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1. Introduction ........................................................................................................................ 3 1.1 Les diffrents aspects de la CEM ......................................................................................... 4 1.1. Tests raliser sur un matriel pour vrifier la conformit la norme CEM ............ 9 1.1.1. Tests CEM pour les perturbations conduites...................................................... 9 1.1.2. Perturbations rayonnes.................................................................................... 10 2. Mcanismes de couplage des perturbations ..................................................................... 11 2.1. Couplage par impdance commune ......................................................................... 11 2.1.1. Impdance commune constitue par une piste de circuit imprim................... 13 2.1.2. Masse analogique et masse numrique ............................................................ 14 2.1.3. Chute de tension aux bornes dun conducteur de terre .................................... 15 2.1.4. Exemple de couplage sur un circuit logique .................................................... 16 2.1.5. Conclusion........................................................................................................ 17 2.2. Mode commun et mode diffrentiel ......................................................................... 17 2.3. Couplage inductif ..................................................................................................... 19 2.3.1. Couplage par diaphonie inductive.................................................................... 20 2.4. Couplage capacitif.................................................................................................... 21 2.4.1. Couplage par diaphonie capacitive................................................................... 21 3. Etude du couplage lectrique et magntique entre cble. Influence du blindage ............. 21 3.1. Couplage capacitif.................................................................................................... 22 3.2. Effet dun blindage sur le couplage capacitif ........................................................... 23 3.3. Couplage inductif ..................................................................................................... 26 4. Rduction du couplage magntique. Tore de mode commun .......................................... 29 5. Spectre dun signal dhorloge........................................................................................... 31 5.1. Modulation de la frquence du signal dhorloge...................................................... 34 6. Dcouplage des alimentations .......................................................................................... 36
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1. Introduction
Depuis 1996, aucun appareil ne peut thoriquement tre commercialis sans avoir subit de test de compatibilit lectromagntique (CEM). La CEM a pour objet de prendre en compte les perturbations transmises par les appareils en fonctionnement pour assurer un fonctionnement correct de plusieurs appareils en mme temps. Une dfinition prcise de ltude de la compatibilit lectromagntique (CEM) peut tre : Capacit dun dispositif, quipement ou systme fonctionner de manire satisfaisante dans son environnement lectromagntique, sans introduire de perturbations lectromagntiques intolrables pour quoi que ce soit dans cet environnement . Cela implique deux choses : dune part que les perturbations lectromagntiques mises par lappareil ne soient pas trop importantes et que dautre part que les appareils puissent fonctionner de faon satisfaisante en prsence de perturbations gnres par dautres appareils. On trouve des exemples de problmes de CEM dans la vie quotidienne. Par exemple, un tlphone portable qui perturbe le fonctionnement du moniteur de lordinateur. Un autre exemple est celui du fonctionnement dun vlomoteur mal antiparasit qui gne la rception de la radio dans une voiture. Ces dernires annes les performances des appareils ont beaucoup augments. Ces amliorations ont t obtenues par une lvation de la frquence de fonctionnement des dispositifs et par une augmentation de la densit dintgration (voir Figure 1).
Figure 1 : volution de la technologie et de la vitesse des bus (mga transfert/s) [6] Beaucoup dappareils sont aujourdhui portable et pour rduire la consommation (cela favorise aussi la vitesse de fonctionnement), les tensions dalimentation ont t abaisses comme montr la Figure 2. La marge de bruit ou marge dimmunit , cest dire la diffrence entre seuils dentre / sortie au niveau bas et au niveau haut, sen trouve rduite.
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Figure 2 : volution des tensions dalimentations [6] Ces trois critres font que les appareils ont une tendance mettre des perturbations et quaussi il sont plus sensibles aux perturbations envoys par les autres appareils. Les appareils numriques lorsquils fonctionnent hautes frquences sont aussi trs gnrateurs de perturbations. Le temps de transition entre les niveaux logiques est le paramtre le plus important pour caractriser la bande de frquences occupes par les signaux dhorloges. Des temps de monte et de descente trs faibles engendrent des spectres trs larges et ces composantes spectrales peuvent alors trs facilement se transmettre vers dautres appareils. Lobjectif de ce cours est de voir quelles peuvent tre les voies de transmission des perturbations et comment on peut augmenter limmunit vis vis des perturbations mises. Un systme lectromagntiquement compatible satisfait ces trois critres : il ne gne pas le fonctionnement dautres systmes, il nest pas gn par les perturbations mises par les autres systmes en fonctionnement, il ne cause pas dinterfrences avec lui mme.
