NSA de Lyon -CNDR

II Physique des interactions -Fluorescence des

rayons X
Le but vis ici est de donner les caractristiques thoriques ncessaires pour obtenir et
expliquer un spectre XRF avec des nergies diffrentes.
Tout d'abord, une tude bibliographique a t mene, afin d'obtenir les informations
gnrales sur la fluorescence X, la composition lmentaire d'un fruit, ainsi que les dif-
frents dispositifs existants ; dispositifs exprimentaux ou dispositifs commerciaux pour
la mesure X.
On a plac une section pour montrer les opportunits de l'utilisation XRF, en plaant
une vision long terme.
Puis, par un calcul thorique des paramtres comme le volume lmentaire avec conta-
mination par Pb, les probabilits d'attnuation et ionisation, la probabilit de fluo-
rescence une fois la couche K ionise ainsi que la diffusion Compton diffrentes ner-
gies ont t obtenus, afin de pouvoir analyser un spectre, le simuler (Monte-Carlo) et le
comparer avec une mesure exprimentale postrieurement.
Finalement, l'appel l'annexe , est un complment d'information.
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 37
NSA de Lyon -CNDR
II.1 Interaction des rayons X avec la matiere
L'interaction des rayons X avec la matire conduit la production de particules secon-
daires charges qui sont responsables des ionisations dans le milieu. C'est pourquoi on
classe les rayons X dans le domaine des rayonnements ionisants, mais ils sont en fait
indirectement ionisants. Les effets des rayons X dans le milieu travers proviennent
des ionisations provoques par les particules secondaires. Ce sont ces effets qui sont
utiliss pour la dtection, le comptage, la visualisation des rayonnements, et ce sont les
mmes particules secondaires qui engendrent les effets biologiques dans le tissus
vivants.
Lorsque l'on considre un faisceau de rayons X qui pntre dans un milieu, on constate
une disparition progressive du nombre de particules incidentes qui rsulte de l'interac-
tion d'un certain nombre d'entre elles avec la matire. Cette diminution est appele l'at-
tnuation et rsulte de plusieurs processus d'interaction. On distingue les interactions
du photon avec un atome du milieu (l'effet photolectrique et la diffusion Rayleigh) ou
avec un lectron dans l'atome (la diffusion Compton) ou encore, plus rarement, avec le
noyau d'un atome qui peut conduire la cration de paires lectron-positron. Au cours
d'une interaction, l'nergie du photon incident est compltement ou partiellement absor-
be et transfre un lectron sous forme d'nergie cintique. Celle-ci s'puise dans
le milieu en provoquant des ionisations. Si l'nergie incidente du photon n'est que par-
tiellement absorbe, le reste se retrouve sous la forme de photons secondaires ou dif-
fuss [EVA68].
La probabilit de ces processus concurrents indpendants (l'effet photolectrique, diffu-
sion Rayleigh, etc) peut tre exprime par la section efficace de collision par atome, par
lectron, ou par noyau dans l'absorbeur.
La collision totale par atome, une fois multiplie par le nombre d'atomes par centimtre
cube de l'absorbeur, est alors le coefficient d'attnuation Iinaire par centi-
mtre dans l'absorbeur. La fraction des photons incidents qui peuvent passer par une
paisseur x de l'absorbeur dont la densit est p sans avoir aucune interaction est
e
-x
ou e
-( / p) (p x)
, o est la densit du milieu et / est le coefficient d'attnua-
tion massique.
Les coefficients d'attnuation linaires, (Compton), (photolectrique), et (paires),
sont les sections efficaces atomiques multiplies par le nombre d'atomes par centi -
mtre cube de matriau, et leur dimension est le cm
-1
. Les coefficients d'attnuation
massique sont les coefficients linaires (cm
-1
) diviss par la densit (g/cm
3
), ainsi /,
/, /, dont la dimension est le cm
2
/g, ont l'avantage d'tre indpendants de l'tat phy-
sique de l'attnuateur. Chaque coefficient d'attnuation massique pour un lment est
la section atomique efficace correspondante multiplie par le nombre d'atomes par
gramme (le nombre d'Avogadro divis par le poids atomique). Les coefficients Compton
d'attnuation massique sont presque indpendants de Z parce que le nombre d'lect-
rons par gramme change peu parmi tous les lments, except l'hydrogne.
Le coefficient d'attnuation massique totale, est la somme de l'absorption Compton
(
a
/), de la diffusion Compton (
s
/), de l'attnuation photolectrique (/), et de l'att-
nuation par la production de paires (/) [EVA68].
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 38
NSA de Lyon -CNDR
j
p
=
c
a
p
+
c
s
p
+
t
p
+

p
=
c
p
+
t
p
+

p
En rsum, les rayons X (et rayons ) interagissent avec la matire de diffrentes fa-
ons. Les interactions sont en gnral le rsultat du dpt local d'nergie, et dans cer-
tains cas un rayon X peut exister aprs l'interaction initiale, sous forme d'un rayon X
diffus, de rayons X caractristiques de fluorescence ou encore d'annihilation lect-
ron-positron. Les types d'interactions sont l'effet photolectrique, la diffusion Rayleigh,
la diffusion Compton et la production de paires.
II.1.1 EIIet photoelectrique
Figure II.1 : Schma de l'effet photolectrique. (a) Reprsentation du photon incident d'nergie
E et de l'atome cible . (b) Dans l'interaction photolectrique, le photon est absorb par un
lectron interne (couche K, par exemple), et l'lectron est ject avec une nergie gale
l'nergie du photon moins l'nergie de liaison de l'lectron dans sa couche originale. (c) La
place sur la couche K, vacante par le photolectron est remplie par un lectron d'une autre
couche d'nergie plus faible, et la diffrence des nergies se retrouve sous la forme d'un
photon de fluorescence caractristique qui s'chappe de l'atome (c) ou qui provoque son tour
un nouvel effet photolectrique sur une couche plus extrme provoquant l'arrachement d'un
lectron appel lectron Auger (d).[JEN95].
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 39
NSA de Lyon -CNDR
L'effet photolectrique peut avoir lieu avec toutes les couches internes de l'atome (K, L,
...) condition que l'nergie E du photon incident soit suprieur 4
i
, l'nergie de liai-
son de l'lectron sur sa couche. Le photolectron est mis avec une nergie E - 4
i
.
Dans la figure .3, on prend l'exemple d'un lectron de la couche K. La place laisse
libre dans la couche K reprsente une situation instable. Par consquent, un lectron
d'une couche avec une nergie de liaison plus faible est transfr pour remplir la place
libre. Le retour l'quilibre de l'atome s'accompagne de l'mission d'un photon de fluo-
rescence caractristique ou bien d'un lectron Auger.
