphique. L’information affichée
en rouge correspond à la mesure effectuée dans le sens contraire
du test programmé
Sampling Effectue une lecture de la mesure avec les paramètres de son
choix. Le résultat de cette mesure apparaît dans les cases
Reading
A.Input/Store (.) Effectue un auto-apprentissage de la mesure en cours.
Le résultat de cette mesure se lit dans la case Temp.Value et le
pas de test est sauvegardé automatiquement
Reverse (9) Permet de changer la polarité de la mesure : le point chaud
devient le point froid et vice versa
LCR meter (8) Boucle de mesure. Les sondes ne remontent pas, la mesure
tourne en continu, ce qui permet de jouer sur tous les paramètres
du test pour le stabiliser. La fonction COPY permet de rapatrier au
niveau de l’écran précédent les éventuels changements.
5.8.2 Comment mettre au point ?
La fonction de mise au point fonctionne en mode « Arrêt sur défaut ». Pour démarrer
une session de mise au point, il faut donc appuyer sur TEST START ou sur le bouton
START de l’écran de Mise Au Point.
Voici les différents cas (non exhaustifs) que vous pourrez rencontrer :
Sur les résistances :
Objectif : atteindre la valeur de nomenclature du composant.
Cas Action
La valeur mesurée est trop basse - Vérifier la valeur montée
- Poser un point de garde
La valeur mesurée est trop haute - Vérifier si le cpt est monté

Sur les capacités
Objectif : atteindre la valeur de nomenclature du composant.
Cas Action
La valeur mesurée est trop basse - Vérifier si le cpt est monté
La valeur mesurée est trop haute - Vérifier la valeur montée
- Poser un point de garde
Sur les diodes
Objectif : atteindre une valeur de 0.6V dans le sens passant et une valeur de 2,5V en
sens inverse. 2,5V est la tension injectée pour une mesure de
jonction en DC-CC. Cette tension peut toutefois être limitée en
mettant une valeur inférieure dans le champ « VALUE » .
Cas Action
La valeur mesurée est trop basse - Vérifier si le courant est
suffisamment élevé
- Vérifier si le temps de mesure est
La valeur mesurée est trop haute - Vérifier si la diode est montée
Sur les zéners
Objectif : atteindre la valeur de nomenclature du composant en sens inverse et 0.6V

en sens direct. Le champ « VALUE » doit impérativement contenir la valeur de la
zener.
Cas Action
La valeur mesurée est trop basse - Vérifier si le courant est
- Vérifier si le temps de mesure est
La valeur mesurée est trop haute - Vérifier si la diode est montée
Sur les tests de CC*
Objectif : Vérifier que l’impédance entre 2 équipotentielles est supérieure à 100 ohms
Cas Action
Un Open est mesuré trop bas - Augmenter le temps de mesure

Sur les Open Checker
Objectif : Obtenir une mesure aux alentours de 80 pour avoir un maximum de

sensibilité
De 0 à 10 => Pas de signal (soudure manquante par exemple ou mauvais
contact)
De 10 à 40 => Mauvais signal (test pas fiable)
De 40 à 120 => Bon signal (Valeur très correcte).
De 120 à 140 => Saturation du signal (Test valide mais pas de sensibilité)
Cas Action
La valeur mesurée est trop basse - Vérifier la position de la sonde
- Vérifier l’état du capteur
La valeur mesurée est trop haute - Vérifier la position de la sonde
- Problème de contact avec la masse
- Un point adjacent peut être en CC
avec la broche mesurée.
Pour faire le DEBUG de ces pas de test, le plus simple est d’appeler l’éditeur avec la
touche F2 puis de vérifier les valeurs apprises. Lorsqu’une valeur est incorrecte,
double cliquer sur le pas de test pour revenir en DEBUG sur ce test.
Pour plus de précisions sur la mise au point, se référer à la documentation du

constructeur.
Pour la mise au point de la partie « Vision », se référer à la documentation du TOS.

5.9 Optimisation
Les optimisations sont des fonctions automatiques qui vont permettre de réduire le
temps de test.
Elles sont au nombre de 3 :
- Les combinaisons : permettent l’utilisation des 4 sondes et l’exécution de

plusieurs tests simultanément.
- Les déplacements : minimisent les déplacements des axes
- La hauteur de remontée des sondes : Ne pas systématiquement remonter les
sondes au plus haut pour gagner du temps.
5.9.1 Réarrangement et combinaison
Afin de gagner un maximum de temps, il est préférable de faire l’optimisation des

combinaisons et des déplacements en même temps. Pour cela, aller dans le menu
OPTIMISATION puis SORT.
1
2
Exclusion de L’open Checker

des combinaisons. Réalisation des combinaisons
A activer systématiquement. en même temps que les
déplacements.
Largueur des colonnes

d’optimisation. Activer
cette option avec les
valeurs 500x460 donnera
le meilleur gain de temps.
Optimisation des contacts

de sondes (pas forcément le
meilleur gain de temps).
Autorise l’éclatement des
pas de test des composants
(ex IC) pour favoriser la
vitesse de test.
La configuration ci-dessus vous donnera le meilleur gain de temps.

