3487 Util

Exit
Merci pour votre opinion - cliquer ici
ARL ADVANT'X Séries

Manuel de l'Utilisateur
AA83487
Exit
MANUEL UTILISATEUR
ARL ADVANT'X SÉRIES
Report MANUAL
No AA83487-02
Language F
Date December 2004
Department Doc
Author MBz/KAh
AA83487-02
Exit
The information in this document is subject to change without

notice.
We assume no responsibility for any errors that may appear
in this document.
Die Angaben in diesem Dokument können ohne vorherige

Information geändert werden.
Wir übernehmen keine Verantwortung für eventuelle Mängel
in diesem Dokument.
Les informations contenues dans ce document sont sujettes

à changement sans préavis.
Nous n’assumons aucune responsabilité pour toutes erreurs
éventuelles contenues dans ce document.
Ci riserviamo il diritto di modificare le informazioni contenute

nel presente manuale senza preavviso e non ne assumiamo
nessuna responsabilità quanto ad eventuali errori che
potrebero esservi accidentalmente introdotti.
Las informaciones contenidas en este documento pueden

ser modificadas sin previo aviso.
Nosotros declinamos toda responsabilidad sobre los
eventuales errores contenidos en este documento.
AA83487-02
Exit
PAGE DE MODIFICATION
ÄNDERUNGSANGABEN
REVISION CONTROL SHEET
Date Modification Description

Datum Änderung Beschreibung
Date Revision Description
2000
Septembre 01 Chapitre 2, page 2-4, introduction de la cassette avec
ouverture ∅ 31 mm. (OM3301)
2004
Décembre 02 Mise à jour générale – Introduction ARL ADVANT’X +
AA83487-02
Exit
TABLE DES MATIERES

Exit
Table des matières
1 INTRODUCTION ...................................................................................... 1-1

LES SPECTROMETRES DE LA SERIE ARL ADVANT'X ........................................1-1
Vue frontale de l’instrument équipé d'un passeur d'échantillons à 12 positions ...1-1
Vue frontale de l’instrument équipé d'un passeur d'échantillons de grande
capacité................................................................................................................1-2
Vue frontale de l’instrument avec chargement manuel ........................................1-2
PRINCIPE DU SPECTROMETRE A FLUORESCENCE DE RAYONS-X ................1-3
2 SECURITE ............................................................................................... 2-1

MISES EN GARDE GENERALES............................................................................2-1
SYSTEME ET CIRCUIT DE SECURITE ..................................................................2-2

Bouton poussoir d’arrêt d’urgence .......................................................................2-3
Lampe Tube-X enclenché ....................................................................................2-3
Sonnerie...............................................................................................................2-3
Circuit de sécurité de l'alimentation du tube-X .....................................................2-3
RESPONSABILITE DE L'UTILISATEUR..................................................................2-4
PROTECTION TOTALE ...........................................................................................2-4
3 DESCRIPTION DE L'INSTRUMENT ....................................................... 3-1

APERÇUS D'UN INSTRUMENT DE LA SERIE ARL ADVANT'X.............................3-1
Vue de face avec un passeur d'échantillons à 12 positions .................................3-1
Vue de face avec un passeur d'échantillons de grande capacité .........................3-2
Vue arrière de l’instrument ...................................................................................3-3
CASSETTE PORTE-ECHANTILLONS.....................................................................3-4
Cassette standard pour l’analyse des échantillons solides et des poudres
pressées ..............................................................................................................3-4
Manipulation de la cassette..............................................................................3-4
Cassette standard et conteneur pour l’analyse des échantillons liquides ou
des poudres non-pressées...................................................................................3-5
Assemblage du conteneur pour les échantillons liquides.................................3-6
Manipulation du conteneur et de la cassette....................................................3-6
Films disponibles .............................................................................................3-6
Cassette sans couvercle ......................................................................................3-7
AFFICHAGE.............................................................................................................3-8
Affichage de l'état du spectromètre ......................................................................3-8
AA83487 Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X I

Exit
Table des matières
Affichage de l'état du tube à rayons-X.................................................................. 3-9

Affichage de l'état du goniomètre ......................................................................... 3-9
EMPLACEMENTS DES CONSOMMABLES .......................................................... 3-10

Retirer les panneaux arrières ............................................................................. 3-10
Consommables d’un ARL ADANT’XP ou XP+ ................................................... 3-10
Consommables d’un ARL ADANT’X+ ................................................................ 3-11
Ouvrir les panneaux latéraux ............................................................................. 3-11
A L'INTERIEUR D'UN INSTRUMENT DE LA SERIE ARL ADVANT'X ................... 3-12

Console électronique ......................................................................................... 3-14
CONDITIONS ANALYTIQUES ............................................................................... 3-15

Goniomètre ........................................................................................................ 3-15
Goniomètre Universel (type F45) ................................................................... 3-15
Choix de cristaux et de collimateurs .............................................................. 3-16
Le Goniomètre SmartGonio ........................................................................... 3-18
Tableau de configuration ............................................................................... 3-18
Filtre primaire (optionnel) ................................................................................... 3-19
Type 1 ............................................................................................................ 3-19
Type 2 ............................................................................................................ 3-19
Masque elliptique programmable (optionnel) ..................................................... 3-19
ENVIRONNEMENT D'ANALYSE ........................................................................... 3-20

Explication des différents environnements ......................................................... 3-20
Phase de pompage ............................................................................................ 3-21
Mode vide........................................................................................................... 3-22
Mode hélium avec obturateur ............................................................................. 3-23
Mode hélium sans obturateur ............................................................................. 3-24
Régulation de gaz .............................................................................................. 3-25
Régulation de gaz du détecteur proportionnel à flux gazeux (FPC) (en
option) ............................................................................................................ 3-25
Régulation de gaz pour l'hélium (en option) ................................................... 3-26
Régulation thermique des instruments ARL ADVANT'XP et XP+ ...................... 3-27
Régulation thermique de l'instrument ARL ADVANT'X+ .................................... 3-29
EXCITATION DE L'ECHANTILLON ....................................................................... 3-30

Tube à rayons-X................................................................................................. 3-30
Alimentation du tube-X ....................................................................................... 3-31
Mode écologique ................................................................................................ 3-31
Circuit de sécurité de l'alimentation du tube-X ................................................... 3-32
Circuit de refroidissement du tube-X (ARL ADVANT’XP et XP+) ....................... 3-32
II Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X AA83487

Exit
Table des matières
Circuit de refroidissement d'eau (ARL ADVANT'XP et XP+)..........................3-33

Circuit de refroidissement du tube-X (ARL ADVANT’X+) ...................................3-34
Circuit de refroidissement d'eau (ARL ADVANT'X+)......................................3-34
MANIPULATION D'ECHANTILLON .......................................................................3-36

Passeur d'échantillons de 12 positions ..............................................................3-36
Passeur d'échantillons de grande capacité (en option) ......................................3-36
Plateaux pour passeur de grande capacité ........................................................3-38
Fonctionnement du passeur de grande capacité ...............................................3-39
CHAMBRE PRIMAIRE ...........................................................................................3-40

Chargement d'un échantillon..............................................................................3-41
Chargement d'un échantillon solide ...................................................................3-42
Chargement d'un échantillon sous hélium..........................................................3-46
4 PRINCIPE D'ANALYSE ........................................................................... 4-1

INTRODUCTION......................................................................................................4-1
EMISSION DE RAYONS-X ......................................................................................4-1

Absorption photo-électrique .................................................................................4-1
Diffusion ...............................................................................................................4-3
Transmission........................................................................................................4-5
NOMENCLATURE UTILISEE EN XRF ....................................................................4-6
INSTRUMENTATION ...............................................................................................4-7
Tube à rayons-X...................................................................................................4-7
Continuum........................................................................................................4-8
Spectre caractéristique et choix de la cible du tube à rayons-X.......................4-8
Interférence de lignes ......................................................................................4-9
Epaisseur de la fenêtre ....................................................................................4-9
DISPERSION .........................................................................................................4-10
Instruments séquentiels .....................................................................................4-10
Instruments simultanés ......................................................................................4-11
Composants d'un instrument..............................................................................4-11
Goniomètre ....................................................................................................4-11
Collimateurs ...................................................................................................4-13
Cristaux ..............................................................................................................4-13
Diffraction.......................................................................................................4-14
Cristaux multi-couches...................................................................................4-15
Réflectivité et résolution.................................................................................4-15
Pouvoir de dispersion ....................................................................................4-16
Stabilité ..........................................................................................................4-17
AA83487 Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X III

Exit
Table des matières
Ordres de diffraction supérieurs.....................................................................4-17

Résumé..............................................................................................................4-18
DETECTION...........................................................................................................4-19
Compteurs à gaz................................................................................................4-19
Ionisation primaire..........................................................................................4-20
Avalanche ......................................................................................................4-20
Caractéristiques .............................................................................................4-22
Détecteurs à scintillation ....................................................................................4-22
Discriminateur de hauteur d'impulsion (PHD) ....................................................4-23
Signal de sortie ..................................................................................................4-24
5 PREPARATION DE L'INSTRUMENT...................................................... 5-1

ENCLENCHEMENT DE L'INSTRUMENT ................................................................5-1
Enclenchement de l'instrument avec magasin X-Y ..............................................5-2
Enclenchement de l’ordinateur.............................................................................5-3
CONFIGURATION DE L'INSTRUMENT ET INITIALISATION .................................5-4

Configuration........................................................................................................5-4
Type d'instrument ............................................................................................5-5
Alimentation du tube-X.....................................................................................5-5
Type de magasin .............................................................................................5-5
Filtre primaire (PBF).........................................................................................5-6
Masque elliptique .............................................................................................5-6
Option hélium...................................................................................................5-6
Initialisation ..........................................................................................................5-6
Initialisation du goniomètre ..............................................................................5-7
Alimentation en gaz .........................................................................................5-8
Gaz argon-méthane pour détecteur FPC ............................................................................. 5-8
Gaz hélium ............................................................................................................................ 5-8
Remplacement d'une bouteille de gaz.................................................................................. 5-8
Changement d'environnement .........................................................................5-8
Enclenchement de l'alimentation du tube-X .....................................................5-9
Lecture des status............................................................................................5-9
Configuration du mode écologique ................................................................5-10
Paramètres d'entrée dans le mode écologique .................................................................. 5-11
Paramètres de sortie du mode écologique......................................................................... 5-11
Rapport des paramètres du mode écologique ................................................................... 5-12
SPECIFICATIONS DE L’INSTRUMENT ................................................................5-13

Paramètres électriques ......................................................................................5-13
Alimentation du tube X...................................................................................5-13
CONDITIONS DU LABORATOIRE ........................................................................5-14

Température du laboratoire ...........................................................................5-14
Eau.....................................................................................................................5-14
IV Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X AA83487

Exit
Table des matières
Gaz (option) .......................................................................................................5-15

Bruit acoustique .................................................................................................5-15
Dimensions ........................................................................................................5-15
Géométrie ..........................................................................................................5-15
Normes de sécurité ............................................................................................5-15
MAINTENANCE DE L'INSTRUMENT ....................................................................5-16
6 PREPARATION D'ECHANTILLON ......................................................... 6-1

PREPARATION D'ECHANTILLON ..........................................................................6-1
Préparation d'échantillons solides ........................................................................6-2
PREPARATION D'ECHANTILLONS EN POUDRE..................................................6-4

Technique de briquette ....................................................................................6-4
Technique de fusion.........................................................................................6-5
PREPARATION D'ECHANTILLONS LIQUIDES ......................................................6-6

Echantillons liquides à phase unique ...............................................................6-6
Techniques d'amélioration des échantillons.....................................................6-6
7 ASSISTANT ANALYTIQUE..................................................................... 7-1

INTRODUCTION......................................................................................................7-1
DESCRIPTION DES FONCTIONS ..........................................................................7-3

Information élément .............................................................................................7-3
Scan (Balayage)...................................................................................................7-5
Modification des paramètres de balayage .......................................................7-6
Exécution d'un balayage ..................................................................................7-7
Graphique de balayage....................................................................................7-8
Profil d'énergie .....................................................................................................7-9
Modification des paramètres de profil d'énergie.............................................7-11
Exécution d'un profil d'énergie .......................................................................7-12
Examiner un profil d'énergie ..........................................................................7-12
Programme analytique .......................................................................................7-13
Sélection des éléments ..................................................................................7-14
Détails de la matrice ......................................................................................7-17
Options de la matrice .......................................................................................................... 7-18
Balayage/Profil d'énergie ...............................................................................7-20
Etude des interférences de lignes ...................................................................................... 7-20
Paramètres des lignes ...................................................................................7-25
Création du programme .................................................................................7-26
Quitter ............................................................................................................7-27
8 ETALONNAGE DE L'INSTRUMENT....................................................... 8-1
AA83487 Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X V

Exit
Table des matières
INTRODUCTION......................................................................................................8-1
CE QU'IL RESTE A FAIRE ......................................................................................8-3

Compléter la liste des étalons ..............................................................................8-3
Définir les échantillons de re-calibrage ................................................................8-6
Attribuer les échantillons de re-calibrage .............................................................8-9
Calibrage initial...................................................................................................8-10
Préparation de la tâche de calibrage initial ....................................................8-10
Mesure des échantillons de re-calibrage............................................................8-13
Préparation de la tâche d'étalonnage.................................................................8-15
Préparation d'un fichier d'opérations par lots .....................................................8-18
Mesure des étalons............................................................................................8-19
Détermination des courbes d'étalonnage ...........................................................8-19
Re-calibrage.......................................................................................................8-21
9 ANALYSE DE ROUTINE ......................................................................... 9-1

ANALYSE EN CONCENTRATION...........................................................................9-1
Préparation de la tâche d'analyse en concentration.............................................9-1
Analyses des échantillons en concentration.........................................................9-4
MESURES DES INTENSITES .................................................................................9-6

Préparation de la tâche de mesure des intensités ...............................................9-6
Mesures des échantillons en intensité .................................................................9-8
INDEX ...............................................................................................................I
VI Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X AA83487

Exit
INTRODUCTION
Exit
Introduction Chapitre 1
1 INTRODUCTION
Les spectromètres de la série ARL ADVANT'X

La fluorescence de rayons-X est une technique d'analyse élémentaire permettant de mesurer 84 éléments du
tableau périodique dans des échantillons de formes et de nature variées: solides ou liquides, conducteurs ou
non. Des échantillons typiques sont les verres, les plastiques, les huiles, tous les métaux, les minerais, les
réfractaires, les ciments et les matériaux géologiques. Les échantillons ne doivent pas réagir sous l’influence
des rayons-X. Les échantillons solides doivent supporter l’analyse sous vide et les échantillons liquides sont
analysés sous hélium. Des analyses rapides associées à une préparation d'échantillons généralement simple,
une très bonne stabilité ainsi qu'une gamme d'analyse étendue en font une méthode séduisante comparée à
d’autres techniques.
Le spectromètre de la série ARL ADVANT'X permet d'analyser dans de meilleures conditions, des
échantillons de tous types. Le coeur du spectromètre est constitué par le fameux goniomètre à franges de
Moiré qui garantit rapidité, flexibilité et fiabilité des analyses.
Il existe trois versions du spectromètre de la série ARL ADVANT'X:

♦ ARL ADVANT’X+ est la version moyenne puissance qui est indépendante d'un refroidissement par un
circuit externe.
♦ ARL ADVANT’XP est la version standard qui est équipée d'une alimentation de 3,6 kW.
♦ ARL ADVANT’XP+ est la version haute puissance qui est équipée d'une alimentation de 4,2 kW.
Vue frontale de l’instrument équipé d'un passeur d'échantillons à

12 positions
Figure 1.1
AA83487 Manuel d'utilisateur Série ARL ADVANT'X 1-1

Exit
Chapitre 1 Introduction
Vue frontale de l’instrument équipé d'un passeur d'échantillons de

grande capacité
Figure 1.2
Vue frontale de l’instrument avec chargement manuel
Figure 1.3
1-2 Manuel d'utilisateur Série ARL ADVANT'X AA83487

Exit
Introduction Chapitre 1
Principe du spectromètre à fluorescence de rayons-X

L'échantillon est chargé dans la chambre de mesure du spectromètre et excité par un rayonnement X primaire
provenant du tube à rayons-X. Lorsqu’un photon X incident percute un électron, il l’éjecte de son orbite et
l’électron quitte l’atome. Le résultat est un trou dans une des couches. (voir figure suivante).
Figure 1.4
Le trou va être comblé par un électron d’une orbite extérieure. Lors de son changement d’orbite l’électron
libère de l’énergie sous la forme d’un photon X (fluorescence).
Photon-X
Figure 1.5
Le spectre du tube est composé des lignes caractéristiques de l’élément de l’anode et du continuum (radiation
blanche). La radiation émise par l’échantillon est composée du spectre du tube et des lignes caractéristiques
des éléments présents dans l’échantillon.
Le rayonnement secondaire est envoyé vers un système dispersif appelé dans notre cas goniomètre. Ce
goniomètre produit un spectre de lignes caractéristiques en relation avec les éléments contenus dans
l'échantillon.
Tous les spectromètres XRF mesurent des intensités. Les concentrations ne sont obtenues qu'une fois
l'instrument étalonné. Il est à souligner que le quantomètre XRF est un très bon comparateur, mais que
l'exactitude du résultat final dépend entièrement de la qualité des étalons employés pour l'étalonnage. La
AA83487 Manuel d'utilisateur Série ARL ADVANT'X 1-3

Exit
Chapitre 1 Introduction
relation entre les intensités et les concentrations est de type polynomiale généralement du premier degré,
mais peut aussi être du deuxième degré.
C(%) = a0 + a1 * I Premier degré

C(%) = a0 + a1 * I + a2 * I2 Deuxième degré
Où : I est l'intensité mesurée par le spectromètre XRF

aj sont les constantes de la courbe d'étalonnage
C est la concentration en %
En pratique l'intensité d'un élément n'est pas uniquement une fonction de sa concentration, mais elle dépend
aussi d'interférences telles que le chevauchement de lignes, l'absorption ou le rehaussement du aux
composants de la matrice. Le chapitre Principe d'analyse donne plus d'information à ce sujet.
Angle 1θ
Encodeur du cristal
angle 1θ
Cristal
Collimateur primaire
Echantillon
Collimateur secondaire
Detecteur
Filtre primaire
Encodeur du détecteur
angle 2θ
Angle 2θ
Tube à rayons X
KXx9499D00100
Figure 1.6
1-4 Manuel d'utilisateur Série ARL ADVANT'X AA83487

Exit
SECURITE
Exit
Sécurité Chapitre 2
2 SECURITE
Mises en garde générales
L'instrument XRF possède des composants qui peuvent être dangereux à manipuler dans
le cas où il faudrait ouvrir le cabinet ou la cuve. Les écriteaux suivants sont collés sur le
couvercle de la cuve et sur des panneaux pour vous mettre en garde :
Risque d’électrocution
Couper l'alimentation électrique avant d'enlever ce

panneau ou cette pièce.
Figure 2.1
Toxique
Ne jamais enter en contact avec ces composants et

leur support (par exemple une fenêtre en béryllium ou
un cristal TLAP).
Porter des gants pour manipuler ces composants.

Figure 2.2
Rayons-X
Cet écriteau indique un panneau ou une pièce faisant

partie de l'écran de protection contre les rayons-X.
Déclencher l'alimentation du tube-X avant d'enlever

ce panneau ou cette pièce.
Figure 2.3
En règle générale l'utilisateur doit contacter le service après-vente le plus proche s'il a besoin d'ouvrir
l'instrument.
En cas de problème ou de blessure, nous n’assumons aucune responsabilité si l'utilisateur

a lui-même enlevé un ou plusieurs couvercles sur lesquels sont collés un des écriteaux
représentés ci-dessus.
AA83494 Manuel de pré-installation Série ARL ADVANT'X 2-1

Exit
Chapitre 2 Sécurité
Système et circuit de sécurité
4
1 Lampe Tube-X enclenché
2 Bouton poussoir d’arrêt d’urgence
Figure 2.4 – Instrument avec passeur d’échantillon à 12 positions
1 Lampe Tube-X enclenché
2 Bouton poussoir d’arrêt d’urgence
Figure 2.5 – Instrument avec grand magasin XY
2-2 Manuel de pré-installation Série ARL ADVANT'X AA83494

Exit
Sécurité Chapitre 2
Bouton poussoir d’arrêt d’urgence

Le bouton d’arrêt d’urgence est situé sur la partie avant de l’instrument. En pressant sur ce bouton,
l'alimentation du spectromètre, y compris celle du générateur haute tension du tube-X, est déclenchée. Seule
la prise pour l'ordinateur est toujours sous tension.
Pour ré-enclencher l'instrument, il faut tourner le bouton dans le sens des aiguilles d'une montre.
Lampe Tube-X enclenché

La lampe Tube-X enclenché est reliée à l'alimentation du tube-X. La lampe brille dès que l'alimentation du
tube-X est enclenchée. Deux ampoules sont installées sous le couvercle jaune. Si les deux ampoules sont
défectueuses, l'alimentation du tube-X se déclenche ou ne peut plus être enclenchée.
Utilisez seulement les ampoules spéciales. Autrement, il y a un risque de destruction de

certaines parties électroniques de l’instrument!
Sonnerie
Lors de l'enclenchement de l'alimentation du tube-X une sonnerie interne retentit pendant quelques secondes.
Circuit de sécurité de l'alimentation du tube-X

Tous les composants empêchant des fuites de rayons-X sont équipés d'un contact et tous reliés au circuit de
sécurité de l'alimentation du tube-X. Tous ces contacts doivent être fermés pour pouvoir enclencher
l'alimentation du tube-X. Dès qu'une pièce est enlevée ou qu'elle manque, l'alimentation du tube-X se
déclenche instantanément.
LES CONTACTS DU CIRCUIT DE SECURITE NE DOIVENT JAMAIS ETRE

COURT-CIRCUITES.
AA83494 Manuel de pré-installation Série ARL ADVANT'X 2-3

Exit
Chapitre 2 Sécurité
Responsabilité de l'utilisateur
Il est de la responsabilité de l’utilisateur :
De respecter les mises en garde générales;
De maintenir la conformité des installations du laboratoire dans le futur;
De s'assurer que les normes de sécurité locales concernant les rayons-X sont remplies.
Comme des rayons-X sont émis dans l'instrument, certains pays requièrent une
autorisation spéciale pour travailler sur un tel équipement.
De s'assurer que les échantillons chargés dans le spectromètre ne vont pas réagir avec les
rayons-X ou le vide. Ceci s’applique surtout aux échantillons qui pourraient dégager du
chlore (par exemple PVC). Tous les dégâts causés par de mauvais échantillons seront
considérés comme une erreur d'utilisation.
De contacter le département de la santé publique de votre pays pour savoir si une

inspection s’avère nécessaire avant la mise en route de l’équipement. Le bureau local de
ThermoARL peut vous renseigner à ce sujet.
L'utilisation des rayons X présente un risque minimal si l'utilisateur se conforme aux usages locaux ainsi
qu'aux règles institutionnelles du pays. De plus, l'utilisateur doit utiliser l'appareil avec touts les
dispositifs de sécurité installés et en bon état de marche. L'appareil, y compris les panneaux d'accès, est
conçu pour absorber ou au contraire prévenir les fuites des radiations par rayons X.
Protection totale
La conception de l'appareil remplit les conditions de la loi Suisse concernant la sécurité des rayons X pour la
classe de protection totale. Cela signifie que le taux de fuite autour de l'appareil est inférieur à 1 micro
sievert/heure (0.1mRem/h) à 10 cm de la surface de la carrosserie. Cela veut aussi dire que l'appareil est
muni de dispositifs de sécurité qui ferment le clapet ou bien qui coupent la puissance du tube à rayons X, si
l'utilisateur essaie d'atteindre le volume non protégé à l'intérieur de l'appareil.
L'appareil a été soumis à des mesures et des tests par un organisme officiel neutre, avant que nous ayons
obtenu l'autorisation délivrée par l'autorité suisse. Il a aussi été contrôlé et validé par un organisme officiel
allemand (PTB). Pour plus de détails voir le manuel Certificates and Norms.
Cette autorisation n'est pas valable pour d’autres pays mais elle peut servir de référence pour vous permettre
d'obtenir l'autorisation locale.
2-4 Manuel de pré-installation Série ARL ADVANT'X AA83494

Exit
DESCRIPTION DE
L'INSTRUMENT
Exit
Description de l'instrument Chapitre 3
3 DESCRIPTION DE L'INSTRUMENT
Aperçus d'un instrument de la série ARL ADVANT'X

Un instrument de la série ARL ADVANT'X nécessite une surface de moins d'un mètre carré, il est donc tout
à fait conçu pour être placé dans des endroits exigus. Il pèse environ 450 kg.
L'affichage de l'instrument renseigne l'utilisateur sur l'état du spectromètre, les conditions du tube à rayons-X
et l'état du goniomètre avec tous les paramètres de la ligne actuellement mesurée.
La pyramide de plastique jaune située sur le dessus de l'instrument est le signal "Tube-X enclenché". Cette
lampe est allumée lorsque l'alimentation du tube-X est enclenchée. Le bouton rouge est utilisé pour couper
l'alimentation générale en cas d'urgence.
Vue de face avec un passeur d'échantillons à 12 positions

4 1. Lampe "Tube-X enclenché"
2. Interrupteur "Arrêt d'urgence"
3. Position de chargement
4. Affichage
3
4
Figure 3.1
AA83487 Manuel utilisateur Série ADVANT'X 3-1

Exit
Chapitre 3 Description de l'instrument
Vue de face avec un passeur d'échantillons de grande capacité

1. Lampe "Tube-X enclenché"
2. Interrupteur "Arrêt d'urgence"
4. Affichage
5. Couvercle droit ouvert
6. Couvercle gauche fermé
Figure 3.2
3-2 Manuel utilisateur Série ADVANT'X AA83487

Exit
Vue arrière de l’instrument

Sur la face arrière de l'instrument comme montré à la Figure 3.3 se trouvent les parties suivantes:
1. Une prise 230V pour l'alimentation de l'ordinateur (max. 3.15 A).

2. Le coupe-circuit 32 Ampères pour l'alimentation du tube-X.
Remarque: Avec la version moyenne puissance (ADVANT’X+), ce coupe-circuit fonctionne comme un

interrupteur pour enclencher et déclencher le générateur.
3. Le coupe-circuit 16 Ampères pour l'électronique.

4. Un connecteur pour la liaison entre l'ordinateur et l'ICS (ACS link).
5. Le bouton de reset principal. Pour l'activer, il faut introduire un petit tournevis dans le trou et presser sur
le bouton.
6. Connecteurs de réserve.
MASTER RESET
ACS LINK
4 SERVICE LINK
MASTER RESET
ACS LINK
SERVICE LINK
EXTENSION I/O EXTENSION I/O

6
COMPUTER X-RAY
3A MAX GENERATOR MAIN
COMPUTER X-RAY
1 2 3
KXx9400D02700
Figure 3.3

Exit
Cassette porte-échantillons
Avant de pouvoir introduire les échantillons dans le spectromètre chacun d'eux doit être placé dans une
cassette (porte-échantillon).
L'introduction d'un échantillon sans support correct peut endommager le système de

transport d'échantillon.
Il existe trois sortes de cassettes:
 la cassette standard pour l’analyse des échantillons solides ou poudres pressées

 la cassette standard pour l’analyse des liquides ou des poudres non pressées
 la cassette sans couvercle utilisée pour l’analyse de tout genre d’échantillons sur le passeur de grande
capacité
Cassette standard pour l’analyse des échantillons solides et des

poudres pressées
Quatre ouvertures sont disponibles pour les cassettes des échantillons solides: 8 mm, 15 mm, 29 mm et
38 mm.
Note : D’autres ouvertures sont disponibles. Veuillez vous référer au Spare Parts Catalogue,
Chapter 80 pour plus d’information.
La figure suivante montre un dessin d’une cassette tournée à l’envers et d’un échantillon avec ses dimensions
maximum. Le diamètre minimum dépend de l’ouverture de la cassette.
A A: Ouverture
Max: Taille maximum des
Max  52 mm
échantillons
Max 30 mm
KXx9480D00501
Figure 3.4
Manipulation de la cassette
L'échantillon est placé puis centré dans la cassette. Il est très important de fixer correctement le couvercle en
le tournant dans le sens des aiguilles d'une montre jusqu'en butée. La cassette peut alors être posée sur le
passeur, l'échantillon étant tourné vers le bas. Si l’utilisateur veut analyser des échantillons chargés dans des
cassettes d’ouvertures différentes, l’option du masque elliptique programmable est nécessaire.
Pour éviter des problèmes, l'utilisateur doit s'assurer que le couvercle de la cassette est
bien fermé.

