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Spectrométrie de Fluorescence X
Spectrométrie de Fluorescence X
Valérie V. Thirion-Merle
1. Introduction
La spectrométrie de fluorescence X est une technique d’analyse élémentaire globale
permettant d’identifier et de déterminer la plupart des éléments chimiques qui composent un
échantillon. Cette technique peut être utilisée pour des matériaux très variés : minéraux,
céramiques, ciments, métaux, huiles, eau, verres... sous forme solide ou liquide.
Elle permet l’analyse de tous les éléments chimiques du Béryllium (Be) à l’Uranium (U)
dans des gammes de concentration allant de quelques ppm à 100%, avec des résultats
précis et surtout reproductibles.
2. Principe
L'échantillon à analyser est placé sous un faisceau de rayons X. Sous l’effet de ces
rayons X, les atomes constituant l’échantillon passent de leur état fondamental à un état
excité. L’état excité est instable, les atomes tendent alors à revenir à l’état fondamental en
libérant de l’énergie, sous forme de photons X notamment. Chaque atome, ayant une
configuration électronique propre, va émettre des photons d’énergie et de longueur d’onde
propres. C’est le phénomène de fluorescence X qui est une émission secondaire de rayons
X, caractéristiques des atomes qui constituent l’échantillon. L’analyse de ce rayonnement X
secondaire permet à la fois de connaitre la nature des éléments chimiques présents dans un
échantillon ainsi que leur concentration massique.
Le faisceau diffracté est alors dirigé vers un système de détection placé tel que lorsque le
cristal varie d’un angle θ, le système de détection varie d’un angle 2θ. Il est toujours bien
placé pour recevoir les rayons diffractés par le cristal. Le système de détection, constitué d’un
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détecteur à flux gazeux et d’un compteur à scintillation montés souvent l’un derrière l’autre et
utilisables en tandem1, convertit le signal reçu en une impulsion électrique de magnitude
proportionnelle à l’énergie du photon.
Ainsi, en faisant varier l’angle θ, et en utilisant successivement plusieurs cristaux 2 (donc
avec des valeurs de d différentes), il est possible d’identifier tous les atomes constituants
l’échantillon (analyse qualitative) et la mesure de l’intensité des raies diffractées permettra de
déterminer la concentration massique de chaque élément chimique contenu dans
l'échantillon (analyse quantitative).
1 Le compteur à flux gazeux est plus spécialement adapté aux rayons X de faible énergie et le compteur à
scintillation aux rayons X de forte énergie.
2 Les cristaux analyseurs les plus courants sont les fluorures de lithium (LiF) plus spécialement dédiés aux
éléments semi-lourds et lourds, les PET (pentaerithritol) et les multicouches aux éléments légers.
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étant détectés en même temps. Pour un spectromètre WDS, l’acquisition est plus lente car
elle se fait élément par élément. On parle d’analyse séquentielle.
Le système WDS est lui bien plus adapté aux applications où une analyse quantitative
précise est nécessaire. Les spectromètres WDS sont plus performants pour les éléments
légers ; leur pouvoir de résolution ou résolution spectrale, c’est-à-dire leur capacité à séparer
des raies, est nettement supérieur – surtout pour des éléments dont les raies ont des
énergies caractéristiques très proches3 et enfin les limites de détection sont en général plus
faibles.
4. Conclusion
Bibliographie
Pour en savoir plus sur cette technique, on pourra consulter les ouvrages de référence
suivants :
J.-P. Eberhart, Méthodes physiques d'étude des minéraux et des matériaux solides, Paris, Doin, (1976).
J.-P. Eberhart, Analyse structurale et chimique des matériaux 2e éd., Dunod, (1997).
R. Jenkins, Fluorescence spectrometry 2nd ed., New York, Wiley-Interscience, (1999).
B. Beckhoff, B. Kanngießer, N. Langhoff, R. Wedell, H. Wolff, Handbook of Practical X-Ray
Fluorescence Analysis, Springer, (2006) (ISBN 3-540-28603-9, partiellement en ligne).
Modèle d’article 7
J.-L. Martin, A. George, Caractérisation expérimentale des matériaux II, Analyse par rayons X, électrons
et neutrons, Presses polytechniques et universitaires romandes, Lausanne, collection Traité des
matériaux, 367 p., (1998).
C. Whiston, X-Ray Methods, Analytical Chemistry by Open Learning, Ed. F Elisabeth Prichard,
Publisher: John Wiley & Sons, 426 p., (1987).