5.9.2 Hauteur des sondes.
Selon la présence ou la hauteur des composants sur la carte, vous pouvez gérer la
hauteur de remontée des sondes. Par défaut, les pas de test sont tous à High (40mm),
mais vous pouvez les placer à Medium ou Low. La valeur de ces deux derniers
paramètres peut être modifiée dans le menu DATA MODE en TOP POSITION OF PROBE.
Paramétrage des
hauteurs de vol.
Pour appliquer un état aux pas de test, il faut utiliser le menu TOOL puis CHANGE comme
suit :
Ensuite, appliquer le paramétrage suivant et valider.

1 3
2 4
Choisir L ou M en fonction des composants présents sur la carte et des hauteurs définies.
Attention à ne pas définir des valeurs trop basses au risque de casser des sondes.

5.10 Exploitation du programme en mode ‘TEST’
Cette dernière étape vous permet de configurer le programme de test pour le passage
des cartes en production.
L’écran permettant les tests est accessible par l’onglet TEST puis TEST.
Nom du
programme.
Lancement
du test
Barre de
progression. Infos sur la
configuration.
5.10.1 Paramétrage du mode TEST
Le mode TEST comprend un certain nombre de paramètre qui sont accessibles dans Le
TEST MODE par l’onglet MODE puis TEST MODE.

5.10.1.1 Primary Setup.
Ce mode comprend tous les paramètres de base du mode TEST. Ci-dessous les
principaux.
Permet de sortir tous les
pas en faute sur le ticket.
Permet une vérification des Au bout de dix erreurs

mires à chaque carte. consécutives, le test s’arrête.
Permet d’aller dans un

mode de DEBUG
automatiquement à la fin
du test sur les pas en
défaut.
Permet de voir les erreurs

au fur et à mesure du test
(section Message).
5.10.1.2 Starting/Ending Message.
Vous pouvez afficher un message à l’écran avant (ou après) chaque passage de carte
pour interpeller l’opérateur.
En désactivant cette option, le

message apparaîtra une seule fois
au chargement du programme.

5.10.1.3 Group Sequential Test.
Il ne concerne que les produits fabriqués en grande série et permet d’effectuer des tests
séquentiels.
Le groupe 1 est testé sur la carte 1
Le groupe 2 est testé sur la carte 2…
5.10.1.4 Failure Data Storage.
Il permet d’effectuer une sauvegarde automatique de tous les pas de test en faute sous
un format TEXTE. Dans le menu MASTER MODE et ADVANCED OUTPUT FORMAT, vous
pouvez définir le format souhaité ou sinon utiliser un format standard.
Sauvegarde des
défauts au format
standard.
Sauvegarde des défauts

dans des fichiers séparés
pour chaque carte.

5.10.1.5 All Test Data Storage.
Il permet d’effectuer une sauvegarde automatique de tous les pas de test du programme
dans un format TEXTE.
L’extension des fichiers générés est ATD.
Sauvegarde de toutes les

mesures.
6 La panélisation
Cette section va détailler la méthode de panélisation des cartes sur un testeur Takaya
APT9411.
On entend par panélisation l’action de copier un programme de test unitaire sur un

panneau comportant plusieurs cartes du même type et pouvant avoir une rotation
différente.
L’algorithme de création est le suivant :
- Définition du Type de panel

- Ajustement des coordonnées XY.
- Ajout de mires carte si nécessaire.
- Création du programme pour le panel.
- Déplacement des mires générales.

6.1 Définition du type de panel
Vous avez à votre disposition 2 manières de gérer un panel :
- en copiant les clous et les pas de test.
- en gardant le programme unitaire et en définissant des offsets. L’avantage de

cette méthode, c’est que vous ne gérez qu’un programme => Changement de
valeur d’un composant 1 fois = changement de cette valeur sur toutes les cartes
pour ce même composant. De même pour le changement d’une position de clou.
Par contre, il faut impérativement que toutes les cartes soient dans le même sens
(impossible avec des cartes à 180°).
Dans les 2 cas, la méthode de création est la même. Pour le cas n°2, il suffit juste
d’activer l’option UNIFORM MANAGEMENT… dans le menu DATA MODE puis COORDINATE
MANAGEMENT.
6.2 Ajustement des cordonnées XY
Lorsque le programme de test unitaire est fini (stabilisé), on peut entreprendre une
panélisation. Cette copie de programme doit être précédée d’un recalcul des coordonnées
à l’aide de la commande suivante :
- Aller sur l’onglet COORDINATE et sélectionner AMEND INCLINAISON OF PCB si vous