La probabilit de production de l'mission de fluorescence est donne par ce que l'on
appelle usuellement le rendement de fluorescence . Pour des lments de numro
atomiques faibles, l'mission d'un lectron Auger est plus probable, alors que pour
lments de numro atomique important, l'mission d'un photon de fluorescence carac-
tristique devient plus probable [JEN95].
L'mission des photons X de fluorescence est gnralement considre comme iso-
trope [BAS73] et [LEW72].
II.1.2 L'EIIet Compton
Dans ce cas, le photon interagit avec un lectron qui est suppos tre peu li l'atome,
auquel il ne transfre qu'une partie de son nergie.
Figure II.2 : Effet Compton, l'lectron externe est ject et le photon est dvi avec perte
d'nergie.
L'interaction doit satisfaire la loi de conservation de l'nergie et de la quantit de mou-
vement, ce qui impose des relations entre les nergies respectives de l'lectron de re-
cul et du photon diffus, et les angles de diffusion. l apparat que l'nergie du photon
diffus ne peut pas tre nulle et varie depuis un minimum lorsqu'il est diffus vers l'ar-
rire (rtrodiffusion) jusqu' l'nergie incidente (choc tangentiel). Un exemple est
montr dans la figure .2.
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 40
Photon incident
(nergie = hv)
Electron
Compton (e
-
)
Photon dif f us
(nergie = hv')

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L'expression qui relie le transfert d'nergie et l'angle de diffusion est obtenu par l'cri-
ture des quations simultanes pour la conservation de l'nergie et de la quantit de
mouvement. En utilisant les symboles dfinis dans la figure .2 on obtient:
hv =
hv
1+
hv
m
0
c
2
(1 -cos 0)
[Eq. .1]
o m
0
c
2
est l'nergie de masse de l'lectron au repos (0,511 MeV). Pour de petits
angles de diffusion 0, trs peu d'nergie est transfre. Une partie de l'nergie originale
est toujours conserve par le photon incident, mme l'extrme valeur de 0 = .
La probabilit de la diffusion Compton par atome absorbeur dpend du nombre d'lect-
rons disponibles en tant que cibles diffusantes et augmente donc linairement avec Z.
La distribution angulaire de la diffusion Compton peut tre prdite par la formule de
Klein-Nishina qui donne la section efficace diffrentielle de collision do/dC (pour un
faisceau incident non polaris).
d c
d D
= Zr
0
2
(
1
1+o(1-cos 0)
)
2
(
1+cos
2
0
2
)
(
1+
o
2
(1-cos0)
2
(1+cos
2
0)[1+o(1-cos0)]
)
[Eq. .2]
o d = hv/m
0
c
2
et r
0
est le rayon de l'lectron. La distribution est illustr graphiquement
dans la figure .3 [KNO99].
Figure II.3 : Reprsentation de la distribution angulaire de diffusion Compton, pour diffrentes
nergies incidentes. Les photons proviennent de la gauche [KNO99].
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 41
NSA de Lyon -CNDR
II.1.3 Production de paires (materialisation)
La matrialisation des photons en un couple lectron-positron est observe lorsque leur
nergie est suprieure 1,02 MeV i.e. quand l'nergie incidente du photon X est sup-
rieure au double de l'nergie de masse d'un lectron au repos (hv = 2m
0
c
2
= 1,02 MeV).
C'est grce au champ lectrique intense au voisinage d'un noyau qu'un photon peut
tre totalement absorb et un couple lectron-positron est mis. L'excs d'nergie (>
1,02 MeV) est transmis au couple lectron-positron sous forme d'nergie cintique. Le
positron est gnralement annihil la suite de collisions dans le milieu, donnant lieu
deux photons d'annihilation mis 180 l'un de l'autre [EVA68].
II.1.4 Domaines d'apparition des diIIerents eIIets
Les effets photolectrique, Compton et production de paires sont les processus les plus
probables dans la gamme d'nergie de 0,01 10 MeV. La figure .4 montre que l'effet
dominant dpend la fois de l'nergie du rayonnement (MeV) mais aussi du numro
atomique (Z) de l'objet irradi.
Figure II.4 : Zones de prdominance des interactions dans le plan nergie/numro atomique
[EVA68].
Pour des matriaux de Z faible, l'effet Compton est l'effet prdominant dans un large
domaine d'nergie de photons; pour des valeurs de Z grands ou modrs, l'interaction
photolectrique est dominante plus petite nergie et les interactions de productions
de paires sont dominantes grande nergie [EVA68].
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 42
NSA de Lyon -CNDR
II.2 La Iluorescence
La fluorescence est le phnomne physique obtenu la suite de l'effet photolectrique
(les atomes deviennent metteurs de rayonnement aprs avoir absorb eux-mmes un
photon incident).
D'aprs la figure .5, lorsqu'on irradie une substance avec un faisceau de rayons X de
frquence dtermine, elle attnue le faisceau (par diffrentes interactions) et se com-
porte son tour comme source de rayons X. L'analyse spectrale de ce nouveau rayon-
nement permet d'y distinguer:
1) Le rayonnement diffus.
2) Le rayonnement de fluorescence proprement dit, formant un spectre de raies ca-
ractristique de la substance [CAG75].
Pour l'obtention de ce spectre de fluorescence on utilise diffrents appareillages, qui
varient selon la nature de la dtection. On les abordera de manire particulire dans la
section .2.3.
Figure II.5 : Obtention du spectre de fluorescence, lorsqu'on irradie un chantillon avec un
faisceau X, l'chantillon attnue le faisceau et se comporte son tour comme source de rayons
X. Dans l'analyse spectrale on distingue le rayonnement diffus (bleu) et de fluorescence
(rouge).
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 43
0
100
200
300
400
500
Energie (keV)
C
o
m
p
t
a
g
e
Rayonnement diIIuse
Rayonnement de Iluorescence
Faisceau de
rayons X
Echantillon
Detecteur
NSA de Lyon -CNDR
II.2.1 Sources, detecteurs et dispositiI existants utilises pour
l'etude de la Iluorescence.
Dans les appareillages exprimentaux pour la dtection des lments de haut nombre
atomique (Z), on observe par exemple, l'utilisation d'un tube rayons X avec anode de
tungstne (W) (160 kV et une puissance de 1,6 kW) [HAR99] et dans les appareillages
commerciaux
12
(PANalytical -Epsilon 5- comme exemple) l'utilisation d'un tube rayons
X de 600 W avec une anode de Gd, oprant dans une gamme de 25-100 kV. Dans les
deux appareillages on utilise un dtecteur de germanium (Ge) de haute rsolution re-
froidi par azote liquide.