Source de bruit
Canal de transmission
Rcepteur
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Reprenons lexemple de notre ordinateur. Le processeur de calcul change des donnes avec les mmoires au rythme dune horloge. Rgulirement les informations venant de la mmoire sont envoyes vers lcran pour l affichage : cela constitue linformation dsirable. Maintenant, les signaux rapides de lhorloge peuvent tre transmis via les transformateurs dalimentations vers lcran et ainsi gner laffichage correct des donnes de la mmoire de lordinateur. Des interfrences apparaissent si lnergie reue par le rcepteur est telle que son fonctionnement normal est altr. Ceci constitue le fonctionnement indsirable et cest ce qui sera tudi par la CEM. Pour diminuer nos problmes de transmissions des perturbations, nous pouvons les prendre sous trois angles diffrents : tenter de supprimer lchange dnergie la source en diminuant les perturbations transmises par la source, rendre le canal de transmission aussi inefficace que possible, rendre le rcepteur le moins sensible possible aux perturbations. La premire solution envisager est de chercher diminuer les perturbations la source. Prenons un exemple. Nous avons un systme numrique qui fonctionne avec une horloge prsentant des temps de monte / descente de 1 nS. Nous avons vu prcdemment que plus le temps de mont est bref, plus le spectre du signal est large et tendu. Il est donc susceptible de se transmettre plus facilement au travers des capacits parasites des diffrents composants. Si le fonctionnement de notre systme numrique nest pas altr lorsque le temps de monte / descente passe 10 nS, nous avons tout intrt le faire fonctionner ainsi. On rduit le spectre dmissions et on diminue lefficacit de couplage du canal de transmission. Par voie de consquence on diminue les interfrences transmises vers le rcepteur. Pour diminuer lefficacit du canal de transmission, on peut agir en plaant le systme numrique dans un botier mtallique, ce qui diminuera les missions lectromagntique renvoyes vers lextrieur. Mais le blindage est une solution plus lourde et plus onreuse que de diminuer le temps de monte / descente des signaux dhorloges. On pourrait envisager daugmenter limmunit dun rcepteur en ajoutant dans le logiciel de la partie numrique un code correcteur derreur pour interpoler les informations manquantes et corriger les erreurs. Laugmentation de limmunit de lappareil peut tre obtenue par lutilisation dune paire diffrentielle et un amplificateur dinstrumentation qui rejte la tension de mode commun. On classe la transmissions des perturbations entre metteur et rcepteur en 4 rubriques comme indiqu sur la Figure 4.
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Figure 4 : les 4 voies de transmission possible entre un metteur et un rcepteur [1] Pour bien comprendre sur un exemple quelles sont les diffrentes voies possibles de perturbation, nous allons considrer un systme lectronique aliment partir du secteur. Aprs le transformateur reli au secteur cot primaire, on trouve diffrentes alimentations dlivrant le + 5V pour la partie numrique et le + 15V pour la partie analogique. Dautres sous-ensembles fonctionnent partir du secteur, par exemple des ventilateurs. Tous ces composants sont relis par diffrents cbles qui constituent dexcellentes voies de transmission des perturbations. Les perturbations peuvent tre rayonnes par les cbles (parce quil circule un courant) ou au contraire, un champ lectromagntique peut tre ramen lintrieur du montage sous forme de tensions ou de courants. Ces transmissions rayonnes sont reprsentes sur la Figure 4.a et 2b. Les composants lectroniques peuvent aussi transmettre des perturbations par conduction. Pour mettre en vidence ces voies de couplages, on doit prendre en compte les composants parasites des diffrents composants lectroniques utiliss. En revenant notre exemple, les signaux prsents sur la partie numrique considre comme bruyante peuvent transiter via le transformateur dalimentation vers le secteur. En effet un transformateur peut tre modlis en hautes frquences par le schma quivalent suivant. Les inductances l1, l2, L reprsentent le fonctionnement magntique et basse frquence du transformateur. Les capacits places entre la sortie modlise un couplage entre le primaire et le secondaire. Leurs effets se manifestent en hautes frquences.