disposez d’un point de référence auxiliaire, et AMEND INCLINAISON AND SCALE OF PCB si
vous disposez de deux points de référence auxiliaires.
1
6.3 Ajout de mires locales
Il est parfois nécessaire d’ajouter aux 2 ou 3 mires existantes, des mires locales (par
carte) permettant d’obtenir une plus grande précision.
Cette étape n’est absolument pas obligatoire et vous pouvez passer directement au
chapitre 6.4 si vous ne voulez pas ajouter ces mires.
Ces mires peuvent être ajoutées suivant plusieurs critères qui seront décrits ci après.
Prenons l’exemple d’un panneau composé de 4 cartes auquel on voudrait ajouter 2 mires
locales par carte.

AVANT MODIFICATION
Point de réf.
aux.
CARTE 4
CARTE 1
Point de réf.
APRES MODIFICATION
Point de réf. aux.

Panneau
CARTE 4
Mires
locales
Mires locales
CARTE 1
Point de réf.
Panneau
Pour réaliser cette opération :
- Créer un nouveau pas de test au debut du test dans le programme unitaire en JUMP.
Pour cela, vous positionner sur le premier pas de test dans le menu Edit/Edit et faire
Ctrl+I pour insérer un nouveau pas.

1
2- Renommer le pas en
MIRE
Ensuite, le renommer en « Mire » puis mettre la fonction « JP » dans la colonne « F »

(fonction).
Se placer ensuite sur ce pas MIRE puis aller dans TOOL et SELECT REVISE AREA MODE

1
Cliquer sur la boîte RELEASE REVISE FONCTION
Supprime les mires.
Ajoute une correction après ce pas.
Ajoute une correction pour ce groupe.
Ajoute une correction sur un composant.
Choisir l’option IT REVISES IN ONLY THIS GROUP.
Une deuxième fonction est alors accessible et vous permettra de sélectionner le nombre
de points à créer pour la correction.

Correction avec un point de
réf. et un point de réf.
auxiliaire
Correction avec un point de Correction avec un point de réf.

réf. et deux points de réf.
auxiliaires
Sélectionner l’option désirée, dans notre exemple REVISE POSITION AND INCLINAITION
OF PCB, puis cliquer sur TEST START.

Le logiciel vous demande
d’entrer le premier point sur
la carte 1, qui correspond au
point de REF.
- Presser ENTER pour passer au deuxieme point de REF.
Le logiciel vous demande

d’entrer le deuxième point sur
la carte 1, qui correspond au
point de REF auxiliaire.
Une fois les deux points entrés, cliquer sur OK.

Cliquer sur OK
pour valider
Après validation, la première ligne est modifiée comme suit :

Une fois cette opération correctement exécutée, aller dans le menu REFERENCE puis
OPTICAL REFERENCE INPUT pour apprendre ces mires en vision (Sélectionner Auxiliary
reference point for group 1 et Auxiliary reference point for group 2).
Ensuite, faire l’apprentissage des mires comme expliqué chapitre 5.5.
Lors de la création du panel, ces mires seront ajoutées sur toutes les cartes.
6.4 Génération du panel
Prenons l’exemple d’un flan de 4 cartes disposées de la façon suivante :
CARTE 2 CARTE 4
CARTE 1 CARTE 3
La carte N°1 est mise au point. Les cartes 2, 3 et 4 sont à créer.
Pour créer le panel, suivre la procédure suivante :
Sélectionner l’onglet TOOL puis l’icône ADD

1-Nombre de cartes en X
2-Nombre de cartes en Y
Selectionner les cartes 1,2,3,et 4 en cliquant gauche dessus
Faire un clic droit sur une

carte pour définir qu’elle est à
180°. Cette fonction n’est
disponible que dans le cas
d’une duplication des pas de
test et des clous.
Cliquer sur OK

Lorsque l’écran suivant apparait, appuyer sur TEST START .
ATTENTION, ICI LE LOGICIEL VOUS

DEMANDE D’ENTRER LE POINT DE
REFERENCE DE LA CARTE A AJOUTER.