Pour des appareillages portatifs les demandes gnrales pour les tubes rayons X em-
ploys sont une basse tension (de 5 40 kV par exemple), refroidi par air ou de
manire interne, une petite taille et une bonne collimation. Cesareo et al. utilisent aussi
des sources radioactives surtout pour l'excitation de la couche K de mtaux lourds, et
du ct dtecteurs, on trouve des petits dtecteurs semi-conducteurs refroidis thermo-
lectriquement comme Hg
2
, Si-PN, Si-drift, CdTe et CdZnTe [CES04].
Tableau II.1 : Exemples des appareillages X qui constituent un systme simple XRF portable et
leur prix (www.amptek.com juin 2007).
Appareillage / caractristiques Prix $USD
Dtecteur XR-100CR. Diffrentes rsolutions en nergies, diffrentes
paisseurs de la fentre de Bryllium (Be) et diffrents temps de
rsolution, avec ou sans collimateur, refroidissement
thermolectrique. 125 g et dimensions de 9,5 x 4,4 x 2,9 cm.
Entre $ 2950 et
$ 3900
Alimentation et amplificateur d'nergie (temps de mise en forme 6, 12
ou 20 s).
$ 2150
Tube rayons X (Eclipse ), anode en transmission, Ag (30 kV/100
A max.), fentre de Be ou W. 300g et dimensions de 16,8 x 3,8 cm.
$ 5950
Analyseur multicanal. $ 3900
Software pour l'analyse quantitative XRF. $ 2500
Dans un certain nombre d'installations de microfluorescence par rayonnement synchro-
tron (-SXRF), sont employs des systmes optiques capillaires en tant que dispositifs
focalisants. Ces dispositifs pseudo-focalisants fournissent une bonne rsolution latrale
et peuvent tre employs pour le rayonnement X polychromatique et monochromatique,
mais souffrent des distances courtes de fonctionnement (typiquement < 100 m) entre
l'extrmit du capillaire et l'chantillon. Une autre conception rpandue est base sur
les miroirs focalisants de Kirk-Patrick-Baez. De tels systmes sont achromatiques (la
position du point focal est indpendante de l'nergie incidente) et fournissent une
longue distance de fonctionnement.
12
http://www.panalytical.com/index.cfm?pid=751 (consult le 6 juillet 2007)
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 44
NSA de Lyon -CNDR
Le dispositif exprimental de mesure -SXRF utilise la plupart du temps un dtecteur
semi-conducteur, Si(Li) conventionnel ou un dtecteur Ge intrinsque ou d'autres types
tels que Hg2, GaAs, Si-drift, etc. D'autre part, les grands taux de comptage doivent
tre pris en considration en juste proportion, e.g. en employant le traitement num-
rique d'impulsion. Pour prendre le plein bnfice de la polarisation et, par consquent,
pour augmenter les rapports signal-bruit, les dtecteurs de rayons X sont placs dans
le plan de l'anneau de stockage, typiquement un angle de 90 avec la direction du
rayon incident [ADA04].
Tableau II.2 : Entreprises spcialises dans le dveloppement de technologie XRF
Entreprise Application Adresse lectronique
(consult le 1/12/06)
OXFORD (USA)
AMPTEK (USA)
Dtecteurs, tube rayons X, analyseurs, logiciels pour
l'analyse quantitative entre autres.
www.amptek.com
www.oxfordXTG.com
THERMO (USA) Spectromtrie / difractomtrie de rayons X, microscopie,
diagnostics cliniques et scientifiques, logiciels et
appareils portables NTON (produit exemple:
spectromtre WRF srie ARL ADVANT'X, 450 kg et
dimensions de 94x83x109 cm)
www.thermo.com
ORTEC (USA) Dtecteurs, accessoires pour spectroscopie entre autres. www.ortec-online.com
SPECTRO
(Allemagne)
Spectromtres, analyseurs portables, etc. (produit
exemple: Analyseur manuel SPECTRO ATLAS 1,72 kg,
ergonomique; spectromtre SPECTRO PHOENX
EDXRF, 18 kg et dimensions de 42x57x22,8 cm).
www.spectro-ai.com
BRUKER
(Allemagne)
Spectromtres NMR, EPR, MR, FT-R, Raman,
accessoires, systmes XRF et autres (produit exemple:
dtecteur XFlash 4010 (SDD), 2,5 kg.)
www.bruker.com
MT Analytical
(USA)
Spectromtrie de rayons X et services entre autres. www.imt-analytical.com
Philips analytical
(Pays bas)
Diffraction de rayons X de fluorescence, tubes rayons
X.
www.panalytical.com
RGAKU
(Japon)
Cristallographie, fluorescence, tubes rayons X. (e.g.
spectromtre WDXRF ZSXmin, 120 kg et dimensions de
57x550x25)
www.rigaku.com
Gnralement, dans la spectroscopie par fluorescence de rayons X on distingue des
mthodologies diffrentes selon les angles d'incidence, de rflexion et selon le mode
de dtection entre autres:
Fluorescence de rayons X avec mesure d'un spectre de longueur d'onde
(WDXRF).
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 45
NSA de Lyon -CNDR
Fluorescence de rayons X avec mesure d'un spectre d'nergie (EDXRF)
Fluorescence de rayons X avec rayonnement synchrotron (Synchrotron Radia-
tion X-ray Fluorescence -SXRF).
Fluorescence de rayons X en rflexion totale (TRXRF).
Micro fluorescence de rayons X (-XRF) [HEL02].
Le prix moyen d'un nouvel instrument de WDXRF en 1998 tait d'environ $250000
USD, $100000 USD pour EDXRF, $200000 USD pour le TRXRF [HEL02]. Du ct des
appareillages qui constituent les spectromtres on peut voir comme exemple dans le ta-
bleau .1 le prix d'un systme XRF la date de novembre 2006.
D'aprs un rapport de l'Agence de Protection de l'Environnement des Etats-Unis, le
cot d'un analyseur de spectre NTON XL (portable) tait de $11990 USD en 1998, ou
lou pour $2200 USD par mois [EPA98]. Actuellement, avec un analyseur de spectre
NTON rcent (XLt898He) avec une atmosphre d'He, on peut analyser des lments
de faible Z comme l'Al et le Si, son cot est de 40000C.