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Figure 5 : modlisation du transformateur La prsence des capacits parasites indique bien quune partie du signal prsent sur le secondaire du transformateur sera transmis en partie cot primaire. Si les frquences traites au secondaire sont leves, les perturbations seront dautant mieux transmises au travers du transformateur. On retrouvera sur le courant primaire du transformateur lharmonique correspondant la frquence du secteur et des composantes spectrales qui correspondent au montage connect au secondaire. Ces perturbations peuvent aller gner le fonctionnement dun montage plac de lautre cot dun second transformateur. Pour dceler exactement par quelles voies sont transmises les perturbations par conduction, les schmas quivalents des composants lectroniques doivent tre aussi prcis que possible dans la bande de frquences dans laquelle le montage est utilis. Noublions pas que les problmes de CEM en conduction seraient inexistants sans les diverses capacits et inductances parasites se greffant sur les schmas quivalents des composants lectroniques. Quelquefois, les cartes lectroniques sont places dans des boites mtalliques. Les diffrents cbles par rapport aux parties mtalliques de la boite constituent une voie possible de couplage entre le signal lintrieur du cble et la partie mtallique. La paroi mtallique a quand mme pour avantage de constituer un isolement vis vis des champs lectromagntiques extrieurs la boite. En effet, la thorie de transmission dune onde lectromagntique dans un mtal montre quune partie de londe est cde au mtal. On peut donc par ce biais augmenter limmunit dun systme mais ceci au dtriment du cot et du poids. Les voies de transmission en conductions (missions et susceptibilit) sont reprsentes sur la Figure 4.c et 2d. Dautres voies de transmission de perturbations apparaissent sur la Figure 7. Sur la Figure 7.a, on sintresse aux dcharges lectrostatiques mises en vidence de faon flagrante lorsquon marche sur une moquette avec des souliers isolants. Les frottements des deux parties isolantes font apparatre des charges qui ne demandent qua svacuer sur une partie mtallique connecte la terre. Le courant qui apparat alors quand on touche un lment mtallique connect la terre a l allure de la Figure 6. Cette dcharge lectrique risque de mettre mal une lectronique sensible (circuit intgr CMOS) et la conception de cette lectronique devra tenir compte de ces perturbations.
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Figure 6 : allure du courant lors dune dcharge lectrostatique cr par un humain (Intel) Aprs la premire explosion nuclaire dans les annes 1940, on sest aperu quun dispositif semi-conducteur pouvait tre dtruit par le rayonnement trs fort dune explosion nuclaire. Les dispositifs militaires prennent en compte lors de la conception de leurs matriels la possibilit quils soient exposs une explosion nuclaire en haute altitude gnrant peu donde de choc mais par contre un rayonnement trs violent (Figure 7.b).
Figure 7 : les autres aspects de la CEM [1] Lors dun orage, le courant circulant du nuage vers la terre est trs important (jusqu 50000A). Un avion qui volera en cas dorage devra pouvoir supporter, sans incident sur ces appareils de bord ces courants trs importants (Figure 7.c). Puisque tout systme physique fonctionnant par dplacement de courants gnre des champs lectromagntiques, il est possible en connectant une antenne un amplificateur trs sensible de pouvoir retrouver les donnes que lordinateur manipule (Figure 7.d). 8
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1.1. Tests raliser sur un matriel pour vrifier la conformit la norme CEM Pour quun appareil fonctionne correctement sans perturber les autres appareils, et sans tre gn par les missions des autres appareils, des normes ont t tablies pour spcifier le niveau maximal que lappareil devait mettre et ces normes dfinissent galement les niveaux minimums que devait pouvoir supporter lappareil sans pour autant tre gn au cours de son fonctionnement. Les rsultats de mesures dpendant trs fortement de la faon dont ils sont mesurs, les dispositifs de mesures ont donc t spcifis dans des normes. Tous les appareils ne devant pas supporter les mmes valeurs de champs lectromagntiques, ces normes concernent une catgorie dappareils. Par exemple on comprend bien que les niveaux maximums dmission pour les appareils usage mdical sont beaucoup plus faibles que, par exemple, pour le domaine industriel. Nous ne voulons pas prciser exactement pour chaque type dappareils la mthode de mesures donne par la norme, ni spcifier exactement les niveaux respecter pour quun appareil soit conforme aux normes CEM. Ce serait trop fastidieux. Par contre, du point de vue de la comprhension il est intressant de se pencher sur les dispositifs classiques de mesures pour satisfaire la norme et de voir lallure du gabarit de niveau en fonction de la frquence pour respecter le niveau maximal dmission. 1.1.1. Tests CEM pour les perturbations conduites La mesure des courants renvoys vers le secteur par lappareil tester se fait laide dun dispositif se connectant entre lappareil tester et le secteur, dispositif appel Rseau de Stabilisation dImpdance de Ligne (RSIL). Cet appareil permet simplement de sparer les courants de conduction la frquence du secteur des harmoniques aux frquences beaucoup plus leves. Il permet aussi de prsenter une impdance constante pour le rcepteur de la perturbation. Enfin, il isole le rcepteur des perturbations secteur. La Figure 7 compare la mesure des diffrentes harmoniques du courant mesur avec un gabarit correspondant une norme donne. Dans le cas de la Figure 7 gauche, la norme de CEM est respecte mais pas dans le cas de droite puisque certaines harmoniques dpassent le gabarit. Lallure du gabarit est typique de la mesure en conduction et sa plage de frquence est typiquement comprise en 150 kHz et 30 MHz.