A l’aide de la caméra et des curseurs du clavier testeur, mettre la caméra sur le point de
ref de la deuxieme carte. Puis valider en prassant ENTER.
ATTENTION, ICI LE
LOGICIEL VOUS DEMANDE
D’ENTRER LE POINT DE
REFERENCE AUXILIAIRE DE
LA CARTE A AJOUTER.
Suivre les instructions et faire de même pour chaque carte du panel. Attention, le
système garde en mémoire le premiier offset défini et pointe directement sur les points
de référence des cartes suivantes. Après l’ajustement des points, on obtient :
Cliquer sur OK pour terminer la duplication.
Le système créé des GROUP supplémentaires qui peuvent être visualisés en TEST

6.5 Déplacement des mires
Une fois toutes les copies terminées, le(s) point(s) de référence auxiliaire doit être
modifié pour tenir compte de la mise en flan (et éventuellement le point de référence
carte).
- Changement du BOARD REFERENCE POINT :
Pour cela, il faut d’abord ajuster correctement le point de référence existant. Aller donc
dans MODE puis DATA MODE et affiner le réglage du BRP existant. Valider par OK.
Ensuite, aller dans COORDINATES puis B.CHANGE :
Ensuite cliquer sur EXECUTE puis TEST START.
La caméra se positionne sur le point de référence existant. La déplacer sur le nouveau

point souhaité puis valider par ENTER.

- Changement de l’AUXILIARY REFERENCE POINT :
Pour cela, aller en MODE puis DATA MODE et choisir AUXILIARY REF POINT :
Placer le ou les points de réf.

Auxiliaire comme si le
panneau n’était qu’une carte.
Cliquer sur TEST START et définir la position du nouveau point AUXILIAIRE.
Placer le ou les points de réf. auxiliaire comme si le panneau n’était qu’une carte.
Point de ref.
Aux.
CARTE 4
CARTE 1
Point de réf.

7 Le Bottom Tools.
Cette fonction vous permet de placer les SUPPORTS PINS ou les BOTTOMS PROBES à
l’aide de la caméra. Cela évite ainsi tous risques d’oubli ou de mauvais placement de la
part de l’opérateur.
7.1 Les supports pins.

Vous allez dans le menu DATA MODE puis vous validez BOTTOM TOOLS et SUPPORT PIN
pour effectuer le positionnement ces supports pins.
Déclaration du nombre de support pin
Encombrement du support pin au

plus large.
7.1.1 Configurer la position.
Retourner votre carte pour

déterminer un point de référence
visible des deux cotés de celle-ci
Si votre carte possède des

composants plus hauts que la limite
autorisée, vous effectuez cette
étape avec une carte non équipée

Après avoir défini la position du BOTTOM REFERENCE POINT, vous pouvez vous déplacer
sur la carte à l’aide de la caméra pour positionner idéalement les supports pins.
Une fois les coordonnées acquises, la fenêtre suivante s’affiche :
Il est conseillé de placer les

supports Pin de la droite vers la
gauche pour une meilleure aisance
sur leur placement à l’aide de la
caméra

Ensuite le message suivant vous demande de retourner à nouveau la carte et de
confirmer la position du BOTTOM REFERENCE POINT coté test de la carte cette fois-ci :
L’étape pour configurer la position des supports pins est ainsi effectuée.
7.1.2 Vérifier la position.
Lorsque l’opérateur charge un programme de test, il peut ainsi constater une information
supplémentaire qui lui indique la présence de BOTTOM TOOLS.
Seul l’onglet VERIFY THE POSITIONS FOR BOTTOM TOOLS apparaît:

Une fois avoir cliqué sur cet onglet, la fenêtre suivante vous demande de valider le
BOTTOM REFERENCE POINT.
Puis la caméra va se déplacer sur les coordonnées des supports pins, il vous suffit
d’ouvrir le capot du testeur pour positionner le support pin sous la cible indiquée à
l’écran.
7.2 Les bottom probes.
Vous allez dans le menu DATA MODE puis vous validez BOTTOM TOOLS et BOTTOM
PROBE pour effectuer le positionnement ces sondes fixes en dessous.
Déclaration du nombre de bottom

probe
Encombrement de la bottom
probe
Déclaration du nom de l’équipotentiel
utilisé par la bottom probe 1

7.2.1 Configurer la position.
Après avoir retourné la carte, vous confirmez la position du BOTTOM REFERENCE POINT.
Celui-ci ayant été déjà défini lors de mise en place des supports pins.
Vous pouvez ensuite définir l’emplacement de la BOTTOM PROBE à l’aide de la caméra.