Exit
1. Couvercle
1 2. Echantillon
A: Tourner le couvercle jusqu'en
butée
A
KXx9480D00600
Figure 3.5
Pour faciliter le centrage des échantillons, des bagues sont disponibles.
 32 mm
40.5 mm  22 mm
36mm 17
12
31mm
7
Figure 3.6
Ces bagues de centrage spéciales peuvent être commandées chez notre représentant local. Se référer au
catalogue des pièces de rechange Catalogue ARL ADVANT’X Series pour trouver les numéros de ces bagues.
Cassette standard et conteneur pour l’analyse des échantillons liquides

ou des poudres non-pressées
La figure suivante montre une cassette standard avec bague de centrage, couvercle en plastique et un
conteneur pour l’analyse des échantillons liquides ou des poudres non-pressées.
1 Conteneur d’échantillon
2 Bague de centrage
3 Cassette standard
4 Couvercle en plastique
Dimension du conteneur:
Diamètre ext.: 40 mm
1 2 3 4
Figure 3.7

Exit
Assemblage du conteneur pour les échantillons liquides
La figure suivante montre la mise en œuvre d'un conteneur pour échantillon liquide.
4 1. Rondelle extérieure
2. Film
3 3. Rondelle intérieure
4. Couvercle du conteneur
2
KXx9480D008A00
Figure 3.8
Après avoir assemblé et rempli le conteneur, il doit être mis dans une cassette comme indiqué dessous .
Manipulation du conteneur et de la cassette
1. Couvercle de la cassette
1 2. Conteneur pour liquide
3. Rondelle de centrage
4. Corps de la cassette
2
KXx9480D008B00
Figure 3.9
Note : Dans la plupart des cas il n'est pas nécessaire de faire tourner la cassette, mais c'est
néanmoins possible en fermant la cassette avec un couvercle spécial en plastique blanc.
L'entraînement de la rotation se fait alors par le couvercle.
Films disponibles
Nous pouvons fournir plusieurs types de films de diverses épaisseurs :
 Mylar 3.6 m, boîte de 1000 feuilles

 Mylar 6.0 m, boîte de 1000 feuilles (standard)
 Spectrolène 4.0 m, boîte de 1000 feuilles
 Spectrolène 6.0 m, boîte de 1000 feuilles

Exit
Se référer au catalogue des pièces de rechange Catalogue ARL ADVANT’X Series pour les numéros de
commande.
Cassette sans couvercle

Ces cassettes sans couvercle sont utilisées sur les passeurs de grande capacité. L'échantillon est
automatiquement placé dans cette cassette par une ventouse, puis la cassette est déplacée sur la position de
charge. Une bague de centrage est fixée dans chaque cassette. Elle sert à centrer l'échantillon durant
l'analyse. Le diamètre de la bague dépend du diamètre des échantillons permis sur le plateau en question.
La figure suivante montre une cassette sans couvercle.
Figure 3.10

Exit
Affichage
L'instrument ARL ADVANT'X possède un affichage. Les trois lignes renseignent l'utilisateur sur l'état du
spectromètre, les conditions du tube à rayons-X et l'état du goniomètre. La figure suivante montre ce qui est
affiché juste après la mise sous tension de l'instrument.
NOT CONFIGURED 1 Etat du spectromètre
kV : 0 mA : 0 2 Conditions du tube à rayons-X
ZERO REQUIRED 3 Etat du goniomètre

KXx9499D00200
Figure 3.11
Affichage de l'état du spectromètre

L'affichage de l'état du spectromètre montre l'opération que l'instrument est en train d'effectuer. Tous les
messages pouvant apparaître sur cette ligne et leur signification sont listés ci-dessous. Certains messages
peuvent être affichés simultanément ou alternativement.
RESET Le spectromètre est en train d'effectuer une remise à zéro.

INIT Le spectromètre est en train d'effectuer une initialisation.
NOT CONFIGURED Le spectromètre doit être configuré.
STAND BY Le spectromètre est prêt à analyser.
MEASURE Le spectromètre est en train de mesurer.
ANA 3 La cassette 3 est en position d'analyse.
LOAD 3 La cassette 3 est en train d'être chargée.
EVAC 3 La cassette 3 est en train d'être déchargée.
SEEK 3 Le spectromètre est en train de chercher la cassette de la position 3.
D1 Le masque elliptique programmable pour les cassettes de 15 mm
d'ouverture est en place (si l'option est installée).
D2 Le masque elliptique programmable pour les cassettes de 29 mm
d'ouverture est en place (si l'option est installée).
F1 Le filtre primaire 1 est en place (si l'option est installée).
PUMPING Le spectromètre est en phase de pompage.
VENTING Le spectromètre est en phase d'aération.
He L'environnement hélium est sélectionné.
HS : ON L'obturateur hélium est en place.
HS : OFF L'obturateur hélium est rentré.
WAIT ACO L'instrument est en attente des conditions analytiques.
La rotation d'échantillon fonctionne.

Exit
Affichage de l'état du tube à rayons-X

L'affichage de l'état du tube à rayons-X montre la tension et le courant du tube, ainsi que d'autres
informations concernant l'état de l'alimentation. Les messages pouvant apparaître sur cette ligne et leur
signification sont listés ci-dessous.
RESET Le spectromètre est en train d'effectuer une remise à zéro.

60kV 40mA Les conditions actuelles du tube-X sont 60kV et 40mA.
50->30kV 50->80mA Les conditions du tube-X passent de 50kV/50mA à 30kV/80mA.
30kV 80mA WAIT TOL Les conditions requises du tube-X sont 30kV/80mA et le
spectromètre attend que ces valeurs soient dans les TOLérances.
50->40kV 50->20mA ECO Le mode écologique est activé, les conditions du tube-X passent à
40kV/20mA. Le fonctionnement du mode écologique est décrit
plus loin dans ce chapitre.
40kV 20mA ECO Le mode écologique est activé, le tube-X est en attente à
40kV/20mA. Le fonctionnement du mode écologique est décrit
plus loin dans ce chapitre.
Affichage de l'état du goniomètre

L'affichage de l'état du goniomètre montre quel cristal, quel détecteur et quel collimateur sont sélectionnés. Il
affiche aussi l'intensité actuellement mesurée.
Certains messages peuvent être affichés simultanément ou alternativement.
ZERO REQUIRED Le goniomètre doit être initialisé.

CuK III IIIII IIIII E4 Le taux de comptage pour la ligne Cuk est de 2.6 10 c/s ou
4
26 kc/s.
4
45.03 III IIIII IIIII E4 Le taux de comptage à l'angle 45.03° est de 2.6 10 c/s ou 26 kc/s.
CuK FPC C4 20s
45.03 FPC C4 20s L'angle de la ligne Cuk est de 45.03°, le détecteur FPC et le 4ième
collimateur (fin) sont sélectionnés. Le temps de mesure restant est
de 20 secondes.
CuK LIF200 C4 20s
45.03 LIF200 C4 20s L'angle de la ligne Cuk est de 45.03°, le cristal LiF200 et le 4ième
collimateur (fin) sont sélectionnés. Le temps de mesure restant est
de 20 secondes.
D'autres messages vont apparaître durant l'opération de recherche du zéro du goniomètre, pour informer
l'utilisateur du bon déroulement de cette opération.

Exit
Emplacements des consommables

Tous les consommables courants sont situés à l’arrière de l’instrument. En retirant les deux panneaux arrières
on a accès aux consommables. Cette disposition simplifie la maintenance qui doit être effectuée par
l’utilisateur.
Retirer les panneaux arrières

Pour retirer les panneaux arrières, il faut dévisser les quatre vis dont l'emplacement est indiqué par une
flèche, lever légèrement le panneau, puis le tirer vers l'arrière.
Figure 3.12
Consommables d’un ARL ADANT’XP ou XP+
1 2 3
1. Réservoir d’eau déionisée
2. Pompe à eau
3. Cartouche déionisante
4. Trappe à soufre
5. Filtre à vapeur d’huile
6. Pompe à vide
4
5
KXx9400P00400
Figure 3.13

Exit
Consommables d’un ARL ADANT’X+
1 2 3
1. Réservoir d’eau déionisée
2. Pompe à eau
3. Cartouche déionisante
Figure 3.14
Ouvrir les panneaux latéraux
KXx9400D03000
KXx9400D03100
Figure 3.15

Exit
A l'intérieur d'un instrument de la série ARL ADVANT'X

Ce paragraphe décrit les composants situés à l'intérieur de l'instrument et leur fonction. Certains de ces
composants sont en option et, de ce fait, ne pas être installés dans votre instrument.
Lorsque les panneaux de l'instrument sont retirés nous apercevons les différents ensembles qui peuvent être
subdivisés en quatre fonctions principales. La Figure 3.16 et la Figure 3.17 montrent ces différentes parties.
Paramètres analytiques: Goniomètre (Universel ou SmartGonio), filtre primaire (PBF)*,

masque elliptique programmable *.
Conditions environnementales: Environnement (vide or hélium), régulation thermique, régulation
du gaz.
Excitation des échantillons: Tube à rayons-X, alimentation du tube à rayons-X, circuit de
refroidissement du tube à rayons-X.
Manipulation des échantillons: Passeur d'échantillons, chambre primaire, ascenseur.
* Le filtre primaire et le masque elliptique programmable sont des options.
Vue de face
1. Chambre primaire
R 2. Console électronique
1
3. Echantillon
2 4. Goniomètre
3
5. Tube à rayons-X
6. Régulation hélium
7. Régulation FPC
4
8. Alimentation du tube-X
5
6
R: Voir détails Figure 3.17
KXx9400D02800
Figure 3.16
La Figure 3.17 montre un échantillon en position d'analyse et les options suivantes:
 Le filtre primaire (PBF) qui est utilisé pour supprimer ou atténuer certaines longueurs d'onde émises par
le tube et qui pourraient interférer avec le spectre de fluorescence secondaire. En cas d’utilisation d’un
tube à anode en Rh, il faut un filtre primaire pour l’analyse des éléments Rh, Ru, Pd, Cd ou Ag.
 Le masque elliptique programmable ou (changeur programmable d'ouverture PAC) qui est utilisé pour
analyser des échantillons de différents diamètres.
 L'obturateur hélium qui est utilisé pour analyser des liquides ou d'autres échantillons sous hélium.
 Le changeur de collimateur qui peut recevoir un maximum de quatre collimateurs.

Exit
Sur la Figure 3.17 on peut aussi voir les trois différentes parties du spectromètre:
 La chambre primaire qui est utilisée pour charger l'échantillon en position d'analyse.
 La chambre d'analyse qui est la région où les rayons-X provenant du tube excitent l'échantillon. Le filtre
primaire qui filtre le rayonnement X et le masque elliptique qui focalise le rayonnement secondaire, se
trouvent aussi dans cette région.
 La cuve du spectromètre dans laquelle se trouve le changeur de collimateur du goniomètre universel.
1 1. Echantillon
2 2. Filtre primaire
3. Masque elliptique
4. Obturateur hélium
3
5. Changeur de collimateur
PC 4 6. Chambre d'analyse
7. Tube à rayons-X
5
PC: Chambre primaire
ST: Cuve du spectromètre
6
ST
7
KXx9400D02900
Figure 3.17

Exit
Console électronique
Toutes les cartes électroniques prennent place dans cette console. La Figure 3.18 montre l'emplacement et le
nom de chacune de ces cartes.
KXx9415D00100
1 2 3 4 5 6 7 8 a, b 9
Figure 3.18
Les cartes XSH et XCM ne sont jamais installées simultanément dans la même console.
1. Pas utilisé
2. XQM Maître du quantomètre (X-ray Quantometer Master). Cette carte sert
d'interface avec le calculateur et commande tous les mouvements des
échantillons, à l'exception de ceux effectués par le passeur d'échantillons.
Elle pilote aussi le filtre primaire et le masque elliptique.
3. Spectrometer Power Carte puissance du spectromètre. Cette carte sert d'interface de puissance
entre XQM et les différents ensembles à piloter.
4. XGT Régulation gaz et thermique (X-ray Gas and Thermal). Cette carte pilote la
régulation de gaz FPC, la régulation de l'hélium pour les analyses de
liquides et la régulation thermique du spectromètre.
5. XPS/XPSLP Pilotage alimentation tube-X (X-ray Power Supply / X-ray Low Power
Supply). Cette carte contrôle l'alimentation et le circuit de refroidissement
du tube-X.
6. XSH Pilotage passeur grande capacité (X-ray Sample Handling). Cette carte
pilote le passeur d'échantillons de grande capacité.
7. XCM Pilotage passeur 12 positions (X-ray Cassette Magazine). Cette carte pilote
le passeur d'échantillons à 12 positions.
8.a XGB (Goniometer F45) Carte puissance du goniomètre (X-ray Goniometer Board). Cette carte
pilote les mouvements du goniomètre, le chauffage du cristal, le
changement de collimateur et le changement de cristal. Elle fournit aussi la
haute tension pour les détecteurs
8.b XGBM (SmartGonio) Carte puissance du goniomètre. Cette carte pilote les mouvements du
goniomètre et le chauffage du cristal. Elle fournit aussi la haute tension
pour les détecteurs.
9. XDI Interface détecteur (X-ray Detector Interface). Cette carte compte le
nombre de photons reçus par les détecteurs.

Exit
Conditions analytiques
Divers paramètres de mesure peuvent être sélectionnés pour l'analyse des échantillons. Ce sont
l'environnement, vide ou hélium, le filtre primaire, le cristal, le détecteur, etc. Ce paragraphe décrit les
différents paramètres.
Goniomètre
Le goniomètre est le cœur de l'instrument. Le goniomètre est un dispositif sans engrenage, entièrement
automatique contrôlé par microprocesseur. Sur le goniomètre, trois ensembles sont réunis pour satisfaire la
loi de Bragg (n = 2d sin) et pour couvrir les besoins des diverses applications: les collimateurs, les cristaux
et les détecteurs. Les deux lecteurs électro-optiques donnent une indépendance complète au système
détecteur et au barillet supportant les cristaux.
Le goniomètre sert à effectuer des analyses et des balayages. Pour une analyse le cristal se positionne à un
angle Thêta et le détecteur à un angle 2Thêta donnés, ceci durant un certain temps. Puis, le cristal et le
détecteur se déplacent vers d’autres angles pour la mesure de la ligne suivante, etc. Pour un balayage on
défini un incrément angulaire et un temps de mesure court pour chacun des pas.
Deux types de goniomètre sont disponibles pour cet instrument:
 Le goniomètre universel du type F45

 Le SmartGonio
Goniomètre Universel (type F45)
Le goniomètre est composé de trois parties:
Le système de détection deux détecteurs sont installés: le compteur proportionnel à flux gazeux
(FPC), utilisé pour les éléments légers (B à Fe) et pour les lignes L et M et
le compteur à scintillation (SC), utilisé pour les éléments mi-lourds et lourds
(Fe à U).
Le changeur de cristal un maximum de neuf cristaux peuvent être installés sur le barillet.
Le changeur de collimateur un maximum de quatre collimateurs peuvent être installés sur le barillet.

Exit
1
2. Changeur de cristal
5 3. Moteur du système de
détection
2 4. Encodeur optique du
6 système de détection
5. Encodeur optique du
changeur de cristal
6. Moteur du changeur de
cristal
7
3 7. Détecteur FPC (en option)
8 8. Détecteur SC (en option)
KXx9460D00100
Figure 3.19
Choix de cristaux et de collimateurs
La distance constante des plans d'atomes formant le cristal est utilisée pour réfléchir en phase la longueur
d'onde caractéristique d'un élément à mesurer selon un angle donné (angle  du cristal et 2 du détecteur).
Le tableau suivant guide l'utilisateur dans le choix des cristaux en fonction des éléments à analyser. Il ne faut
pas oublier que le nombre maximum de cristaux pouvant être montés sur un goniomètre est de 9. S'il reste
des positions vides, par la suite il est toujours possible d'en commander.

Exit
CARACT. Sensibilité Résolution Eléments

Lignes K Be B C N O -F -Na Mg Al Si P -S -Cl K Ca...Ti…Fe Co...Zn…Sn
Lignes L Sn...Yb Hf...U
COLLIMAT.
T. grossier 2.6° T. Haute Basse
Grossier 0.6° Haute Moyen
Moyen 0.25° Bonne Bonne
Fin 0.15° Basse Haute
CRISTAL
AXBeB Haute Basse Be
AX20 Bonne Basse B
AX16 Haute Basse C
AX09 Bonne Basse N
AX06 Haute Basse O
TlAP Bonne Bonne O
ADP Basse Haute Mg
PET Bonne Moyen Al
InSb Haute Haute Si
Ge111 Bonne Haute P
LiF 200 Bonne Bonne K
LiF 220 Moyen Haute Ti
LiF420 Basse T.Haute
DETECTEUR
FPC Zn
Scintillation
Note : Les zones hachurées indiquent que l’analyse de ces éléments est possible avec cette
configuration, mais pas optimale.
Le tableau suivant montre les codes employés sur l'affichage des instruments pour identifier les différents
collimateurs:
Code sur l'affichage Résolution Nom

C1 0,25° Moyen
C2 2,50° Très Grossier
C3 0,60° Grossier
C4 0,15° Fin

Exit
Le Goniomètre SmartGonio™
Le goniomètre SmartGonio™ est équipé de trois cristaux, de deux détecteurs et d'un collimateur. La figure
suivante montre un goniomètre SmartGonio™.
3
1 Changeur de cristal
1
2 Détecteur
3 Collimateur
Figure 3.20
Tableau de configuration
Il est très important de choisir la bonne combinaison de collimateur, cristal et détecteur pour votre analyse.
Le tableau suivant vous donne une vue générale de toutes les combinaisons possibles. L’assistant analytique
dans WinXRF peut vous assister d’avantage lors de la sélection de la meilleure combinaison par rapport aux
éléments à analyser.
CARACTER. Sensibilité Résolution Eléments

Lignes K F Na Mg Al Si P S Cl K Ca...Ti…Fe Co...Zn…Sn
Lignes L Sn.……..Yb Hf……….U
COLLIMATEUR
Grossier 0.6° Haute Moyenne
Moyen 0.29° Bonne Bonne
Fin 0.17° Basse Haute
CRISTAL
AX06 Haute Basse
PET Bonne Moyenne
LiF 200 Bonne Bonne
DETECTEUR
FPC Zn
Scintillateur Fe
Note : Les zones hachurées indiquent que l’analyse de ces éléments est possible avec cette
configuration, mais pas optimale.

Exit
Filtre primaire (optionnel)

Le filtre primaire est placé entre le tube-X et l'échantillon pour modifier le spectre d'excitation. Il existe trois
types de porte-filtres sur lesquels sont montés trois filtres. Normalement les filtres suivants sont proposés:
Type 1
Filtre Code sur l'affichage Utilisation

Cu 0,25mm F1 Analyse du Ru, Rh, Pd, Ag et Cd (éléments interférés par les
lignes de Rh provenant du tube-X) dans des matrices légères ou
autres.
Fe 0,01mm F2 Amélioration du rapport pic sur fond des lignes NiK et CuK.
Al 0,5mm F3 Amélioration du rapport pic sur fond des lignes PbL, PbLß,
AsK et AsKß dans des matrices légères.
Type 2
Filtre Code sur l'affichage Utilisation

Be 0,127mm F1 Ce filtre sert de protection contre la poussière pouvant tomber de
l'échantillon.
Cu 0,25mm F2 Analyse du Ru, Rh, Pd, Ag et Cd (éléments interférés par les
lignes de Rh provenant du tube-X) dans des matrices légères ou
autres.
Al 0,5mm F3 Amélioration du rapport pic sur fond des lignes PbL, PbLß,
AsK et AsKß dans des matrices légères.
Masque elliptique programmable (optionnel)

Le masque elliptique programmable est utilisé pour masquer une partie du rayonnement lorsque des cassettes
d'ouverture plus petite sont employées. Cette option est disponible en deux versions:
 Version 1 : Pour cassettes dont l'ouverture est de 38, 29 et 15 mm.

 Version 2 : Pour cassettes dont l'ouverture est de 29, 15 et 8 mm.
Note : Des masques avec d’autres ouvertures sont disponibles sur demande.

Exit
Environnement d'analyse
Explication des différents environnements

Le but de ce paragraphe est de renseigner l'utilisateur sur les différences entre les analyses sous vide et sous
atmosphère hélium. Quatre modes différents peuvent être sélectionnés à partir du logiciel, soit à partir d'une
commande propre ou soit comme l'étape d'une opération du mode d'analyse semi-automatique.
Vide C'est l'environnement le plus couramment utilisé pour les échantillons

pouvant être mesurés sans danger sous vide (les solides ou les poudres
pressées).
Hélium avec obturateur Cet environnement est sélectionné pour les liquides et pour les échantillons
ne pouvant pas être mesurés sous vide (les poudres non pressées). Seules les
chambres primaire et d'analyse sont remplies d'hélium. Ce mode garantit une
très bonne stabilité et une faible consommation de gaz.
Hélium sans obturateur Ne devrait être utilisé qu'en cas de défectuosité de l'obturateur hélium.
Atmosphère La cuve du spectromètre est remplie d'air, ce mode est normalement réservé à
la maintenance de l'instrument.
Note : Avant de pouvoir démarrer le mode hélium ou que l'instrument soit prêt à analyser sous vide,
il faut pomper le spectromètre. Cette phase s'appelle la phase de pompage.
L'élément le plus léger pouvant être mesuré sous hélium est le fluor. (95 % du rayonnement
Fk est absorbé par le film du conteneur de liquide, par l’hélium et par l’obturateur d’hélium)
Le rayonnement émis par des éléments encore plus légers est complètement absorbé par
l'hélium et le film de la cassette liquide.

Exit
Phase de pompage
Cette phase correspond au passage du mode atmosphère ou du mode hélium sans obturateur au mode vide.
Durant cette phase le spectromètre est vidé de son gaz. Elle démarre par l'ouverture de la cloche et de la
vanne à vide de la chambre primaire. Lorsque la pression atteint 25 kPa, la vanne à vide du spectromètre
s'ouvre; ceci pour éviter de contaminer la trappe à soufre avec des vapeurs d'huile durant la première phase
de pompage (Figure 3.21).
1. Diviseur
3 2 15
1 2. Cloche
3. Chambre d'analyse
4. Vanne d'aération de la chambre
C 14 primaire (V3)
13 5. Tube à rayons-X
6. Vanne de pompage de la
chambre primaire (V2)
12 7. Pompe à vide
C
4 8. Vanne de pompage du
(V3) 11 spectromètre (V1). Ouverte si
pression <25kPa
5 C 9. Trappe à soufre
ST 10
10. Vanne d'aération du
O (VV)
6 spectromètre (VV)
(V2) 11. Vanne d'aération manuelle
12. Obturateur hélium ouvert
13. Ascenseur
9 14. Obturateur de la chambre
primaire fermé
O 15. Clapet du passeur fermé
A
O: Ouvert
C: Fermé
8 V A: Air
7
(V1) V: Vide
KXx9430D006A00 H H: Hélium
Figure 3.21
Remarque : Lorsque la pression dans le spectromètre atteint 13 Pa, l'instrument est prêt à analyser le
premier échantillon. La Figure 3.22 montre l'état de l'instrument après la phase de pompage.

Exit
Mode vide
Ce mode est utilisé pour l'analyse des échantillons pouvant être mesurés sans danger sous vide (les solides
ou les poudres pressées). La chambre de mesure est sous vide, quant à la chambre primaire elle est sous air
pour permettre le chargement et le pompage d'un second échantillon.
La Figure 3.22 montre l'instrument prêt à charger un échantillon.
1. Diviseur
3 2 15
1 2. Cloche
O 14 primaire (V3)
chambre primaire (V2)
12 7. Pompe à vide
4 C 8. Vanne de pompage du
(V3) 11 spectromètre (V1)
9. Trappe à soufre
5 C 10. Vanne d'aération du
ST 10
spectromètre (VV)
6 (VV)
C 11. Vanne d'aération manuelle
(V2) 12. Obturateur hélium ouvert
13. Ascenseur
14. Obturateur de la chambre
9 primaire ouvert
15. Clapet du passeur ouvert
O
A O: Ouvert
C: Fermé
A: Air
8 V V: Vide
7
(V1) H: Hélium
KXx9430D006B00 H ST: Cuve du spectromètre
Figure 3.22

Exit
Mode hélium avec obturateur

Ce mode est utilisé pour les analyses des liquides et des échantillons ne pouvant pas être mesurés sous vide,
comme les poudres non pressées, etc. Lorsque l'opérateur sélectionne ce mode, la chambre primaire est tout
d'abord vidée de son air, puis l'obturateur hélium se ferme et le remplissage de la chambre primaire par
l'hélium commence. En moins de deux minutes la pression de l'hélium atteint la zone de régulation et
l'instrument est prêt à analyser le premier échantillon.
A chaque chargement d'échantillon un peu d'air pénètre dans la chambre primaire et peut fausser les résultats.
Cet air est donc chassé par un rinçage abondant pendant 20 secondes.
La Figure 3.23 montre l'instrument prêt à analyser un échantillon.
He in 1. Diviseur
2. Cloche
(V3) 3 2 15 primaire (V3)
1
VHe 1 VHe 2 4
5. Tube à rayons-X
C 14 chambre primaire (V2)
HeFl 13 7. Pompe à vide
8. Vanne de pompage du
spectromètre (V1)
C 12 9. Trappe à soufre
11 10. Vanne d'aération du
spectromètre (VV)
5 C 10 11. Vanne d'aération manuelle
ST
(VV) 12. Obturateur hélium fermé
6 C
13. Ascenseur
(V2) HePr 14. Obturateur de la chambre
HeV2 9 primaire fermé
15. Clapet du passeur fermé
O
O: Ouvert
A C: Fermé
A: Air
8 V
7 V: Vide
KXx9430D006C00 (V1) H H: Hélium
Figure 3.23
La signification de certaines des abréviations utilisées à la Figure 3.23 et à la Figure 3.24 est donnée ci-après:
 VHe1 Vanne hélium 1

 HeDe Débitmètre hélium
 HePr Manomètre hélium

Exit
Mode hélium sans obturateur

Ce mode est utilisé pour les analyses des liquides et des échantillons ne pouvant pas être mesurés sous vide,
comme les poudres non pressées, etc. Ce mode ne doit néanmoins être sélectionné que si l'obturateur hélium
est défectueux. Le principe est le même que pour le mode hélium avec obturateur, à l'exception de
l'obturateur qui reste toujours ouvert. La cuve du spectromètre est donc elle aussi remplie d'hélium de ce fait
la consommation d'hélium lors du remplissage initial est plus importante.
He in 1. Diviseur
2. Cloche
(V3) 3 2 15 primaire (V3)
1
VHe 1 VHe 2 4
5. Tube à rayons-X
C 14 chambre primaire (V2)
HeFl 13 7. Pompe à vide
8. Vanne de pompage du
12 spectromètre (V1)
C 9. Trappe à soufre
11 10. Vanne d'aération du
spectromètre (VV)
5 C
ST 10 11. Vanne d'aération manuelle
6 C (VV) 12. Obturateur hélium ouvert
13. Ascenseur
(V2) HePr 14. Obturateur de la chambre
HeV2 9 primaire fermé
15. Clapet du passeur fermé
O
O: Ouvert
A C: Fermé
A: Air
8 V
7 V: Vide
KXx9430D006D00 (V1) H H: Hélium
Figure 3.24
Le temps pour remplir la cuve d'hélium est plus long. Avant de pouvoir analyser le premier échantillon il faut
encore attendre un certain temps pour que le système se stabilise.

Exit
Régulation de gaz
Deux gaz différents sont utilisés sur les instruments de la série ARL ADVANT'X: l'argon-méthane (gaz P10)
pour le détecteur proportionnel à flux gazeux et l'hélium pour les analyses sous pression atmosphérique. La
régulation de gaz est effectuée par la carte XGT. En plus de ces fonctions, cette carte pilote la vanne
d'aération de la cuve, contrôle le pressostat et la stabilité thermique.
1. Vannes de régulation d'hélium

2. Vannes de régulation FPC, vanne
d'aération, pressostat
KXx9490D00400
Figure 3.25
Régulation de gaz du détecteur proportionnel à flux gazeux (FPC) (en option)
La Figure 3.26 représente le principe de régulation. A l'entrée de l'instrument le gaz passe à travers un
limiteur R1 et une vanne FPC V2 qui fixe le débit à 6 ml par minute. Le filtre et le limiteur R2 lissent le débit
pour améliorer la lecture du débitmètre. Le manomètre mesure la pression du gaz argon-méthane à l'entrée du
détecteur.
La vanne FPC V1 régule la pression dans le détecteur FPC et le limiteur R3 empêche les à coups de pression.
Les vannes FPC V1 et FPC V2 sont proportionnelles.
La vanne FPC V3 est installée pour protéger le circuit de gaz des surpressions en cas de coupure de courant
ou en cas de défectuosité du circuit de régulation. Cette vanne est de type tout ou rien.
Le réducteur de pression monté sur la bouteille de gaz doit être ajusté en fonction de la pression dans le
laboratoire pour obtenir une pression absolue de 1,20 bar à l'entrée du circuit.
Exemple: le réducteur de pression doit être ajusté à 0,20 bar si le laboratoire est situé au niveau de la mer
(pression atmosphérique 1 bar).

Exit
Réducteur de pres-
sion ajusté à 0.2 bar Régulation de gaz FPC Cuve du spectromètre
Limiteur Filtre Limiteur
R1 R2 Débit-
mètre
FPC
V2
Détecteur
Mano-
mètre
FPC
Limiteur
R3
KXx9490D00500
Figure 3.26
La Figure 3.27 montre l'emplacement des différents composants de la régulation de gaz FPC.
1 2 3 4 1. FPC V1
2. FPC V2
3. Pressostat pour tube-X
4. Vanne d'aération
5. Manomètre pression absolue
6. FPC V3
7. Débitmètre FPC
KXx9490D00601
7 6
Figure 3.27
Régulation de gaz pour l'hélium (en option)
La Figure 3.28 représente le principe de régulation de l'hélium.
La vanne VHe1 régule le débit de l'hélium allant dans la chambre d'analyse; le filtre et le limiteur lissent la
pression et le débit. La vanne VHe2 régule, quant à elle, la pression.
La vanne VHe3 est utilisée pour rincer la chambre primaire à chaque chargement d'échantillon. Cette
opération de rinçage permet d'éliminer toute contamination de l'hélium par de l'air dans la chambre d'analyse.
Le réducteur de pression doit être ajusté entre 0,4 et 0,6 bar.

Exit
Régulation du gaz hélium

Réducteur de pres-
sion ajusté entre Cuve du spectromètre
0.4 bar et 0.6 bar
Filtre Limiteur Obturateur hélium

Débit-
mètre
VHe1
Hélium
VHe3
Mano- Chambre d'analyse
mètre
VHe2
Chambre primaire
Rinçage chambre primaire
KXx9490D00700
Figure 3.28
La Figure 3.29 montre l'emplacement des différents composants de la régulation d'hélium.
3 2 1 1. VHe1
2. VHe2
3. VHe3
4. Manomètre pression relative
5. Débitmètre hélium
KXx9490D00801
5
Figure 3.29
Régulation thermique des instruments ARL ADVANT'XP et XP+

La température de la cuve du spectromètre est régulée par un circuit d'eau de refroidissement (eau de ville) et
un circuit de chauffage à résistances électriques. Une sonde de température fixée sur le socle du goniomètre
est connectée à la carte XGT qui va piloter la vanne d'eau et le circuit de chauffage.
Comme représenté à la Figure 3.30, la cuve du spectromètre est refroidie par deux plaques de laiton, à travers
lesquelles passe l'eau dont le débit est contrôlé par une vanne. Deux résistances électriques de chauffage sont
fixées sur ces plaques.
La température de la cuve est régulée à 32° C +/- 0,5°C. Pour optimaliser cette régulation thermique, les
cristaux ont aussi un circuit de chauffage qui stabilise leur température à 38°C +/- 0,1°C. Si l'instrument a été
arrêté pendant longtemps, il faut attendre au moins quatre heures avant de pouvoir obtenir un résultat
d'analyse très précis. Un message d'alarme indique si la température de travail n'est pas encore atteinte.