Figure 5 : gabarit de mesures des perturbations conduites Le test de la susceptibilit dun appareil se fera en utilisant une pince dinjection de courant (idem transformateur que lon vient placer autour du conducteur pour crer linjection du 9
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courant) pour gnrer la circulation dun courant que lon contrlera. On notera la valeur du courant partir duquel apparatront des dfauts de fonctionnement. Si le courant dinjection est trop intense, il pourra y avoir destruction de lappareil.
1.1.2. Perturbations rayonnes Le fonctionnement de lappareil doit tre satisfaisant lorsquil est soumis un champs lectromagntique perturbateur et ses missions de champs lectromagntiques vers lextrieur ne doivent pas tre trop importantes. Les mesures de perturbations rayonnes ncessitent un gros appareillage tel quune chambre anchode (chambre de mesures des perturbations radiolectriques), une cellule TEM, des antennes de diffrentes formes pour couvrir un spectre en frquences suffisamment large et des amplificateurs pouvant couvrir la bande de frquences de 30 MHz 10 GHz.
Figure 9 : exemple dantennes pour mesurer les perturbations rayonnes Pour mesurer les missions des appareils en test, on utilise des antennes places 3 ou 10 mtres de lappareil tester voir Figure 10. Les champs lectromagntiques pouvant ne pas tre trs levs par rapport aux champs environnants en espace libre, il est ncessaire de se placer dans une cage de Faraday ou une chambre anchode pour sisoler des bruits lectromagntiques. Le signal sortant de lantenne est analys avec un analyseur de spectre.
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Figure 10 : exemple de chambres semi anchode Pour tester la susceptibilit dun appareil, on utilise des antennes qui vont gnrer des champs lectromagntiques perturbateurs. On observera le fonctionnement de l appareil tester et on notera partir de quel moment il y a dysfonctionnements. En prsence de champs trs levs, il peut y avoir destruction de lappareil.
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Figure 11 : influence de limpdance commune sur les connexions d alimentations Cela se rsout simplement dans ce cas en dcouplant lalimentation commune par des capacits. Mais il y a des cas ou le problme est bien plus difficile rsoudre notamment lorsque les courants circulants sont importants et lorsque le couplage est de mode commun. Lautre cas de couplage par impdance commune se ralise par lintermdiaire de la masse. Considrons un systme constitu par un moteur et un capteur; par exemple un capteur de temprature plac dans un moteur lectrique. Ces deux ensembles sont connects par rapport un potentiel commun : la masse. Le couplage se ralise comme dcrit sur la Figure 12.
alimentation de puissance
module d'amplification
Z1
Z2
Figure 12 : couplage par impdance commune et masse Pour rduire le couplage par impdance commune, on doit sefforcer de diminuer limpdance Z1 ou de diminuer le courant qui la traverse. La diminution de Z1 sobtient par la ralisation dun rseau de masse vraiment quipotentiel. En vue de diminuer le couplage par rapport Z1 et Z2, on cherche isoler le capteur et son module damplification par rapport la masse comme reprsent sur la Figure 13.
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alimentation de puissance
Figure 13 : rduction du couplage en isolant le module damplification Le bloc damplification n est plus alors reli directement mais par lintermdiaire de capacits. On cherchera avoir des capacits aussi faible que possible. 2.1.1. Impdance commune constitue par une piste de circuit imprim Limpdance commune est constitue par une piste de circuit imprim de longueur 10 cm dpaisseur 35 m et de largeur 1mm. En continu ou en basse frquence, le courant perturbateur dans l impdance commune est de 1A. Limpdance de la piste peut tre considre comme rsistive de valeur 50 m. La chute de tension aux bornes de la piste est donc de 50 mV. En alternatif ou en transitoire rapide le courant perturbateur est toujours de 1 A mais la frquence de 10 MHz. Le comportement de la piste est principalement inductif et la valeur de linductance dpend de la configuration de la piste. Selon que celle-ci est au dessus dun plan de masse, ou dune piste (circuit double face) ou coplanaire avec une autre piste et du sens de circulation des courants, la valeur de linductance diffre. Habituellement pour avoir un ordre de grandeur de linductance, on choisit une inductance linique de 1 H.m-1. La chute de tension (L.) aux bornes de cette piste est alors de 6 V. Linductance prendre en compte dpend du type de conducteur et de son loignement par rapport la masse. Le coefficient de couplage entre le conducteur daller et de retour modifie linductance de la liaison. Le Tableau 1 donne le coefficient de couplage entre diffrent types de conducteurs [8]. Type de ligne de transmission Conducteur parallle PCB bi - couche PCB multi - couche Cble coaxial Coaxial RG 58 Coefficient de couplage 0.5 0.7 0.6 0.9 0.9 0.97 0.8 - 1 0.996