7.2.2 Vérifier la position.
Après avoir configuré la position de la Bottom Probe, vous la placer physiquement dans la
machine à l’aide de la caméra en cliquant sur XY COORDINATE FOR BOTTOM PROBE 1.
Dans le cas de supports pins et Bottom Probe présent dans un même programme, le
positionnement de ceux-ci s’effectue lors de la même étape.
7.2.3 Création d’un pas de test pour la Bottom Probe.
Il est conseillé de créer un pas de test qui vérifie le contact entre la Bottom Probe et
l’équipotentiel concerné.
Pour effectuer cette opération, vous allez dans le menu EDIT et vous créez un pas de test
nommé BP (par exemple).
Ensuite vous allez sur ce pas de test en mode REVIEW.
Vous le basculez en fonction SHORT et vous définissez dans H-Pin un numéro de clou
correspondant à l’équipotentielle de la bottom probe et pour le L-PIN, vous le définissez
comme étant la bottom probe.
Demande de placer une Bottom

Probe

Déclarer la Bottom
Probe 1
Vous pouvez ainsi vérifier le bon positionnement de la bottom probe en vérifiant la

continuité du contact entre la bottom probe et la sonde volante.

8 La référence supplémentaire en test électrique.
Par exemple, pour le test des diodes de clamping sur des circuits intégrés, la valeur de
référence apprise peut varier de manière assez importante selon le fournisseur de
composant.
Ainsi pour remédier à ces changements de valeur, une scène auxiliaire peut-être ajoutée
dans le pas de test électrique.
Cliquer sur REFERENCE

pour ajouter une valeur
de référence
supplémentaire
La fenêtre CHOICE OF REF. VALUE INPUT apparait :
Cliquer sur
ADD

Pour signaler que vous
êtes sur une référence
supplémentaire, celle-ci
s’affiche en bleu.

9 La fonction Probe permission.
Cette fonction permet de restreindre pour un clou l’accès de certaines sondes, très utile
lorsque celui-ci est placé sur un composant CMS.
A noter : les ‘probes permissions’ générées par le post processeur APT9000 s’appliquent
seulement aux clous placés sur la CMS.
Attention, cette fonction ne permet pas de fixer directement un accès, elle permet de
décrire les sondes utilisables, le testeur fixera l’accès.
L’objectif étant d’automatiser le meilleur accès pour les sondes selon leur inclinaison et
de permettre ainsi une meilleure répétabilité du test.
Dans le cas d’une utilisation de HIGH FLY/ NO CONTACT ZONE (ou d’un forçage manuel),
les permissions peuvent aussi s’appliquer aux clous de type VIA, composant THT…

9.1.1 Règles d’application des probes permissions.
Au niveau du post-processeur, les affectations de permissions se réalisent en fonction du

nombre de probes utilisables et de la rotation du composant. Le développeur peut
restreindre à 3 ou 2 sondes par clous. Si nous prenons la rotation 0 comme exemple voici
les différents cas possibles :
Cas où 2 sondes sont autorisées :
Cas où 3 sondes sont autorisées :

9.1.2 Représentation des probes permissions.
Les probes permissions sont donc attribuées aux clous automatiquement par le post-
processeur APT9400. La déclaration est représentée dans le fichier CA9 comme l’exemple
ci-dessous :
02180: -152693, +033649 SRAM1_A2 @CI:UDRL:234 @LA * @LF SMD_PIN

02183: -153379, +030215 $83 @CI:UDRL:234 @LA * @LF SMD_PIN
Pour que ces restrictions soient prises en comptes dans le programme, il est nécessaire
de valider USE PROBE PERMISSION MODE dans le menu COORDINATE MANAGEMENT en
Data Mode :
Vous pouvez constater dans le menu EDIT PIN COORDINATE, de la colonne P1 à P4,
l’autorisation ou non d’une sonde lié à un clou.
Vous pouvez
manuellement affecter à
nouveau une sonde à un
clou en basculant de 0 à 1
Sondes 2, 3 et 4
autorisées
Sondes 1, 2 et 3
autorisées

10 Le Contact Point Information et l’Identification Net.
Les informations sur le ‘Contact Point Information’ et sur l’Identification Net Name’ sont
attribuées aux clous automatiquement par le post-processeur APT9400.
La déclaration est représentée dans le fichier CA9 comme l’exemple ci-dessous :
00247: +008255, -190500 577 @LA * @LF VIA_HOLE

00248: +013193, -191770 +5V @CI:UDRL:234 @LA * @LF SMD_PIN
00249: +013335, -193675 VME_ID4 @LA * @LF VIA_HOLE
00250: +014605, -191770 +5V @LA * @LF VIA_HOLE
00251: +014605, -189230 ALARA @LA * @LF VIA_HOLE
00252: +014605, -186690 CMA_2476 @LA * @LF VIA_HOLE
00253: -014605, -181610 GND @LA * @LF VIA_HOLE
Ces fonctions sont efficace à condition que la génération du lit à clous sur le logiciel
Tecnomatix soit effectuée avec une multitude de clous par équipotentiel (Select(*)).
10.1 Le Contact Point Information.

