ENSAM- Casablanca

2014-2015

SURETÉ DE FONCTIONNEMENT

MODULE:
MAINTENANCE INDUSTRIELLE
& SURETÉ DE FONCTIONNEMENT

Pr. MEDDAOUI. A 1
 Organisation

N° Type Intitulé
Séance 1 Cours Concept de la SDF
Séance 2 Cours-AP Proposition et Répartition des projets d’analyse SDF
Séance 3 Cours Calcul en fiabilité
Séance 4 TD 1 TD fiabilité
Séance 3 Cours Suivi Calcul en fiabilité 2
Séance 4 TD 2 TD fiabilité 2
Séance 5 Cours Analyse Fonctionnelle et rappel AMDEC Produit
Séance 6 TD 3 TD analyse fonctionnelle
Séance 9 Présentation Arbre Préliminiare de Risques (APR)
Séance 10 Suite et Discussion TD APR
Séance 11 Cours Arbre De Défaillannces (ADD)
Séance 12 TD 4 TD ADD
Séance 13 Présentation groupes Présentation groupes : 1, 2, 3
Séance 14 Présentation groupes Présentation groupes : 4, 5, 6, 7
Séance 15 Présentation groupes Présentation groupes : 8, 9, 10
Séance 16 Présentation groupes Présentation groupes : 11, 12, 13 et 14

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2014-2015
 Cours :

Calcul en fiabilité (2)

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 Calcul en fiabilité (1)

A. Étude de fiabilité via Weibull: Cas des points non-alignés

B. Étude de fiabilité via Weibull : Cas de calcul sans graphique
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

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 Cours: Calcul en fiabilité (2)
Rappel

Méthode graphique:
• Premier cas : Les points obtenus sont alignés
• Loi de Weibull de paramètre  = 0
•  est estimé par la valeur prise par le point d’intersection de la droite
construite avec l’axe noté
•  est obtenu en lisant la valeur prise au niveau du point d’intersection
de l’axe b avec la parallèle à la droite construite à partir du point
schématisé par un cercle sur le papier

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 Cours: Calcul en fiabilité (2)
Rappel

Approximation de la fonction de répartition F(t)

Il s ’agit d ’estimer F (t i )  PrT  t i 

Approximation à partir des fréquences observées

 Hypothèse d’un renouvellement à l ’identique

 N dates de défaillances

 Fréquences cumulées: si N  50 alors en découpant l ’horizon en intervalles ou

classes t i 1 ti  et en notant ni le nombre de défaillances sur t i 1 ti  alors
n
j i
j

F (t i ) 
N
 Pour N < 50, on ordonne les temps de bon fonctionnement Ti de manière
croissante
 Rangs moyens: si 20  N  50 , la fonction de répartition à la date de Ti est F (Ti )  i
N 1

i  0.3
 Rangs médians: si N  20 , la fonction de répartition à la date Ti est F (Ti ) 
N  0.4
6
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
Rappel

 Méthode graphique
Exemple:
Sous l ’hypothèse de renouvellement après défaillances, le relevé de 12 temps de
bon fonctionnement d ’un dispositif donne: (unité = 100 h)
24
91.5
69
46.5
17.25
51
131.25
31.05
17.25
31.05
41.2
6.75
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 ln(t)

ti

ti F(ti) ln(ti)

6.75 5,6 1.9095

17.25 13,7 2.8478
24 29,8 3.1781
31.05 37,9 3.4356
41.2 54 3.7184
46.5 62,1 3.8395
51 70,2 3.9318
69 78,2 4.2341
91.5 86,3 4.5163
131.25 94,3 4.8771

  0,   50,   1.4 MTBF  4557,1h 8

 Cours: Calcul en fiabilité (2)
B. Fiabilité par la Loi de Weibull: Calcul sans papier graphique

 Méthode graphique

• Deuxième cas: Les points obtenus ne sont pas alignés

– La détermination de  revient à calculer le décalage nécessaire

pour transformer ces courbes en droite

t 22  t1t 3
– On montre que  
2t 2  t1  t 3

– On retranche la valeur de  calculée à tous les ti et on reporte les

nouveaux points .