Exit
3 1. Vanne à eau
2 2. Plaque de laiton
WF 3. Résistances de chauffage
Win: Entrée de l'eau
Wout: Sortie de l'eau
Win WF: Circulation de l'eau
ST AF: Circulation d'air
32°C ST: Cuve du spectromètre
Wout
2
KXx9401D00100
3
Figure 3.30
La Figure 3.31 montre l'emplacement des ventilateurs et des plaques de laiton avec leurs résistances. Un flux
d'air contribue à la stabilisation de la température.
1 1. Ventilateur
AF 2. Plaque de laiton. La seconde
plaque est située de l'autre
4 côté de la cuve.
3. Résistances de chauffage
AF
4. Ventilateur
3 5. Ventilateur
AF: Circulation d'air
5
4
KXx9401D00202
AF
4
Figure 3.31 Vue de face d'un instrument ARL ADVANT’XP (XP+)

Exit
Régulation thermique de l'instrument ARL ADVANT'X+

La température de la cuve du spectromètre est régulée par un circuit d'eau de refroidissement (eau de ville) et
un circuit de chauffage à résistances électriques. Une sonde de température fixée sur le socle du goniomètre
est connectée à la carte XGT qui va piloter le ventilateur et le circuit de chauffage.
Comme représenté à la Figure 3.32, la cuve du spectromètre est refroidie par deux plaques de laiton, à travers
lesquelles passe l'eau dont le débit est contrôlé par une vanne. Deux résistances électriques de chauffage sont
fixées sur ces plaques.
La température de la cuve est régulée à 37° C +/- 0,5°C. Pour optimaliser cette régulation thermique, les
cristaux ont aussi un circuit de chauffage qui stabilise leur température à 43°C +/- 0,1°C. Si l'instrument a été
arrêté pendant longtemps, il faut attendre au moins quatre heures avant de pouvoir obtenir un résultat
d'analyse très précis. Un message d'alarme indique si la température de travail n'est pas encore atteinte.
La Figure 3.32 montre l'emplacement des ventilateurs et des plaques de laiton avec leurs résistances. Un flux
d'air contribue à la stabilisation de la température.
5 3 1. Ventilateur
1 2. Résistances de chauffage
3. Ventilateur
AF 4. Ventilateur
AF 5. Ventilateur
AF: Circulation d'air
4
1
KXx9401D00300
3
Figure 3.32 Vue de face d'un instrument ARL ADVANT’X+

Exit
Excitation de l'échantillon
L'échantillon est excité par le rayonnement d'un tube-X à fenêtre en bout qui tire son énergie d'une
alimentation à semi-conducteurs. Un circuit d'eau refroidit le tube-X. Pour prévenir tout accident dû aux
rayons-X ou à la haute tension, l'instrument est équipé d'un circuit de sécurité.
Tube à rayons-X
Le tube-X est incliné de 60° par rapport à la surface de l'échantillon et la distance entre l'anode et
l'échantillon est en moyenne de 19 mm.
Un des avantages du tube-X avec fenêtre en bout est sa très grande sensibilité pour les éléments légers et de
ce fait des limites de détection basses. La fenêtre en béryllium de 75 microns ou de 50 microns (en option)
absorbe moins les radiations qui vont exciter les éléments légers et, de ce fait, l'analyse de ces éléments s'en
trouve encore améliorée. La cible est normalement en rhodium.
1. Echantillon
2. Anode
3. Tube-X
1
PC
AC: Chambre d'analyse
PC: Chambre primaire
AC
ST
30° 45° 4
KXx9440D00400
Figure 3.33

Exit
Alimentation du tube-X
L'alimentation du tube-X est un générateur à semi-conducteurs qui, selon la configuration de votre
instrument, délivre une puissance maximum de 1200, 3600 ou 4200 Watt.
Cette unité contrôle la tension et le courant fournis au tube. XPS est la carte qui pilote cette alimentation. La
tension peut être sélectionnée par pas de 1 kV. Le courant peut être sélectionné par pas de 1 mA, mais avec
quelques restrictions entre 0 et 20 kV, car il n'est pas possible physiquement d'obtenir par exemple 0 kV et
120 mA. La formule suivante permet de calculer le courant maximum autorisé en fonction de la tension:
Imax 
4
100
 26 kV  5 kV 2 
où Imax est le courant maximum autorisé

kV est la tension désirée
Exemples: kV désiré I maximum kV désiré I maximum

0 kV 0 mA 10 kV 30 mA
5 kV 10 mA 25 kV 120 mA
L'alimentation du tube-X existe en plusieurs versions.
Instrument Puissance Tension Courant

Maximum Maximum d’émission
maximum
ARL ADVANT’X+ 1.2 kW 60 kV 60 mA

ARL ADVANT’XP Standard 3.6 kW 60 kV 120 mA
Option 3.6 kW 70 kV 120 mA
ARL ADVANT’XP+ Standard 4.2 kW 60 kV 120 mA
Option 4.2 kW 70 kV 140 mA
Mode écologique
Le mode écologique est une fonction qui permet de diminuer la consommation d'électricité et d'augmenter la
durée de vie du tube. Lorsque l'instrument est inutilisé, après quelques heures la puissance est réduite à une
valeur de consigne. Par exemple, si les conditions de travail sont 50 kV 50 mA et que l'instrument n'a pas été
utilisé pendant 1 heure, la tension et le courant sont réduits à 40 kV et 20 mA en 30 minutes. Au moment où
l'utilisateur démarre une nouvelle analyse, le tube retrouve automatiquement ses conditions de travail.
Une autre fonction permet de programmer l'heure à laquelle le tube-X doit atteindre ses conditions de travail.
Ceci est très utile si l'instrument a besoin d'être stabilisé avant de pouvoir démarrer les analyses. Par
exemple, le tube-X est à 40kV/20mA durant la nuit; le matin, une heure avant l'arrivée de l'utilisateur dans le
laboratoire, les conditions passe automatiquement à 50kV/50mA.
Le chapitre Préparation de l'instrument explique comment définir ce mode.

Exit
Circuit de sécurité de l'alimentation du tube-X

Tous les panneaux et couvercles qui possèdent un des deux écriteaux représentés à la Figure 3.34 sont
connectés à un circuit de sécurité. Ce circuit empêche d'enclencher l'alimentation du tube-X s'ils ne sont pas
en place. Nous recommandons vivement l'utilisateur de contacter un bureau ARL avant de démonter une de
ces protections.
Haute tension
Radiation
Figure 3.34
Ce circuit de sécurité n'agit que sur la haute tension du tube-X. Le bouton rouge d'arrêt d'urgence coupe
quant à lui l'alimentation générale de l'instrument.
Circuit de refroidissement du tube-X (ARL ADVANT’XP et XP+)

Le refroidissement du tube-X est assuré par un circuit fermé dont l'eau est elle-même refroidie par l'eau de
ville dans un échangeur de chaleur. La Figure 3.35 montre les composants de ce système.
Figure 3.35 Circuit de refroidissement des instruments ARL ADVANT’XP et XP+

Exit
Circuit de refroidissement d'eau (ARL ADVANT'XP et XP+)

Tap Water outlet
PW T out
Spectrometer tank
°C
Water rack
PW Flow °C SW T out
Heat exchanger
SW Flow
9800
ONLY
SW Resistivity
Deionizing catridge
Tank level
SW T safe
°C Cathode IN Anode OUT

Deionized
PW T in PW V in water tank
A
Pressure A
switch C C
COOLING SYSTEM Pump °C
ADVANT'XP(+) Tap Water inlet
SW T in
ARL 9800 XRF
KXx9001D00101
X-ray tube
GENX
ONLY
Circuit d'eau primaire Circuit d'eau secondaire

PW T in : Température d'entrée du SW T in : Détecteur de température
circuit d'eau primaire d'entrée de l'eau secondaire
PW T out : Température de sortie du SW T out : Détecteur de température
circuit d'eau primaire de sortie de l'eau secondaire
PW V : Vanne du circuit d'eau primaire SW T safe : Sécurité pour température
de l'eau secondaire
Figure 3.36
Le principe du circuit de refroidissement d'eau est représenté à la Figure 3.36. Différents contrôles du
système de refroidissement sont effectués sur cet instrument, par exemple pour le circuit d'eau primaire:
 Débit
 Température d'entrée
 Température de sortie
Pour le circuit d'eau secondaire :

 Niveau d'eau dans le réservoir
 Résistivité
 Débit (minimum 2,0 litre par minute)
 Pression à l'entrée du tube-X (maximum 4 bars)
 Sécurité pour température maximum
Notes: Lorsque l'un des paramètres contrôlés n'est plus dans la tolérance, l'alimentation du tube-X
est immédiatement déclenchée.
L'eau secondaire passe d'abord dans le refroidissement externe (appelé aussi refroidissement
de la cathode) puis dans l'anode.

Exit
Circuit de refroidissement du tube-X (ARL ADVANT’X+)

Le refroidissement du tube-X est assuré par un circuit fermé dont l'eau est elle-même refroidie dans un
échangeur de chaleur air/eau externe. La Figure 3.37 montre les composants de ce système.
Figure 3.37 Circuit de refroidissement de l’instrument ARL ADVANT’X+
Circuit de refroidissement d'eau (ARL ADVANT'X+)
Le principe du circuit de refroidissement d'eau est représenté à la Figure 3.38. Différents contrôles sont
effectués sur ce circuit d'eau:
 Niveau d'eau dans le réservoir
 Résistivité
 Débit (minimum 2,0 litre par minute)
 Pression à l'entrée du tube-X (maximum 4 bars)
 Sécurité pour température maximum
Notes: Lorsque l'un des paramètres contrôlés n'est plus dans la tolérance, l'alimentation du tube-X
est immédiatement déclenchée.
L'eau secondaire passe d'abord dans le refroidissement externe (appelé aussi refroidissement
de la cathode) puis dans l'anode.

Exit
SAFETY 60°C
Water rack DEIONIZATION
CARTRIDGE
°C
HEAT EXCH.
SAFETY
FLOW
WATER
TANK
Cathode IN Anode OUT WATER
RESISTIVITY
PRESSURE
SWITCH
A C
PUMP
A
C
°C
X-RAY TUBE
COOLING SYSTEM
S317596
KXx9035D00201
Figure 3.38
Figure 3.39 Echangeur de chaleur air/eau pour ARL ADVANT’X+

Exit
Manipulation d'échantillon
La manipulation des échantillons est effectuée par deux systèmes principaux :
 le passeur qui place la cassette et l'échantillon sur l'ascenseur;

 la chambre primaire qui sert de sas entre l'air extérieur et le vide ou l'hélium du spectromètre. L'ascenseur
descend la cassette dans la chambre primaire, qui effectue un demi-tour pour la placer en position
d'analyse.
Passeur d'échantillons de 12 positions

La fonction du passeur est de placer la cassette sur l'ascenseur. Ce passeur possède 12 positions codées et il
peut se déplacer dans les deux directions. L'utilisateur doit placer l'échantillon dans une cassette puis la poser
dans une des rondelles du passeur. Les numéros de cassette définis dans le logiciel WinXRF correspondent
aux numéros gravés sur les rondelles (de 1 à 12).
Figure 3.40
Passeur d'échantillons de grande capacité (en option)

Le passeur de grande capacité est utilisé pour un grand nombre d'échantillons; il existe en trois versions
différentes.
La première version peut contenir 98 cassettes. Deux plateaux de 49 cassettes sont posés sur le passeur. Les
positions sont codées de 1 à 49 pour le plateau de gauche et de 101 à 149 pour celui de droite.
La pince prend la cassette et la pose sur la position de charge puis, une fois l'analyse terminée, la remet à sa
place.

Exit
1. Position de charge
2. Plateaux pour 49 cassettes
1 2 3 4 5 6 7 101 102 103 104 105 106 107
LT: Plateau gauche
8 9 10 108 109 110
RT: Plateau droit
49 149
LT RT
KXx9071D00500
1 2
Figure 3.41
Vue de dessus d'un passeur de grande capacité équipé deux plateaux
La deuxième version comporte un plateau pour les cassettes et deux plateaux pour des échantillons placés
directement sur le plateau. La figure suivante montre un exemple où le plateau de droite est réservé aux
cassettes et où les deux plateaux de gauche sont réservés aux échantillons circulaires.
2. Plateaux
1 2 3 4 5 6 101 102 103 104 105 106 201
3. Plateau pour 49 cassettes
7 8 107 108
41 42 43 44 249
KXx9071D00501
2 1 3
Figure 3.42
Vue de dessus d'un passeur de grande capacité équipé de trois plateaux
La troisième version comporte trois plateaux à échantillons et un pour 14 cassettes.
2. Plateaux
1 6 101 106 201 206 301 302
3. Plateau pour 14 cassettes
303
314
KXx9071D00601
2 1 2 3
Figure 3.43
Vue de dessus d'un passeur de grande capacité équipé de quatre plateaux

Exit
Plateaux pour passeur de grande capacité

En fonction du diamètre de ses échantillons l'utilisateur a le choix entre quatre plateaux. Il est possible
d'utiliser tous les plateaux du même type ou de les mélanger (comme le montre la Figure 3.47). Le passeur
reconnaît automatiquement les plateaux installés.
Quatre types de plateaux pour échantillons solides circulaires sont disponibles:
54 positions pour des échantillons circulaires

1 6
d'un diamètre compris entre 30,5 et 32 mm.
1. Emplacements réservés aux cassettes
d'outillage.
54
KXx9071D00100
Figure 3.44

1 6
d'un diamètre compris entre 32 et 35 mm.
d'outillage.
44 48
KXx9071D00200
Figure 3.45

1 6
d'outillage.
41 44
KXx9071D00300
Figure 3.46

Exit

1 5
d'outillage.
30 32
KXx9071D00400
Figure 3.47
Important
Ces plateaux acceptent des échantillons dont la hauteur n'excède pas 25 mm et dont
le poids ne dépasse pas 200 g.
Fonctionnement du passeur de grande capacité

Le passeur de grande capacité ne peut fonctionner que si ses couvercles sont fermés et il n'est pas
recommandé de les ouvrir pendant les mouvements du bras. Il est toutefois possible d'ouvrir les couvercles
pour introduire ou retirer un plateau. A la fermeture des couvercles le passeur contrôle quels types de
plateaux sont installés.
Tous les échantillons placés sur les plateaux sont d'abord chargés dans une cassette spéciale puis le tout est
déplacé en position de charge.

Exit
Chambre primaire
La chambre primaire sert à déplacer les échantillons de la position de charge vers la position d'analyse. La
figure suivante montre le système complet et les mouvements de chacune des pièces.
1 1. Détection pour cassette

liquide
2 2. Détection de cassette
12 3. Moteur du diviseur
4. Moteur de la rotation
d'échantillon
3 5. Cloche
4 11 6. Echantillon
7. Diviseur
8. Moteur de l'ascenseur
9. Moteur de l'obturateur de la
10 chambre primaire
5 primaire (ouvert)
11. Cassette
9 12. Clapet du passeur
6 SRA: Axe de rotation de l'échantillon
DRA: Axe de rotation du diviseur
7
SRA DRA
KXx9430D01801
Figure 3.48
Pendant l'analyse, le moteur de la rotation d'échantillon fait tourner la cassette à la vitesse de 0,5 tour par
seconde, ceci pour mesurer des concentrations moyennes si l'échantillon n'est pas homogène. La détection de
cassette est une sécurité qui empêche le chargement d'une cassette liquide sous vide.

Exit
Chargement d'un échantillon

L'instrument de la série ARL ADVANT'X a été conçu pour pouvoir analyser des échantillons solides ainsi
que des échantillons ne supportant pas le vide (liquides, poudres non pressées, etc.). Pour l'analyse des
échantillons solides le spectromètre est sous vide et l'échantillon est pompé à 13 Pa avant d'être mesuré. Pour
les échantillons ne pouvant pas être analysés sous vide, la chambre d'analyse doit être remplie d'hélium. Le
paragraphe suivant explique les étapes du chargement d'un échantillon dans les deux cas (vide et hélium).
La figure suivante montre les pièces impliquées dans le chargement d'un échantillon. Cette figure représente
l'instrument prêt à analyser un échantillon solide.
1. Passeur de 12 positions
2. Détection du couvercle de
1 S1
cassette
S3 S2
12 3. Détection de cassette
2 4. Diviseur
11 5. Cloche
3 S1 6. Chambre d'analyse
4 8. Obturateur hélium
9 9. Ascenseur
S1
5
primaire
11. Clapet du passeur
6 8 12. La cassette de la position 1 est
sur l'ascenseur
A
7 ST: Cuve du spectromètre
ST
V A: Air
V: Vide
KXx9400D03200
S1: Echantillon N° 1
Figure 3.49

Exit
Chargement d'un échantillon solide

La première étape consiste à charger l'échantillon dans la chambre primaire et à fermer l'obturateur pour
rendre celle-ci hermétique. Ensuite la vanne à vide de la chambre primaire s'ouvre pour diminuer la pression
au niveau de celle de la cuve du spectromètre.
a. Descente de l'ascenseur
b. Contrôle de la présence d'un
couvercle, sinon la cassette est
S3 S2
déchargée
c. Fermeture du clapet du passeur
b et de l'obturateur de la chambre
1 c primaire
2 d. Pompage de chambre primaire
d 1. Détection du couvercle de
cassette
S1 2. Détection de cassette
a A
ST
V
KXx9400D03300
Figure 3.50
L'étape suivante consiste à déplacer l'échantillon en position d'analyse.
a. Ouverture de la cloche
b. Rotation du diviseur
S3 S2
b
a
S1
ST A
V
KXx9400D03400
Figure 3.51
Durant la phase suivante l'instrument prépare déjà le prochain échantillon pour économiser du temps.

Exit
a. Fermeture de la cloche
b. Aération de la chambre primaire
c. Ouverture de l'obturateur de la
S3 S2
chambre primaire et du clapet du
passeur
d. Montée de l'ascenseur
c
b
S1
d
A
KXx9400D03500
V
Figure 3.52
Le prochain échantillon est chargé dans la chambre primaire. La phase de pompage démarre pour que la
pression soit suffisamment basse lorsque l'analyse du premier échantillon est terminée (voir figure suivante).
a. Le passeur tourne pour amener le

2ème échantillon sur l'ascenseur
a b. Contrôle de la présence d'un
S3
couvercle, sinon la cassette est
déchargée
b c. Descente de l'ascenseur
1 d. Fermeture du clapet du passeur
2 d et de l'obturateur de la chambre
primaire
e. Pompage de la chambre primaire
e
S1 S2
c A
ST
V
KXx9400D03600
Figure 3.53
Le deuxième échantillon est déplacé en position d'analyse et le passeur 12 positions se prépare à recevoir le
premier échantillon à sa position originale (voir figure suivante).

Exit
a. Ouverture de la cloche
b. Rotation du diviseur
c c. Rotation du passeur pour recevoir
S3
le 1er échantillon dans sa position
originale
a b
S2 S1
V
ST
KXx9400D03700
Figure 3.54
Le premier échantillon est déchargé et la chambre primaire est prête à recevoir le troisième échantillon.
a. Fermeture de la cloche
b. Aération de la chambre primaire
S1
c. Ouverture de l'obturateur de la
S3
passeur
S1 d. Montée de l'ascenseur
a c
b
S2
d A
ST
V
KXx9400D03800
Figure 3.55
Le passeur place le troisième échantillon sur l'ascenseur et la même séquence de chargement recommence.

Exit
S1
a. Le passeur tourne pour amener le
3ème échantillon sur l'ascenseur
a S3
S3
S2
ST V
KXx9400D03900
Figure 3.56

Exit
Chargement d'un échantillon sous hélium

L'analyse sous pression atmosphérique est possible lorsque l'utilisateur a sélectionné le mode hélium (avec
ou sans obturateur). Les échantillons liquides sont versés dans des récipients spéciaux et placés dans des
cassettes. Avec ces cassettes liquides, il n'est pas possible de fermer la cassette avec son couvercle. Pour
empêcher de charger un échantillon liquide sous vide l'instrument contrôle si la cassette a un couvercle ou
non. Si l'utilisateur essaie de charger une cassette liquide sous vide, celle-ci est immédiatement déchargée.
Les figures suivantes montre les différentes étapes de chargement d'un échantillon en mode hélium.
A la figure suivante l'instrument est en attente du chargement du premier échantillon liquide.
Nous pouvons observer que l'ascenseur est en bas, que l'obturateur de la chambre primaire est fermé et que la
chambre primaire est remplie d'hélium. Ceci permet de réduire la consommation d'hélium et la contamination
de la chambre primaire par l'air.
1. Détection de cassette liquide

2. Tube à rayons-X
S1
S3 S2
a. Obturateur fermé
b. Ascenseur en bas
1 a A: Air
V: Vide
H: Hélium
A
2 V
ST H
b
KXx9404000
Figure 3.57
Le premier échantillon est prêt à être chargé.
a. Ouverture de l'obturateur de la
c S1
S3 S2
passeur
b. Montée de l'ascenseur
c. Le passeur tourne pour amener le
1er échantillon sur l'ascenseur
a
A: Air
V: Vide
d H: Hélium
A
V
b
ST H
KXx9404100
Figure 3.58

Exit
Durant le chargement, l'instrument ne contrôle pas si la cassette a un couvercle. Toutes les cassettes sont
chargées.
1. Détection du couvercle de
S1
cassette
S3 S2
2. Détection de cassette
b a. Descente de l'ascenseur
1 b. La présence d'un couvercle
2 métallique sur la cassette n'est
pas contrôlée
a A
ST V
H
KXx9404200
Figure 3.59
Lorsque l'ascenseur est en bas et l'obturateur fermé, la chambre primaire est rincée par de l'hélium pour éviter
toute contamination.
a. Descente de l'ascenseur
b. Fermeture du clapet du passeur
S3 S2
et de l'obturateur de la chambre
primaire
c. Rinçage de la chambre primaire
par de l'hélium
b
A
a
ST V
KXx9404300
H
Figure 3.60
Le reste de la procédure de chargement est la même que pour les analyses sous vide.

Exit
PRINCIPE D'ANALYSE
Exit
Principe d'analyse Chapitre 4
4 PRINCIPE D'ANALYSE
Introduction
L'analyse spectrochimique par fluorescence de rayons-X est basée sur le fait que les éléments chimiques d'un
échantillon émettent des radiations caractéristiques lorsqu'ils sont excités par une source appropriée.
L'émission de lignes spectrales caractéristiques peut être produite, soit par l'impact de particules accélérées
comme des électrons, des ions ou des particules alphas, soit par l'impact de photons à haute énergie produits
par un tube à rayons-X ou soit par une source radioactive. L'excitation directe par bombardement d'électrons
est généralement utilisée dans les microscopes électroniques, alors que des sources d'isotopes radioactifs et
des générateurs de protons sont communément associés à la technique d'analyse par énergie dispersive.
Emission de rayons-X
Lors d'une analyse spectroscopique, une certaine quantité d'énergie est fournie aux atomes. La nature de
l'énergie fournie peut dépendre de la technique d'excitation. Pour les analyses XRF, par exemple, les atomes
sont exposés à un rayonnement X (appelé rayonnement primaire), alors que pour l'émission optique, un arc
électrique ou un plasma fournissent l'énergie d'excitation. Les atomes absorbent donc toute ou partie de cette
énergie si des électrons peuvent être déplacés. Le déplacement d'électrons peut se produire à l'intérieur de
l'atome, lorsque ceux-ci passent d'une orbite inférieure à une orbite supérieure en absorbant l'énergie
incidente; l'atome est alors dans un état excité. Les électrons peuvent aussi quitter l'atome, on obtient dans ce
cas un atome ionisé de charge positive. Normalement les deux phénomènes se produisent simultanément.
Dans notre cas, lorsque le rayonnement primaire provenant du tube à rayons-X pénètre dans l'échantillon, les
phénomènes suivants se produisent:
Fluorescence de rayons-X
Absorption photo-électrique
Effet Auger
Cohérents
Rayons-X diffusés
Incohérents
Rayons-X transmis
Figure 4.1
Lorsque des photons X pénètrent dans un atome, plusieurs phénomènes se produisent. Une des interactions
concerne le transfert de l'énergie du photon à un des électrons liés de l'atome (par exemple un électron de la
couche K), ce qui conduit à son éjection de l'atome. Il en résulte donc un déséquilibre de la distribution des
électrons dans l'atome ionisé, puis, dans un temps extrêmement court, un des électrons des orbites externes
va venir combler le trou sur l'orbite interne pour rétablir l'équilibre. Chacun de ces transferts d'électrons, par
exemple de la couche K à la couche L, représente une perte dans le potentiel énergétique de l'atome. Cette
énergie réapparaît sous la forme d'un photon (dans notre exemple un photon Kα), dont l'énergie correspond à
la différence entre les énergies de liaisons des électrons de chacune des couches. A ce moment-là un des
deux cas de figures suivants peut se produire:
a) Le photon X s'échappe de l'atome et contribue au rayonnement caractéristique de l'atome (Figure 4.2 à

gauche).
AA83487 Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X 4-1

Exit
Chapitre 4 Principe d'analyse
hν ' = ΦK - Φ L e - = hν - ΦK
O
Kα N
hν M
K
Figure 4.2
b) Le photon X est absorbé dans ce même atome par l'éjection d'un électron d'une des orbites externes, par
exemple un photon Kα peut éjecter un électron L, M ou N, ce phénomène est appelé effet Auger. L'atome
ionisé devient à nouveau une source de rayonnement comme expliqué précédemment (Figure 4.3).
Comme l'effet Auger concerne les électrons des orbites externes il est à remarquer que plusieurs trous
peuvent être créés. La création de doubles trous est responsable de l'apparition des pics satellites.
e - = [ΦK - Φ L ] - Φ M
O
N
Kα M
K
Figure 4.3
L'émission d'électrons Auger est plus probable pour les éléments légers alors qu'il y a plus de chance que les
éléments lourds émettent un rayonnement X. La probabilité qu'un photon X soit émis (à la place d'un
électron Auger) est appelée le rendement de fluorescence.
La Figure 4.4 présente le rendement de fluorescence comme une fonction du numéro atomique. La
probabilité d'émission d'un photon X est plus grande pour les lignes K que pour les lignes L, ce qui explique
la différence de rendement des transitions K et L. Dans la pratique nous utilisons les lignes K pour mesurer
les éléments légers et mi-lourds, alors que nous préférons les lignes L ou M pour les éléments lourds.
4-2 Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X AA83487

Exit
Rendement de fluorescence ω
1.0
0.8 ω
K
0.6
ω
L
0.4
0.2
ω
M
0
0 20 40 60 80 100
KXx9499D001000 Numéro atomique Z
Figure 4.4
Diffusion
La diffusion des rayons-X primaires par l'échantillon résulte de deux phénomènes: la diffusion cohérente ou
élastique (sans perte d'énergie) et la diffusion incohérente ou inélastique, appelée effet Compton (avec une
petite perte d'énergie). Comme mentionné plus haut une partie seulement des photons X incidents participent
à l'absorption photo-électrique. Certains ne sont donc pas absorbés car ils n'atteignent pas les orbites
inférieures, à la place ils sont déviés vers l'intérieur de l'atome, et ceci de deux manières:
a) Le photon X incident est dévié sans perte d'énergie.

b) Le photon X incident est dévié en perdant une petite partie de son énergie et de ce fait voit sa longueur
d'onde augmenter.
Sous a) l'échantillon diffuse le rayonnement primaire avec exactement la même énergie, cette diffusion est
appelée cohérente ou élastique. Sous b) comme le montre la Figure 4.5, une partie des photons entrent en
collision avec un électron peu lié à l'atome d'une des orbites supérieures. L'électron recule sous le choc,
absorbe une partie de l'énergie du photon incident et quitte l'atome. Après cette collision le photon est diffusé
avec une énergie légèrement plus faible. Ce phénomène est appelé effet Compton. La différence d'énergie
entre le photon incident et le photon Compton ne dépend que de l'angle (φ) sous lequel celui-ci est diffusé. Il
peut être calculé par l'équation suivante:
∆λ = λ' - λ = h/moc (1-cos φ) = 0.02426 (1- cos φ)

Exit
y '
Electron reculant
E kin = h v - h v '
Photon incident
E = h v ψ
x ' x
Photon diffusé
E ' = h v '
y KXx9499D001100
Figure 4.5
Cette équation montre que l'augmentation de longueur d'onde ∆λ du photon est indépendante de la longueur
d'onde des photons incidents et du numéro atomique de l'élément diffuseur. D'un autre côté le rapport
d'intensité de la diffusion cohérente sur la diffusion Compton dépend du numéro atomique du diffuseur.
Dans la pratique nous sommes confrontés à un rayonnement diffusé. Dans un spectre de fluorescence X, les
photons diffusés de manière cohérente contribuent à augmenter le fond. Comme pour un élément donné ils
ont la même énergie que ceux de la ligne mesurée, ils ne peuvent généralement pas être discriminés. En XRF
la plus grande partie du fond peut être attribuée à la diffusion des photons primaires par l'échantillon.
Comme les éléments lourds absorbent plus et diffusent moins, le niveau du fond pour une matrice composée
d'éléments lourds est presque insignifiant. A l'opposé il devient un facteur limitatif pour la mesure des faibles
concentrations dans une matrice légère.
En pratique cela revient à dire que plus la matrice est lourde moins le problème du fond est important. Pour
les matrices légères il faut donc être conscient du niveau élevé du fond. La diffusion Compton apparaît sous
la forme d'un large pic accompagnant les lignes K et L de l'élément de l'anode du tube-X. La Figure 4.6
illustre ces considérations.
Les trois spectres de cette figure ont été enregistrés avec un tube-X dont l'anode est en Rh. Le spectre a)
provient d'une matrice légère (téflon), le b) d'une matrice mi-lourde (pur Al) et le c) d'une matrice lourde (pur
Fe). Les quatre pics observés proviennent des lignes Rh Kα et Kβ, ainsi que RhCompton Kα and Kβ. Il est à
remarquer que les intensités des quatre pics décroissent lorsque le poids de la matrice augmente.