La fonction permet d’informer sur quel type d’accès se situe le clou.
Vous trouvez ces informations dans le menu COORDINATE MANAGEMENT en Data Mode.
En cliquant sur CONTACT POINT INFORMATION, vous pouvez modifier l’ordre de priorité
des accès.
Avec ces informations sur les accès des clous, vous pouvez ré-optimiser le programme de
test avec les meilleurs accès possible.

Vous trouvez la fonction PROBING POINT OPTIMIZATION dans le menu OPTIMIZATION.
Lors de la conversion d’un programme, vous pouvez rencontrer le message ci-dessous.

A cause par exemple des restrictions avec les ‘Probes Permissions’, certains pas de test
devienne inaccessible et non testable.
Vous avez la possibilité de réintégrer à nouveau ces pas de test dans le programme en
cliquant sur fonction PROBING POINT OPTIMIZATION :
Réattribue d’autres clous

disponible correspondant à la
même équipotentielle (si possible)

10.2 L’identification Net Name.
Pour bénéficier des avantages de ces informations, il est nécessaire de valider USE
IDENTIFICATION NET NAME FUNCTION dans le menu COORDINATE MANAGEMENT en
Data Mode :
Il permet par exemple de basculer rapidement tous les clous d’une même équipotentielle
vers une bottom probe :

Dans le menu de DEBUG, vous êtes ainsi en mesure de choisir d'autres points (c'est-à-
dire H-pin, L-pin et Guard pins) sur une liste de clou affectée à la même équipotentielle.
Informe sur le type d’accès
Modifie le clou sur les autres

pas de test concerné par la
même équipotentielle Pour voir la position du clou
avec la caméra
Cette fonction permet une mise au point plus rapide.

11 Test de régulateur et de relais avec la carte PDC.
La carte d’alimentation programmable DC Power permet d'appliquer des tensions
constantes de 1.0V à 25.0V sur l'unité de test avec les 4 sondes volantes ou les 2
BOTTOM PROBES. Aucune influence n’est causée par le câblage sur la tension appliquée.
Vous êtes donc en mesure d'effectuer le test de relais on / off, de régulateur et aussi de
mesurer la tension de sortie ainsi que la consommation du courant sur une carte.
11.1 Configuration de l’Option Mode.
Pour que vous puissiez utiliser les fonctions de la carte PDC, il faut activer Input/Output
Function of I/O Step dans le menu Option Mode.

Pour vérifier le bon fonctionnement de votre carte PDC, lancer l’auto test en allant dans
le menu Tool puis Self Diagnosis et Programmable DC power supply.
Le message PASS doit s’afficher.
11.2 Test de régulateur.

11.2.1 Création d’un pas de test.
Il est conseillé d’effectuer ces tests d’alimentation à la fin du programme.
Pour cela, vous allez dans l’éditeur de pas de test et vous vous placez à la fin de la liste.
Vous créez un pas de test en définissant le nom du composant et ensuite vous allez dans
Tool puis I/O function et I/O step Set.

Vous choisissez la fonction IO/V et vous cliquez sur Next.
Cette fonction vous permet dans un seul pas de test d’appliquer la source de tension
avec 2 sondes puis de mesurer la tension de sortie avec les deux autres sondes.
Ensuite, le système vous demande les clous des 4 points suivant :
High-Pin : Clou correspondant au + de la mesure (3.3V dans votre cas)

Low-Pin : Clou correspondant au – de la mesure (GND)
Voltage (+) : Clou correspondant au + de la source de tension (5V)
Voltage (-) : Clou correspondant au – de la source de tension (GND)

Vous définissez la tension à appliquer (5V) avec un courant limite (100mA par exemple).
Le Wait time correspond au temps d’attente entre l’application de la tension d’entrée et
la mesure de la tension de sortie. (500 ms est généralement suffisant).
Ensuite vous validez OK.
Le test IO/V est représenté ainsi dans menu List :

11.2.2 Debug du test de régulateur.
Vous allez sur le pas de test concerné en Debug.

Ne surtout pas utiliser la fonction AUTO INPUT
Vous mettez l’élément DIODE. Vous paramétrez manuellement le mode de mesure (DC-
VM), la gamme de mesure (0,4-4V), la tension à mesurer puis la tolérance et le temps de
mesure. Puis vous appliquez ces paramètres en cliquant sur STORE.