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 Cours: Calcul en fiabilité (2)
A. Fiabilité par la Loi de Weibull: Points non alignés

 Méthode graphique

• Si les nouveaux point obtenus sont alignés:

– Loi de Weibull de paramètres :

•  = valeur calculée
•  et  à déterminer comme précédemment

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 Cours: Calcul en fiabilité (2)

B. Fiabilité par la Loi de Weibull:

Calcul sans papier graphique

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 Cours: Calcul en fiabilité (2)
B. Fiabilité par la Loi de Weibull: Calcul sans papier graphique

 Méthode de calcul: Données non mélangées

• On utilise les procédures suivantes:

– Ordonner les temps ti et calculer Ln(ti)
– Calculer les rgs médians F(ti) suivant F(ti)= (i-0,3)/(n+0,4) et
puis Ln [Ln (1/(1-F(ti))]

– Reporter les points puis construire la droite (régression)

– Axe X: Ln(ti) et Axe Y: Ln [Ln (1/(1-F(ti))]
• Si points alignés, loi de Weibull de paramètre  = 0
•  est la pente de la droite et  = exp(-y0 / ) ,
Où y0 point d ’intersection de la droite avec l ’axe des y

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 Cours: Calcul en fiabilité (2)
B. Fiabilité par la Loi de Weibull: Calcul sans papier graphique

 Méthode de calcul: Données non mélangées

Exemple: données complètes

12,5 96,6
24,4 97,0
58,2 114,2
68 123,2
69,1 125,6
95,5 152,7

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 Cours: Calcul en fiabilité (2)
B. Fiabilité par la Loi de Weibull: Calcul sans papier graphique

 Méthode de calcul: Données non mélangées

Exemple: données complètes

Formules: F(Ti)=(i-0,3)/(n+0,4)

Rang i Ti F(Ti) Ln Ti Ln [Ln (1/(1-F(ti))]

1 12.5 0.0565 2.526 -2.845458285
2 24.4 0.1371 3.195 -1.914247621
3 58.2 0.2177 4.064 -1.404170849
4 68 0.2984 4.220 -1.037403987
5 69.1 0.3790 4.236 -0.741337623
6 95.5 0.4597 4.559 -0.485175833
7 96.6 0.5403 4.571 -0.252018579
8 97 0.6210 4.575 -0.03032111
9 114.2 0.7016 4.738 0.190094315
10 123.2 0.7823 4.814 0.421630212
11 125.6 0.8629 4.833 0.686660297
12 152.7 0.9435 5.028 1.055834013
14
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
B. Fiabilité par la Loi de Weibull: Calcul sans papier graphique

 Méthode de calcul: Données non mélangées

Graphe associé

Courbe X:Ln Ti et Y: Ln [Ln (1/(1-F(ti))] y = 1.4755x - 6.8442

R² = 0.9142
1,5

0,5

0
0,000 1,000 2,000 3,000 4,000 5,000 6,000
-0,5

-1

-1,5

-2

-2,5

-3

-3,5

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 Cours: Calcul en fiabilité (2)
B. Fiabilité par la Loi de Weibull: Calcul sans papier graphique

 Méthode de calcul:

Données mélangées (censurées et non censurées)

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 Cours: Calcul en fiabilité (2)
B. Fiabilité par la Loi de Weibull: Calcul sans papier graphique

 Méthode de calcul: Données mélangées (censurées et non censurées)

• Méthode de Wayne-Nelson

– Une procédure similaire existe dans le cas de données mélangées:

• Données ordonnées par ordre croissant et numérotées par ordre

décroissant (rang inverse)

• Pour chaque ti correspondant à un temps de défaillance, calculer

le taux de hasard h(ti)=1/rg inverse et le taux de hasard cumulé
H(ti).

• Reporter les points de coordonnées X: Ln(ti), Y: Ln H(ti) .

& La suite est la même.