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2.1.2. Masse analogique et masse numrique Il est important de se proccuper des effets de couplage par impdance commune quand on travaille simultanment avec des circuits numriques et des circuits analogiques. La consquence est la prsence dans les convertisseurs analogiques numriques et les convertisseurs numriques analogiques performants, de masses analogiques (AGND) et de masses numriques (DGND) diffrentes avec deux broches diffrentes sur le circuit intgr. En effet, lanalogique est beaucoup plus sensible aux variations de tension dalimentation que le numrique. La marge de bruit est de lordre de la moiti de la tension dalimentation pour les circuits numriques alors quelle est bien infrieure pour un circuit analogique. Le deuxime point est que le numrique engendre des variations importantes du courant consomm par les circuits ce qui gnrent des tensions aux bornes du fil de connexion (modlis principalement par une inductance). Linductance dune connexion entre une broche du circuit et la puce au travers du fil de bounding (de la puce vers le support) est de lordre de 10 nH pour un circuit 16 broches en botier DIP. Pour un courant de 10 mA une frquence de 10 MHz, la tension est de lordre du mV. Cette tension variable vient aux tensions prsentes normalement sur le circuit et elle peut rendre instable les parties analogiques. En sparant les alimentations, la chute de tension napparat que sur lalimentation numrique.
Figure 14 : sparation des masses analogiques (AGND) et des masses numriques (DGND) pour un DAC de 24 bits de prcision Les problmes existant au niveau circuit intgrs sont encore beaucoup plus important quand on utilise ces circuits sur un circuit imprim. Prcisons demble quil est trs utile de faire un plan de masse le plus large possible avec le minimum de trous lintrieur. Cela permet de rduire linductance du plan de masse. Le plan de masse sera reli dun cot aux circuits analogiques et de lautre cot aux circuits numriques. De toutes faons, ces plans seront relis en un point puisque la rfrence (0V) du signal numrique est la mme que pour le signal analogique. Le point ou les masses sont relis dpend du nombre dalimentations que lon utilise. Soit lalimentation est commune pour la partie analogique et la partie numrique et dans ce cas, le plan de masse est commun sur toute la carte comme sur la Figure 15.
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Figure 15 : circuit analogique et numrique avec une seule alimentation Soit lalimentation est spare avec une partie alimentation analogique et une partie alimentation numrique avec deux transformateurs pour une sparation des masses. Les masses sont alors relies ensembles sur les plans de masse comme le montre la Figure 16.
2.1.3. Chute de tension aux bornes dun conducteur de terre On considre un conducteur de protection vert/jaune de 35 mm2 de section et la longueur du fil est de 10 m. Dterminons la chute de tension aux bornes de ce cble dans les 2 cas suivants : Continu ou basse frquence (50 Hz). Courant perturbateur de 50 A. Comportement rsistif du cblage de 5 m. La tension aux bornes du cble est de 0.25V.
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Transitoire rapide ou HF. Le courant perturbateur est provoqu par le dmarrage dun quipement (ex : climatiseur) de 3 A 150 kHz. Le comportement du conducteur est inductif. Retenons une inductance linique de 1H/m. La chute de tension (L.) aux bornes de ce conducteur est de 28 V.
2.1.4. Exemple de couplage sur un circuit logique Nous observons dans ce paragraphe les effets de couplage entre piste dans un circuit intgr. La Figure 17 donne les valeurs de capacit quivalente des entres sorties et les valeurs du coefficient de couplage entre 2 broches. Pour mettre en vidence ce dernier, lentre dun buffer de type 74LS245 prsent sur la Figure 17 [9].