Le tableau .2 montre quelques entreprises qui ont russi introduire la technologie
XRF, i.e. Spectromtres ou -spectromtres de fluorescence, dtecteurs, tubes
rayons X etc., certaines entreprises proposent aussi des petits instruments trs utiles
pour le travail in situ, mais en rgle gnrale elles proposent la vente des instruments
importants, et par consquent pour une mesure, les chantillons doivent tre transpor-
ts l'endroit o se trouve l'instrument. Cependant, on peut raliser des analyses de
multilments de faon simultane, avec des limites de dtection dans les gammes de
ppb et ppm avec contraintes pour l'chantillon. Chaque instrument XRF est quip avec
des logiciels pour l'analyse et la calibration de l'instrument. On prsente un bref rsum
de l'utilisation de chaque mthode.
a) Fluorescence de rayons X avec mesure d'un spectre de
longueur d'onde (WDXRF)
Le cristal monochromateur est le coeur du spectromtre avec mesure d'un spectre de
longueur d'onde (WDXRF). La dispersion de longueur d'onde du rayonnement lectro-
magntique dans le domaine de rayons X est effectu par diffraction sur des cristaux.
Figure II.6 : Appareillage pour WDXRF
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 46
Tube a rayons X
Echantillon
Collimateurs
Cristal
monochromateur
Detecteur
NSA de Lyon -CNDR
Le faisceau remit par la surface de l'chantillon est mesur successivement chaque
longueur d'onde en faisant tourner un cristal connu (les paramtres du cristal imposent
un lien entre l'angle de diffraction et la longueur d'onde). l faut une slection de
cristaux pour couvrir la gamme de longueurs d'onde d'intrt [HEL02] L'analyse des
longueurs d'onde mises par l'chantillon permet de dduire les lments prsents
partir des raies caractristiques observes.
Pour l'analys des lments principaux comme le Na, Mg, P, S, Cl, K, Ca, Fe et Zn,
dans les produits laitiers, Perring, L. et Andrey, D. (2004), ont utilis la mthode
WDXRF [THE06]. Celui-ci est quip avec un tube rayons X avec anode de Rhodium
(Rh) (50 kV et 2mA, 50 W maximum) et systme vide (10 Pa), les chantillons sont
en forme de pastilles obtenues sous presse (2 t). Ce travail compare la mthode
WDXRF avec la mthode EDXRF en trouvant ses limites de quantification en ppm [g
g
-1
] (voir Tableau .3) [PER04].
Tableau II.3 : Limites de quantification (ppm) dans les matrices des produits laitiers.
Comparaison de WDXRF avec EDXRF (nd = non dtermin) [PER04].
Methode Na Mg P S Cl K Ca Fe Zn
WDXRF nd nd 130 44 241 122 95 15 8
EDXRF - - 222 105 300 1135 656 28 9
En gnral, les publications montrent des paramtres d'acquisition pour chaque
lment analyser, et il est frquent, de trouver des analyses comparatives entre tech-
niques non destructives comme WDXRF, EDXRF avec une technique usuelle (destruc-
tive) comme CP-AES (nductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry), en
valuant la gamme de concentrations, les limites de dtection et la comptitivit. Les
chantillons utiliss sont par exemple des matriaux de rfrence certifi d'acier
[ZW04], pastilles de plantes [MAR05] [QUE05], poussires atmosphriques en ma-
trices de cellulose [VAN03], ou des matriaux dans des matrices de polycarbonate
[RE00b], entre autres.
b) Fluorescence de rayons X avec mesure d'un spectre d'energie
(EDXRF)
Dans un spectromtre EDXRF, le signal dtect est proportionnel l'nergie du photon.
L'optique est plus simple que pour les spectromtres WDXRF, puisqu'il n'utilise pas de
cristaux, le photon de fluorescence de l'chantillon frappe le dtecteur directement (voir
figure .7a). Les lments et leurs concentrations sont identifis en comptant les si-
gnaux diffrents intervalles d'nergie. Gnralement un analyseur multicanal est utili-
s pour visualiser et fournir les donnes; chaque canal prend en compte simultanment
le nombre de photons avec une certaine nergie [ELL02].
Dans la plupart des publications, le dnominateur commun est le type de dtecteur
Si(Li). Des filtres sont parfois utiliss devant le tube ou devant le dtecteur, bien que
gnralement les filtres sont employs face au faisceau primaire pour liminer des
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 47
NSA de Lyon -CNDR
photons basse nergie. Henrich et al. reportent des conditions de fonctionnement de
60 kV et 60 mA pour un tube rayons X avec anode de Ag [HEN00].
D'aprs Salvador et al. dans la dtection de la concentration d'lments dans cinq
types de th commercial, on a employ un tube rayons X avec anode de molybdne
(Mo) (25 kV 10 mA) et filtre de zirconium (Zr), le dtecteur Si(Li) est muni d'une fe-
ntre de bryllium (Be) de 8 m d'paisseur et 10,1 mm de diamtre, associ un ana-
lyseur multicanal et collimateur mtallique avec une filtre de Ag face au dtecteur de
6,35 mm de diamtre.
Les chantillons sont obtenus par extraction et filtration sur une membrane de cellu-
lose. Les membranes ont t places dans le systme de fluorescence, et l'acquisition
des rayons X de fluorescence caractristiques est effectu sur une dure de 300 s.
Les auteurs ont utilis la mme procdure pour prparer les chantillons de rfrence
contenant des mtaux comme Fe, Co, Ni, Cu, et Zn. Le spectre obtenu a t interprt
avec l'aide du logiciel AXL. Des plaques tmoins avec une densit superficielle
connue, ont permis d'obtenir la sensibilit exprimentale en rapport au nombre ato-
mique (Z). L'estimation de la concentration moyenne (ppm) est indique dans le tableau
.4 [SAL02].
Tableau II.4 : lments dtects et concentrations moyennes (ppm) obtenues sur deux
chantillons de th analyss [SAL02].
Elment Echantillons
1 2
Ti 0,33 9,95
Cr 0,08 1,01
Mn 0,44 Non dtect
Fe 0,21 106,55
Co 0,05 0,62
Ni 0,06 3,16
Cu 0,22 2,71
Zn 0,01 4,47
c) Fluorescence de rayons X en reIlexion totale
Le phnomne de la rflexion totale pour les rayons X avait t dcouvert en 1923 par
Compton. l a constat que la rflectivit d'une cible plate augmente fortement au-des-
sous d'un angle critique autour de 0,1. En 1971, Yoneda et Horiuchi ont utilis la pre-
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 48
NSA de Lyon -CNDR
mire fois cet effet pour l'XRF et ont propos l'analyse d'une petite quantit de matriau
dpos sous la forme d'une couche sur un support de rflexion totale. Cette technique
a t dveloppe et a t plus tard appele la fluorescence de rayons X en rflexion to-
tale (TXRF).