11.3 Test de relais.
11.3.1 Création d’un pas de test.
Le pas de test peut–être créé de la même façon manuelle que le test de régulateur. (Voir
chap. 11.2.1)
Mais il est plus rapide de le créer automatiquement par le biais du post-processeur
APT94XX.
11.3.1.1 Les attributs.
Les attributs utilisés pour ces fonctions sont :
TYP
PINS
VAL
L’attribut TYP est utilisé dans la librairie DEVICE et dans le fichier de configuration du
post processeur. L’attribut PINS est utilisé dans la librairie DEVICE.
L’attribut VAL permet de spécifier la tension à appliquer sur la bobine.
La déclaration et la description de ce test passe par la déclaration dans la librairie

DEVICE, la vérification du brochage puis par la description du relais dans le fichier de
configuration.
11.3.1.2 Déclaration dans la Part Library.
La déclaration du test est réalisée avec l’attribut TYP. Il déclare un test dans DEVICE qui
sera décrit dans le fichier de configuration APT9400.CNF.
Le TYP sera par exemple :
TYP=RELAIS1
L’attribut VAL doit être renseigné avec la valeur de la tension d’alimentation du relais,
par exemple :
VAL=5V
11.3.1.3 Définition du brochage.
Cette déclaration est réalisée en fonction du nombre de contacts sur le relais.

Globalement, cette opération consiste à identifier la bobine ainsi que les contacts à l’état
repos et ouvert.
Ainsi la bobine sera identifiée par P+ et P- en ce qui concerne l’alimentation.

Les contacts sont quant à eux nommés :
C pour le commun
NO pour le normalement ouvert
NC pour le normalement fermé
Exemple :
8
1
3
2
4
5 6
On aura donc pour l’attribut PINS de la librairie DEVICE :
1 2 3 4 5 6 7 8
NO1 NC1 C1 NO2 NC2 C2 P+ P-
PINS=NO1,NC1,C1,NO2,NC2,C2,P+,P-
11.3.1.4 Description du relais dans le apt9400.cnf
Dans le fichier DEVICE, on peut avoir en fonction des sections précédentes :
TYP=RELAIS1
PINS=NO1,NC1,C1,NO2,NC2,C2,P+,P-
Dans le fichier de configuration on a alors la description de la déclaration du DEVICE

soit :
TYP = RELAIS1,<REF> P{i}-{j} RELAY * R <PROBE:C1,NC1> @K SH\
<REF> P{i}-{j} RELAY * R <PROBE:C2,NC2> @K SH\
#RELAY#<REF> <!VAL{*> RELAY IO/V * <PROBE:C1,NO1> @P+:<PROBE:P+> @P-:<PROBE:P-> @W 2 @IV <!VAL{*> @K SH\
#RELAY#<REF> <!VAL{*> RELAY IO/V * <PROBE:C1,NC1> @P+:<PROBE:P+> @P-:<PROBE:P-> @W 2 @IV <!VAL{*> @K OP\
#RELAY#<REF> <!VAL{*> RELAY IO/V * <PROBE:C2,NO2> @P+:<PROBE:P+> @P-:<PROBE:P-> @W 2 @IV <!VAL{*> @K SH\
#RELAY#<REF> <!VAL{*> RELAY IO/V * <PROBE:C2,NC2> @P+:<PROBE:P+> @P-:<PROBE:P-> @W 2 @IV <!VAL{*> @K OP
Note :
Le nombre de descriptions de relais n’est pas limité.
Le nombre de contacts n’est pas limité.
Dans le cas ou le relais ne dispose pas que d’un commun, d’un normalement ouvert et
d’un normalement fermé, la dénomination est :
TYP = RELAIS1,<REF> P{i}-{j} RELAY * R <PROBE:C,NC> @K SH\

#RELAY#<REF> <!VAL{*> RELAY IO/V * <PROBE:C,NO> @P+:<PROBE:P+> @P-:<PROBE:P-> @W 2 @IV <!VAL{*> @K SH\
#RELAY#<REF> <!VAL{*> RELAY IO/V * <PROBE:C,NC> @P+:<PROBE:P+> @P-:<PROBE:P-> @W 2 @IV <!VAL{*> @K OP\

11.3.2 Debug du test de relais.
Vous allez sur le pas de test concerné en Debug.

Ne surtout pas utiliser la fonction AUTO INPUT
Vous mettez l’élément RESISTOR. Vous paramétrez manuellement le mode de mesure
(DC-CC), la fonction de mesure (SHORT) et le temps de mesure.
Puis vous appliquez ces paramètres en cliquant sur Input.
Vous testez ainsi le basculement du contact fermé lorsque la commande est activée.
Un deuxième test au repos avec la de mesure (OPEN) permet de vérifier le contact
ouvert au repos.
12 Paramétrage du testeur
12.1 Structure du soft (paramétrage)
Programme de Paramètres
Test Machine
Paramètres attachés aux Paramètres attachés aux

programmes de test réglages machine
(Cas par cas)

Paramètres avec la config
Bloc de :-Configuration. par défaut.
-Utilisation.
Bloc de :-Déclaration.
-Configuration.