Exit
Figure 4.6
Transmission
La transmission est le résidu de l'absorption. La transmission ou l'absorption des rayons-X dans la matière
peut être décrite par une équation de type exponentielle. Si Io est l'intensité des rayons-X (d'énergie E ou de
longueur d'onde λ) incidents sur un échantillon d'épaisseur t (en cm), l'intensité des rayons-X transmis I est
donnée par:
I = Io exp -µρt
2
♦ µ: coefficient d'absorption de masse (cm /g)
3
♦ ρ: densité de l'échantillon (g/cm )
Le coefficient d'absorption de masse de cette formule correspond à une longueur d'onde particulière dans un
absorbant donné, c'est en fait la somme des deux coefficients τ et σ, où τ est le coefficient d'absorption de
masse photo-électrique et σ le coefficient de diffusion de masse.
µ
total = τphoto + (σcohérent + σincohérent)
Ces coefficients peuvent être trouvés dans la littérature spécialisée. Cette formule est particulièrement utile
lorsqu'il s'agit de déterminer l'épaisseur des filtres d'intensité, la profondeur de pénétration des rayons-X dans
un échantillon donné, etc. L'atténuation des rayons-X par absorption photo-électrique et par diffusion
cohérente ou incohérente dépend principalement de l'atome. Par conséquent les coefficients de masse des
composés suivent simplement une loi de moyenne pondérée, aussi appelée loi additive. Par exemple un
composé formé des éléments i, j, k, etc. dont les masses sont Mi, Mj, Mk, etc. a un coefficient absorption de
masse µ = ΣMiµi/ΣMi ou, en terme de concentrations, Ci, Cj, Ck, etc. µ = ΣCiµi.

Exit
Nomenclature utilisée en XRF

Les électrons d'un atome ne sont pas tous placés sur une même orbite mais arrangés en plusieurs couches
bien définies autour du noyau, ces couches sont nommées K, L, M, N, O, P et Q, la couche K étant la plus
proche du noyau. Chaque couche représente un niveau d'énergie composé de plusieurs sous-niveaux.
Figure 4.7
La couche K a le niveau d'énergie le plus bas, alors que la couche Q a le plus élevé. Mais il est important de
noter que la plus grande différence d'énergie entre deux couches successives se situe entre les couches K et L
et la plus petite entre les deux couches externes. L'énergie des électrons d'une couche donnée dépend du
numéro atomique, elle varie donc d'un élément à l'autre. Des précisions supplémentaires concernant la
structure atomique peuvent être obtenues dans la littérature traitant de la physique nucléaire. Les lignes
spectrales sont groupées par famille: K, L, M, N, etc. Toutes les lignes d'une famille résultent de la transition
d'électrons provenant de divers niveaux supérieurs d'énergie vers la couche de cette famille.
Lorsqu'un trou dans la couche K est rempli par un électron de la couche L nous obtenons une radiation d'une
ligne Kα, alors que si c'est un électron de la couche M qui vient remplir ce trou, nous obtenons une radiation
d'une ligne Kβ. De manière similaire lorsqu'un trou dans la couche L est rempli par un électron de la couche
M nous obtenons une radiation d'une ligne Lα, alors que si c'est un électron de la couche N qui vient remplir
ce trou, nous obtenons une radiation d'une ligne Lβ et si c'est un électron de la couche O, nous obtenons une
radiation d'une ligne Lγ. Chaque élément possède ses propres familles de lignes caractéristiques K, L, M. Les
éléments légers n'engendrent que des lignes K, les mi-lourds peuvent émettre des lignes K et L, alors que les
éléments lourds produisent des lignes K, L et M. Par conséquent le spectre devient très complexe lorsque l'on
se dirige vers les éléments lourds. En pratique les lignes principales des familles K et L sont généralement
utilisées, bien que d'autres lignes soient présentes. Le choix des lignes pour l'analyse dépend en grande partie
du type d'échantillon, des éléments qui le compose, de la gamme de concentration de ceux-ci et des
conditions d'excitation.

Exit
Instrumentation
En fluorescence de rayons-X on peut considérer deux types d'instruments: le spectromètre à dispersion en
longueur d'onde (WDX) et le spectromètre à énergie dispersive (EDX). Ces deux types de spectromètres
emploient une source de rayons-X pour exciter l'échantillon, mais leur différence essentielle concerne la
manière de détecter le spectre de rayons-X émis par l'échantillon. En WDX les différentes énergies du
spectre de fluorescence X sont diffractées par un cristal puis détectées par un compteur proportionnel à gaz
ou par un compteur à scintillation. En EDX tout le spectre de fluorescence X est mesuré directement à l'aide
d'un détecteur à semi-conducteur comme Si(Li) ou HPGe. Ce spectre est alors traité par un analyseur multi-
canaux, puis discriminé pour isoler les énergies désirées. L'énergie et la longueur d'onde d'un photon sont
liées par la relation suivante:
E = hv = hc/λ = 12.4/λ
Les parties principales d'un spectromètre WDX sont représentées à la Figure 4.10. Ce sont: le tube à rayons-
X, les collimateurs primaires, les cristaux, les collimateurs secondaires et les détecteurs. Des composants
supplémentaires peuvent être utilisés, ce sont: les filtres primaires, les masques elliptiques et les filtres
d'intensité.
Tube à rayons-X
Ces dernières années deux types de tube à rayons-X ont été le sujet de considérables discussions, le tube à
fenêtre frontale et le tube à fenêtre latérale. Aujourd'hui tous les grands constructeurs équipent leurs
instruments avec des tubes à fenêtre frontale, ce qui prouve que ce tube est le plus universel et le meilleur
compromis pour l'analyse de toute la gamme des éléments. Pour cette raison les différences de performances
et de construction entre ces deux types de tube n'est pas traitée ici.
Le filament et l'anode du tube sont placés dans une enceinte sous vide. Le filament, chauffé par un courant
électrique, libère des électrons par émission thermo-ionique. Comme il existe une grande différence de
potentiel (10-70kV) entre la cathode (le filament) et l'anode (la cible), ces électrons sont alors attirés et
accélérés vers cette anode. Un rayonnement X primaire est produit lorsque ces électrons animés d'une très
grande vitesse entrent en collision avec les atomes de la cible. Sous le choc, la plus grande partie de l'énergie
cinétique des électrons est convertie en chaleur, ce qui nécessite un refroidissement efficace de l'anode. Seule
une toute petite partie des électrons (0.2 - 0.5% suivant le type de cible) est convertie en rayons-X.
La radiation sortant du tube-X se compose du Continuum, Bremsstrahlung ou Radiation blanche, des lignes
caractéristiques de l'élément composant la cible (familles K, L, etc.) et des lignes caractéristiques d'éléments
contaminateurs. Comme le montre la Figure 4.8, le spectre primaire d'un tube à rayons-X conventionnel est
constitué des lignes caractéristiques très intenses de l'élément de l'anode (ex: Rh) sur une enveloppe très large
appelée continuum.
I Kα
Spectre d'un tube-X Rh
Mo Nb Zr
Lα
Kβ
Lβ
Cl S P
Continuum
λ
0 1 2 3 4 5 6
Figure 4.8

Exit
Continuum
L'impact des électrons sur la cible produit des photons qui ne sont pas que d'un niveau d'énergie mais d'une
gamme très étendue, ce qui a pour conséquence que le spectre est un continuum de rayons-X. En d'autres
termes, la décélération par étapes des électrons produit un continuum de lignes d'émission.
Ce continuum a une limite inférieure d'excitation qui dépend de la tension d'excitation, mais qui est
indépendante de l'élément composant la cible. L'intensité du continuum augmente néanmoins lorsque le
numéro atomique de l'élément de la cible s'accroît. La Figure 4.9 montre, pour une cible donnée, trois
spectres continuum mesurés à des tensions différentes. Il est à remarquer que l'intensité du spectre augmente
avec la tension pendant que la limite inférieure d'excitation se déplace vers les basses longueurs d'onde.
I
50 kV
Intensité
35 kV
20 kV
λ
Longueur d'onde
Figure 4.9
Il est possible d'exprimer l'intensité du continuum par une intégrale (Iint) qui est fonction de l'élément de la
cible (Z, numéro atomique), de la tension d'excitation (V) et du courant d'excitation (i); ce qui donne:
Iint est proportionnel à (i Z V2)
On peut déduire de cette formule que pour une cible et une tension d'excitation données, l'intensité du
continuum est directement proportionnelle au courant d'émission.
Spectre caractéristique et choix de la cible du tube à rayons-X
Lorsque les électrons incidents ont suffisamment d'énergie pour éjecter les électrons des couches K et L des
atomes de la cible, on obtient l'émission des lignes caractéristiques K et L de l'élément cible. Contrairement
au continuum ce phénomène est sélectif et provoque l'apparition de lignes bien distinctes et très intenses de
l'élément cible. La Figure 4.8 montre ces lignes superposées au continuum. Plus l'élément cible est lourd plus
les lignes caractéristiques émises sont intenses. En pratique toutefois, l'efficacité d'une cible donnée dépend
des conditions d'excitation (kV et mA).
Le choix du matériau de la cible est basé sur plusieurs facteurs. Un des plus important est lié à l'efficacité
des lignes caractéristiques de la cible à exciter le plus grand nombre d'éléments de l'échantillon. Pour
comprendre le terme efficacité, il faut parler du concept de seuil absorption d'un élément. Pour une famille
de lignes donnée, chaque élément a un seuil d'absorption. Par exemple un élément comme le Mo a un pic
d'absorption K et trois L (LI, LII, LIII). Comme il a été dit auparavant, ces pics dépendent de l'énergie de
liaison des électrons des couches K et L. Lors du choix de l'élément adéquat pour la cible il faut donc se
préoccuper de la position les lignes K et L de cet élément. Si des lignes très intenses de la cible sont proches

Exit
du pic d'absorption d'un élément analysé, elles prennent une part prépondérante dans l'excitation de cet
élément, sinon c'est le continuum qui l'excite le plus. Bien qu'il existe plusieurs types d'anodes, comme le Cr,
Cu, Mo, Rh, Au et W, il est très difficile d'en trouver une qui excite favorablement tous les éléments à
analyser. Par conséquent on compte fréquemment sur le continuum pour exciter les éléments d'un
échantillon. Toutefois, il est possible d'optimiser le choix de l'élément cible, en considérant la meilleure
excitation pour les éléments de la partie la plus utilisée du tableau périodique. La majorité des spectromètres
sont équipés de tubes à rayons-X en Rh car les lignes Rh K peuvent exciter les éléments mi-lourds et les
lignes Rh L excitent de manière efficace les éléments légers (voir Figure 4.8). Lorsque les échantillons
analysés contiennent plus fréquemment des éléments mi-lourds à lourds, un tube W donne de meilleurs
résultats.
Interférence de lignes
Le spectre primaire peut contenir, en plus des lignes caractéristiques de l'élément de la cible, d'autres
provenant d'impuretés dans la cible ou d'éléments constituant l'intérieur du tube, comme le Fe, le Cr ou le Cu.
De ce fait le niveau du fond pour ces éléments peut être inhabituellement haut, il faut donc prendre
particulièrement garde lors de la fabrication du tube pour minimiser les contaminations. De plus, les lignes
de l'élément cible diffusées par l'échantillon peuvent empêcher l'analyse de ce même élément, s’il se trouve
dans l'échantillon. Ces lignes peuvent aussi se superposer aux lignes de certains éléments et donc perturber
leur analyse. Dans ces deux cas il est possible d'intercaler entre le tube à rayons-X et l'échantillon un filtre
primaire dont la tâche est d'éliminer les lignes caractéristiques de l'élément cible.
Epaisseur de la fenêtre
Les tubes à rayons-X sont normalement terminés par une fenêtre en béryllium car c'est l'élément qui absorbe
le moins le rayonnement X. L'intensité des rayons-X de faible énergie (aussi appelé rayons-X mous) du
continuum dépend beaucoup de l'épaisseur de cette fenêtre. Des fenêtres de 125 µm sont montées sur la
plupart des tubes à rayons-X standards. Pour exciter plus efficacement les éléments légers il est possible
d'utiliser des fenêtres plus minces. La transmission des rayons-X mous (ceux qui excitent le mieux les
éléments légers) augmente d'au moins 20% lorsque l'épaisseur de la fenêtre est réduite de 125 à 75µm.

Exit
Dispersion
Le système dispersif est le coeur d'un spectromètre WD-XRF. Il est composé des parties suivantes: un
collimateur primaire et un collimateur secondaire (dans le cas de l'utilisation de cristaux plats) ou une fente
primaire et une fente secondaire (dans le cas de l'utilisation de cristaux courbes), un cristal et un détecteur.
En fonction du système dispersif employé, les spectromètres XRF peuvent être classés en deux catégories.
Instruments séquentiels
Généralement les instruments séquentiels utilisent une technique dite "géométrie à rayonnement parallèle" ou
"géométrie à cristal plat" ce qui permet de sélectionner les angles du cristal et du détecteur par un mécanisme
appelé goniomètre (c'est un dispositif dans lequel le cristal et le détecteur ont des mouvements rotatifs liés
Thêta 2 Thêta). La géométrie d'un tel spectromètre avec ses composants principaux est représentée à la
Figure 4.10 et à la Figure 4.12 (goniomètre ARL).
Chambre
Cassette
primaire
Echantillon
Masque
elliptique
Filtre
primaire Obturateur en
béryllium
r
eu
ct
Ano
te
(Tci de
Dé
ble)
C
Tub
ol
eà
lim
rayo
at
ns-X
eu
Θ
r
2Θ
Cristal
Cuve du spectromètre
KXx9405D00200
Figure 4.10

Exit
Instruments simultanés
La Figure 4.11 montre le principe d'un spectromètre simultané (ou à canaux fixes) dans lequel la technique
dite "géométrie à rayonnement focalisé" est employée. Ici on utilise des cristaux courbes dont le rayon de
courbure est choisi en fonction de la gamme de longueurs d'onde des lignes spectrales à mesurer. Ici les
collimateurs sont remplacés par des fentes dont les dimensions sont déterminées pour chaque longueur
d'onde. Comme tous les paramètres de construction de ce dispositif sont choisis en fonction de la longueur
d'onde de la ligne spectrale à mesurer, il est de toute évidence réservé pour l'analyse d'un seul élément. Les
spectromètres simultanés ARL 8660 peuvent contenir jusqu'à 30 canaux fixes, chacun destiné à la mesure
d'une ligne.
Cristal focalisant
Tube à rayons-X
Anode Fente primaire

(source)
Fente secondaire
(détecteur)
Echantillon
Détecteur
KXx9499D00300
Figure 4.11
Composants d'un instrument

Nous allons maintenant parler des principales pièces employées dans un spectromètre à dispersion en
longueur d'onde (séquentiels et simultanés). Comme mentionné précédemment, les cristaux constituent la
partie essentielle d'un spectromètre. Dans les paragraphes suivants divers concepts les concernant seront
exposés.
Goniomètre
Les positions exactes du cristal et du détecteur sont chacune mesurées par un encodeur optique qui compte
les franges de Moiré résultant de l'interférence de deux réseaux. Par rapport à un système mécanique
traditionnel (couplage par engrenages), le goniomètre sans engrenage assure un positionnement précis et
reproductible du cristal et du détecteur. Une mesure séquentielle consiste donc à positionner le cristal et le
détecteur à des angles Thêta et 2 Thêta donnés, d'effectuer la mesure, d'exécuter une rotation pour se placer à
des angles correspondants à une autre ligne, etc.

Exit
Angle 1θ
Encodeur du cristal
angle 1θ
Cristal
Collimateur primaire
Echantillon
Collimateur secondaire
Detecteur
Filtre primaire
Encodeur du détecteur
angle 2θ
Angle 2θ
Tube à rayons-X
KXx9460D00900
Figure 4.12
Un goniomètre permet l'analyse qualitative et semi-quantitative d'un échantillon, en balayant la gamme

complète de longueur d'onde pour identifier les éléments présents dans cet échantillon. Pour une analyse
quantitative, les éléments présents dans l'échantillon sont connus, il suffit de positionner le cristal et le
détecteur sur le pic d'une des lignes, de mesurer l'intensité pendant un temps donné, de les déplacer pour
mesurer le fond à gauche et à droite du pic, puis de recommencer pour les autres éléments. Un collimateur
secondaire est placé entre le cristal et le détecteur pour guider le rayonnement diffracté dans le détecteur et
pour empêcher les rayons parasites de pénétrer dans celui-ci.

Exit
Collimateurs
Les collimateurs primaires et secondaires sont constitués de lamelles métalliques parallèles. La longueur et
l'espacement de ces lamelles déterminent la divergence angulaire admissible du collimateur. Cette divergence
angulaire plus la "courbe d'acceptante" (largeur du profil de diffraction) établissent la résolution finale du
spectre. En rapprochant les lamelles du collimateur, il est possible de diminuer cette résolution, mais ceci est
au détriment du nombre de photons passant à travers le collimateur.
Echantillon
In
te
ns
C rim
ité
ol a
p
lim ire
at
eu
r
FW
H
M
2
θ
−∆θ +∆θ
Cristal
KXx9499D01200
Figure 4.13
Il faut par conséquent faire un compromis entre la résolution finale (nécessaire pour éviter de trop importants
chevauchements de lignes) et la sensibilité (liée à l'intensité). Généralement le collimateur est adapté à la
divergence intrinsèque du cristal; celle-ci variant d'un type de cristal à l'autre. Certains offrent une excellente
résolution, alors que d'autres ont un profil de diffraction très large. Pour cette raison ARL propose jusqu'à
quatre types de collimateurs pour ses spectromètres séquentiels, choisis parmi les catégories Fin, Moyen et
Large. Le collimateur fin est utilisé pour la plupart des éléments lourds, le moyen pour les éléments mi-
lourds et le large pour les éléments légers.
Cristaux
Un cristal peut être défini comme un solide, composé d'atomes arrangés selon un schéma tridimensionnel et
répétitif. Dans un cristal, le plan dans lequel les atomes sont alignés est appelé plan du cristal. La Figure 4.14
montre plusieurs plans cristallographiques dans un cristal de type cubique.
Les Plans sont identifiés à l'aide des indices de Miller (hkl). Par exemple la figure ci-après montre trois plans
de ce type (100), 110) et (111). La distance inter-réticulaire (la distance entre deux plans adjacents du même
type) est notée d. En XRF on se réfère le plus souvent aux valeurs 2d des cristaux car ce sont celles-ci qui
vont être utilisées.

Exit
100 101
z
111 201
y
x
Figure 4.14
Diffraction
Les plans des cristaux reflètent les rayons-X comme les miroirs le font pour la lumière. La différence
principale est que les plans des cristaux ne reflètent les rayons-X que sous certaines conditions. Cette
réflexion sélective est appelée diffraction.
d d sin θ
2d sin θ
Figure 4.15
La diffraction peut être considérée comme une interférence constructive, dans le sens que lorsque les photons
X (considérés comme des ondes) sont réfléchis de manière cohérente, ils subissent une superposition
constructive de leur onde. Dans ce cas seulement les rayons-X sont réfléchis avec une amplitude plus élevée,
alors que dans tous les autres cas ils s'annulent. La plus importante condition est appelée "Loi de diffraction
de Bragg". Cette loi dit que les photons de longueur d'onde λ réfléchis par deux plans adjacents d'un cristal
de distance inter-réticulaire d sont décalés d'une distance équivalente à 2d sin Θ. Ce phénomène est
représenté à la Figure 4.15. Lorsque le décalage équivaut à un multiple entier de la longueur d'onde, les
rayons-X réfléchis sortent renforcés, sinon ils s'annulent les uns les autres. En fonction de ces postulats nous
pouvons donner l'équation de Bragg:
nλ = 2d sin Θ loi de Bragg
où: n: nombre entier (1,2,3...) appelé "ordre de diffraction".

d: distance inter-réticulaire des plans du cristal (Angströms).
Θ: angle de Bragg ou angle de diffraction (degrés).
λ: longueur d'onde de la ligne spectrale (Angströms).

Exit
Nous pouvons déduire de cette relation que pour un plan donné d'un cristal et pour un ordre de diffraction
donné, chaque longueur d'onde du spectre XRF incident est diffractée sous un angle unique. La longueur
d'onde maximum que les plans d'un cristal peuvent diffracter correspond à son 2d (lorsque sin Θ prend la
valeur maximum, c'est à dire 1). Pour couvrir plusieurs gammes de longueurs d'onde à travers le tableau
périodique, divers cristaux ou différents plans d'un cristal sont nécessaires. Plusieurs cristaux utilisables pour
la diffraction sont disponibles aujourd'hui. Certains sont inorganiques (comme le LiF) alors que d'autres sont
organiques (comme le PET).
Cristaux multi-couches
En allant des courtes longueurs d'onde (lignes des éléments lourds) vers les longues longueurs d'onde
(éléments mi-lourds), la distance 2d du cristal utilisé augmente pour rester compatible avec la loi de Bragg.
Lorsque nous allons vers de très longues longueurs d'onde (les lignes K des éléments très légers, du
béryllium au magnésium), il faut utiliser des cristaux dont le 2d est supérieur à 10 Angströms. La plupart des
cristaux naturels n'ont pas des distances 2d aussi grandes. Historiquement certains de ces éléments légers
étaient mesurés à l'aide de cristaux synthétiques fabriqués en stéarate de plomb et ou de structure
savonneuse, mais qui souffraient de certains désavantages (dégâts dus aux radiations, stabilité sous vide,
etc.). Aujourd'hui de nouvelles structures stables appelées "micro-structures synthétiques en couche"
(abréviation anglaise LSM) sont disponibles. Ces cristaux multi-couches sont composés d'un substrat en Si
sur lequel sont déposées alternativement des couches d'un élément léger, comme le B, le C, etc. et des
couches d'épaisseur 2d d'un élément lourd, comme le Mo, le Ni, le V, etc.
L'avantage de ces structures artificielles est que l'on peut essayer de combiner différents éléments légers et
lourds et varier l'épaisseur des couches pour modifier le 2d, afin d'optimiser ces cristaux pour chaque
élément. Le résultat de ces nouveaux développements est que le marché propose maintenant une série de
cristaux multi-couches pour analyser les éléments du béryllium au magnésium. Nous utilisions
essentiellement trois ou quatre types de cristaux multi-couches en plus des cristaux naturels.
Réflectivité et résolution
En plus du fait d'avoir un 2d approprié, les cristaux doivent posséder un pouvoir de diffraction efficace, c'est
à dire que le rapport entre les photons diffractés et les photons incidents doit être le plus grand possible.
Certains cristaux comme le LiF ont une excellente réflectivité, alors que d'autres souffrent d'un manque de
réflectivité. Nous sommes généralement intéressés par la réflectivité au niveau des pics mais pas par la
réflectivité intégrale. La variation de réflectivité lorsque le cristal "oscille" légèrement autour du pic de
diffraction est appelée le "courbe d'acceptance" du cristal. La hauteur et la largeur de cette courbe donnent
une indication de la réflectivité totale/intégrale, la réflectivité au niveau des pics et la largeur du profil de
diffraction. Ces caractéristiques dépendent de plusieurs facteurs, le plus important étant la structure en
mosaïque du cristal. Si le cristal est presque parfait (aucun défaut dans le cristal, surface pas endommagée,
aucune impureté introduite dans le cristal pour le doper, etc.), sa courbe d'acceptance serait très étroite et la
réflectivité au niveau des pics serait assez faible. Ceci est la conséquence d'un phénomène interne au cristal
qui est appelé "auto-extinction". L'auto-extinction est principalement due au fait que les ondes diffractées par
les plans du cristal sont réfléchies à nouveau vers l'intérieur de celui-ci, dans le cas où il ne présente aucun
défaut (décalage par rapport à la fréquence parfaite). C'est pourquoi la plupart des cristaux montés dans nos
spectromètres sont traités pour provoquer une structure en mosaïque et pour réduire l'effet d'auto-extinction.
L'efficacité de la diffraction peut être augmentée par divers traitements comme l'abrasion de la surface, le
trempage, le cintrage élastique, le dopage par introduction d'impuretés, etc. Ces opérations doivent bien sûr
être effectuées sous contrôle pour ne pas trop élargir le profil de diffraction. A titre de renseignement, les
cristaux multi-couches qui ont des structures pseudo-cristallines, ont comme défaut de posséder des profils
de diffraction très larges comparativement aux cristaux naturels. Finalement nous pouvons effectuer les
remarques suivantes:
♦ Certains cristaux ont une réflectivité anormalement élevée pour certaines longueurs d'onde. Le cristal
InSb en est un bon exemple. Bien que le cristal PET soit utilisé de manière générale (sur le goniomètre)

Exit
pour mesurer les éléments Al, Si, P, S et Cl, la réflectivité pour la ligne Si Ka est plus que doublée avec le
cristal InSb.
♦ De plus certains cristaux ne reflètent que les ordres de diffraction impaires, 1er, 3e, 5e, etc. Le cristal
germanium en est un exemple. En raison de sa haute réflectivité il est utilisé pour mesurer les éléments P,
S et Cl. Il ne reflète pas les 2e, 6e, etc. ordres. Ceci peut être un avantage lorsqu'il est nécessaire de
supprimer les pics de certains ordres supérieurs.
♦ Certains cristaux peuvent émettre les lignes caractéristiques des éléments dont ils sont constitués.
Pouvoir de dispersion
Les cristaux ont une autre propriété importante appelée "pouvoir de dispersion", c'est à dire la capacité des
plans d'un cristal de séparer les lignes le plus efficacement possible. Le pouvoir de dispersion dépend tout
d'abord de la distance 2d des plans du cristal utilisé, de l'angle de Bragg, ainsi que de l'ordre de diffraction.
Cette puissance peut être exprimée par la relation:
dΘ / dλ = (n/2dcos Θ)
De cette équation nous pouvons dire que:
♦ plus la distance 2d est petite, meilleure est la dispersion.

♦ plus l'angle de diffraction est grand, meilleure est la dispersion.
♦ plus l'ordre de diffraction augmente, meilleure est la dispersion.
La Figure 4.16 illustre cette équation. Elle montre le même spectre enregistré avec trois plans différents du
cristal LiF, LiF200 (2d = 4,028), LiF220 (2d = 2,848) et LiF420 (2d = 1,802). On peut remarquer que le
LiF420 est le cristal qui sépare le mieux les lignes, mais que l'intensité diminue de manière significative. Il
faut donc se rappeler qu'une meilleure dispersion peut quelquefois signifier des intensités de pics plus
faibles.
Le dernier point est l'observation de la dispersion qui se dégrade lorsque l'on se déplace vers les éléments
légers. Comme pour ces éléments le 2d augmente inévitablement, les cristaux naturels ou multi-couches ont
une très mauvaise dispersion.
Figure 4.16

Exit
Stabilité
La stabilité du cristal est un autre facteur important pour la fiabilité et la reproductibilité des analyses. Les
cristaux peuvent subir des modifications dues à des changements de température, ils peuvent aussi être
endommagés par les radiations ou bien encore être affectés par une pollution chimique à l'intérieur du
spectromètre. Il faut donc prendre garde de les maintenir à température constante et de les protéger de toute
contamination. Certains cristaux sont plus sensibles que d'autres aux variations thermiques. Lorsque la
température change c'est principalement la distance inter-réticulaire 2d qui varie, due à la dilatation
thermique. Ceci décale l'angle de Bragg pour une longueur d'onde donnée et entraîne que la mesure ne se fait
plus sur le pic.
Le PET est le cristal le plus sensible aux changements de température, particulièrement aux angles de Bragg
élevés. Les instruments ARL sont équipés d'un circuit de régulation de température qui maintient la
température du spectromètre dans une fourchette de +/-0,5 degrés. Les cristaux sont en plus maintenus à
température constante par un système de régulation propre à chaque cristal. Par conséquent les décalages
d'angles de Bragg dus à des variations thermiques sont très fortement réduits.
Ordres de diffraction supérieurs
A partir de la loi de Bragg on peut facilement démontrer que les ordres de diffraction supérieurs des éléments
lourds peuvent se superposer au premier ordre des éléments légers. Par exemple, pour un cristal donné, la
ligne de premier ordre du P Kα (6,16 Angströms), la ligne de deuxième ordre du Ca Kβ (3,09 Angströms) et
la ligne de troisième ordre du Gd Lα (2,05 Angströms) sont diffractées sous des angles très proches. Par
conséquent la superposition de plusieurs ordres de diffraction peut causer des interférences indésirables.
Toutefois comme nous allons le voir plus loin, la plupart des spectromètres d'aujourd'hui sont équipés d'un
discriminateur de hauteur d'impulsion (abrégé en anglais par PHD), c'est à dire d'un système permettant de ne
prendre en compte que les impulsions dont l'amplitude est supérieure à une valeur de seuil et comprises dans
une certaine fenêtre. En fixant correctement les paramètres du PHD il est possible de réduire
considérablement les interférences dues aux ordres de diffraction supérieurs.

Exit
Résumé
Nous allons conclure ce paragraphe par un résumé des points importants:
♦ Les spectromètres de rayons-X à dispersion en longueur d'onde utilisent des cristaux naturels et à multi-
couches pour disperser le spectre polychromatique de fluorescence en des longueurs d'ondes
monochromatiques.
♦ Les cristaux plats sont employés conjointement avec des collimateurs pour composer les goniomètres des
instruments séquentiels. Les mouvements du cristal et du détecteur obéissent à la relation Thêta - 2 Thêta.
Le goniomètre ARL est un système sans engrenage, ce qui assure un positionnement précis et
reproductible du cristal et du détecteur. La flexibilité et la très large gamme angulaire du goniomètre
rendent les instruments séquentiels souples et très bien adaptés à la recherche (analyses qualitatives et
semi-quantitatives).
♦ Les cristaux courbes (de type Johann et Johansson) sont utilisés conjointement avec des fentes dans les
instruments simultanés. Ces canaux (ou monochromateurs) ne peuvent être construits que lorsque les
éléments (ou les lignes) ont été déterminés. Le système optique convergent (ce qui signifie une intensité
élevée et une excellente résolution), la rapidité d'analyse et la stabilité de ces instruments les rendent
idéaux pour le contrôle de production et les applications de surveillance de qualité.
♦ Les deux types de cristaux, plats et courbes, diffractent les rayons-X selon la loi de Bragg. La relation
entre l'angle de diffraction et la longueur d'onde n'est valable que pour un plan de cristal donné.
♦ Les cristaux sont choisis en fonction de leur distance 2d qui correspond à un domaine spectral, de leur
puissance de dispersion, de leur réflectivité et de leur stabilité.
♦ La résolution d'un spectromètre est sont habilité à différencier deux lignes spectrales de longueurs d'onde
très proches. En WDX la résolution est une combinaison de la divergence angulaire admise pour les
collimateurs ou les fentes, de la courbe d'acceptance (largeur du profil de diffraction) du cristal, du
pouvoir de dispersion et dans une moindre mesure de la résolution du détecteur. Par conséquent, la
combinaison d'un collimateur primaire et d'un cristal varie d'une région spectrale à l'autre. Par opposition
aux spectromètres WDX, la résolution des spectromètres EDX est principalement dépendante de la
résolution énergétique du détecteur.