Comme il est illustr dans la figure .7, TXRF est une variante de XRF dispersive en
nergie (EDXRF), mais avec une diffrence significative. En opposition avec XRF, o le
faisceau primaire heurte l'chantillon sous un angle autour de 40, TXRF utilise un
angle infrieur 0,1.
En raison de cette incidence rasante, le faisceau primaire est rflchi totalement.
Figure II.7 : Arrangement instrumental pour (a) XRF conventionnelle et (b) TXRF. La
comparaison montre une diffrence dans la gomtrie des units d'excitation et de dtection.
Bohlen et al., partir d'un processus d'extraction de mtaux lourds par aqua regia, i.e.
un mlange d'acides (HNO
3
et HCl), o la solution finale a t mlange avec une solu-
tion standard de Se, ont dtermin 16 lments pour classer le sol, dans ce cas, pour
les relier avec des donnes archologiques. En ce qui concerne les rsultats, ils pu-
blient des limites de dtection de l'ordre de 10 ppm pour les lments comme Cu, Rb,
Sr, Zn, Ag, Sn et Pb. [VBO03].
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 49
Tube a
rayons X
Detecteur dispersiI
en energie
Faiseau
primaire
Rayonnement
de Iluorescence
Echantillon
a
Tube a rayons X
Detecteur dispersiI
en energie
Rayonnement de
Iluorescence
Faiseau totalement reIlechi
Echantillon sur une
plaque optique
b
NSA de Lyon -CNDR
Kubala-kukis et al., ont analys des chantillons biomdicaux, minraliss avec HNO
3
,
en ajoutant finalement un standard interne (yttrium) (5 L de la solution ont t placs
sur une plaque de quartz et schs sous une lampe infrarouge (R) pour la mesure fi-
nale). Les auteurs obtiennent des valeurs limites pour Cr de 10 ppb, les valeurs limites
sont systmatiquement plus grandes pour les lments lgers e.g. 1 ppm pour P.
[KUB04].
Marquez et al. et Mazo et al., ont employ une procdure dfinie et habituelle pour la
collecte d'chantillons d'eau afin d'viter la pollution par des mtaux lourds externes.
Marquez et al. ont finalement ajout une solution standard de Ga (avec une concentra-
tion de 10 ppm) un mL d'eau, et aprs homognisation, ils ont pris 10 L qu'ils ont
plac sur une plaque de quartz en le schant sous vide pour la mesure postrieure,
Mazo et al. utilisent une solution standard de Se et ils ont pris 5 L en le schant sous
vide. Marquez et al. ont publi des valeurs pour As, Cd et Pb infrieures 6 / 4 et 5
ppm respectivement; et Mazo et al. reportent des limites de dtection de 0,07 / 0,11 /
0,10 / 0,08 / 0,06 et 0,12 ppm pour Fe, Ni, Cu, Zn, As et Pb respectivement [MAR03]
[MAZ97].
Golob, T. et al. ont analys du miel, ils ont ajout 1 mL de Ga comme standard interne
une concentration de 100 ppm. La solution a t homognise et 10 L de la solu-
tion a t transfre une plaque de quartz pour tre sche sous une lampe R pour
la mesure finale [GOL05]. Toutefois Golob et al. remarquent que la limite de dtection
dpend de chaque chantillon et de chaque lment. Dans le cas de l'analyse du miel,
la limite de dtection dpend de la quantit de l'lment analyser et surtout de la
quantit des sucres prsents dans l'chantillon.
d) MicroIluorescence de rayons X (-XRF)
Un instrument -XRF appropri pour des analyses locales exige un faisceau de rayons
X intense dans un diamtre de 50-200 m, de sorte que des chantillons o les dtails
relativement petits du infrieurs au millimtre sur des objets plus grands puissent tre
analyss (matriaux lectroniques, semiconducteurs, tissus, etc.).
Le dveloppement d'un spectromtre portatif -XRF est un outil utile pour des investi-
gations sur les objets d'art dans les muses ou les galeries. l peut tre obtenu en utili -
sant le systme optique capillaire [BC02]. L'application de cette mthode n'est pas ex-
clusive des appareillages portatifs.
Yoshiro H. et al. ont publi au sujet d'un microscope analytique commercial rayons X
utilisant les caractristiques du XGT (tube guide de rayons X) avec profil parabolode
(Figure .9). ls utilisent un petit tube rayons X de 50 kV compact, avec anode de rho-
dium (Rh), dans les deux conditions a) 5 A, 40s et b) 20 A, 200 s.
Le XGT est beaucoup plus appropri pour l'analyse de la rgion basse nergie
puisque le rapport de transmission dans cette rgion est plus haut que celui dans la r-
gion de haute nergie.
Deux XGT, un de 10 m et l'autre de 100 m de diamtre, ont t soigneusement ali-
gns dans un dispositif de support. Le dispositif de support a t install dans une pe-
tite chambre vide (fentre mince), pour viter l'absorption des rayons X par l'air. La
chambre vide permet l'analyse basse nergie. Le systme vide produit une
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 50
NSA de Lyon -CNDR
amlioration par un facteur de 8,3 dans la raie K de Si. Un diagramme schmatique
d'une partie du microscope analytique est montre dans la figure .8.
Dans des processus industriels, la -XRF peut tre un outil puissant pour un contrle
de la qualit. Par exemple, des inclusions en matriaux doivent souvent tre identifies,
afin de localiser des sources de contamination pendant le procd de production. Dans
la cramique, la puret d'un matriau est souvent essentielle pour sa fonctionnalit. Par
exemple, des inclusions dans la cramique pizolectrique peuvent dgrader les pro-
prits lectriques; d'o l'intrt des mesures -XRF [BC02].
Figure II.8 : Diagramme schmatique du microscope analytique rayons X [YOS97].
Les travaux de Guido Vittiglio et al. (Spectro Analytical nstruments, Kleve, Germany)
travers un instrument portable -XRF concernent l'analyse de grandes peintures (re-
tables) dans un muse. L'optique polycapillaire est associe un tube rayons X por-
table pour crer un petit point focal. De cette manire les secteurs de divers pigments
peuvent tre distingus de la peinture originale en prenant en compte les lments pr-
sents dans les pigments. Cette mthode est aussi adquate pour dtecter les types de
pigments originaux dans les secteurs restaurs de mme couleur, mais de composition
diffrente, en prenant en considration que la composition lmentaire de pigments
tend changer selon les poques [BL03].
D'autre part Janssens et al. abordent les diverses possibilits d'application de fluo-
rescence microscopique de rayons X et mthodes associes pour la caractrisation et
l'analyse de provenance des objets de valeur du patrimoine culturel (e.g. mail en por-
celaine ancienne). ls incluent l'analyse de traces dans le verre historique, l'analyse des
pices de monnaie et les structures corrodes en bronze et argent et l'tude des encres
sur les documents historiques [JAN00].