12.2 Initialisation du système (configuration minimum)
12.2.1 Configuration CAMERA
1
2
4-Valider l’utilisation du
système optique
Information sur le système

optique installé sur la machine
12.2.2 Point de Référence Machine

Ces réglages permettront de déterminer le zéro machine et la distance précise entre les
probes et la caméra.
1
2
L’écran suivant s’affichera :

1
4-Double cliquer sur Test START ou

appuyer sur le bouton TEST START
de la machine.
Sur la gamme de testeur 94XX, cette opération est totalement automatisée.

Le système demande l’alignement de la caméra sur 3 points spécifiques.
3eme point : au centre

de la mire
1er point : adjacent à

gauche
2eme point : adjacent

au- dessous
A chaque fois, valider votre positionnement par un clic droit, ou en pressant ENTER sur le
clavier PC ou Machine.

12.3 Configuration du test
1
2
Primary SETUP :
Valider l’impression du
ticket des pannes.
3
Arrêt du test après X

default consécutifs (10
recommandé).
Valider l’affichage de
l’écran de mise au point à
la fin du test pour valider
les erreurs (recommandé).

12.4 Paramétrage supplémentaire
1
2
Choix du type d’imprimante.

1
Nombre Max de
défauts sur le ticket.
Nombre de saut de
ligne à la fin du ticket.
Un ticket PASS sort .
automatiquement
lorsque la carte est
OK.

Chemin par défaut des
programmes de test.
.
Chemins par Chemin par défaut des

défauts fichiers résultats.
Activer cette fonction pour avoir un

RETEST automatique des défauts à la fin.
Gestion des
défauts
Cette option « JUMP » le test des

diodes ZENER dés qu’une erreur
survient sur une de ces diodes. Il
est conseillé de la désactiver.

Failure Data Storage : Sauvegarde des tickets de défauts sur le disque dur.


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Tables des matières

TAKAYA APT-9600– Version 1.0– 2/105

Tableau de suivi des évolutions de version

Version Date Objet de la modification

Version Rédacteur Vérificateur / approbateur

TAKAYA APT-9600– Version 1.0– 4/105

1.1 Domaine d’utilisation

1.2 Installation du logiciel et des mises à jour

- L’installation complète du logiciel Takaya.

Dans le cadre de la garantie ou d’un contrat de maintenance, un Login et un mot de

Pour plus d’informations concernant l’installation, merci de vous référer à la

Le logiciel Takaya fonctionne sous Windows 2000/NT/XP. L’interface graphique est

Cette compatibilité s’exerce tant au niveau de l’utilisation qu’au niveau de la

TAKAYA APT-9600– Version 1.0– 5/105

Après l’installation, des icônes et raccourcis correspondant

2.3 La structure du logiciel

Le logiciel TAKAYA est structuré en fonction des éléments suivants :

La gestion des fichiers

3 Description des menus

3.1 Menu EDIT

Ce menu permet l’édition du programme au format texte. Il offre la possibilité de

TAKAYA APT-9600– Version 1.0– 6/105

3.2 Menu OPTIMISATION

Gestion des combinaisons

Ce menu permet de diminuer le temps de test par optimisation mécanique.

TAKAYA APT-9600– Version 1.0– 7/105

Menu d’aide à la programmation

Menu recherche et remplace

Génération des localisations

3.4 Menu REFERENCE

Création de tests d’OPEN par rapport aux

Copie des valeurs de nomenclature en

Auto-apprentissage des valeurs

Auto apprentissage des

TAKAYA APT-9600– Version 1.0– 8/105

Utilisation des sondes

Test des cartes

Correction des coordonnées

Configuration du mode test

Configuration du programme de test

3.6 Menu TOTAL

Différents modes pour les Statistiques

TAKAYA APT-9600– Version 1.0– 9/105

Recalcul des coordonnées avec trois points

Recalcul des coordonnées avec deux points

Changement du point de réf.

Rotation à 270° dans le sens des aiguilles d’une montre

Rotation à 90° dans le sens des aiguilles d’une montre

3.8 Menu SELF DIAG

Test hauteur des probes.

Changement des probes.

Mesure des capacités parasitiques entre sondes.

Autotest des relais.

Autotest de l’unité de mesures.

Test des capteurs.

Test des sécurités.

Test du clavier TAKAYA.

Test de la descente des sondes.

TAKAYA APT-9600– Version 1.0– 10/105

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