Exit
Détection
Les détecteurs utilisés dans la plupart des spectromètres WDX peuvent être classés en deux catégories:
(1) Compteurs proportionnels à gaz employés pour les longueurs d'onde longues et intermédiaires (FPC,
Multitron et Exatron).
(2) Compteurs à scintillation employés pour les longueurs d'onde courtes.
Compteurs à gaz
Les détecteurs à gaz sont subdivisés en deux groupes: les détecteurs proportionnels à flux gazeux (abrégé en
anglais par FPC) et les détecteurs scellés. Dans les détecteurs FPC circule continuellement un gaz à débit
constant et dont la pression est régulée. Ils sont généralement fermés par une feuille de polymère aluminisée
de 0,3 à 2 microns d'épaisseur. Le but principal d'une fenêtre très mince est de n'absorber que le minimum de
rayons-X dans les grandes longueurs d'onde.
Les détecteurs scellés appelés Exatron et Multitron ont une fenêtre en béryllium de 25-200 microns. Les
détecteurs FPC sont utilisés sur les goniomètres pour les éléments légers (du béryllium au cuivre en général).
Les détecteurs scellés sont employés sur les canaux fixes, bien que de petits FPC soient aussi utilisés sur les
canaux fixes, mais pour les éléments très légers. Le principe de fonctionnement est le même pour les deux
groupes de détecteurs. De manière simplifiée le détecteur à gaz se compose d'un corps métallique creux (qui
sert de cathode) à l'intérieur duquel est placé un filament (fil métallique d'un diamètre de 50-75 microns qui
sert d'anode). Une haute tension est appliquée entre les deux électrodes, le cylindre étant mis à la masse. La
Figure 4.17 montre un Exatron et un Multitron en coupe.
Corps -
Filament +
Exatron
Fenêtre
Corps -
Filament +
KXx9499D001300
Multitron
Figure 4.17

Exit
Ionisation primaire
Les détecteurs sont remplis d'un mélange de gaz rare He, Ne, Ar, Kr ou Xe et d'un gaz écran (le méthane par
exemple). Le photon X qui entre dans le détecteur ionise le gaz et crée une paire ion-électron. Le nombre de
paires ion-électron dépend du type de gaz et de l'énergie du photon incident. L'argon par exemple a besoin
d'un potentiel effectif de ionisation de 26eV par paire de ion-électron. Par conséquent, chaque photon (appelé
aussi événement) de Cu Kα (longueur d'onde 1,542 Å, énergie 12,4/1,542 = 8040 eV) qui entre dans le
détecteur va produire 304 paires de ion-électron. Si un photon d'énergie deux fois supérieure entre dans ce
même détecteur, il va produire (idéalement) deux fois plus de paires. On peut donc dire que pour un gaz
donné, si tous les photons incidents produisent des paires de ion-électron, le nombre de paires est
proportionnel à l'énergie des photons. Ceci explique pourquoi ces détecteurs sont appelés proportionnels. Par
conséquent, si les charges électriques produites sont comptées, nous obtenons une mesure de l'intensité d'une
ligne spectrale.
Le nombre de paires de ion-électron produites lors de la première phase de ionisation n'est pas suffisant pour
être détectable. Pour que le rapport signal sur bruit soit assez important et ainsi pouvoir mesurer ce signal, il
est nécessaire de l'amplifier considérablement. Cette amplification est accomplie par un phénomène appelé
"avalanche" ou "amplification par le gaz", voir Figure 4.18.
Avalanche
Considérons un photon X pénétrant dans le volume actif du détecteur. Il cède toute son énergie au gaz qu'il
traverse, ce qui produit des paires de ion-électron primaires. Comme il existe une différence de potentiel
élevée entre le filament et le corps du détecteur, les électrons sont attirés par le filament et les ions par le
corps. Au voisinage du filament les électrons sont pris dans un champ électrique intense, ce qui les accélère
encore. Comme on peut le voir sur la Figure 4.18, lorsque la tension appliquée est faible, les électrons se
combinent à nouveau avec les ions positifs avant qu'ils aient pu atteindre le filament. C'est la région de non-
saturation. En augmentant la tension, le phénomène de recombinaison disparaît complètement et tous les
électrons primaires atteignent l'anode. C'est le domaine de fonctionnement des chambres à ionisation.
Comme il n'y a pas de ionisation secondaire, le gain dû au gaz reste à 1. Lorsque le potentiel est
suffisamment important pour accélérer les électrons, ceux-ci entrent en collision avec les atomes du gaz et
engendrent la ionisation secondaire. On peut alors constater une augmentation substantielle du nombre de
porteurs de charge. Cette multiplication devient importante lorsque les électrons sont proches du filament
(quelques fois le diamètre de ce filament).

Exit
Nombre de paires de ions

10
10 Décharge luminescante
Décharge corona
8
Zone proportionnelle
10
Zone Geiger
6
10
Zone des avalanches

4
10
2
10
0
10
A B C D E
Anode E.H.T. [V]
500 1000 1500 2000
KXx9499D001400
Figure 4.18
Dans le domaine des compteurs proportionnels, chaque électron primaire ne génère qu'une avalanche libre de
toute interaction. Par conséquent, le nombre final d'électrons après amplification est toujours proportionnel
au nombre d'électrons primaires, qui lui même est proportionnel à l'énergie du photon entré dans le détecteur.
La plupart des détecteurs utilisés dans les spectromètres XRF fonctionnent dans la zone de proportionnalité.
Lorsque la tension est augmentée et qu'elle dépasse cette région, la proportionnalité n'est plus garantie car un
électron peut générer des avalanches multiples. Lorsque la tension appliquée est si élevée que le phénomène
d'avalanche se généralise, les ions et les atomes du gaz sont excités. Des électrons secondaires peuvent
apparaître sur l'anode, d'autres être expulsés vers la cathode. En d'autres termes on obtient une décharge
complète à l'intérieur du détecteur. Il n'y a donc plus de proportionnalité entre l'énergie des photons incidents
et l'amplitude de l'impulsion sortant du détecteur. C'est le domaine de fonctionnement des compteurs Geiger-
Müller. Finalement, une augmentation supplémentaire du potentiel engendre une décharge ininterrompue, le
détecteur commence à scintiller, puis un arc apparaît entre la cathode et l'anode qui peut détruire le détecteur.
Dans la zone de proportionnalité, qui est celle qui nous intéresse, il est possible d'obtenir un gain de 105 -
106, ce qui permet d'avoir un bon rapport signal sur bruit. Un des mélanges de gaz le plus couramment utilisé
est le P10, qui est composé de 90% Ar et 10% CH4. Le but du méthane est de stopper le phénomène
d'avalanche après le premier stade. Les molécules du gaz écran sont ionisées comme les atomes d'argon.
Lorsqu'elles sont disséminées dans le volume actif du détecteur elles contribuent à la recombinaison des
atomes au moment où le phénomène d'avalanche devient incontrôlable.

Exit
Caractéristiques
Les propriétés suivantes sont intéressantes en XRF.
♦ La résolution du détecteur peut s'exprimer par la relation Résolution = (W / V) x 100 où W est la largeur
du pic (du profil d'énergie) à mi-hauteur et V est la tension pour laquelle l'intensité est maximum.
♦ La stabilité du détecteur dépend de la propreté du filament. Si le gaz n'est pas suffisamment pur ou si de
petites particules solides se déposent sur le filament, le champ électrique peut être localement déformé
(modification du diamètre effectif du filament). Ceci peut modifier le facteur de gain du gaz et entraîner
des instabilités.
♦ Le temps mort du détecteur est un concept plus important dans la spectrométrie X pratique. Le temps
mort correspond à l'intervalle entre le moment où un photon a amorcé une ionisation et celui où le
détecteur est prêt pour une nouvelle ionisation. Comme nous l'avons vu précédemment, le photon X
incident produit une série de paires ion-électron qui sont multipliées par le phénomène d'avalanche.
Le temps écoulé entre le moment où le photon entre dans le détecteur et la production de ion-électron par
avalanche est de l'ordre de 10-7 secondes. Les électrons se déplacent rapidement vers l'anode alors que les
ions (plus lourds) se déplacent lentement vers le corps métallique du détecteur. Ce phénomène provoque
un surplus de ions autour du filament qui vont empêcher que d'autres avalanches se produisent avant la
fin de la ionisation. Pendant la période où il est inactif le détecteur est dit mort. En d'autres termes, cela
signifie que les photons qui entrent dans le détecteur pendant le temps mort ne sont pas comptés, car le
détecteur n'est pas prêt pour qu'une nouvelle ionisation soit déclenchée. A haut taux de comptage (flux
très important de photons) le nombre de photons qui ne génèrent pas de ionisation devient important.
La plupart des spectromètres modernes corrigent mathématiquement cette perte. Le temps mort peut être
estimé en effectuant des mesures à différents taux de comptage. Comme le signal de sortie est
proportionnel au nombre de photons, toute non linéarité dans le taux de comptage indique l'existence d'un
temps mort.
♦ Le pic de rétro-diffusion d'un détecteur est provoqué par les photons X dont l'énergie est plus grande que
le pic d'absorption du gaz du détecteur. Si le détecteur contient de l'argon par exemple, quelques photons
(d'énergie E correspondant à un élément donné) vont produire des transitions Ar Kα et donc perdre une
partie de leur énergie dans cette première phase. Par conséquent le profil d'énergie ne présente pas
seulement des impulsions dont l'amplitude correspond à l'énergie originale des photons (E), mais aussi
des impulsions dont l'amplitude est en relation avec la différence d'énergie E - E(ArKα).
Aussi longtemps que les pics de rétro-diffusion ne se superposent pas à d'autres lignes de l'échantillon, ils
ne représentent pas un sérieux problème. Dans certains cas le seuil du PHD est fixé de telle manière que
le pic de rétro-diffusion soit exclu du comptage. Ceci n'est pas une très bonne solution car l'intensité du
pic de rétro-diffusion est générée par les photons de la même ligne spectrale.
Détecteurs à scintillation
Les détecteurs à scintillation fonctionnent selon un principe totalement différent des détecteurs à gaz. Ils sont
composés de deux parties essentielles: un bloc de substance scintillante (ou phosphorescente, généralement
un bloc mono-cristallin dopé avec un activateur) et un dispositif amplificateur (photo-multiplicateur). Les
cristaux scintillants comme le NaI dopé de Tl ont des propriétés intéressantes lorsque qu'ils sont bombardés
par des photons X. Ils émettent des rayons de lumière visible (dans notre cas bleue). Ils convertissent par
conséquent les photons X en photons de lumière visible. La Figure 4.19 montre un détecteur à scintillation en
coupe.

Exit
Fenêtre en Be Photocathode Anode
Préamplificateur
Photon X
K A
D1 D2 D3 D4 D5 D6 D7 D8 D9 D10
NaI:Tl + Haute tension
Dynodes KXx9499D001500
Figure 4.19
Le cristal scintillant est couplé optiquement à un tube photomultiplicateur approprié et le tout est scellé par
une fenêtre en béryllium. Il est nécessaire de protéger le cristal NaI:Tl de l'humidité en l'isolant car il est
hygroscopique. Lorsque les photons de lumière bleue provenant du cristal scintillant atteignent la
photocathode du tube photomultiplicateur, celle-ci émet des photo-électrons.
Le photomultiplicateur est constitué de plusieurs électrodes positives appelées dynodes et dont le potentiel
positif appliqué est croissant de dynode en dynode. Les photo-électrons sont accélérés par les dynodes
successives et par conséquent arrachent de plus en plus de photo-électrons à ces dynodes. Après la dernière
dynode le photomultiplicateur a amplifié le signal de l'ordre de 105 - 106 fois, suivant le nombre de dynodes
et la haute tension appliquée au photomultiplicateur.
On peut donc dire que le scintillateur est un détecteur à semi-conducteur dans lequel les photons X sont
convertis en photons de lumière visible et détectés par un photomultiplicateur conventionnel. Les
phénomènes du pic de rétro-diffusion et du temps mort existent aussi pour ce type de détecteur. Le pic de
rétro-diffusion peut apparaître lorsque les photons X incidents sont suffisamment énergétique pour arracher
les électrons des couches K ou L de l'iode du cristal scintillant. Le temps mort des détecteurs à scintillation
est un peu plus long que celui des détecteurs proportionnels à gaz.
Discriminateur de hauteur d'impulsion (PHD)

Le détecteur à gaz et le détecteur à scintillation sont tout deux des compteurs proportionnels, c'est à dire que
l'énergie des photons X incidents détermine l'amplitude des impulsions électriques produites par le détecteur.
Le discriminateur de hauteur d'impulsion utilise cette propriété pour ne prendre en compte qu'une gamme
étroite d'impulsions et par conséquent, rejeter les impulsions indésirables provenant d'ordres de diffraction
supérieurs, mais dont les angles de Bragg coïncident. Comme représenté à la Figure 4.20, la hauteur
(énergie) des impulsions de différents ordres de diffraction n'est pas la même. L'analyseur de hauteur
d'impulsion possède des limites haute et basse (seuils) ajustables électroniquement et qui forment une
"fenêtre" de mesure. Cette fenêtre n'accepte que les impulsions du détecteur dont l'amplitude est plus élevée
que le seuil bas mais plus faible que le seuil haut. Les impulsions satisfaisant ces conditions sont prises en
compte, alors que toutes les autres sont rejetées. Par conséquent, en réglant de manière appropriée le seuil et
la fenêtre, il est possible de réduire significativement ou même d'éliminer les perturbations dues aux lignes
de diffraction des ordres supérieurs. Ce réglage permet aussi de réduire les radiations dues au fond spectral.

Exit
Intensité Pic de premier ordre
Pic de deuxième ordre

Bruit de fond
électronique
Pic de rétro-
diffusion
Impulsion A Impulsion B Energie
Seuil E1 Fenêtre E2 E3
KXx9499D001600
Figure 4.20
Sur la Figure 4.21 on peut voir les impulsions A provenant des radiations de l'élément considéré et
l'impulsion B qui vient elle d'une ligne spectrale se superposant physiquement à la ligne A. Le PHD peut les
discriminer car elles ont des amplitudes différentes. Pour prendre en compte l'impulsion B, il faut ajuster la
fenêtre de telle manière que les amplitudes comprises entre E2 et E3 soient acceptées. Pour les impulsions A,
il faut ajuster la fenêtre entre E1 et E2, à ce moment-là l'impulsion B qui est trop haute est rejetée.
Hauter des impulsions (E)

B
E3
A A
E2
A
E1
KXx9499D001700
Temps
Figure 4.21
Signal de sortie
Finalement les impulsions sortant du discriminateur de hauteur d'impulsion doivent être interprétées. Il faut
pour cela utiliser un totalisateur qui compte exactement le nombre d'impulsions reçues du discriminateur. Il
est toutefois plus facile d'intégrer les impulsions reçues dans un intégrateur électronique (un compteur et une
horloge). Si N représente le nombre de coups (impulsions) pendant un temps d'intégration de t secondes, le
taux de comptage vaut alors N/t coups par seconde (c/s). Le signal de sortie d'un spectromètre est pour des
raisons pratiques donné en coups par seconde. Cette valeur d'intensité est en suite convertie en concentration
par différentes méthodes (étalonnage, coefficients empiriques, paramètres fondamentaux, etc.). Lors d'une
analyse qualitative le goniomètre balaie une certaine plage angulaire, les intensités mesurées (c/s) forment un
spectre qui est directement affiché à l'écran.

Exit
PREPARATION DE
L'INSTRUMENT
Exit
Préparation de l'instrument Chapitre 5
5 PREPARATION DE L'INSTRUMENT
Enclenchement de l'instrument
A l'arrière de l'instrument:
1. Enclencher le disjoncteur MAINS (Principal).

2. Enclencher le disjoncteur X-RAY GENERATOR (Alimentation du tube-X).
L L. Lampe “Tube-X enclenché”
MASTER RESET
ACS LINK
SERVICE LINK
EXTENSION I/O
COMPUTER X-RAY
2 1
KXx9400D02700
Figure 5.1
3. Sur l'avant de l'instrument, tourner le bouton rouge d'arrêt d'urgence dans le sens des aiguilles d'une
montre.
3
ARL
KXx9400D02300
Figure 5.2

Exit
Chapitre 5 Préparation de l'instrument
Le système de manipulation d'échantillon est initialisé et la position 1 du passeur d'échantillon vient se placer
sur l'ascenseur.
Si l'environnement vide était précédemment sélectionné, la pompe à vide se met en marche après 30
secondes.
Les informations suivantes apparaissent sur l'affichage.
NOT CONFIGURED
kV : 0 mA : 0
ZERO REQUIRED
Figure 5.3
Enclenchement de l'instrument avec magasin X-Y

A l'arrière de l'instrument:
1. Enclencher le disjoncteur MAINS (Principal).

2. Enclencher le disjoncteur X-RAY GENERATOR (Alimentation du tube-X).
L L. Lampe “Tube-X enclenché”
MASTER RESET
ACS LINK
SERVICE LINK
EXTENSION I/O
COMPUTER X-RAY
KXx9471D01300
Figure 5.4

Exit
3. Sur l'avant de l'instrument Tourner le bouton rouge d'arrêt d'urgence dans le sens des aiguilles d'une
montre
D. Affichage
ARL
KXx9471D01400
Figure 5.5
Le système de manipulation d'échantillon est initialisé même si les capots sont ouverts.
Si l'environnement vide était précédemment sélectionné, la pompe à vide se met en marche après 30
secondes.
Les informations suivantes apparaissent sur l'affichage.
NOT CONFIGURED
kV : 0 mA : 0
ZERO REQUIRED
Figure 5.6
Enclenchement de l’ordinateur
S'assurer que l’ordinateur est bien branché au réseau électrique. Enclencher l'unité centrale, le moniteur et
l'imprimante.
Double-cliquer sur l’icône WinXRF pour démarrer le logiciel.

Exit
Configuration de l'instrument et initialisation
Configuration
A la fin du démarrage du logiciel WinXRF, la boîte de dialogue suivante est affichée.
♦ Cliquer sur le bouton Annuler.
Figure 5.7
Il est recommandé de vérifier que les paramètres de configuration de l'instrument correspondent à la

configuration réelle de celui-ci.
Note: En principe, la configuration de l’instrument est effectuée complètement chez le fabricant et

vous ne devriez pas devoir changer ces paramètres. C’est pour cela que les deux pages
suivantes figurent uniquement à titre d’information dans ce chapitre.
♦ Depuis la barre de menu, sélectionner le menu Utilitaires,

♦ puis le sous-menu Configuration instrument
♦ et enfin la commande Instrument.
♦ Si tous les paramètres sont corrects, cliquer sur le bouton Annuler.
Les informations concernant la configuration de votre instrument peuvent être trouvées dans le rapport QA.

Exit
Figure 5.8
Type d'instrument
Pour le Type d'instrument vous devez sélectionner ADVANT'X ou ADVANT'XP/XP+ ou 9400 série.
Alimentation du tube-X:
♦ Standard (60 kV)
♦ Haute performance (70 kV)
L'instrument est livré normalement avec l'alimentation Standard 60 kV. Il est possible de commander en
option l'alimentation de 70 kV, dans ce cas il faut sélectionner Haute performance (70 kV).
Type de magasin
Deux types de magasins sont disponibles pour l'instrument:
Passeur d'échantillons de 12 positions:

♦ Magasin
♦ Nombre de positions: 12
Passeur d'échantillons de grande capacité:

♦ Manipulateur XY
♦ Nombre de positions: xxx

Exit
Note: Si votre passeur d'échantillons possède 2 plateaux pour cassettes, xxx = 149, s’il possède 2
plateaux pour échantillons xxx = 249 et si il possède 3 plateaux pour échantillons xxx = 314.
Filtre primaire (PBF)
Le filtre primaire est une option. Vous devez sélectionner Aucun s'il n'y a pas de PBF ou 4 (3) s'il est
installé.
L'option bouclier du tube est une fonction offerte par le PBF. Le filtre 1 placé entre l'échantillon et le tube-
X protège la fenêtre de ce dernier. Ce filtre peut être mis en position seulement pendant les phases de charge
et de décharge des échantillons (choisir Dé/Charge) ou de manière permanente (choisir Permanent).
Masque elliptique
Sélectionner 2 si votre instrument est équipé d'un changeur de masque elliptique ou Aucun s'il n'en a pas. Le
masque elliptique est une option.
Option hélium
L'option hélium est principalement utilisée pour l'analyse des échantillons liquides, deux modes sont
possibles, avec ou sans obturateur. Le chapitre Description de l'instrument donne plus de précision quant à
ces deux modes. Si votre instrument est équipé de cette option, la sélection la plus courante est Oui (avec
obturateur). Si l'option hélium n'est pas installée, il faut sélectionner Non.
Initialisation
L'initialisation de l'instrument permet d'effectuer un reset des cartes microprocesseurs et des composants
mécaniques. En cas de problème avec l'instrument, il faut effectuer cette opération.
♦ Pour initialiser l'instrument il faut sélectionner Initialisation, Envoi configuration instrument <F6> ou
simplement presser sur la touche <F6>.
♦ Cocher les cases Calibrage en haute tension, Calibrage en position, Status instrument et
Bibliothèque de lignes.
Figure 5.9
♦ Pour choisir la Catégorie des lignes à charger cliquer sur le bouton Sélection.

Exit
♦ Cliquer sur le bouton OK pour retourner à la boîte de dialogue précédente.

♦ Cliquer sur le bouton OK pour démarrer l'initialisation.
Figure 5.10
Cliquer dans la barre des tâches sur l'application minimisée "Surveillance..." et attendre la fin de la
configuration.
Figure 5.11
Les informations suivantes apparaissent alors sur l'affichage de l'instrument.
STAND BY
kV : 0 mA : 0
ZERO REQUIRED
Figure 5.12
Initialiser le goniomètre comme indiqué dans la section suivante.
Initialisation du goniomètre
Après la mise sous tension de l'instrument le goniomètre doit être initialisé par une opération appelée Zéro
goniomètre. Pour ce faire il faut sélectionner Initialisation et Zéro goniomètre. Cliquer sur le bouton OK
pour démarrer cette opération.

Exit
Figure 5.13
Alimentation en gaz
Gaz argon-méthane pour détecteur FPC
♦ Contrôler que la bouteille soit ouverte.

♦ Contrôler que la pression à la sortie du réducteur de pression soit bien de 0,25 bar.
Le débit devrait être réglé automatiquement à 6 ml/min. Une bouteille de 50 l gonflée à 200 bars va durer
environ 18 mois. Contrôler que la diminution de pression soit régulière. Pour éviter une contamination il faut
changer la bouteille avant qu'elle soit complètement vide.
Gaz hélium
♦ Contrôler que la bouteille soit ouverte.

♦ Contrôler que la pression à la sortie du réducteur de pression soit bien comprise entre 0,4 et 0,6 bar.
Il est conseillé de fermer la bouteille d'hélium lorsque ce gaz n'est pas utilisé pendant longtemps.
La consommation d'hélium est de 3 l par échantillon, plus 500 ml/ min pour la régulation.
Remplacement d'une bouteille de gaz
Pour remplacer une bouteille de gaz il faut suivre la procédure ci-dessous :
♦ S'assurer que l'instrument ne travaille pas.

♦ Fermer l'ancienne bouteille.
♦ Dévisser le manodétendeur de la bouteille.
♦ Fixer la nouvelle bouteille en position. Dévisser le couvercle de protection.
♦ Contrôler que le robinet soit bien fermé.
♦ Dévisser le bouchon en laiton.
♦ Visser à fond le manodétendeur sur la nouvelle bouteille.
♦ Ouvrir doucement le robinet de la bouteille.
♦ Après environ 3 minutes le système entre à nouveau en régulation.
♦ Contrôler les status pour s'assurer que tout soit en ordre.
Changement d'environnement
Pour changer d'environnement il faut procéder comme suit
♦ Dans le menu principal, sélectionner Initialisation,

♦ Sélectionner ensuite Changer l’environnement.
♦ Choisir l'environnement en cliquant sur un des boutons à option.

Exit
♦ Cliquer sur le bouton OK.
Figure 5.14
Enclenchement de l'alimentation du tube-X
Pour enclencher l'alimentation du tube-X il faut sélectionner Initialisation et Changer kV/mA.
♦ Choisir Lent, Opérationnel ou Standby.

♦ Entrer les valeurs désirées de kV et mA.
Afin d’éviter les contraintes thermiques sur le filament il est recommandé de laisser le
tube X en permanence (24 heures sur 24) sous tension. Utilisez le mode de
fonctionnement Eco lorsque l'appareil n'est pas utilisé pour des analyses.
Figure 5.15
Lecture des status
Avant de commencer une analyse, nous invitons l'utilisateur à contrôler que tous les paramètres de
l'instrument soient dans les tolérances de travail, en effectuant une lecture des status. Il faut pour cela
sélectionner Initialisation et Lire Status instrument <F7>, ou simplement presser sur la touche <F7>.

Exit
Figure 5.16
Configuration du mode écologique
Le mode écologique est un mode qui permet de faire décroître la puissance du tube-X à une valeur prédéfinie
lorsque l'instrument n'est pas employé pendant un certain temps. Il est aussi possible de configurer ce mode
pour que la puissance revienne à la valeur spécifique de travail, à une heure précise et seulement aux jours
voulus.
Pour accéder aux paramètres du mode écologique il faut exécuter la séquence suivante :
♦ Dans le menu principal, cliquer sur Outils, ensuite sur Configuration Instrument.
♦ Cliquer sur l’icône Mode écologique.
Le système affiche alors la boîte de dialogue suivante. Celle-ci est divisée en deux parties; la partie de
gauche permet de définir les paramètres d'entrée au mode écologique et la partie de droite les paramètres de
sortie.
Figure 5.17

Exit
Les paramètres de cette boîte de dialogue sont décrits ci-après:
Paramètres d'entrée dans le mode écologique
Cette zone permet de définir les conditions du tube-X pendant le mode écologique et comment il faut
atteindre ces conditions.
Actif En cochant cette case le système active le mode écologique et permet la modification des
paramètres.
Délai (min) C'est le temps d'inactivité de l'instrument avant qu'il entre dans le mode écologique. Valeur
recommandée, 60 minutes.
kV C'est la tension que va atteindre le tube-X dans le mode écologique. Valeur recommandée,
40 kV.
mA C'est le courant que va atteindre le tube-X dans le mode écologique. Valeur recommandée,
20 mA.
Temps pour atteindre les conditions (min)

La valeur spécifiée ici définit le temps que va mettre le tube-X pour atteindre les conditions
du mode écologique. Valeur recommandée, 60 minutes.
Paramètres de sortie du mode écologique
Cette zone permet de définir la date et l'heure à laquelle les conditions du tube-X doivent revenir aux valeurs
spécifiées ici. Le temps que va mettre le tube-X pour atteindre ces conditions peut aussi être spécifié ici.
Actif En cochant cette case le système active la possibilité de quitter le mode écologique à heure
fixe et permet la modification des paramètres.
Heure (hh:mm)
C'est l'heure à laquelle l'instrument doit sortir du mode écologique et augmenter la puissance
du tube-X jusqu'aux conditions spécifiées plus bas.
Date (jj/mm/aa)
C'est le jour que l'instrument doit sortir du mode écologique et augmenter la puissance du
tube-X jusqu'aux conditions spécifiées plus bas. 0 signifie tous, 00/00/0000 signifie tous les
jours, 03/00/0000 signifie tous les 3 de chaque mois, 00/07/1999 signifie tous les jours du
mois de juillet 1999.
kV C'est la tension que va atteindre le tube-X lors de la sortie du mode écologique.
mA C'est le courant que va atteindre le tube-X lors de la sortie du mode écologique.
Temps pour atteindre les conditions (min)

La valeur spécifiée ici définit le temps que va mettre le tube-X pour atteindre les conditions
de travail du tube-X. Valeur recommandée, 60 minutes.
Délai avant de ré-entrer dans le mode écologique (min)

Si après la sortie du mode écologique l'instrument n'est pas utilisé pendant le temps spécifié
ici, il va retourner dans ce mode. Valeur recommandée, 180 minutes.