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 51
Faiseceau de rayons X
Rayons X secondaires
Hauteur 1 mm
Vide
~ 10
-3
Pa
Film en rsine
xy
Echant illon
Microscope optique
Detecteur HP-Si
Detecteur pour rayons X
transmis
NSA de Lyon -CNDR
e) Rayonnement synchrotron X
De manire conceptuelle, l'instrumentation pour la micro-analyse de rayons X est extr-
mement simple. Elle se compose d'un ensemble mcanique pour l'chantillon avec des
moteurs de prcision de -progression commands par ordinateur pour X,Y, Z et (en
option) mouvement de rotation ; d'un dtecteur semiconducteur pour la mesure du
rayonnement de fluorescence ; diffrents outils de visualisation pour l'observation et le
positionnement de l'chantillon et, d'une gamme d'outils de diagnostic et de commande.
On peut citer par exemple, des tudes effectues pour dterminer la spciation du
plomb dans des sols pollus en utilisant la technique EXAFS (Extended X-Ray Absorp-
tion Fine Structure), (le Pb possde des proprits lectroniques et structurales spci-
fiques qui le rendent difficile tudier par des techniques analytiques) [MAN96], l'va-
luation des tats de valence des lments travers des paramtres structuraux pour le
Zn phosphat dihydrat et des rfrences de phytate en Phaseolus vulgaris [SAR01],
ou la dtection de concentrations de Fe, Cu et Zn dans des tissus mdicaux travers
SXRF [GER02].
Dans cette dernire tude, les auteurs ont cherch l'existence d'une corrlation entre
les niveaux du Fe, Cu et Zn et sa prsence dans le cancer du sein. Le systme a
permis d'atteindre des limites de dtection infrieures 1 ppm avec un temps de mise
en forme de 600 s (ils reportent 1800 s pour une dtection avec des tubes rayons X).
Aprs une analyse statistique, ils ont trouv la comparaison des valeurs moyenns
suivantes (tissus sains / tissus tumoraux): 6,06 / 16,4; 0,24 / 0,86 et 1,69 / 7,38 ppm
pour Fe, Cu et Zn respectivement.
I) Appareillages portatiIs d'analyse par Iluorescence de rayons X
Les caractristiques qui rendent l'EDXRF spcialement adquate pour l'analyse in situ
et on line sont rsumes ci-aprs :
(1) Les intensits de l'nergie de rayons X de fluorescence d'lments prsents
dans l'chantillon sont proportionnelles leurs concentrations.
(2) L'chantillon peut tre dans tous les tats (solide, liquide ou gazeux) et
(3) l n'est pas altr par l'analyse, et celui-ci peut tre utilis plusieurs fois.
Des exemples typiques utilisant un systme d'analyse portable EDXRF sont les
suivants:
Archomtrie (mesures de peintures, sur objets d'art, alliages dans des glises,
muses, l'air libre, etc.) [BC02] [SZO04] [ROM06]
Analyse de peintures base de plomb. [NT06] [EPA98]
nspections gologiques et de l'environnement. [FOR99]
D'autre part les quipements portables EDXRF peuvent employer des sources radioac-
tives ou des tubes rayons X, gnralement avec fentre de Be.
Dans quelques applications, il est ncessaire d'irradier des surfaces trs petites pour
l'analyse EDXRF. La voie simple pour produire un -faisceau de rayons X est l'utilisa-
tion d'un collimateur pinhole entre la source de rayons X et l'chantillon.
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 52
NSA de Lyon -CNDR
Un des dveloppements communs dans la production de technologie X est indubitable-
ment l'optique (laquelle est robuste comme en WDXRF) et la production des capillaires
pour focaliser le faisceau de rayons X comme par exemple en -XRF.
On observe actuellement de plus en plus de dveloppements dans la production de mi-
cro-faisceau, ainsi que dans les techniques de refroidissement thermolectrique des
dtecteurs.
RESUME
Le tableau .5 rsume quelques caractristiques des dispositifs existants XRF.
A nos fins la mthode EDXRF prsente meilleures avantages par rapport aux autres,
permettant l'analyse des chantillons solides et / ou liquides, mais aussi, pour la possi-
bilit d'amlioration du faisceau a travers de l'optique.
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 53
NSA de Lyon -CNDR
Tableau II.5 : Caractristiques gnrales des mthodes XRF.
Mthode Gomtrie Faisceau/
optique
Type
d'chantillon
Avantages ou
inconvnients
WDXRF Tube X _ filtre _ chantillon _
cristal _ dtecteur
Faisceau quasi-
monochromatique
, systme vide.
Optique robuste.
Principalement
des solides.
Limites de
dtection
infrieures
EDXRF pour
lments de Z>26
EDXRF Tube X _ chantillon _
dtecteur:
1) Faisceau primaire frappe
l'chantillon sous un angle
autour de 40.
2) Faisceau primaire frappe
une cible secondaire qui
produit un flux de rayons X
qui frappe l'chantillon.
Peut tre diverse,
grce la
possibilit de
slection de
l'anode, utilisation
des filtres
primaires et des
cibles
secondaires.
Principalement
des solides.
Dtection bande
large avec l'aide
d'un dtecteur
Si(Li) ou Ge et
analyseur
multicanal.
TXRF Tube X _ chantillon _
dtecteur.
Le faisceau primaire heurte
l'chantillon sous un angle
infrieur 0,1.
Quasi-
monochromatique
. Optique simple.
Liquides
vapors sur une
plaque optique.
Analyses de -
traces. Dtections
jusqu' 10
-7
et
10
-12
g. Outil pour
l'industrie de
semiconducteurs.
-XRF Tube X _ capillaire optique _
chantillon _ dtecteur
Manipulation du
faisceau en
utilisant un
systme optique
capillaire.
Petits secteurs
des objets plus
grands.
Analyses d'objets
de nature
artistique,
historique ou
archologique
entre autres.
SRX Faisceau synchrotron _
chantillon _ dtecteur
Monochromatique
avec optique
diverse en rapport
aux besoins.
Solide, liquide ou
gazeux.
Atteint diverses
techniques
(EXAFS, XANES,
XRF, -XRF etc.).
nstrumentation
coteuse.
Portatif Tube X _ collimation/optique
_ chantillon _ dtecteur
Quasi-
monochromatique
.
Optique simple.
Principalement
des solides.
Pour l'analyse
d'lments traces,
il faut des sources
radioactives.
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 54
NSA de Lyon -CNDR
II.3 Opportunites de l'utilisation de la XRF pour les Iruits
et legumes
II.3.1 Calcul preliminaire theorique sur le choix de la raie.