Figure 17 : modle des broches entre et sortie sur un botier DIP et schma logique dun 74LS245 Sur la Figure 18, il est visualis le changement dtat des entres A1,A3A7. La tension dentre A2 reste constante. Simultane au changement dtat la tension en sortie B2 varie ce qui est caus par le couplage par inductance mutuelle entre les pistes et par le bruit de substrat
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2.1.5. Conclusion En haute frquence ou lors des transitoires rapides, leffet inductif prdomine dans les conducteurs de limpdance commune. Le niveau des tensions peut perturber le fonctionnement des dispositifs. En continu ou en basse frquence, les tensions cres peuvent facilement perturber linformation contenue dans les signaux bas niveaux vhiculs. On peut rduire ce couplage en diminuant limpdance (liaisons courtes, plan de masse ou en sparant les circuits de mise la masse) et en assurant une quipotentialit maximale de lquipement et de son environnement ce qui est le cas avec un plan de masse et le maillage des masses. 2.2. Mode commun et mode diffrentiel Dans un circuit la circulation des courants stablit toujours par lintermdiaire de courants de mode commun et de mode diffrentiel. Le courant de mode diffrentiel se transmet par une liaison bifilaire sans circulation de courant dans une rfrence de potentiel commune. Le rseau de distribution de lnergie (EDF avec phase et neutre) est du type diffrentiel. Le mode commun utilise le rseau de masse ou de terre comme potentiel de rfrence commun. Un courant circule dans le rseau de terre entre un metteur et un rcepteur. Voyons sur la figure 11 lillustration du mode commun et du mode diffrentiel. Lmetteur symbolise un premier dispositif reli par une liaison bifilaire un rcepteur reprsentant un deuxime dispositif. Par la liaison bifilaire, il y a circulation de courant entre lmetteur de la perturbation et le rcepteur. La liaison comporte un potentiel de rfrence commun reprsent par un plan de masse mtallique.
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Emetteur
Recepteur
Imc/2
Imc Imc
Imc
Figure 19 : reprsentation schmatique du courant de conduction en mode commun et en mode diffrentiel Dans le mode diffrentiel la totalit du courant circule dans la liaison bifilaire entre les deux appareils. Le courant daller est gal au courant de retour . Dans le mode commun, une partie du courant circule travers la capacit de couplage entre lamplificateur et le botier mtallique. Ce courant circule travers la masse de rfrence de potentiel commun. Le courant dans la liaison filaire est divis en deux parties. Dans un montage rel entre deux dispositifs relis par une liaison bifilaire, le courant circulant entre les deux appareils est la somme dun courant de mode commun et de mode diffrentiel. On doit donc considrer les 2 modes de la figure 11 et on arrive la figure 12. Un champ magntique H(t) et un champ lectrique E(t) rayonns par une source perturbatrice font apparatre une tension et un courant qui intervient en mode diffrentiel et en mode commun. On parle alors de couplage de champ cble en mode commun et en mode diffrentiel.
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Imc Imc
Imc
Figure 12 : superposition du mode commun et du mode diffrentiel 2.3. Couplage inductif Soit un circuit lectrique ferm 1 parcouru par un courant I1. La surface du circuit est S. La relation physique entre le courant circulant dans le circuit et le flux gnr par le passage du courant dans le circuit, est exprim par linductance du circuit. Linductance caractrise donc le flux gnr par le circuit lorsquil est parcouru par un courant I.
= B.dS = L.I 1
Quand une partie du flux traverse un circuit 2, la partie du flux 12 est caractris par la mutuelle inductance : M12 = ( M21 = M12 =
12
I1
). I2 La tension induite dans une boucle ferm daire S et traverse par un champ magntique B sexprime par la relation dduite de la loi de Faraday
21
VN =
d ( B. n. dS ) d = dt dt
Si le champ magntique est sinusodal, la relation devient : VN = j. B. S .cos( ) tant langle entre la normale au circuit n et le champ magntique B. Cette tension apparat aux bornes dun circuit ferm daire S lorsque ce circuit est travers par un champ magntique B. Pour exprimer les choses dune autre faon, on peut introduire la mutuelle inductance entre les deux circuits et la tension induite sur le circuit est :
VN = j. M12 .. I1
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R1
R2
Armoire 2
Armoire 1
Armoire 2
boucle
cble de donnes
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H(t)
Umc
Source
victime
E(t)
Im d Im d
U(t)
Im c
Im c
Source
victime
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frquences), les cbles sont indispensables prendre en compte dans une modlisation CEM. Dautre part dun point de vue didactique, les phnomnes sont relativement simples interprter puisque nous pouvons remplacer les couplages lectromagntiques par des rseaux lectriques quivalents. Nous tudierons le couplage champ cble et le couplage cble cble. Pour cela nous devrons considrer que la longueur donde du signal incident est grande devant les dimensions du cble considr. On peut considrer que dans un circuit il y a trois types de couplage : couplage capacitif ou lectrique, appel habituellement couplage lectrostatique bien que les charges ne soient pas statiques couplage inductif ou magntique improprement appel couplage lectromagntique bien quil ny ait pas de champ lectrique couplage lectromagntique avec un champ lectrique et un champ magntique. Les deux premiers peuvent tre considrs comme des couplages en champ proches tandis que le troisime doit tre considr comme un champ lointain.