Exit
Ne pas quitter le mode écologique les

Si l'instrument ne doit pas quitter le mode écologique certains jours de la semaine (samedi et
dimanche, par exemple), il faut les sélectionner ici.
Pour sauver les modifications des paramètres du mode écologique il faut cliquer sur le bouton OK. Le
système propose alors à l'utilisateur d'envoyer immédiatement ces nouveaux paramètres à l'instrument ou
seulement lors de la prochaine initialisation.
Figure 5.18
Rapport des paramètres du mode écologique
Il est possible d’imprimer les paramètres du mode écologique. Pour cela, dans le menu principal, sélectionner
Rapport configuration, ensuite cliquer sur Outils, Configuration instrument. Cliquer ensuite sur l’icône
Paramètres mode écologique. Cliquer sur Imprimer pour imprimer les paramètres.
Figure 5.19

Exit
Spécifications de l’instrument
Paramètres électriques
Instrument ARL ADVANT’X+ ARL ADVANT’XP ARL ADVANT’XP+
Consommation max. de 3.5 kVA 6 kVA 7 kVA

l’instrument (y compris
l’ordinateur)
Tension 230 V -15% +10% 230 V (1 ou 2 phases) 230 V (1 ou 2 phases)
-15% +10% -15% +10%
Neutre 0 V par rapport à la 0 V par rapport à la 0 V par rapport à la
terre terre terre
Terre <2 Ω <2 Ω <2 Ω
Fréquence 50 Hz ou 60 Hz 50 Hz ou 60 Hz 50 Hz ou 60 Hz
Coupures de courant <10 ms <10 ms <10 ms
Alimentation du tube X

Haute tension maximum 60 kV 60 kV (en option 70 kV) 60 kV (en option 70 kV)
Courant maximum 60 mA 120 mA 120 mA
(en option 140 mA)
Puissance maximum 1.2 kW 3.6 kW 4.2 kW
Stabilité ± 0,0001% par 1% de variation du réseau

Exit
Conditions du laboratoire
Pour que les résultats obtenus avec votre instrument soient les meilleurs possibles, il est important de
respecter toutes les spécifications concernant les conditions de travail dans le laboratoire. L’utilisateur
trouvera toutes ces spécifications dans le Manuel de pré-installation Série ARL ADVANT'X. Ci-après sont
résumées les spécifications les plus importantes.
Température du laboratoire
La température idéale est de 22° C.
Température minimum 18°C 18°C 18°C

Température maximum 30°C 32°C (eau de 32°C (eau de
refroidissement à 12°C) refroidissement à 12°C)
Fluctuation maximum Dérive à court terme : ±1°C /heure en 1 heure (régulation thermique);
Dérive à long terme : 0,7°C /heure
Pouvoir calorifique (air) moins de 2900 W moins de 1600 W moins de 1700 W
Champ magnétique pulsé 1000 A/m (EN61000-4-9)
maximum
Choc Pulsation unitaire semi sinusoïdale jusqu’à 1g pendant 10-3 msec. Appliquée
dans chaque direction des 3 axes orthogonales (6 pulsations).
Vibration Vibration sinusoïdale appliquée aux 3 axes orthogonaux par pas de
1 octave/min.
5-50 Hz amplitude 50 µm
50-500 Hz 0.25 g
Eau
L’eau de refroidissement doit respecter les spécifications suivantes:
ARL ADVANT’XP ARL ADVANT’XP+

Débit minimum 2.5 à 4.5 lt/min 3 à 4.5 lt/min
Pression minimum 2.0 bar
Pression maximum 4.0 bar
Température minimum 5°C
Température maximum 18°C
Pouvoir calorifique (eau) 5.5 kW
(à la puissance maximale du tube X (4,2 kW) pour
une température ambiante de 32°C)
Il est important de se rappeler que la température à l'intérieur de l'instrument a besoin de quelques heures
pour se stabiliser. Entre l'enclenchement de l'instrument et le début d'un étalonnage nous vous
recommandons donc d'attendre 4 à 5 heures. S'il n'est pas trop important que les résultats des premières
analyses soient un peu à côté, il est possible de commencer les analyses de routine dès que le vide dans le

Exit
spectromètre est bon. Il n'est par contre pas conseillé d'effectuer un re-calibrage avant que l'instrument soit
parfaitement stable car les résultats bons au début vont devenir faux une fois l'instrument stabilisé.
Gaz (option)
FPC 90% Ar (48) 10% CH4 (35)
Hélium (en option) He (46)
Bruit acoustique
Niveau de puissance maxi- 60dB(A)
mum du bruit acoustique
Dimensions
Largeur 83 cm
Longueur 109 cm
Hauteur 103 cm
Poids 450 kg
Géométrie
Angle d'incidence du tube-X 60°
Distance anode - échantillon <20 mm
Normes de sécurité
Sécurité des machines EN 292-1,-2 (1991)
Equipement électrique de machines industrielles EN 60204-1 (1984)
Equipements basse tension à commutation EN 60947 (1991)
Exigences de sécurité pour les équipements électriques de laboratoire IEC 1010-1,
Information de sécurité des équipements technologiques IEC 950
Norme suisse de sécurité pour les radiations X 814.501 (1994)
Norme allemande de sécurité pour les radiations X RöV 1987

Exit
Maintenance de l'instrument
A titre d'exemple le tableau ci-dessous fourni des informations quant à la maintenance et à l'entretien que
nécessite un instrument qui analyse 300 échantillons par jour.
Emplacement Sous-ensemble Hebdomadaire Mensuelle

Cabinet Tous les ventilateurs Contrôler
Tous les filtres à poussière Contrôler
Logiciel Sauvegarde des bases de données Effectuer
Dispositif de chargement Cassettes Nettoyer
et de déchargement Magasin 12 positions Nettoyer
d’échantillons Magasin X-Y Nettoyer
Obturateur Nettoyer
Ligne de pompage Huile de la pompe à palettes Compléter
Pression dans spectromètre et PC Contrôler
Circuit de refroidissement Niveau d'eau déionisée Contrôler
Débit d'eau déionisée Contrôler
Température de l'eau déionisée Contrôler
Résistivité de l'eau déionisée Contrôler
Débit d'eau primaire Contrôler
Température de l'eau primaire Contrôler
Circuit de gaz P10 Pression restante dans la bouteille Contrôler
Pression de travail Contrôler
Circuit de gaz hélium Pression restante dans la bouteille Contrôler
Pression de travail Contrôler
Goniomètre Profils d'énergie Contrôler
Balayages de contrôle en position Contrôler
Note : Il va de soit que la fréquence des travaux de maintenance peut varier en fonction du nombre
et de la nature des échantillons analysés, ainsi que de la propreté du laboratoire.

Exit
PREPARATION D'ECHANTILLON
Exit
Préparation d'échantillon Chapitre 6
6 PREPARATION D'ECHANTILLON
Préparation d'échantillon
Comme l'analyse par spectrométrie de fluorescence-X est principalement une méthode comparative, il est
indispensable que les étalons et les échantillons inconnus soient préparés de manière identique et
reproductible.
La qualité de la préparation d'échantillon en fluorescence-X est au moins tout aussi

importante que la qualité des mesures.
La méthode de préparation:
♦ Pour une certaine gamme d'étalonnage, doit donner des échantillons reproductibles dont les propriétés
physiques sont semblables (coefficient d'absorption de masse, densité et taille des particules).
♦ Ne doit pas introduire d'erreur systématique, par exemple la contamination d'un élément trace par un
diluant pas assez pur.
♦ Doit être rapide et bon marché.
Note: Pour les analyses quantitatives, les échantillons doivent être préparés comme les étalons
utilisés pour l'étalonnage.
Un échantillon préparé de manière adéquate:
♦ Doit être représentatif du matériel;

♦ Doit être homogène;
♦ Doit, si possible, être suffisamment épais pour être considéré comme un échantillon d'épaisseur infinie.
La littérature spécialisée décrit diverses techniques de préparation d'échantillon. Le but de ce chapitre est
vous rendre attentif des paramètres qui influencent le plus la qualité de la préparation des échantillons
métalliques, des poudres et des liquides.
Les méthodes de préparation d'échantillon les plus courantes sont listées dans le tableau ci-dessous.
Type Echantillon Préparation But Cassette

Fer Ponçage de la
Acier surface à l’aide Surfacer Support ou
Usinage
Nickel de papier abrasif cassette
Solide Alliage de fer
Alliage-Cu
Alliage-Al Tournage de la Support ou
Usinage
Alliage-Pb surface Surfacer cassette
Alliage-Zn

Exit
Chapitre 6 Préparation d'échantillon
Type Echantillon Préparation But Cassette

Métallique
Equilibrer la densité
Produit et lisser la surface Support ou
chimique Moulage Pressage cassette
Poudre Polymère
Organique
Céramique
Eliminer les dif-
Minerais
férences de miné- Support ou
Terre Moulage Fusion
ralogie et de cassette
Sédiment granulométrie
Oxyde
Huile Comme reçue
Cassette avec
Liquide couvercle spécial
ou support
Huile, eau Déposer sur
un filtre Transformer des Cassette avec
liquides en solides support pour filtre
Eau Echange d’ions Concentrer et

et précipitation transformer des Cassette avec
liquides en solides support pour filtre
Préparation d'échantillons solides

Le but de la préparation est de rendre la surface de l'échantillon lisse. Pour la plupart des analyses une
surface exempte de raie est nécessaire. Dans le cas où les éléments légers sont importants, la surface doit être
polie miroir. Pour atteindre ce but, deux méthodes de préparation sont employées:
♦ Fraisage et tournage: pour les métaux mous;

♦ Meulage: pour les alliages très durs et les matériaux cassants, comme les céramiques.
L'état de surface est très important car les stries créées par l'abrasif augmentent l'effet de bouclier et
conduisent à une diminution d'intensité (surtout pour les éléments légers). Cette diminution d'intensité est
fonction de l'orientation du rayonnement primaire par rapport aux stries de l'échantillon, plus importante
lorsqu'il est perpendiculaire et moins importante lorsqu'il est parallèle. Pour cette raison les spectromètres
modernes sont équipés d'un système de rotation d'échantillon qui supprime l'effet d'orientation de
l'échantillon.
Même si l'effet de bouclier existe, la rotation d'échantillon va le compenser; pour autant que l'importance de
l'effet soit le même pour les étalons que pour les échantillons de production. Il est donc nécessaire que les
stries soient de la même profondeur et que la composition des échantillons soit semblable (même longueur
d'onde efficace).
Nous allons donner maintenant quelques remarques générales concernant la préparation des métaux durs et
mous.
Métaux mous (par exemple les bases Si, Al, Cu, Mg, Zn ou Sn)
Des stries profondes de plusieurs µm peuvent détériorer de manière significative la précision d'analyse. De
plus, il y a un risque d'étaler les éléments les plus mous sur la surface de l'échantillon et voir leur intensité
augmenter par rapport aux éléments durs.

Exit
Pour obtenir l'état de surface désiré, lors du polissage final et même lors du fraisage, il faut prendre des
précautions spéciales pour ces alliages.
Métaux durs (par exemple les bases Fe, Ni et Co)
Des stries profondes de 100 µm sont acceptables pour les éléments dont les longueurs d'onde des lignes
caractéristiques sont courtes.
Pour obtenir l'état de surface désiré, des papiers abrasifs très fins (80 - 180) de Al2O3, SiC, B4C, sont
communément utilisés. Néanmoins le polissage peut être une source de contamination car les abrasifs
couramment employés, SiC et Al2O3, contiennent deux éléments souvent analysés. Un nettoyage de la
surface peut être nécessaire pour éliminer cette contamination ainsi que des tâches de graisse ou des marques
de doigts.
(Technique de coulage)
Forme Fondre
Couper aux dimensions voulues
Couler
Machine de préparation:
diam. max. 52 mm
haut. max. 30 mm
Moule
Base
Refroidir rapidement
Machine de fusion
Surface
Ponceuse: Fraiseuse et tour:
Poncer Fraiser ou tourner
Métaux mous
Papier abrasif Pierre ponce (Al, Cu, Mg, etc.)
Aciers, Fonte,
Co, Ni, etc. métaux dursl
KXx9899D001000
Dans un porte-échantillon standard
Figure 6.1

Exit
Préparation d'échantillons en poudre

L'analyse des poudres est immanquablement plus compliquée que l'analyse des échantillons métalliques car,
en plus des interférences entre les éléments, l'hétérogénéité macroscopique, la taille des particules et les
effets minéralogiques sont importants. Bien que les effets du manque d'homogénéité et de granulométrie
peuvent fréquemment être minimisés par le moulage (< 50 microns) et le pressage, bien souvent ces effets ne
peuvent pas être totalement éliminés à cause de composants très durs qui ne sont pas cassés. Ces effets
produisent des erreurs systématiques lors de l'analyse de certains types de matériaux, comme les laitiers, les
sinters et certains minéraux, qui contiennent des oxydes de silicium.
Deux méthodes de préparation des échantillons en poudres sont décrites ci-après:
♦ Technique de briquette
♦ Technique de fusion
Technique de briquette
La méthode la plus rapide et la plus simple de préparation est de presser directement la poudre, pour former
des briquettes de densité constante. Cette méthode peut être employée lorsque l'effet dû à la taille des
particules n'a que peu d'importance. Lorsque les forces de liaison des atomes de la poudre sont bonnes et si le
diamètre des particules est inférieur à 50 microns, l'échantillon va s'agglomérer sous une pression de 10 à 30
tonnes.
Lorsque les forces de liaison des atomes de la poudre sont faibles, il faut employer une pression plus élevée
ou ajouter un liant avant le pressage.
Le liant doit être choisi avec soin. Il doit avoir les propriétés suivantes:
♦ Etre doté d'un bon pouvoir liant

♦ Etre exempt d'éléments contaminateurs
♦ Etre peu absorbant
♦ Etre stable sous vide et supporter les radiations
♦ Ne pas introduire des interférences importantes
Sur le grand nombre d'agents liants qui ont été employés avec succès, les plus pratiques sont probablement la
cire et la cellulose méthyliquee.
Technique de briquettes
Concasser, Presser
moudre et mélanger Dans un porte-
échantillon standard
Taille des Presse
particules <50um
Peser
Matrice Rondelle
protectrice
Mortier ou broyeur Echantillon
9499D00400
Figure 6.2

Exit
Technique de fusion
La meilleure façon d'éliminer complètement les effets de granulométrie et de minéralogie est d'utiliser la
technique de fusion basée sur la méthode du Dr F. Claisse. Cette technique consiste avant tout à chauffer à
haute température (1000°-1200°) un mélange d'échantillon et de fondant, pour que ce dernier fonde et
dissolve l'échantillon. La dilution et les conditions de refroidissement doivent être choisies de telle manière
que le produit fini après refroidissement soit un verre contenant des phases uniques. La technique de fusion a
des avantages supplémentaires:
♦ Possibilité de choisir la dilution pour diminuer les effets de matrice.

♦ Possibilité d'ajouter des composants contenant des éléments lourds à haut pouvoir d'absorption ou des
éléments servant de standard interne pour diminuer ou compenser les effets de matrice.
♦ Possibilité de préparer des étalons synthétiques de composition souhaitée.
Le chauffage du mélange échantillon-fondant est normalement réalisé dans un creuset en alliage de platine.
Lorsque les conditions le permettent, il est toutefois possible d'utiliser des creusets en graphite.
Les fondants les plus couramment utilisés sont des borates (tétraborate de lithium, métaborate de lithium et
tétraborate de sodium). Le tétraborate de lithium est celui qui est le plus utilisé car il satisfait aux besoins les
plus courant. Le mélange de ces fondants donne quelquefois de meilleurs résultats..
Technique de fusion
Chauffer pour Couler et

Peser et
fondre refroidir
mélanger
Fondant et 1000°-1100° C Dans un porte-
échantillon
échantillon standard
Disque de
verre
Creuset en
Enlever les
platine
bulles
9499D00500
Figure 6.3

Exit
Préparation d'échantillons liquides
Echantillons liquides à phase unique
La phase liquide est particulièrement pratique car la préparation des étalons est simple; la plupart des
interférences dues aux effets de matrice peuvent être éliminées en ajoutant un standard interne à l'échantillon.
Dans ce dernier cas il est clair que les étalons et les échantillons inconnus doivent être préparés de la même
manière et avec la même quantité de standard interne.
Bien que la technique de dilution permette d'éliminer la majorité des interférences dues aux effets de matrice,
le fait de travailler avec des échantillons liquides plutôt qu'avec des solides peut présenter certains
problèmes, qui vont limiter l'utilité de cette technique:
La baisse de sensibilité, en particulier pour les grandes longueurs d'onde (supérieure à 8 Angströms), est due
à:
♦ la dilution
♦ l'utilisation d'une fenêtre de support dans le conteneur
♦ l'élévation du niveau de fond à cause du faible numéro atomique de la matrice.
Une variation de l'épaisseur ou de la composition du film de support peut aussi générer des problèmes. Les
types de films les plus couramment utilisés sont le spectrolène 4µm à 6µm et le mylar 2,5µm à 6,5µm.
L'action de dissoudre un échantillon dans une solution peut être passablement ennuyeuse et certaines
difficultés peuvent apparaître:
♦ Certaines substances précipitent durant les analyses à cause d'une solubilité limitée de ces substances ou à
cause de l'action photochimique des rayons-X qui provoquent une décomposition.
♦ L'échauffement du liquide par les rayons-X crée des bulles d'air sur la surface du film qui vont provoquer
des variations systématiques d'intensité.
Malgré ces problèmes, cette technique est très souple car elle permet d'éliminer pratiquement tous les effets
de matrice. La précision que l'on peut obtenir avec la méthode de la dilution approche de très près la
précision ultime d'un instrument à rayons-X.
Techniques d'amélioration des échantillons
Lorsque la concentration d'un élément d'un échantillon est trop basse pour être analysée par l'une des
méthodes déjà décrites, il faut trouver un moyen d'amener cette concentration au-dessus de la limite de
détection du spectromètre.
Méthode par concentration
Lorsque des quantités suffisantes d'échantillon sont à disposition, il est possible d'employer la méthode de
concentration. Par exemple, des gaz, de l'air ou des liquides qui sont contaminés par des particules solides
peuvent être concentrés selon deux méthodes simples:
♦ En faisant passer les gaz, l'air ou l'eau à travers un filtre puis en les analysant directement sous vide.
♦ En évaporant la solution sur un filtre en papier.
Les figures suivantes montrent les différentes méthodes de préparation d’échantillons liquides.

Exit
Méthode Standard 1 Méthode Standard 2
1. Fixer le film en Mylar 1. Prendre l'échantillon
Film en Mylar
Cylindre
de fixation Echantillon
2. Prendre l'échantillon 2. Verser l'échantillon dans le

conteneur pour échantillons liquides
Conteneur
Echantillon
Echantillon
3. Verser l'échantillon dans le 3. Fixer le film en Mylar

conteneur pour échantillons liquides
Film en Mylar
Bague
Echantillon de fixation
4. Fermer le conteneur 4. Tourner le conteneur et percer

un trou à l'arrière
Couvercle
Mesurer sous Hélium
Figure 6.4
Note: La méthode varie en fonction du type de conteneur pour échantillons liquides utilisé.

Exit
Méthode du filtre Méthode d'absorption
Peser et Peser
mélanger
Echantillon Mini seringue
+
réactif
Echantillon
Agiter et
précipiter
Verser goutte
à goutte
Filtrer
Filtre Filtre en papier

ex. Whatman No.40
Sécher
Prendre le filtre
et le sécher
Filtre
Filtre
Mesurer sous vide
Figure 6.5

Exit
ASSISTANT ANALYTIQUE
Exit
Assistant analytique Chapitre 7
7 ASSISTANT ANALYTIQUE
Introduction
Ce chapitre décrit les fonctions que pourvoit l'Assistant analytique. L'Assistant analytique démarre
automatiquement en même temps que le WinXRF. Il apparaît soit sous la forme d'un icone dans la barre de
tâche, soit sous la forme d'un tableau périodique au milieu de l'écran.
La manière d'afficher l'Assistant analytique au démarrage du WinXRF dépend de l'état de l'option Réduire à
l'exécution du menu Système (voir figure suivante). Si par exemple cette option n'est pas sélectionnée, un
tableau périodique s'affiche au milieur de l'écran.
Figure 7.1
Les fonctions suivantes sont disponibles:
Info élément Cette fonction donne les informations utiles de l'élément sélectionné en terme de meilleurs
choix de paramètres analytiques (lignes, cristaux, détecteurs, PBF, etc.) mais tout en
respectant la configuration de l'instrument.
Scan (Balayage)
Cette fonction permet d'exécuter un balayage rapide de l'élément sélectionné avec les lignes
et les paramètres analytiques les plus appropriés mais tout en respectant la configuration de
l'instrument.
Profil d'énergie
Cette fonction permet d'exécuter un profil d'énergie de l'élément sélectionné avec les lignes
et les paramètres analytiques les plus appropriés mais tout en respectant la configuration de
l'instrument.

Exit
Chapitre 7 Assistant analytique
Programme analytique
Cette fonction représente le coeur de l'Assistant analytique. Elle permet de créer facilement
un programme analytique avec les lignes et les paramètres analytiques les plus appropriés,
ceci en fonction des éléments choisis, de la sensibilité des lignes et des chevauchements de
lignes possibles. Elle fournit une liste de problèmes potentiels et des indications sur la
manière de les résoudre.
Toutes les lignes qui n'existent pas dans la Bibliothèque de lignes sont automatiquement
créées avec les paramètres nécessaires. En outre, elle crée un modèle d'étalon qui va servir à
construire les données de la matrice qui sera utilisée lors de l'étalonnage proprement dit.
En cas d'ambiguïté ou de problème quant au choix des lignes, des fonctions additionnelles
sont fournies pour vérifier rapidement si ces choix sont bons ou non. A l'aide d'un
échantillon représentatif il faut effectuer des balayages pour la détection des chevauchements
de lignes et le contrôle des sensibilités; des profils d'énergie pour la détection des
chevauchements de lignes d'ordres supérieurs.
L'Assistant analytique est un programme qui est basé sur une table appelée Table de vérité, elle contient les
paramètres analytiques et les chevauchements potentiels pour chacune des lignes analysables.
Toutes les fois qu'une fonction de l'Assistant analytique est utilisée, celle-ci agit comme une aide, c'est à dire
qu'elle choisi les paramètres les plus appropriés pour exécuter l'action. En outre, toutes les fois que les
paramètres proposés peuvent être changés, les autres choix possibles dépendent de la configuration de
l'instrument.
Pour obtenir des informations détaillées sur les différentes fonctions de l'Assistant analytique, l'utilisateur est
prié de se référer aux chapitres du Manuel de configuration WinXRF listés dans le tableau suivant:
Chapitre du Manuel de configuration Explications concernant

Assistant analytique Table de vérité et critères de sélection
Mise en œuvre du goniomètre Balayages, Bibliothèque de lignes, Profils d'énergie,
Fonctions du goniomètre
Mise en œuvre des monochromateurs Bibliothèque de lignes, Profils d'énergie
Eléments spéciaux et définition des Entrées manuelles, Eléments virtuels, Etalons,
échantillons Echantillons de re-calibrage (correction de dérive),
Echantillons spéciaux pour la détermination des
interférences de lignes et des corrections du fond
spectral
Programmes analytiques Standards internes, Eléments pseudo
Etalonnage de l'instrument Analyses hors ligne (interférence de lignes)

Exit
Description des fonctions

La boîte de dialogue principale peut être divisée en trois parties:
Tableau périodique
A chaque fois qu'une action est sélectionnée, tous les éléments pouvant être analysés par
fluorescence de rayons-X et par l'instrument tel qu'il est configuré sont affichés en noir. Les
éléments pour lesquels un monochromateur est installé sont en plus soulignés.
Actions Les boutons affichés dans cette zone sont contextuels, c'est à dire qu'ils vont dépendre de
l'action sélectionnée.
Message Pour guider l'utilisateur des informations sont affichées ici de manière dynamique.
Information élément
Cette fonction donne les informations utiles de l'élément sélectionné en terme de meilleurs choix de
paramètres analytiques (lignes, cristaux, détecteurs, PBF, etc.) mais tout en respectant la configuration de
l'instrument.
Lorsque cette fonction est sélectionnée, les éléments du tableau périodique sont affichés en noir, permettant
la sélection de l'élément désiré. Seuls les éléments pouvant être analysés par fluorescence de rayons-X et par
l'instrument tel qu'il est configuré sont affichées en noir.
La zone Actions ne contient que le bouton Quitter, celui-ci permet de quitter cette fonction.
Figure 7.2
Après qu'un élément ait été sélectionné, une boîte de dialogue semblable à celle de la figure suivante est
affichée.

Exit
En fonction de l'élément sélectionné les informations de cinq familles différentes de lignes au maximum (Ka,
Kb, La, Lb ou Ma) peuvent être affichées. Les boutons de sélection de la famille de lignes sont arrangés de
telle manière que la sensibilité des lignes correspondantes diminue de gauche à droite. Par défaut, les
information de la ligne la plus sensible sont affichées.
Figure 7.3
Les informations affichées se divisent en trois groupes:
Constantes physiques
Cette zone contient les valeurs des Seuils d'absorbsion Ka et La en Angströms, la Densité
de l'élément en g/cm3, la Masse atomique et la forme typique de l'oxyde.
Paramètres instrumentaux
Cette zone montre jusqu'à trois ensembles de paramètres instrumentaux et analytiques pour
le type de ligne sélectionné, dans l'ordre de sensibilité décroissante.
♦ Lorsqu'il y a deux détecteurs possibles, cela signifie en principe que les deux détecteurs
pourraient être utilisés car la longueur d'onde de la ligne correspond à la zone où la
sensibilité des deux détecteurs est presque égale. Seule la résolution énergique des
détecteurs peut être différente et pourrait être le facteur décisif dans le choix du détecteur
à utiliser. Ceci, bien sûr, peut être vérifié par des profils d'énergie sur les deux détecteurs.
♦ Lorsqu'il y a deux collimateurs possibles, cela signifie en principe que les deux
collimateurs pourraient être utilisés, mais en cas de doute, il faudrait vérifier cela par des
balayages avec un échantillon représentatif .
Note: Si un élément ne peut être mesuré qu'avec un monochromateur, les

informations se résument uniquement aux données physiques de l'élément
(ligne, longueur d'onde et énergie), ainsi que les conditions du tube-X (kV et
mA).
Lignes superposantes
La boîte de liste de cette zone montre jusqu'à 20 interférences potentielles pour un maximum
de trois Odres de superposition (réflexion) pour le Choix sélectionné. Les lignes
interférentes sont données dans un ordre décroissant d'importance.

Exit
Les informations affichées dans cette boîte de dialogue peuvent être imprimées soit pour le Choix
sélectionné, soit pour Tous les choix. Cette boîte de dialogue peut être fermée en cliquant sur le bouton
Quitter et le prochain élément peut être sélectionné dans le tableau périodique.
Scan (Balayage)
Cette fonction permet d'exécuter un balayage court aux alentours de la ligne sélectionnée avec les meilleurs
paramètres analytiques (lignes, cristaux, détecteurs, PBF, etc.), mais tout en respectant la configuration de
l'instrument. Lorsque cette fonction est sélectionnée, les éléments du tableau périodique sont affichés en noir,
permettant le choix d'un d'entre eux. Seuls les éléments pouvant être analysés par fluorescence de rayons-X
et par l'instrument tel qu'il est configuré sont affichées en noir. Si l'instrument est équipé de
monochromateurs pour l'analyse des éléments ultras légers qui exigent des cristaux spéciaux, ces éléments ne
sont bien sûr pas disponibles.
La zone Actions ne contient pas de bouton et, par conséquent, cette fonction ne peut être fermée que par le
bouton Quitter de la boîte de dialogue Scan (Balayage) (voir Figure 7.5).
Figure 7.4
Après qu'un élément ait été sélectionné, une boîte de dialogue semblable à celle montrée à la figure suivante
est affichée.

Exit
Figure 7.5
Par défaut les paramètres de la ligne la plus sensible sont affichés; jusqu'à trois choix sont disponibles pour
effectuer le balayage.
Selon l'élément sélectionné jusqu'à cinq familles différentes de lignes (Ka, Kb, La, Lb ou Ma) sont
disponibles. Les boutons de sélection de la famille de lignes sont arrangés de telle manière que la sensibilité
des lignes correspondantes diminue de gauche à droite.
Paramètres des différents choix

la famille de lignes sélectionnée, dans l'ordre de sensibilité décroissante. La ligne est
sélectionnée en cliquant sur l'option correspondante.
Les boutons suivants sont disponibles pour des actions supplémentaires:
Exécuter Permet d'exécuter le balayage.
Interrompre Permet d'interrompre le balayage pendant son exécution.
Modifier Permet de choisir d'autres paramètres pour exécuter le balayage (voir section suivante).
Annuler Permet de quitter la fonction Scan (Balayage).
Modification des paramètres de balayage
La fonction Modifier permet de changer les paramètres proposés par l'Assistant analytique. Cela peut être
nécessaire si, par exemple, on veut modifier la plage, l'incrément, le temps de comptage, les conditions
analytiques, etc. ou choisir un collimateur/detecteur différent (si disponible) pour exécuter le balayage.

Exit
Figure 7.6
Comme le montre la figure précédente, seuls les détecteurs et les collimateurs appropriés pour la ligne
sélectionnée peuvent être choisis. Cependant aucune restriction n'existe à propos des autres paramètres.
En quittant la boîte de dialogue Modifier les paramètres de balayage par OK, toutes les modifications
seront montrées dans la boîte de dialogue antérieure (voir Figure 7.5).
En quittant cette boîte de dialogue par Annuler, les modifications effectuées ne sont pas retenues.
Exécution d'un balayage
Une fois les paramètres fixés, soit par la sélection d'une des options (voir Figure 7.5), soit à partir de la
fonction Modifier (Section Modification des paramètres de balayage), le balayage peut être exécuté en
cliquant sur le bouton Exécuter. Le système affiche alors la boîte de dialogue suivante.
Figure 7.7
Les paramètres suivants peuvent être définis dans cette boîte de dialogue:

Exit
Fichier résultats Scan

Dans cette zone de texte apparaît le nom du fichier résultat proposé par le système, ce nom
peut néanmoins être modifié si nécessaire.
Description Ce champ est facultatif et permet d'entrer une description de l'échantillon ou toute autre
information sur le balayage.
Cassette (./+) Il faut entrer ici le numéro de la cassette ou de la position du magasin dans laquelle se trouve
l'échantillon.
Identité d'échantillon
Le schéma d’identité d’échantillon du système est affiché ici. Pour démarrer l’exécution du
balayage, le système réclame au moins l’entrée d’un identificateur d’échantillon.
Pour exécuter le balayage il faut cliquer sur le bouton OK. Le système affiche alors la boîte de dialogue
antérieure (voir Figure 7.5) et celle-ci reste à l'écran tant que le balayage n'est pas fini. Une fois terminé, le
tableau périodique est à nouveau affiché (voir Figure 6.1).
Les résultats du balayage peuvent alors être affichés graphiquement, comme expliqué dans le Manuel de
l'opérateur WINXRF.
Graphique de balayage
Un balayage peut être affiché à l’écran en "temps réel" au fur et à mesure de son enregistrement.
♦ A partir du menu principal il faut sélectionner le menu Production / Analyse puis le sous-menu Scans
qualitatifs.
♦ Cliquer sur Afficher Scans.
Figure 7.8
♦ Pour afficher en temps réel l'évolution du balayage il faut sélectionner l'option Goniomètre 1.

Exit
♦ Pour afficher les résultats d'un balayage déjà enregistré il faut sélectionner l'option Scans stockés et
choisir le fichier désiré dans la zone de liste.
♦ Cliquer enfin sur le bouton OK
Figure 7.9
Le balayage est maintenant affiché graphiquement (voir les figures de la Section Etude des interférences de
lignes).
♦ Le menu Options permet de choisir une autre échelle, par exemple l'échelle logarithmique.
♦ Pour identifier un pic il faut placer le pointeur sur le sommet de ce pic et double-cliquer. Le système
affiche alors la liste des lignes spectrales correspondant aux différents éléments possibles dans cet
intervalle.
♦ Choisir une ligne et cliquer sur le bouton Ajouter.
Le système montre maintenant les positions de la ligne sélectionnée et des lignes de la même famille (lignes
de la même série spectrale). S'il y correspondance entre la hauteur des pics et la hauteur des lignes
d'identification, on peut être pratiquement sûr que l'identification est correcte.
♦ Pour sauver l'identification en cours il faut cliquer sur le bouton Fin. Le système efface alors les autres
lignes de la série spectrale. Les autres pics du spectre peuvent être identifiés de la même façon.
♦ Le graphique et le rapport d'identification peuvent être imprimés en cliquant sur le menu Imprimer.
Profil d'énergie
Cette fonction permet d'exécuter un profil d'énergie de la ligne sélectionnée avec les meilleurs paramètres
analytiques (lignes, cristaux, détecteurs, PBF, etc.), mais tout en respectant la configuration de l'instrument.
Lorsque cette fonction est sélectionnée, les éléments du tableau périodique sont affichés en noir, permettant
le choix d'un d'entre eux. Seuls les éléments pouvant être analysés par fluorescence de rayons-X et par
l'instrument tel qu'il est configuré sont affichées en noir. Si pour un élément un monochromateur est
également installé, il faut aussi effectuer un profil d'énergie, mais à l'aide des fonctions standards du logiciel.
La zone Actions ne contient pas de bouton et, par conséquent, cette fonction ne peut être fermée que par le
bouton Quitter de la boîte de dialogue Profil d'énergie (voir Figure 6.11).