D'aprs les donnes du USDA National Nutrient Database for Standard Reference
Release 16 (2003) on a obtenu la composition de l'ananas (voir annexe C), et par
l'intermdiaire du CRAD on a eu les donns physiques moyennes des ananas var. Vic-
toria (poids de 375 g, volume de 650 cm
3
et une densit approximative de 0,65 g/cm
3
).
En utilisant les outils de la page lectronique du National nstitute of Standard and
Technology -NST- Physical reference Data (Xcom Photon Cross Sections Database)
on a introduit ces donnes en fabricant le tableau .6 qui montre les interactions par-
tielles pour ce fruit particulier. On observe que la diffusion Compton reste environ la
mme quelle que soit l'nergie, tandis que l'effet photolectrique est prpondrant
base nergie. La fluorescence sera donc plus importante basse nergie.
Tableau II.6 : Coefficients d'attnuation massique partielles (/ et /) d'attnuation
massique totale (/) et coefficient d'attnuation linaire () pour l'ananas.
Energie
(keV).
Diffusion
Incohrente ou
Compton (cm
2
/g)
[ / ]
Absorption
photolectrique
(cm
2
/g) [ / ]
Attnuation totale
(cm
2
/g)
[ / ] tot
Attnuation
linaire
[]
20 0.176 0.543 0.807 0,5245
60 0.176 0.015 0.205 0,1332
80 0.169 0.00581 0.183 0,1189
100 0.162 0.00278 0.170 0,1105
D'aprs la loi d'attnuation de Beer-Lambert (/
0
=e
-x
), valable l'nergie E, on obtient
le pourcentage d'attnuation des photons dans l'ananas (tableau .7). On observe qu'
20 keV, 60% des photons trouvent 1 cm d'ananas, tandis qu' 100 keV 57% des
photons traversent 5 cm sans subir d'interaction. Donc haute nergie on peut contr-
ler un chantillon plus pais.
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 55
NSA de Lyon -CNDR
Tableau II.7 : Pourcentage d'attnuation (I/I0) des photons dans l'ananas.
x (cm) (I/I0) % 20 keV
( = 0,5245 )
(I/I0) % 60 keV
( = 0,1332 )
(I/I0) % 80 keV
( = 0,1189 )
(I/I0) % 100 keV
( = 0,1105 )
1 59,18 87,52 88,78 89,53
2 35,02 76,61 78,83 80,17
3 20,73 67,05 69,99 71,78
4 12,27 58,69 62,15 64,27
5 07,26 51,37 55,18 57,55
10 00,52 26,39 30,45 33,12
a) Probabilite d'ionisation de la couche K et L du Pb pour une
concentration de 0,05 ppm.
Notre but, maintenant, est d'obtenir la probabilit pour qu'un photon incident touche un
atome de Pb et donne lieu de la fluorescence. D'aprs la base des donnes pour Pb
dans Xcom reprsentes par la figure .9 (sections efficaces), on observe des disconti-
nuits ou transitions lectroniques pour le plomb.
La discontinuit observe 88 keV, permet de calculer la diffrence de sections effi-
cace (2,52.10
3
5,32.10
2
= 2,288.10
3
barns/atome) qui correspond la section efficace
utile d'ionisation.
Figure II.9 : Sections efficaces pour le plomb dans l'intervalle de 1 1000 keV (source NIST).
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 56
10 100 1000
10
2
10
4
10
6
Energie du photon (keV)
B
a
r
n
s
/
a
t
o
m
e
88 keV
2,52.10
3
Raie K
Raie L
L
3
L
2
L
1
5,32.10
2
NSA de Lyon -CNDR
Si cette valeur est multiplie par le nombre d'atomes, on trouve la section efficace et
ainsi la probabilit d'ioniser la couche K de Pb dans un volume lmentaire de 1 cm
3
.
Pour avoir le nombre d'atomes on se rfre la lgislation europenne (voir chapitre ),
o les teneurs maximales de Pb dans le fruit doivent tre de 0,05 ppm (mg kg
-1
) de
poids l'tat frais. Par consquent, pour un ananas de 375 g cela correspond
0,01875 mg de Pb et pour un volume de 650 cm
3
, 2,8846.10
-5
mg Pb cm
-3
. Compte
tenu de la masse molaire de Pb (207 g), on obtient 8,3918.10
13
atomes par cm
3
.
Le mme processus se fait pour la raie L, o on observe trois discontinuits. La somme
des trois discontinuits donne la section efficace utile totale (5,39.10
4
barns/atome).
Raie K Raie L
2,288.10
3
barns/atome * 8,39.10
13
atomes
= 1,68.10
17
barns
5,39.10
4
barns/atome * 8,39.10
13
atomes
= 4,53.10
18
barns
Comme 1barn = 10
-24
cm
= 1,678.10
-7
cm
2
= 4,52.10
-6
cm
2
Ces valeurs sont aussi une probabilit. Ces probabilits montrent la difficult d'excita-
tion d'une concentration de 0,05 ppm.
b) Probabilite de Iluorescence une Iois la couche K ou L ionisee.
A partir de la base de donnes ELAM
13
on a trouv la probabilit de transition relative
de la couche K (Tableau .8) et couche L (Tableau .9) aprs ionisation.
Tableau II.8 : Transitions lectroniques et sa probabilit pour la raie K du Pb.
Transition Energie (keV) Probabilit (%)
K1 L3 >> K 74,97 48,78
K2 L2 >> K 72,80 28,92
K1 M3 >> K 84,93 11,08
K3 M2 >> K 84,45 5,78
Seuil d'absorption de la couche K : 88 keV
13
partir de Hephaestus (http://cars9.uchicago.edu)
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 57
NSA de Lyon -CNDR
Tableau II.9 : Transitions lectroniques et sa probabilit pour la raie L du Pb.
Transition Energie (keV) Probabilit (%)
L1 M5 >> L3
10,55 70,77
L2 M4 >> L3
10,44 7,90
L1 M4 >> L2
12,61 78,78
L2 N4,5 >> L3
12,60 17,58
L3 M3 >> L1
12,795 40,14
L4 M2 >> L1
12,307 33,86
L1 N4 >> L2
14,76 16,51
L2 N2 >> L1
15,09 11,48
L3 N3 >> L1
15,21 14,53
Seuil d'absorption de la couche L1: 15,86 keV; pour la couche L2: 15,20 keV et pour la couche L3: 13,03 keV
En prenant en compte les probabilits les plus importantes (en rouge sur les tableaux),
on trouve les pics de fluorescence 72 et 74 keV pour la raie K et 10,5 et 12,6 pour
la raie L approximativement. L'excitation ncessaire doit tre suprieure au seuil d'ab-
sorption de la raie (88 keV pour K, 15,86 keV pour L
1
).
c) DiIIusion Compton provenant du volume elementaire de Iruit.