C12 C12
C1G C2G
V1
C1G
C2G
VN
V1
VN
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R est la rsistance de charge place aux bornes du cble 2. La tension VN est donne par la jRC12 j C12 ( 1) relation suivante : VN = V1 . = V1 . 1 1 + jR( C12 + C2 G ) + j( C12 + C2 G ) R 1 Quand R peut tre nglige par rapport , la relation devient VN = V1 . jRC12 . j( C12 + C2 G ) Cette relation est importante car elle montre quun couplage capacitif peut se ramener dans un V circuit sous la forme dun gnrateur de courant de valeur I N = N = jC12.V1 . R Pour diminuer le couplage capacitif entre deux circuits, on cherchera rduire la frquence de fonctionnement si cela est possible, diminuer la rsistance de charge de la ligne 2 et loigner les lignes 1 et 2 pour diminuer la capacit C12. Nous allons montrer quun blindage sur le conducteur 2 permet aussi de diminuer la tension prsente sur la ligne 2. Daprs la V relation (1) nous avons trac N en fonction de la frquence sur la figure ci-dessous. V1
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1
blindage
C1G
CSG
V1
C1G
CSG
VN
V1
CS2
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C1S
CSG
2
C12
V1
C1G
C2G CS2
VN
VN = V1 .
1 + jR( C12 + C2 G + C2 S )
jRC12
= V1 .
jC12 1 + j( C12 + C2 G + C2 S ) R
1
( C12 + C2 G + C2 S ) et la tension rsultante aux bornes du cble 2 est donne par lexpression : VN = V1 . jRC12
Nous avions obtenu exactement la mme expression dans le cas ou le cble 1 ntait pas blind, mais la diffrence fondamentale rside dans lordre de grandeur de la capacit C12. La capacit C12 est diminu de beaucoup puisque linfluence capacitive a lieu juste sur les quelques centimtres ou le cble nest pas blind. 25
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De toute faon, notre calcul montre que lon a tout intrt raliser une connexion en utilisant des fiches blindes pour raliser la liaison entre le cble blind et le montage. Dans le cas dun circuit imprim, un plan de masse conducteur permettra de limiter le couplage entre des pistes dune face avec les pistes de lautre face.
Cest une expression du type filtre passe bande et la tension U1 est dautant plus grande que la frquence augmente jusqu une certaine limite ou elle dcrot. En basse frquence la tension croit comme j R1 M donc avec une pente + 20 dB / dcade. Daprs lexpression obtenue, on peut en dduire : le couplage inductif agit comme un filtre passe haut. Plus la frquence du signal prsent sur la premire ligne est lev et plus le couplage est manifeste. Cest videment vrai avec des circuits numriques qui fonctionnent avec des signaux logiques trs rapides.
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pour un couplage magntique dtermin (L1, L2 et M fix), le couplage diminue quand la rsistance R1 diminue. Si possible, on a donc intrt travailler avec des valeurs de rsistances faibles. Le modle prsent peut aussi servir en cas de couplage dun champ magntique sur un cble. Le couplage inductif sur la ligne 2 peut tre reprsent par le circuit ci dessous dans lequel on M a remplac le couplage magntique par une source de tension U i = j V1 . R( R1 + R2 )
s2
R1
L2
R2
Figure 31 : gnrateur quivalent au couplage magntique 3.3.1 Couplage magntique sur un cble coaxial
Le schma quivalent utilis pour le couplage entre deux lignes peut tre employ dans le cas de couplage magntique sur un cble coaxial. La structure du cble coaxial permet la circulation dun courant dans lme et dans le blindage. Quand un courant circule dans lme, le flux cr par le passage du courant dpend de linductance propre de lme. = L1 . I1 . Ce flux est intgralement vu par le blindage du cble coaxial. La mutuelle de couplage entre lme et le blindage est donc gale linductance L1. Rciproquement, linductance propre du blindage L2 est gale la mutuelle de couplage entre le blindage et lme. Un courant circulant dans lme du cble, et se refermant en totalit dans le blindage gnre un champ magntique lextrieur du cble est nul. Le champ magntique ou le flux gnr par le passage du courant est concentr dans le cble coaxial.
Dans un circuit quelconque, il nest pas priori vident que le courant dans lme soit identique au courant dans le blindage. Mais, la mesure faite sur le schma de la figure cidessous permet de montrer quau del dune certaine frquence, le courant circulant dans lme se referme en totalit dans le blindage ( I1 = I 2 ).
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I2 R3 = . Comme R3 est une rsistance I1 R3 + R2 de faible valeur, la majeure partie du courant I1 passe travers R3. La surface de capture dun champ magntique extrieur est donc fixe par la boucle A B C D. En haute frquence, lexpression devient :
I2 M = . Pour le cble coaxial, M a une valeur I1 L2 proche de L2 et le courant I1 passe en grande partie travers le blindage. La surface de capture du champ magntique est fixe par la boucle A B C E F D. Cette boucle est de surface nettement plus faible que la boucle A B C D et il sen suit une bien meilleure efficacit de blindage en haute frquence. La tension quivalente au couplage magntique que lon peut ramener dans le circuit, dpend directement de la surface du circuit.