Exit
Figure 7.10
Après qu'un élément ait été sélectionné, une boîte de dialogue semblable à celle montrée à la figure suivante
est affichée.
Figure 7.11
Par défaut les paramètres de la ligne la plus sensible sont affichés; jusqu'à trois choix sont disponibles pour
effectuer le profil d'énergie d'un élément à l'aide du goniomètre. Si l'élément sélectionné ne peut être mesuré
que par un monochromateur, le système affiche les paramètres standards des monochromateurs.

Exit
Selon l'élément sélectionné jusqu'à cinq familles différentes de lignes (Ka, Kb, La, Lb ou Ma) sont
disponibles. Les boutons de sélection de la famille de lignes sont arrangés de telle manière que la sensibilité
des lignes correspondantes diminue de gauche à droite.
Paramètres des différents choix

la famille de lignes sélectionnée, dans l'ordre de sensibilité décroissante. La ligne est
sélectionnée en cliquant sur l'option correspondante.
Les boutons suivants sont disponibles pour des actions supplémentaires:
Exécuter Permet d'exécuter le profil d'énergie.
Interrompre Permet d'interrompre le profil d'énergie pendant son exécution.
Modifier Permet de choisir d'autres paramètres pour exécuter le profil d'énergie (voir section
suivante).
Quitter Permet de quitter la fonction Profil d'énergie.
Modification des paramètres de profil d'énergie
La fonction Modifier permet de changer les paramètres proposé par l'Assistant analytique. Cela peut être
nécessaire si, par exemple, on veut modifier les paramètres PHD, les conditions analytiques, etc. ou choisir
un collimateur/detecteur différent (si disponible) pour exécuter le profil d'énergie.
Figure 7.12
Comme le montre la figure précédente, seuls les détecteurs et les collimateurs appropriés pour la ligne
sélectionnée peuvent être choisis. Cependant aucune restriction n'existe à propos des autres paramètres.
En quittant la boîte de dialogue Modifier les paramètres de Profil d'énergie par OK, toutes les
modifications seront montrées dans la boîte de dialogue antérieure (voir Figure 6.11).
En quittant cette boîte de dialogue par Annuler, les modifications effectuées ne sont pas retenues.

Exit
Exécution d'un profil d'énergie
Une fois les paramètres fixés, soit par la sélection d'une des options (voir Figure 6.11), soit à partir de la
fonction Modifier ( voir Section Modification des paramètres de profil d'énergie), le profil d'énergie peut
être exécuté en cliquant sur le bouton Exécuter. Le système affiche alors la boîte de dialogue suivante.
Figure 7.13
Les paramètres suivants peuvent être définis dans cette boîte de dialogue:
Fichier résultats Profil d'énergie

Dans cette zone de texte apparaît le nom du fichier résultat proposé par le système, ce nom
peut néanmoins être modifié si nécessaire.
Description Ce champ est facultatif et permet d'entrer une description de l'échantillon ou toute autre
information sur le profil d'énergie.
Cassette (./+) Il faut entrer ici le numéro de la cassette ou de la position du magasin dans laquelle se trouve
l'échantillon.
Pour exécuter le profil d'énergie il faut cliquer sur le bouton OK. Le système affiche alors la boîte de
dialogue antérieure (voir Figure 6.11) et celle-ci reste à l'écran tant que le profil d'énergie n'est pas fini. Une
fois terminé, le tableau périodique est à nouveau affiché (voir Figure 6.1).
Les résultats du profil d'énergie peuvent alors être affichés graphiquement.
Examiner un profil d'énergie
Les profils d'énergie peuvent être examinés à l'aide de la fonction d'affichage graphique des résultats d'un
profil d'énergie. Il faut pour cela exécuter la séquence suivante. Dans le menu principal, sélectionner
Etalonnage, puis Profile d’énergie. Cliquer sur l’icône Graphique profil d’énergie.

Exit
Figure 7.14
La boîte de dialogue représentée ci-dessous est alors affichée permettant de sélectionner un des fichiers
résultats de profil d'énergie.
Figure 7.15
Puis en cliquant sur le bouton OK le système affiche graphiquement le profil (voir les figures de la Section
Etude des interférences de lignes).
Programme analytique
Cette fonction représente le coeur de l'Assistant analytique. Elle permet de créer facilement un programme
analytique avec les lignes et les paramètres analytiques les plus appropriés, ceci en fonction des éléments
choisis, de la sensibilité des lignes et des chevauchements de lignes possibles. Elle fournit une liste de
problèmes potentiels et des indications sur la manière de les résoudre. En outre, elle crée un modèle d'étalon
qui va servir à construire les données de la matrice qui sera utilisée lors de l'étalonnage proprement dit.
En cas d'ambiguïté ou de problème quant au choix des lignes, des fonctions additionnelles sont fournies pour
vérifier rapidement si ces choix sont bons ou non. A l'aide d'un échantillon représentatif il faut effectuer: des

Exit
balayages pour la détection des chevauchements de lignes et le contrôle des sensibilités, des profils d'énergie
pour la détection des chevauchements de lignes d'ordres supérieurs.
Sélection des éléments
Pour inclure des éléments dans un programme analytique il faut tout d'abord cliquer sur le bouton
Programme Analytique, ce qui à pour effet d'afficher en noir les éléments du tableau périodique. Seuls les
éléments pouvant être analysés par fluorescence de rayons-X et par l'instrument tel qu'il est configuré sont
affichées en noir.
Les éléments sont sélectionnés en cliquant sur leur symbole chimique, ceux-ci passent alors du noir au bleu.
Les boutons contenant les symboles chimiques ont une fonction d'interrupteur, c'est à dire que si l'on clique
une deuxième fois dessus, les éléments correspondants sont désélectionnés et, par conséquent, leur symbole
est à nouveau noir.
Note: Pour suivre les explications données ci-après qui traitent de divers problèmes analytiques, il
est recommandé de sélectionner les mêmes données en terme d'éléments, de paramètres de
matrice, que dans les figures suivantes. Pour débuter l'exemple, il faut sélectionner les
éléments suivants:
Al, Si, P, S, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Mo, W
Figure 7.16
La zone Actions contient deux boutons:
Continuer En cliquant sur ce bouton, l'étape suivante dans le processus de création d'un programme
analytique débute. Il faut noter que même si aucun élément n'a été sélectionné ce bouton est
disponible, mais les prochaines actions seront restreintes à Éléments à mesurer et Quitter.
Quitter En cliquant sur ce bouton la création du programme analytique est annulée et l'écran initial
est à nouveau affiché (Figure 6.1).

Exit
Note: Les éléments ne pouvant être mesurés qu'avec des monochromateurs ne sont pas inclus dans
le processus d'évaluation suivant et, de ce fait, l'étude des interférences de lignes potentielles
doit être faite avec la fonction Info Élément.
Pour les éléments pouvant être mesurés avec le goniomètre et un monochromateur,
l'évaluation doit être faite avec les lignes correspondantes du goniomètre.
Après avoir sélectionné les éléments, il faut cliquer sur le bouton Continuer. Le système affiche alors le
tableau de la figure suivante.
Figure 7.17
Ce tableau contient les informations suivantes:
Analyte Cette colonne montre les éléments qui subissent des interférences de lignes d'autres
éléments. A ce stade tous les éléments sont affichés en bleu, ce qui signifie que leur niveau
de concentration est Mineur (voir Section Détails de la matrice).
Elément interférant
Cette colonne montre les éléments qui causent des interférences de lignes avec les analytes.
A ce stade tous les éléments sont affichés en bleu, ce qui signifie que leur niveau de
concentration est Mineur (voir Section Détails de la matrice).
Ordre de superposition
Cette colonne montre l'ordre de réflexion de la ligne interférente. Un premier ordre devrait
normalement être corrigé par une correction de lignes. Pour les ordres supérieurs un profil
d'énergie sur un échantillon représentatif pour permettre un ajustement correct du seuil et de
la fenêtre est dans beaucoup de cas suffisant.
Correction nécessaire
Cette colonne indique si une correction de lignes est nécessaire ou pas.
Solutions possibles
Cette colonne suggère une solution au problème ou tout au moins comment cette interférence
peut être minimisée.
A ce stade le tableau des interférences de lignes peut contenir beaucoup de problèmes potentiels et
l'utilisateur peut penser que l'étalonnage exigera de gros efforts pour qu'il fonctionne parfaitement. Mais il ne

Exit
faut pas oublier que des paramètres supplémentaires doivent encore d'être spécifiés et que, dans la plupart
des cas, le nombre de problèmes potentiels va diminuer. Dans certains cas ce nombre peut néanmoins
augmenter.
Pour cette raison il est recommandé de simplement Imprimer ce tableau et de fermer cette boîte de dialogue
en cliquant sur le bouton Continuer. Le système affiche alors l'écran de la Figure 7.18, qui contient dans la
zone Actions les boutons décrits brièvement après la figure et dans les sections suivantes.
Figure 7.18
Eléments à mesurer
Permet d'ajouter ou de supprimer des éléments.
Détails matrice
Permet de spécifier certains détails de la matrice à étalonner et les gammes de concentration
des éléments.
Balayage/Profil d'énergie
Permet d'effectuer des balayages et des profils d'énergie de contrôle pour les lignes des
éléments de la matrice.
Paramètres des lignes

Permet d'afficher et de modifier les lignes et les paramètres analytiques proposés.
Créer programme
Permet de créer le programme analytique, la matrice et un modèle d'étalon.
Quitter Lorsque ce bouton est enfoncé la fonction Programme analytique est abandonnée. Si aucun
programme n'a été créé, le système affiche un message d'avertissement (voir Figure 7.36).

Exit
Détails de la matrice
La prochaine étape dans la création d'un programme analytique consiste à spécifier les détails de la matrice à
étalonner. Il faut pour cela cliquer sur le bouton Détails matrice.
L'écran représenté à la figure suivante est alors affiché. A l'aide des trois cases à option, les niveaux de
concentration peuvent être modifiés pour chaque élément, dans le but de d'affiner les solutions des problèmes
potentiels de superposition de lignes.
Figure 7.19
Note: Dans notre exemple les sélections suivantes doivent être faites:
Majeur: Fe
Mineur: Ti, Cr, Ni, W
Trace: Al, Si, P, S, V, Mn, Mo
Pour spécifier les niveaux de concentration des éléments il faut procéder de la manière suivante:
♦ Sélectionner le niveau.
♦ Cliquer sur les éléments désirés (attention, un deuxième clic sur un élément va le désélectionner).
♦ Répéter cette procédure pour les autres niveaux.
Note: Les niveaux de concentration indiqués ne doivent pas être pris avec trop de rigueur. C'est
surtout important pour les éléments Majeurs car cela va influencer le choix des paramètres
instrumentaux pour réduire la sensibilité des lignes de ces éléments. La sélection des
paramètres instrumentaux est faite dans le but de ne pas saturer le système de détection.
Le bouton Options... est activé dès qu'un élément est spécifié comme Majeur. La fonction de ce bouton est
expliquée à la section suivante.

Exit
Options de la matrice
Les paramètres spécifiés dans cette boîte de dialogue n'influencent que le choix des paramètres
instrumentaux pour réduire la sensibilité des éléments définis comme Majeurs.
Les paramètres suivants peuvent être spécifiés dans les zones Type d'échantillon et Dilution (voir Figure
7.20):
Solide (pas de dilution)

Cette option est sélectionnée par défaut. Elle doit être choisie si les échantillons de la matrice
à étalonner sont des solides (ex.: métaux), des échantillons de poudres pressées sans ajout de
liant ou des échantillons liquides non dilués (ex.: huiles). La zone Dilution reste grisée
lorsque cette option est sélectionnée.
Pressé Cette option ne doit être sélectionnée que si un liant est ajouté aux échantillons de poudres
pressées lors de leur préparation. Dans ce cas il faut spécifier le rapport de dilution. Si aucun
liant n'est ajouté, l'option Solide (pas de dilution) doit être choisie.
Fusion Cette option doit être sélectionnée si les échantillons de la matrice sont des fusions, il faut
alors spécifier le rapport de dilution.
Liquide Cette option ne doit être sélectionnée que si les échantillons de la matrice sont des liquides
dilués. Dans ce cas il faut spécifier le rapport de dilution. S'ils ne sont pas dilués, l'option
Solide (pas de dilution) doit être choisie.
Masse de l'échantillon, g
La masse de l'échantillon doit être spécifiée ici.
Masse du diluant, g
La masse du diluant, par exemple fondant, liant, etc., doit être spécifiée ici. Le système
calcule et affiche le rapport de dilution à titre indicatif.
Note: Dans notre exemple il faut sélectionner l'option Solide (pas de dilution).
Figure 7.20
Après confirmation des Détails de la matrice le tableau des Interférences de lignes est à nouveau affiché. Il
contient les nouvelles recommandations pour résoudre les problèmes de chevauchement de lignes (dans notre
exemple les corrections nécessaires ont passé de 9 à 6). Les éléments sont maintenant montrés dans la
couleur de leur niveau de concentration. Il est bien sûr recommandé d'imprimer ce tableau, il peut servir de
guide pour résoudre les problèmes de chevauchement de lignes.

Exit
Figure 7.21
Suivant la combinaison des éléments sélectionnés et les paramètres instrumentaux disponibles (ex.: les
cristaux, collimateurs), il peut se révéler impossible de trouver les paramètres instrumentaux qui remplissent
tous les critères imposés par la table de vérité. Le deux situations suivantes peuvent se produire:
♦ Saturation du système de détection. Dans ce cas l'avertissement suivant est affiché.
Figure 7.22
♦ Les Contraintes font qu'aucun paramètre instrumental convenable ne peut être trouvé. Dans ce cas
l'avertissement suivant est affiché.
Figure 7.23

Exit
Balayage/Profil d'énergie
Pour détecter les problèmes d'interférences de lignes il est recommandé d'exécuter des balayages et des
profils d'énergie selon les indications données par le tableau des interférences de lignes. La procédure la plus
simple consiste à effectuer un balayage pour tous les éléments de la colonne Analyte et un profil d'énergie
pour les analytes qui sont interférés par une plus ligne d'ordre supérieur (voir Figure 7.21).
Il est cependant important de choisir des échantillons qui vont faire apparaître les effets d'interférences de
lignes potentiels. Ces échantillons doivent donc contenir les éléments interférents dans des gammes de
concentration telles qu'elles soient représentatives de la matrice. Il peut être nécessaire de répéter l'étude pour
les analytes qui possèdent plus d'un élément interférent.
Figure 7.24
Pour définir les paramètres de balayage et de profil d'énergie, il faut tout d'abord spécifier les paramètres
d'une des lignes à l'aide des zones de texte du bas de la boîte de dialogue, puis cliquer sur le bouton
Changer. Pour les autres lignes, il faut simplement double-cliquer sur les lignes correspondantes ou les
mettre en surbrillance et cliquer sur le bouton Changer.
Noter qu'il n'est pas nécessaire de spécifier les identités des échantillons (bien que cela soit fortement
recommandé), mais si le numéro de la cassette manque, un message d'erreur est alors affiché.
Les balayages et les profils d'énergie sont démarrés en cliquant sur le bouton Exécuter. Les paramètres
analytiques et instrumentaux utilisés sont ceux choisis par l'Assistant analytique (voir Section Paramètres
des lignes). Pendant que l'instrument effectue les opérations demandées, la boîte de dialogue est désactivée.
Le déroulement des opérations peut néanmoins être interrompu en cliquant sur le bouton Interrompre. Les
balayages et les profils d'énergie sont exécutés dans l'ordre, de haut en bas, puis, à la fin, le système revient à
l'écran représenté à la Figure 7.18. En cliquant sur le bouton Enregistrer sous, un nouveau dialogue s’ouvre,
permettant de créer et exécuter des batch. Veuillez vous référez au WinXRF Configuration Manual pour plus
de détails à ce sujet.
En cliquant sur le bouton Annuler le système ferme immédiatement cette boîte de dialogue.

Exit
Etude des interférences de lignes
Une fois les balayages effectués les effets des éléments interférents doivent être étudiés. Il faut pour cela
utiliser le graphique de balayage que l'on accède en sélectionnant le menu Production / Analyse, puis Scans
qualitatifs et Afficher Scans. Se référer au Manuel de l'opérateur WinXRF pour plus de détails.
Le graphique du profil d'énergie va permettre d'étudier les profils d'énergie. On y accède en sélectionnant le
menu Etalonnage, puis Profils d'énergie et Graphique profil d'énergie.
Avant d'expliquer comment contourner les problèmes de chevauchement, il faut tenir compte des
considérations suivantes:
♦ Si l'élément interférent n'est pas un majeur, les interférences de troisième ordre peuvent normalement être
ignorées.
♦ Les interférences de deuxième ordre ne doivent être prises en considération que si l'analyte est une trace.
Dans beaucoup de cas, l'effet de l'élément interférent peut être réduit ou même éliminé en sélectionnant
une fenêtre plus étroite et/ou un collimateur plus fin.
♦ Les intervalles pour la détermination des lignes interférentes ont été choisis assez grands pour englober
des lignes qui n'interfèrent que dans des cas très rares. Il est toujours mieux d'être au courant d'une
situation qui n'est pas critique plutôt que le contraire.
Pour comprendre comment juger des situations qui peuvent se produire, quelques-unes des plus communes,
basées sur notre exemple, sont expliquées ci-après (voir Figure 7.21). Beaucoup de situations légèrement
différentes peuvent forcement se produire; cela exigera de la part de l'utilisateur de bien juger ces situations,
en fonction de la composition de la matrice, des rapports de concentration entre les éléments et des gammes
de concentration des éléments.
L'analyte Mn (trace) est interféré par le Cr (1er ordre), le Mo (3e ordre) et le W (2e ordre)
Le graphique de balayage de la figure suivante montre une telle situation. Il est évident que l'interférence du
Cr est trop grande être ignorée, de ce fait, une correction de lignes est nécessaire. Pour les deux autres
éléments interférants la démarcation des pics de Mn et de W, respectivement de Mo, est assez bonne.
Comme les lignes interférentes de ces deux éléments sont d'ordres supérieurs à un, il est par conséquent
recommandé de vérifier cette situation par un profil d'énergie.
Figure 7.25
Le profil d'énergie effectué avec un échantillon représentatif montre que les pics d'ordres supérieurs sont très
faibles. Il n'est par conséquent pas nécessaire de considérer une correction de lignes. Cependant, la valeur du
seuil pourrait être diminuée pour inclure le pic de rétro-diffusion du Mn.

Exit
Figure 7.26
L'analyte P (trace) est affecté par le Mo (1er ordre), le W (1er ordre) et le Cr (3e ordre)
Le graphique de balayage de la figure suivante montre une telle situation. Bien que la ligne interférente
provienne d'un élément trace, la démarcation du pic de la ligne interférente (MoLl) et du pic de l'analyte est
très mauvaise. Dans cette situation une correction de lignes est normalement nécessaire, surtout si la plus
haute exactitude pour la mesure du P est exigée. D'un autre côté, les interférences des lignes WMG et CrKB
troisième ordre peuvent être ignorées.
Figure 7.27
Le profil d'énergie effectué avec un échantillon représentatif montre un pic devant celui du P. Bien que ce pic
ressemble à un pic de rétro-diffusion, cela n'en est pas un. Il est probablement dû à une fluorescence du
cristal produite par le Fe ou le Cr. En fixant le seuil comme indiqué à la figure suivante, le fond va diminuer
radicalement, comme cela est représenté par comparaison à la Figure 7.27.

Exit
Figure 7.28
L'analyte Cr (mineur) est affecté par le V (1er ordre)
Le graphique de balayage de la figure suivante montre une telle situation. Comme la ligne interférente
provient d'un élément trace et que l'analyte est un élément mineur, une correction de lignes n'est
probablement pas nécessaire.
Figure 7.29
L'analyte V (trace) est affecté par le Ti (1er ordre) et le W (2e ordre)
La comparaison des deux balayages montre l'effet qu'une fenêtre plus étroite a sur les interférences des lignes
WLG2 et WLG3, alors que la ligne de l'analyte n'est affectée que par la discrimination du pic de rétro-
diffusion (Figure 7.31). Pour le Ti il est nécessaire de faire une correction du lignes.

Exit
Figure 7.30
Le profil d'énergie montre clairement le pic de premier ordre (V) autour de 870mV et le pic de deuxième
ordre (W) à une énergie double (1740mV). Grâce à l'excellente résolution énergétique du détecteur, la
discrimination des deux pics est très bonne et par conséquent l'effet de l'interférence peut être éliminé en
sélectionnant une fenêtre légèrement plus étroite. De même, lorsque la discrimination du pic principal et du
pic de rétro-diffusion est bonne il est d'usage de ne pas prendre en compte ce dernier. Noter que par souci de
clarté les paramètres utilisés pour enregistrer ce profil d'énergie ont été augmentés par rapport à ceux de
défaut.
Figure 7.31

Exit
Paramètres des lignes
Le tableau affiché lorsque cette fonction est sélectionnée montre les paramètres analytiques et instrumentaux
qui sont proposés par l'assistant analytique.
Figure 7.32
Une fois l'étude des interférences de lignes terminée, il peut être nécessaire d'ajuster les valeurs des seuils et
des fenêtres ou de choisir des paramètres instrumentaux différents, comme un collimateur plus fin.
Les modifications dans ce tableau doivent être effectués de la manière suivante:

♦ Mettre en surbrillance la ligne où des paramètres ont besoin d'être changé.
♦ Entrer les nouvelles valeurs dans les zones de texte correspondantes ou sélectionner la nouvelle valeur
dans les boîtes de liste déroulantes.
♦ Cliquer sur une autre ligne pour que les changements soient pris en compte.
♦ Répéter ces opérations pour les autres lignes à modifier.
Note: Pour une ligne sujète à être saturée, l'assistant analytique choisi des paramètres appropriés
pour baisser la sensibilité. Si un système de détection plus sensible (ex.: collimateur, cristal,
détecteur) est choisi, l'avertissement suivant est alors affiché.
Figure 7.33
Pour imprimer ce tableau il faut cliquer sur le bouton Imprimer. En quittant cette boîte du dialogue par OK
le système sauvegarde les modifications, par contre en quittant par Annuler elles sont perdues.
L'effet de ces changements peut être observé par l'exécution de nouveaux balayages sur les lignes dont des
paramètres ont changé. Si l'amélioration n'est pas satisfaisante il faut alors faire une correction de lignes.

Exit
Note: Si une des fonctions Détails matrice ou Eléments à mesurer est à nouveau sélectionnée,
tous les paramètres de défaut sont à nouveau choisis. Cela signifie que toutes les
modifications des Paramètres des lignes sont perdues.
Création du programme
L'étape finale est la création du programme analytique et du modèle d'étalon. Lorsque cette fonction est
sélectionnée la boîte du dialogue de la figure suivante est affichée.
Figure 7.34
Les paramètres suivants peuvent ou doivent être spécifiés:
Entrées manuelles
Les entrées manuelles à inclure dans le programme analytique peuvent être sélectionnées par
le bouton Ajouter>> ou supprimées par le bouton <<Retirer.
Programme Le nom du programme analytique doit être spécifié ici.
Matrice Le nom de la matrice doit être spécifié ici.
Sous-groupe Le nom du sous-groupe doit être spécifié ici.
Masque elliptique
Le masque elliptique correspondant à l'ouverture des cassettes doit être spécifié ici. Les
choix suivants sont possibles:
Non 38 mm
1 15 mm
2 29 mm (ouverture standard)

Exit
Type de matrice - Composé

Cette option permet d'indiquer au système sous quelle forme les éléments doivent être
rapportés. Il existe deux possibilités:
Elément Les éléments sont identifiés par leur Symbole chimique.

Oxyde Les éléments sont identifiés par la formule de leur Oxyde
typique.
Eléments mesurés par

Cette option n'est pas disponible pour les instruments de la série ARL ADVANT'X.
La création des lignes qui n'existent pas dans la bibliothèque de lignes, du programme analytique et du
modèle d'étalon est faite lors de la sélection du bouton OK. Le système affiche alors le message de la figure
suivante. En cliquant sur le bouton Annuler le système quitte cette boîte de dialogue sans créer de
programme.
Figure 7.35
Quitter
En cliquant sur ce bouton on quitte la fonction Programme analytique. Si aucun programme n'a été créé, le
système affiche l'avertissement suivant.
Figure 7.36

Exit
ETALONNAGE DE
L'INSTRUMENT
Exit
Etalonnage de l'instrument Chapitre 8
8 ETALONNAGE DE L'INSTRUMENT
Introduction
Il y a lieu de créer un programme analytique lorsque l'instrument n'a pas encore été étalonné ou, lorsqu'une
extension des étalonnages existants est nécessaire pour supporter d'autres applications analytiques. Le
spectromètre de rayons-X est un système comparatif de mesure. Pour pouvoir déterminer les concentrations
d'échantillons inconnus, il est tout d'abord nécessaire d'étalonner l'instrument. Il faut pour cela une série
d'étalons. Ces étalons sont mesurés et les intensités de tous les éléments sont sauvegardées dans la base de
données. Pour chaque élément, le calculateur détermine un polynôme, qui représente la relation entre la
concentration et la réponse instrumentale. Ce polynôme est sauvegardé dans le programme analytique et
l'instrument est alors prêt à mesurer des échantillons inconnus dont la matrice est la même que celle des
étalons. En analyse par fluorescence X, des erreurs physiques et instrumentales vont apparaître:
♦ Les erreurs physiques sont les effets de matrice causés par l'absorption et le rehaussement. Le calculateur
utilise des modèles mathématiques pour corriger ces erreurs.
♦ Les erreurs instrumentales sont surtout des superpositions de lignes dues à une résolution insuffisante et
une dérive dans le temps de la réponse de l'instrument. Les superpositions de lignes peuvent être corrigées
mathématiquement, alors que pour corriger la dérive, la réponse de l'instrument doit être ajustée
périodiquement en mesurant des échantillons de référence, appelés échantillons de re-calibrage.
L'Assistant analytique a déjà permis de définir les tables et les paramètres principaux nécessaires au
processus d'étalonnage de l'instrument. L'étalonnage se résume donc à compléter les données et, si
nécessaire, à modifier les paramètres de défaut, comme décrit ci-après.
Bibliothèque de lignes:
Toutes les lignes qui n'existaient pas dans la bibliothèque de lignes ou celles dont les paramètres ne
correspondaient pas aux paramètres requis ont été créées automatiquement. Ces lignes peuvent facilement
être identifiées par leur dernier caractère qui est une lettre majuscule comme A, B, etc. Par exemple,
AlKa1,2A ou FeKa1,2B. En principe il n'est pas nécessaire de modifier ces paramètres dans la bibliothèque
de lignes.
Figure 8.1

Exit
Chapitre 8 Etalonnage de l'instrument
Etalons:
L'étalon modèle porte le nom suivant: 00MASTER. Pour définir la liste des étalons il faut copier ce modèle
autant de fois qu'il y a d'étalons, puis entrer toutes les concentrations (voir la section Compléter la liste des
étalons).
Figure 8.2
Programme analytique:
Dans notre exemple, le programme analytique qui a été créé correspond à celui représenté à la figure
suivante.
Figure 8.3
Ici non plus il n'est en principe pas nécessaire de modifier les paramètres proposés, mais il faut tout de même
terminer la définition du programme analytique.
Note: L'Assistant analytique ne s'occupe pas de la définition des échantillons de re-calibrage,

indispensables à la compensation de la dérive instrumentale et qui vont permettre d'utiliser
l'étalonnage sur une longue période.

Exit
Ce qu'il reste à faire

Les étapes suivantes dans la définition d'un étalonnage sont décrites ci-après:
♦ Compléter la liste des étalons

♦ Définir les échantillons de re-calibrage
♦ Attribuer des échantillons de re-calibrage aux canaux du programme analytique
♦ Définir les tâches analytiques
♦ Effectuer le calibrage initial
♦ Mesurer les étalons
♦ Calculer les courbes d'étalonnage
♦ Effectuer un re-calibrage
Compléter la liste des étalons
♦ Depuis le menu principal sélectionner Préparation, puis Analyse.

♦ Cliquer sur l’icône Etalons.
Figure 8.4

Exit
Pour ajouter d'autres étalons il faut exécuter les opérations suivantes:
♦ cliquer sur le bouton Copier (Echantillons).
Figure 8.5
♦ Dans la zone Nouvel étalon spécifier le Nom et le Numéro du nouvel étalon;

♦ puis cliquer sur le bouton Confirmer.
Figure 8.6
Répéter ces opérations autant de fois qu'il y a d'étalons dans la matrice.
La concentration chimique de chacun des éléments des étalons peut être entrée en retournant dans la boîte de
dialogue Sélection des étalons (voir Figure 8.5), puis en cliquant sur le bouton Concentrations.
♦ Sélectionner l'élément à modifier dans la liste;

♦ entrer sa composition chimique dans la zone de texte correspondante;
♦ taper sur la touche Enter ou cliquer sur le bouton Changer pour stocker la valeur;
♦ réitérer l'opération pour tous les autres éléments;
♦ cliquer sur le bouton Quitter pour retourner à la boîte de dialogue principale.

Exit
Figure 8.7
Répéter cette procédure pour tous les autres étalons.
La matrice des étalons est maintenant prête.

Exit
Définir les échantillons de re-calibrage
♦ Dans le menu principal, sélectionner Préparation, puis Analyse.