D'aprs l'expression qui donne l'nergie diffuse (Eq. .1) on obtient le tableau .10 qui
nous montre les rsultats en nergie du Compton par rapport l'angle du faisceau et
l'nergie applique.
Tableau II.10 : nergie diffuse (Compton) par rapport l'angle du faisceau incident et
l'nergie.
Angle 14 keV 20 keV 100 keV
45 13,88 19,77 94,57
90 13,62 18,24 83,63
180 13,27 18,54 71,84
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 58
NSA de Lyon -CNDR
d) Elements theoriques pour la determination quantitative de la
concentration d'un element trace par Iluorescence.
Le nombre de photons N rmis par un lment de volume aprs une interaction
photon matire peut s'exprimer en fonction de la section efficace o de l'effet envisag,
du flux de photons par unit de surface
0
et du nombre d'atomes cibles N
cible
selon la
relation suivante :
N = c1
0
N
cible
Le nombre de photons de fluorescence N'
fluo
mis par un lment de volume dans la di-
rection d'un dtecteur d'angle solide AC peut s'crire :
N
fluo
=
N
0
S
kc
ph

j
f
N
A
A
(S A X )
AD
4 n
[Eq. .3]
o :
o
ph
reprsente la section efficace photolectrique, N'
0
est le nombre de photons arrivant
sur le volume de mesure d'paisseur AX, S la section des faisceaux entrant et sortant
et p
f
la densit des atomes qui fluorescent.
Le terme p
f
N
A
/ A reprsente le nombre d'atomes cibles par unit de volume, avec N
A
le
nombre d'Avogadro et A la masse molaire.
Si on prend en compte la gomtrie de l'objet, le nombre de photons de fluorescence
mis par le volume d'analyse doit tre corrig par l'attnuation le long des trajets d'ent-
re et de sortie. Le nombre de photons dtects est donc :
N
fluo
= =N
0
e
-|
linc
( E
0
) dl
kc
ph

j
f
N
A
A
A X
AD
4 n
e
-|
lsor
( E
f
) dl
[Eq. .4]
Avec :
N'
0
=
N
0
e
-
|
linc
( E
0
) dl
, N
0
reprsente donc le nombre de photons entrant dans l'objet.
(E
0
) et (E
f
) sont les coefficients d'attnuation linique respectivement exprims aux
nergies des photons incidents et de fluorescence.
De mme, le nombre de photons diffuss par effet Compton dans la direction d'un d-
tecteur d'angle solide AC peut s'crire :
N
C
=N
0
e
-
|
linc
(E
0
) dl

(
d c
C
d D
)
a
AD
jN
A
A
AXe
-
|
lsort
( E
C
) dl
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 59
NSA de Lyon -CNDR
o
(
d c
C
d D
)
a
reprsente la section efficace diffrentielle atomique de l'effet Compton et la
densit de la matire.
Le rapport fluorescence sur Compton (R) se dduit des relations .3 et .4
R =
N
fluo
N
C
=
kc
ph
e
-
|
lsor
( E
f
)dl
4n
(
d c
C
d D
)
a
e
-|
lsort
( E
C
)dl
j
j
f
Pour des conditions exprimentales fixes, le terme
kc
ph
4n
(
d c
C
d D
)
a
j
est une constante.
De plus, si on suppose que les effets de gomtrie sont ngligeables ou que (E
f
) =
(E
C
), et que ~ cte quelle que soit la concentration de l'lment trace qui fluoresce,
on peut faire l'approximation que R est une fonction linaire de
f
, donc de la
concentration de l'lment trace recherch.
Nous vrifierons cette relation par simulation et exprimentalement dans le chapitre .
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 60
NSA de Lyon -CNDR
Discussion sur le choix de l'energie d'excitation.
Thoriquement, une dtection de traces (de l'ordre de 0,05 ppm) est difficile. Cepen-
dant pour un autre type de dtection nous le montrons comme suit :
Si on excite 14 keV, seule la couche L
3
peut tre ionise et dans ce cas, les raies de
fluorescence sont L
1
: 10,55 keV; L
2
: 12,6 keV et L
2
: 10,44 keV moins probable. On
remarque que le diffus Compton se situe aux alentours de 13 keV, quelque soit l'angle
choisi. On peut esprer sparer le pic de fluorescence de 10,5 keV assez facilement.
Par rapport une excitation 20 keV, on peut exciter les couches L
1
, L
2
et L
3
, et les
raies de fluorescence sont L
1
: 12,6 keV, L
1
: 10,55 keV, L
3
: 12,7 keV, L
4
: 12,3 keV
et L
2
: 12,6 keV lesquelles sont les plus probables. Le diffus Compton se situe entre
18,2 et 19,7 keV, quelque soit l'angle choisi, et on peut sparer plus facilement tous les
pics de fluorescence.
Maintenant, pour une excitation haute nergie (100 keV), on peut exciter toutes les
couches, et les raies de fluorescence les plus marques sont K
1
: 74,97 keV, K
2
: 72,8
keV et K
1
: 84,93 keV moins probable. Du ct de l'nergie diffuse Compton on trouve
que celles-ci sont presque dans la mme gamme et il est possible que si on choisit un
angle de 45 ou 90, il peut noyer les raies de fluorescence plus importantes (94,57 et
83,63 keV), situation moins probable 180 (71,87 keV), o on peut sparer le pic de
fluorescence de 84,93 ou 74,97 keV.
Jusqu'ici on a considr un rayonnement monochromatique idal, cependant, dans la
ralit on a une spectre continu en nergie, soit une gamme d'nergie entre 0 et 100
keV (si on excite 100 kV). Prenons par exemple un spectre incident 100 kV figure
.10a.
D'aprs la figure .10(a) on identifie les photons qui serviront pour exciter la couche K
du plomb, i.e. ceux avec une nergie suprieure 88 keV.
Cette excitation provoquera une nergie diffuse au-dessous de 94,57 keV pour 45 et
71,8 keV pour 180
Cette nergie diffuse en cascade peut empcher la dtection, cependant si on ex-
cite avec une gomtrie de 180 (c) (dans le cas du plomb), cet effet cascade du dif-
fus se trouvera au-dessous de 71,87 keV, en laissant libres les pics de fluorescence
84,9, 74,9 et 72,8 keV.
Dtection et caractrisation par rayons X des lments traces dans les fruits et lgumes. 61