Il est trs important de noter que lefficacit de blindage en champ magntique du cble coaxial nest pas due au matriau constituant le blindage, mais que linductance mutuelle du cble coaxial entrane la circulation du courant travers le blindage au 1 RS dessus dune frquence : . . 2 LS Dailleurs pour sen convaincre, il suffit de laisser sans connexion la masse le blindage, ou mme de le connecter la masse en un seul point, pour constater que ce blindage est inefficace pour blinder en champ magntique. Cette frquence appele frquence de coupure du blindage, est pour un cble coaxial courant, de lordre de 103 Hertz. Au dessus de 5 fois la frquence de coupure du blindage, lintgralit du courant traversant la rsistance de sortie circule travers le blindage.
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mesur. Pour viter ce genre de msaventure, on place donc un tore de mode commun. Voyons sur le schma quivalent suivant comment se manifeste les problmes.
La tension transmettre entre les 2 circuits est la tension Ve, et la tension que lon mesure est la tension Vs. Vg est une tension parasite qui est due par exemple un couplage inductif sur le circuit de masse. Dou le schma quivalent :
de frquence de coupure f c =
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soit la plus faible possible pour ne pas perturber le signal dentre. Pour rduire la frquence de coupure fc, on enroule le cble de connexion entre les 2 circuits autour dun tore magntique pour augmenter son inductance comme montr sur la Figure 37.
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+ 1 jn 0 + e tf
jn0 tr 2 Ee = T tr
tr jn 0 tr jn 0 2 e 2 e
tr jn 0 + 2
tf
tf jn0 tf jn 0 2 e 2 e
E 1 Cn( f ) = T ( jn 0 )2
jn 0 tr e 2 tr
tr jn 0 tr jn 0 2 e 2 e
tr jn 0 + 2
tf
tf jn 0 tf jn 0 2 e 2 e
1 e jn 0 tr tr
jn 0 tr 2 e
tr tr jn 0 jn 0 E 1 1 2 2 = e e T ( jn 0 )2 tr
+ tr jn0 jn 0 jn 0 2 e 2 e 2 e + tr
2
sin x . x
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sin x log peut se rsumer une asymptote 0 dB et une asymptote 20 dB/dcade x intervenant partir de x = 1 comme le montre la Figure 40.
sinx/x en log 1 0.5 0 -0.5 -1 -1.5 -2 -2.5 -3 -3.5 -4 -2 -1.5 -1 -0.5 0 x en log 0.5 1 1.5 -20 dB par dcade
Figure 40 : module de
Revenons au calcul de 20.Log Cn( f ) . On obtient :
sin x x
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Au dessus de la frquence
On peut considrer que le spectre est ngligeable partir de cette frquence. Loccupation spectrale dpend directement du temps de monte. Un temps de monte trs faible occasionne un spectre du signal dhorloge trs large. Prenons un exemple pour illustrer ceci. 1 = 15,9 MHz t r 1 1 f = 10 MHz et tr = tf = 5 nS ; f1 = = 6,4 MHz et f 2 = = 63,7 MHz t r f = 10 MHz et tr = tf = 20 nS ; f1 = = 6,4 MHz et f 2 = 1
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Figure 44 : schma quivalent dune capacit de dcouplage et module de son impdance en fonction de la frquence
Des capacits de faibles valeurs et utilisant des botiers de faibles dimensions prsenteront une inductance interne plus faible que des capacits de fortes valeurs. Ces capacits de faibles valeurs seront places avantageusement aux bornes de lalimentation de chaque circuit intgr. La Figure 45 illustre le placement de la capacit de dcouplage dans le cas dun circuit imprim multicouches. Les deux bornes de la capacit sont connectes par des liaisons les plus courtes possibles aux plans internes dalimentations. Linductance des vias est 36
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comprise entre 300 pH et 4 nH suivant sa gomtrie. Linductance de la piste dalimentation dpend directement de laire du circuit comme reprsent la Figure 45.
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cas le plus dfavorable de la Figure 46, linductance associe aux vias est de 4 nH. La 1 fr = = 22 MHz frquence de rsonance est alors gale : 2 4.9e 9 0.01e 6
Limpdance de lalimentation pour plusieurs capacits de dcouplage places en parallle est reprsente la Figure 47. 26 capacits en parallle (une pour chaque alimentation de circuit) permettent dobtenir une impdance faible sur une large plage de frquence.
Figure 47 : impdance de plusieurs capacits avec diffrents botiers et places en parallle [7]
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BIBLIOGRAPHIE
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