♦ Cliquer sur Echantillons de re-calibrage.
Figure 8.8
♦ Cliquer sur le bouton Ajouter (Echantillons).
Figure 8.9
Spécifier dans les zones de texte correspondantes:
♦ le Nom de l'échantillon
♦ le Numéro de l'échantillon
♦ le Numéro de cassette

Exit
Dans la zone de texte Intervalle entre re-calibrages entrer cet intervalle et, si c'est nécessaire, modifier le
Facteur SIGMA global.
Figure 8.10
♦ Cliquer sur le bouton OK,

♦ cliquer sur le bouton Ajouter (Eléments) (voir Figure 8.9),
♦ dans la zone Type de canal, sélectionner l'option Goniomètre 1,
♦ dans la liste déroulante, mettre en surbrillance la ligne désirée et cliquer sur le bouton Ajouter.
Figure 8.11

Exit
Spécifier le Temps de comptage en secondes, les kV et les mA.
Figure 8.12
Pour aider au choix des échantillons de re-calibrage lors de la définition du programme analytique, une
Concentration approximative peut être entrée dans la zone de texte correspondante.
Répéter cette procédure pour tous les autres éléments, puis cliquer sur le bouton Quitter pour retourner à la
boîte de dialogue principale. Des échantillons supplémentaires peuvent être définis de la même manière. Les
échantillons de re-calibrage sont prêts.

Exit
Attribuer les échantillons de re-calibrage
♦ Depuis le menu principal sélectionner Préparation, puis Analyse.
♦ Sélectionner Programmes analytiques (voir Figure 8.8).
♦ Dans la boîte de dialogue suivante cliquer sur le bouton Eléments.
Figure 8.13
♦ Mettre en surbrillance le premier élément et cliquer sur le bouton Re-calibrage.
Figure 8.14

Exit
♦ Sélectionner le Standard haut et le Standard bas à partir des zones de liste correspondantes.
Figure 8.15

♦ Répéter cette opération pour tous les autres éléments.
Calibrage initial
Préparation de la tâche de calibrage initial
♦ Depuis le menu principal sélectionner Préparation, Tâches

♦ Cliquer sur Calibrage initial / Initialisation corr. de dérive.

Exit
Figure 8.16
♦ Cliquer sur le bouton Créer.
Figure 8.17
♦ Dans la zone de texte Nom de la Tâche, entrer le nom de la nouvelle tâche.
Figure 8.18

Exit
♦ Dans la zone de texte Description, entrer un texte décrivant la tâche.

♦ Pour que le système affiche et imprime le Sigma absolu et le Sigma relatif il faut cocher les cases
correspondantes.
♦ Dans la zone Type d'initialisation il faut sélectionner l'option Première.
♦ Cliquer ensuite sur le bouton Sélection Prog./Echant.
Figure 8.19
♦ Dans la zone de liste Programmes analytiques disponibles, double-cliquer sur le programme désiré, il
sera automatiquement transféré dans la zone de liste Sélectionnés. Si le programme désiré n'apparaît pas,
il faut sélectionner la catégorie de base de données appropriée.
♦ Dans la zone de liste Echantillons de re-calibrage disponibles, double-cliquer sur les échantillons à
mesurer, ils seront automatiquement transférés dans la zone de liste Sélectionnés.
Figure 8.20
Depuis la boîte de dialogue alors affichée:

Exit
♦ cliquer sur le bouton OK;

♦ puis dans la suivante, sur le bouton Quitter.
Mesure des échantillons de re-calibrage

Mettre les échantillons de re-calibrage dans des cassettes et placer celles-ci sur les positions correspondant à
chacun des échantillons.
♦ Depuis le menu principal sélectionner Etalonnage, puis Calibrage initial / Initialisation corr. de
dérive.
♦ Cliquer sur le bouton Changer Tâche.
Figure 8.21

Exit
♦ Sélectionner la tâche appropriée et cliquer sur le bouton OK.
Figure 8.22
♦ Pour démarrer la mesure il faut cliquer sur le bouton Analyser (voir Figure 8.21); le système affiche alors
l'avertissement suivant.
Figure 8.23
Puis le premier échantillon de re-calibrage est mesuré et le système affiche à l'écran les intensités ainsi
obtenues (voir figure suivante).
Une fois la mesure terminée:
♦ cliquer sur le bouton Continuer et mesurer l'échantillon suivant de la même manière.

Exit
Figure 8.24
Les intensités du jour zéro sont automatiquement sauvegardées dans le fichier des échantillons de re-
calibrage.
Préparation de la tâche d'étalonnage
♦ Depuis le menu principal sélectionner Préparation, Tâches et Etalonnage.
Figure 8.25

Exit
♦ Dans la zone de texte Nom de la tâche, entrer le nom de la nouvelle tâche.

Figure 8.26

♦ Pour que le système affiche et imprime le Sigma absolu et le Sigma relatif il faut cocher les cases
correspondantes.
♦ Spécifier le nombre de mesures dans la zone de texte Répétitions (suggestion 3).
La case Sélection manuelle des mesures ne doit pas être cochée.
♦ Cliquer sur le bouton Sélection programme pour choisir le programme de mesure.
Figure 8.27

Exit
♦ Sélectionner le programme désiré dans la zone de liste. Si le programme désiré n'apparaît pas, il faut
sélectionner la catégorie de base de données appropriée.
Figure 8.28
♦ Cliquer sur le bouton Sélection étalons (voir Figure 8.29).

♦ Dans la zone de liste Etalons disponibles, double-cliquer sur le premier étalon, il sera automatiquement
transféré dans la zone de liste Sélectionnés.
♦ Dans la zone de texte Numéro de cassette, entrer le numéro de la position sur le passeur d'échantillons.
Figure 8.29
Répéter la même procédure pour tous les étalons.

♦ Cliquer sur le bouton Quitter pour retourner au menu principal.

Exit
Préparation d'un fichier d'opérations par lots

Depuis le menu principal.
♦ Sélectionner Production / Analyse, puis Définir les lots (voir Figure 8.8).
♦ Cliquer sur le bouton Créer et entrer le nom du nouveau fichier.
♦ Cliquer sur le bouton Analyse.
Figure 8.30
♦ Comme Catégorie, choisir Etalonnage.

♦ Sélectionner la Tâche analytique dans la zone de liste.
♦ Cliquer sur le bouton OK, puis Quitter pour retourner au menu principal.

Exit
Figure 8.31
Mesure des étalons
♦ Mettre les étalons dans des cassettes et placer celles-ci sur les positions correspondant à chacun des
étalons.
♦ Depuis le menu principal, sélectionner Production / Analyse, puis Opération par lots.
♦ Sélectionner le fichier approprié.
♦ Comme nombre de Répétitions entrer 1.
Les étalons sont alors mesurés et les intensités automatiquement sauvegardées dans le fichier des étalons. Les
intensités n'étant pas affichées à l'écran, la seule indication que des mesures sont en cours est la présence de
l'icone Exécutif d'opérations ICS au bas de l'écran.
Détermination des courbes d'étalonnage
♦ Depuis le menu principal sélectionner Etalonnage, puis MVR.

♦ A partir du menu du MVR, sélectionner Fichier, puis Programme analytique.
Figure 8.32

Exit
♦ Sélectionner le programme désiré dans la zone de liste.

♦ Cliquer sur Editer, puis Eléments/Echantillons.
Figure 8.33
♦ Dans la zone de liste Eléments disponibles double-cliquer sur les éléments à prendre en compte pour le
calcul. Ils vont automatiquement apparaître dans la zone de liste Eléments sélectionnés.
♦ Dans la zone de liste Etalons disponibles, cliquer sur le premier étalon.
♦ Cliquer sur le bouton Grouper.
♦ Mettre en surbrillance le dernier étalon à devoir être sélectionné et double-cliquer sur celui-ci. Tous les
étalons compris entre le premier et celui en surbrillance vont apparaître dans la zone de liste Etalons
sélectionnés.
♦ Cliquer sur les boutons Analyte, puis OK.
Figure 8.34
♦ Sélectionner Calcul, puis Courbe de base.
Figure 8.35

Exit
♦ Pour examiner les résultats numériques en terme de différence entre les concentrations calculées et
certifiées, ainsi que d'erreur standard estimée, sélectionner Résultats, puis Numérique & sauvegarde.
Figure 8.36
Si le résultat est acceptable, cliquer sur le bouton Stocker pour sauvegarder les Coefficients de la courbe de
base dans le programme analytique.
Figure 8.37
Après avoir appliqué la même procédure pour tous les éléments, il est possible de déterminer les
concentrations d'échantillons inconnus.
Re-calibrage
A intervalles réguliers il faut mesurer les échantillons de re-calibrage pour corriger la dérive de l'instrument.
Comme cette opération est pratiquement semblable au Calibrage initial nous vous renvoyons à la section
traitant de ce sujet ou au Manuel de l'opérateurWinXRF et au Manuel de configuration WinXRF.

Exit
ANALYSE DE ROUTINE
Exit
Analyse de routine Chapitre 9
9 ANALYSE DE ROUTINE
Analyse en concentration
L'analyse en concentration est la tâche la plus utilisée pour le contrôle de production. Ces analyses ne sont
possibles que si la même matrice à été précédemment étalonnée.
Préparation de la tâche d'analyse en concentration

A partir du menu principal:
♦ Sélectionner Préparation, Tâches et Analyse en concentration.
Figure 9.1

Exit
Chapitre 9 Analyse de routine
Figure 9.2
Figure 9.3
Les différentes options peuvent être sélectionnées en cliquant dans les cases à cocher correspondantes (une
croix va apparaître dans la case lorsqu'elle est activée). Ce sont:
♦ Echantillons prédéfinis, pour définir une liste d'échantillons.

♦ Imprimer Sigma, pour afficher le sigma absolu.
♦ Imprimer Sigma relatif, pour afficher le sigma relatif.
♦ Numéro d'échantillon autoincrémenté, pour que le numéro d'échantillon s'autoincrémente.
♦ Résultats modifiables, pour pouvoir modifier les résultats.
♦ Contrôle de qualité
♦ Tri des qualités
♦ Affichage détails Qualité
♦ Sélection manuelle des mesures, pour pouvoir sélectionner les mesures.
♦ Affichage auto. carte SPC
♦ Débute par sélection Prg/éch.
Pour modifier le schéma d'identification d'échantillon il faut cliquer sur le bouton Identité d'échantillon.
Le nombre de mesures pour chaque échantillon peut être spécifié dans la zone de texte Nb de mesures.
Pour choisir le programme qui doit apparaître lorsque la tâche sera sélectionnée il faut cliquer sur le bouton
Programme par défaut.

Exit
Figure 9.4
♦ Dans la zone de liste Programmes, mettre en surbrillance le programme désiré. Si le programme désiré
n'apparaît pas, il faut sélectionner la catégorie de base de données appropriée.
Figure 9.5
♦ Cliquer sur le bouton OK pour confirmer et pour retourner au menu principal.

Exit
Analyses des échantillons en concentration
♦ Depuis le menu principal sélectionner Production / Analyse, Analyse et Analyse en concentration.

♦ Il est aussi possible de démarrer les analyses en concentrations en pressant simplement sur la touche
<F2>.
Figure 9.6
♦ Cliquer sur le bouton Changer Tâche.
Figure 9.7

Exit
♦ Sélectionner la tâche appropriée et cliquer sur le bouton OK.
Figure 9.8
Le numéro de Cassette et le Nombre de mesures peuvent alors être spécifiés. L'analyse peut être démarrée,
soit immédiatement en cliquant sur le bouton Analyser ou soit après avoir entrer l'identité d'échantillon, en
cliquant sur le bouton Détails éch. OK (voir Figure 9.7).
L'échantillon est analysé, puis le résultat apparaît dans la fenêtre réservée à cet effet. Selon les options
sélectionnées dans la tâche, le résultat peut être imprimé, stocké ou transmis.
Figure 9.9

Exit
Mesures des intensités

La mesure des intensités est principalement utilisée pour contrôler la fiabilité des résultats, ainsi que la
stabilité à court terme et à long terme.
Les résultats affichés par le mode d'analyse en intensité ne sont pas corrigés par la dérive, ce sont des
intensités brutes représentant la réponse de l'instrument.
Préparation de la tâche de mesure des intensités

A partir du menu principal:
♦ Sélectionner Préparation, Tâches et Mesure des intensités (voir Figure 9.1).

♦ Puis cliquer sur le bouton Créer.
Figure 9.10
Figure 9.11

Les différentes options peuvent être sélectionnées en cliquant dans les cases à cocher correspondantes (une
croix va apparaître dans la case lorsqu'elle est activée). Ce sont:
♦ Echantillons prédéfinis, pour définir une liste d'échantillons.

♦ Imprimer Sigma, pour afficher le sigma absolu.
♦ Imprimer Sigma relatif, pour afficher le sigma relatif.
♦ Numéro d'échantillon autoincrémenté, pour que le numéro d'échantillon s'autoincrémente.
♦ Résultats modifiables, pour pouvoir modifier les résultats.
♦ Sélection manuelle des mesures, pour pouvoir sélectionner les mesures.
♦ Débute par sélection Prg/éch.

Exit
Pour modifier le schéma d'identification d'échantillon:
♦ cliquer sur le bouton Identité d'échantillon.
Le nombre de mesures pour chaque échantillon peut être spécifié dans la zone de texte Nb de mesures.
Pour choisir le programme qui doit apparaître lorsque la tâche sera sélectionnée:
♦ Cliquer sur le bouton Programme par défaut.
Figure 9.12
♦ Dans la zone de liste Programmes, mettre en surbrillance le programme désiré. Si le programme désiré
n'apparaît pas, il faut sélectionner la catégorie de base de données appropriée.
Figure 9.13
♦ Cliquer sur le bouton OK pour confirmer et pour retourner au menu principal.

Exit
Mesures des échantillons en intensité

Depuis le menu principal:
♦ Sélectionner Production / Analyse, Analyse et Mesure des intensités (voir Figure 9.6).
♦ Cliquer sur le bouton Changer tâche et sélectionner la tâche appropriée.
Figure 9.14
Le numéro de Cassette et le Nombre de mesures peuvent alors être spécifiés.
♦ L'analyse peut être démarrée, soit immédiatement en cliquant sur le bouton Analyser ou soit après avoir
entrer l'identité d'échantillon, en cliquant sur le bouton Détails éch. OK.
Figure 9.15

Exit
L'échantillon est analysé, puis le résultat apparaît dans la fenêtre réservée à cet effet. Selon les options
sélectionnées dans la tâche, le résultat peut être imprimé, stocké ou transmis.
Figure 9.16

Exit
INDEX
Exit
Index
INDEX
XGT (X-ray Gas and Thermal, 3-14
A XPS (X-ray Power Supply, 3-14
XQM (X-ray Quantometer Master ), 3-14
XSH (X-ray Sample Handling), 3-14
principe, 4-1 Cartouche déionisante
emplacement, 3-10
ADVANT'X
Affichage de l'état ~, 3-8 Cassette
connexion au réseau électrique, 3-3 Types de ~, 3-4
Affichage, 3-1, 3-2 Chambre d'analyse
état du goniomètre, 3-9 emplacement, 3-13
état du spectromètre, 3-8 spectromètre, 3-13
état du tube-X, 3-9
Chambre primaire
Alimentation du tube à rayons-X, 3-31 emplacement, 3-12
Fonction de la ~, 3-40
spectromètre, 3-13
emplacement, 3-12
Enclenchement ~, 5-9 Changeur de collimateur, 3-13
Type d' ~, 3-31 emplacement, 3-13, 3-16
Goniomètre ~, 3-15
Analyse
rotation de l'échantillon, 3-40 Changeur de cristal
emplacement, 3-16
Angle de Bragg
Goniomètre ~, 3-15
pouvoir de dispersion, 4-16
Chargement
Argon-méthane
Echantillon, 3-41
Régulation de gaz ~, 3-25
échantillon liquide, 3-46
Arrêt d'urgence, 3-1, 3-2 échantillon solide, 3-42
Assistant analytique, 7-1 Choix
du cristal, 3-16
Avalanche
détecteur à gaz Cible du tube à rayons-X
phénomène d'~, 4-20 choix du matériau, 4-8
Circuit de sécurité
B tube à rayons-X, 3-32
Balayage, 7-5 Collimateur

Graphique de ~, 7-8 Changeur de ~, 3-13
primaire
Batches système dispersif, 4-10
opérations par lots, 8-18 secondaire
système dispersif, 4-10
Bouton d'arrêt d'urgence, 5-3
Collimateurs primaires
Bouton de reset principal, 3-3
fonction, 4-13
Bragg
Collimateurs secondaires
Loi de diffraction de ~, 4-14
fonction, 4-13
C Composants en option, 3-12

Compteurs
Carte électronique à scintillation, 4-19
Goniometer power, 3-14 proportionnels à gaz
Spectrometer power, 3-14 types, 4-19
XCM (X-ray Cassette Magazine), 3-14
Conditions
XDI (X-ray Detector Interface), 3-14
analytiques, 3-15
XGI (X-ray Goniometer Interface), 3-14
AA83487 Manuel utilisateur Série ADVANT'X I

Exit
Index
Configuration catégories, 4-19

instrument, 5-4 FPC, 4-19
régulation du gaz, 3-25
Connexion au réseau électrique, 3-3
Détecteur FPC
Console électronique
emplacement, 3-16
emplacement, 3-12
Détecteur SC
Conteneur
emplacement, 3-16
pour échantillons liquides, 3-6
détecteurs à gaz
Continuum, 1-3
principe, 4-20
de lignes d'émission, 4-8
de rayons-X, 4-8 Diffraction
cristal
Correction
principe, 4-14
dérive instrumentale, 8-1
loi de Bragg, 4-14
Coupe-circuit principe, 4-14
alimentation du tube-X, 3-3
Diffusion cohérente
électronique, 3-3
rayons-X primaires, 4-3
Courbes
Diffusion incohérente
d'étalonnage
rayons-X primaires, 4-3
MVR, 8-19
Discriminateur de hauteur d'impulsion
Cristal
principe, 4-23
caractéristiques de réflectivité, 4-15
Choix du ~, 3-16
diffraction, 4-14 E
fonction, 4-13
multi-couches Echantillon
description, 4-15 de re-calibrage, 8-1
PET Excitation de l'~, 3-30
caractéristiques, 4-17 Processus de chargement d'un ~, 3-41
pouvoir de dispersion, 4-16 taille maximum, 3-4
stabilité, 4-17
Echantillon liquide
Cuve du spectromètre, 3-13 Chargement ~, 3-46
Echantillon solide
D Chargement ~, 3-42
Effet Auger
Débitmètre FPC
principe, 4-2
empacement, 3-26
Effet Compton
Débitmètre hélium
principe, 4-3
emplacement, 3-27
Effets de matrice, 8-1
Dérive instrumentale
Correction de la ~, 8-1 Efficacité de la diffraction
moyen d'amélioration, 4-15
Description
environnement d'analyse, 3-20 Elément
filtre primaire, 3-19 Information ~, 7-3
masque elliptique programmable, 3-19
Eléments légers
passeur d'échantillon 12 positions, 3-36
émission d'électron Auger, 4-2
passeur d'échantillon grande capacité, 3-36
tube à rayons-X, 3-30 Eléments lourds
émission de rayons-X, 4-2
Détecteur
à gaz Emission de lignes spectrales
avalanche, phénomène d', 4-20 moyen de production, 4-1
type du mélange de gaz, 4-21
Enclenchement de l’ordinateur, 5-3
types, 4-19
à scintillation Encodeur optique du changeur de cristal
principe, 4-22 emplacement, 3-16
II Manuel utilisateur Série ADVANT'X AA83487

Exit
Index
Encodeur optique du système de détection Graphique

emplacement, 3-16 de balayage, 7-8
profil d'énergie, 7-12
Energie
Profil d'~, 7-9
H
Environnement d'analyse
Changer ~, 5-8
Hélium
Description ~, 3-20
Obturateur ~, 3-12
mode hélium avec obturateur, 3-20
Option ~, 5-6
mode hélium sans obturateur, 3-20
Régulation du gaz ~, 3-26
mode vide, 3-20
Etalonnage I
Courbes d'~, 8-19
Exatron Impulsions de sortie
détecteurs scellés, 4-19 traitement, 4-24
Information
F élément, 7-3
Instrument
Fenêtre du tube à rayons-X
Configuration de l'~, 5-4
caractéristiques, 4-9
Instruments séquentiels
Fiabilité des analyses
principe, 4-10
stabilité du cristal, 4-17
Interférence de lignes, 7-20
Filtre à vapeur d’huile
causes, 4-9
emplacement, 3-10
filtre primaire, 4-9
Filtre primaire, 3-12, 3-13, 5-6
Description ~, 3-19 L
emplacement, 3-13
interférence de lignes, 4-9 Liaison ordinateur - instrument, 3-3
Fluorescence de rayons-X Lignes caractéristiques, 1-3
principe d'analyse, 4-1
types d'instruments, 4-7 Logiciel WinXRF
enclenchement de l’ordinateur, 5-3
Fonction
chambre primaire, 3-40
M
Franges de Moiré
goniomètre, 1-1 Manomètre régulation FPC
emplacement, 3-26
G Manomètre régulation hélium
emplacement, 3-27
Gaz
Argon-méthane, 5-8 Masque elliptique
Hélium, 5-8 emplacement, 3-13
Goniometer power Masque elliptique programmable, 3-12, 5-6
Carte électronique, 3-14 Description ~, 3-19
Goniomètre, 4-10 Matrice
Affichage de l'état ~, 3-9 détails, 7-17
changeur de collimateur, 3-15 Mode
changeur de cristal, 3-15 hélium avec obturateur, 3-20
Description du ~, 3-15 hélium avec obturateur, 3-23
emplacement, 3-12 hélium sans obturateur, 3-20, 3-24
fonction, 4-11 vide, 3-20, 3-22
Franges de Moiré, 1-1
Initialisation du ~, 5-7 Mode écologique
Système de détection ~, 3-15 Configuration du ~, 5-10
Système dispersif, 1-3 tube à rayons-X, 3-31
AA83487 Manuel utilisateur Série ADVANT'X III

Exit
Index
Moteur du changeur de cristal Pressostat pour tube-X

emplacement, 3-16 emplacement, 3-26
Moteur du système de détection Principe d’émission
emplacement, 3-16 rayons-X, 4-1
Multitron Principe d'analyse
détecteurs scellés, 4-19 fluorescence de rayons-X, 4-1
Principe de fonctionnement
O Spectromètre à fluorescence de rayons-X, 1-3
Prise pour l'ordinateur, 3-3
Obturateur hélium, 3-12
emplacement, 3-13 Profil d'énergie, 7-9
Graphique d'un ~, 7-12
Oil vapour filter
location, 3-11 Programme analytique, 7-13
Création du ~, 7-26
Opérations par lots
batches, 8-18 Propriétés d’un détecteur
résolution, 4-22
Option
stabilité, 4-22
filtre primaire, 3-19, 5-6
temps mort, 4-22
hélium, 5-6
masque elliptique programmable, 3-19, 5-6
Ordres de diffraction, 4-17
R
Rayons-X
P Principe d’émission ~, 4-1
Rayons-X primaires
Paramètres des lignes, 7-25
diffusion cohérente, 4-3
Passeur d'échantillon 12 positions diffusion incohérente, 4-3
Description du ~, 3-36
Refroidissement
Passeur d'échantillons de grande capacité tube à rayons-X, 3-32
Description du ~, 3-36
Régulation du gaz
Phase de pompage, 3-21 détecteur FPC, 3-25
hélium, 3-26
Pic de rétro-diffusion
du détecteur, 4-22 Régulation FPC
emplacement, 3-12
Plaque de laiton
emplacement, 3-28 Régulation hélium
emplacement, 3-12
Plateau
14 cassettes, 3-37 Régulation thermique ADVANT'X, 3-29
32 positions, 3-39
Régulation thermique ADVANT'XP (XP+), 3-27
44 positions, 3-38
48 positions, 3-38 Rendement de fluorescence, 4-2
54 positions, 3-38
Reproductibilité des analyses
Plateaux stabilité du cristal, 4-17
49 cassettes, 3-37
Réservoir d'eau déionisée
Pompe à eau emplacement, 3-10
emplacement, 3-10
Résistances de chauffage
Pompe à vide lemplacement, 3-28
emplacement, 3-10
Résolution
Position de chargement, 3-1 du détecteur, 4-22
Pouvoir de dispersion Rotation de l'échantillon
angle de Bragg, 4-16 Analyse, 3-40
cristaux, 4-16
IV Manuel utilisateur Série ADVANT'X AA83487

Exit
Index
S Tube à rayons-X
Affichage de l'état ~, 3-9
Alimentation du ~, 3-31
Scan, 7-5
Circuit de refroidissement ~, 3-32
Spectrometer power Circuit de sécurité ~, 3-32
Carte électronique, 3-14 Description du ~, 3-30
emplacement, 3-12
Spectromètre
Mode écologique du ~, 3-31
Chambre d'analyse du ~, 3-13
Positionnement du ~, 3-30
Chambre primaire du ~, 3-13
principe, 4-7
Cuve du ~, 3-13
types, 4-7
Spectromètre à dispersion en longueur d'onde types d'anodes, 4-9
WDX, 4-7
tube-X
Spectromètre à énergie dispersive Spectre du, 1-3
EDX, 4-7
Types de cassettes, 3-4
Spectromètre à fluorescence de rayons-X
Principe de fonctionnement, 1-3 V
Spectromètre ADVANT'X, 1-1
Vanne d'aération
Spectromètre simultané
emplacement, 3-26
principe, 4-11
Vannes de régulation d'hélium
Spectromètre WD-XRF
emplacement, 3-25
système dispersif, 4-10
Vannes de régulation FPC
Stabilité
emplacement, 3-25
du détecteur, 4-22
Vannes FPC
Superpositions de lignes, 8-1
emplacement, 3-26
Système de détection
Vannes hélium
goniomètre, 3-15
emplacement, 3-27
système dispersif
Ventilateurs
spectromètre WD-XRF, 4-10
emplacement, 3-28
Système dispersif
collimateur, 4-10 X
goniomètre, 1-3
XCM (X-ray Cassette Magazine)
T Carte électronique, 3-14
XDI (X-ray Detector Interface)
Température
Carte électronique, 3-14
de la cuve ADVANT'X
Valeur ~, 3-29 XGT (X-ray Gas and Thermal)
de la cuve ADVANT'XP (XP+) Carte électronique, 3-14
Valeur ~, 3-27
XPS (X-ray Power Supply)
des cristaux ADVANT'X
Carte électronique, 3-14
Valeur ~, 3-29
des cristaux ADVANT'XP (XP+) XQM (X-ray Quantometer Master )
Valeur ~, 3-27 Carte électronique, 3-14
Temps mort XSH (X-ray Sample Handling)
du détecteur, 4-22 Carte électronique, 3-14
Trappe à soufre
emplacement, 3-10
AA83487 Manuel utilisateur Série ADVANT'X V

Exit

3487 Util

Transféré par

Informations du document

Copyright

Formats disponibles

Partager ce document

Partager ou intégrer le document

Options de partage

Avez-vous trouvé ce document utile ?

Ce contenu est-il inapproprié ?

Droits d'auteur :

Formats disponibles

3487 Util

Transféré par

Droits d'auteur :

Formats disponibles

Exit

Merci pour votre opinion - cliquer ici

ARL ADVANT'X Séries

ARL ADVANT'X SÉRIES

Date December 2004

The information in this document is subject to change without

Die Angaben in diesem Dokument können ohne vorherige

Les informations contenues dans ce document sont sujettes

Ci riserviamo il diritto di modificare le informazioni contenute

Las informaciones contenidas en este documento pueden

REVISION CONTROL SHEET

Date Modification Description

TABLE DES MATIERES

Table des matières

1 INTRODUCTION ...................................................................................... 1-1

PRINCIPE DU SPECTROMETRE A FLUORESCENCE DE RAYONS-X ................1-3

2 SECURITE ............................................................................................... 2-1

SYSTEME ET CIRCUIT DE SECURITE ..................................................................2-2

PROTECTION TOTALE ...........................................................................................2-4

3 DESCRIPTION DE L'INSTRUMENT ....................................................... 3-1

AA83487 Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X I

Table des matières

Affichage de l'état du tube à rayons-X.................................................................. 3-9

EMPLACEMENTS DES CONSOMMABLES .......................................................... 3-10

A L'INTERIEUR D'UN INSTRUMENT DE LA SERIE ARL ADVANT'X ................... 3-12

CONDITIONS ANALYTIQUES ............................................................................... 3-15

ENVIRONNEMENT D'ANALYSE ........................................................................... 3-20

EXCITATION DE L'ECHANTILLON ....................................................................... 3-30

II Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X AA83487

Table des matières

Circuit de refroidissement d'eau (ARL ADVANT'XP et XP+)..........................3-33

MANIPULATION D'ECHANTILLON .......................................................................3-36

CHAMBRE PRIMAIRE ...........................................................................................3-40

4 PRINCIPE D'ANALYSE ........................................................................... 4-1

EMISSION DE RAYONS-X ......................................................................................4-1

NOMENCLATURE UTILISEE EN XRF ....................................................................4-6

AA83487 Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X III

Table des matières

Ordres de diffraction supérieurs.....................................................................4-17

5 PREPARATION DE L'INSTRUMENT...................................................... 5-1

CONFIGURATION DE L'INSTRUMENT ET INITIALISATION .................................5-4

SPECIFICATIONS DE L’INSTRUMENT ................................................................5-13

CONDITIONS DU LABORATOIRE ........................................................................5-14

IV Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X AA83487

Table des matières

Gaz (option) .......................................................................................................5-15

MAINTENANCE DE L'INSTRUMENT ....................................................................5-16

6 PREPARATION D'ECHANTILLON ......................................................... 6-1

PREPARATION D'ECHANTILLONS EN POUDRE..................................................6-4

PREPARATION D'ECHANTILLONS LIQUIDES ......................................................6-6

7 ASSISTANT ANALYTIQUE..................................................................... 7-1

DESCRIPTION DES FONCTIONS ..........................................................................7-3

8 ETALONNAGE DE L'INSTRUMENT....................................................... 8-1

AA83487 Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X V

Table des matières

CE QU'IL RESTE A FAIRE ......................................................................................8-3

9 ANALYSE DE ROUTINE ......................................................................... 9-1

MESURES DES INTENSITES .................................................................................9-6

VI Manuel utilisateur Série ARL ADVANT'X AA83487

Les spectromètres de la série ARL ADVANT'X

Il existe trois versions du spectromètre de la série ARL ADVANT'X:

Vue frontale de l’instrument équipé d'un passeur d'échantillons à

AA83487 Manuel d'utilisateur Série ARL ADVANT'X 1-1

Vue frontale de l’instrument équipé d'un passeur d'échantillons de