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mois Rang inverse Taux de Hasard taux de hasard cum
32 20 5.0 5.0
39 19 5.26 10.26
58 18 5.56 15.82
65+ 17
66 16 6.25 22.07
70 15 6.67 28.74
75 14 7.14 35.88
75+ 13
88 12 8.33 44.21
88+ 11
94+ 10
102+ 9
106 8 12.5 56.71
109 7 14.28 70.99
110+ 6
130 5 20 90.99
150+ 4
155 3 33.33 124.32
185 2 50 174.32
210 1 100 279.32

18
 H(ti)
Mois ti rang inverse taux de hasard
taux de hasard cum X=Ln (ti) Y=Ln (Hti)
32 20 5 5 3.47 1.61
39 19 5.26 10.26 3.66 2.33
58 18 5.56 15.82 4.06 2.76
65+ 17
66 16 6.25 22.07 4.19 3.09
70 15 6.67 28.74 4.25 3.36
75 14 7.14 35.88 4.32 3.58
75+ 13
88 12 8.33 44.21 4.48 3.79
88+ 11
94+ 10
102+ 9
106 8 12.5 56.71 4.66 4.04
109 7 14.28 70.99 4.69 4.26
110+ 6
130 5 20 90.99 4.87 4.51
150+ 4
155 3 33.33 124.32 5.04 4.82
185 2 50 174.32 5.22 5.16
210 1 100 279.32 5.35 5.63

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 Y=Ln (Hti) y = 2,0075x - 5,2308
R² = 0,99

0
0 1 2 3 4 5 6

MTBF=12.1 mois

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2014-2015
 Cours: Calcul en fiabilité (2)

C. Essai de fiabilité et étude de croissance

21
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Essais de fiabilité
• Les plans d’essais doivent être définis de façon
judicieuse: ( temps long, coût, destruction des produits
mis en essais…)

• Différents types (démonstration, qualification,

acceptation, environnementaux…)

• Normes de références:
– Mil STD 781D (reliability testing for engineering development,
qualification and production) + MIL HDBK781

22
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Essais de fiabilité

• Types et utilisation:

– RGDT (Reliability Development/Growth Testing):

• Utilisé en phase de développement quand des alternatives
en conception sont explorées et des modifications sont
apportées pour améliorer la fiabilité.
– RQT (Reliability Qualification Testing) :
• Utilisé pour vérifier qu’un produit (conception choisie) a bien
une fiabilité conforme aux attentes.
• Connu aussi sous le nom de « Reliability Demonstration ou
Design Approval Testing »

23
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Essais de fiabilité
– PRAT (Production Reliability Acceptance Testing)
• Utilisé pour garantir que le niveau de fiabilité n ’est pas
détérioré en phase de production.

– ESS (Environmental Stress Screening)

• Les essais sont réalisés dans des conditions
environnementales beaucoup plus sévères que
celles d ’utilisation normale du produit.
• But: déverminage; fiabilité prévisionnelle, ...

24
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Croissance de fiabilité

• Objectif: amélioration de la fiabilité à travers des

modifications de conception

• Les essais sont menés sur des prototypes: (nombre de

dispositifs restreint)

• Les résultats des différents essais sont représentés sur

une courbe (courbe de croissance)

25
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Modèles de croissance

Objectif:

• Identifier les « points faibles » et les zones

d’amélioration

• Évaluer les progrès potentiels

• Estimer le temps d’essai nécessaire pour atteindre un

objectif de fiabilité

26
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Modèle de croissance

• Les plus utilisés sont le modèle de Duane et AMSAA

(Army Material Systems Analysis Activity)

• Source importante: Mil STD + Mil Handbook189:

Reliability Growth managment

• Gompertz, Weibull, Healy, Asher et Feingold, Lloyd et

Lipow, exponentiel…

• Choix d’un modèle lié aux conditions d’application

27
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Modèle de Duane

Principe :
Produits nouveaux moins fiables en début de dév.
J.T. DUANE: Modèle empirique

c (MTBF cumulée) représentée en fct du temps

total (papier log-log) donne une droite

Pente de la droite: Indication de croissance de fiabilité

LOG c = LOG 0 + a (LOG T – LOG To)

28
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Croissance de fiabilité
θo MTBF cumulée sur 1 période d’observation T o
T a
θc  θo ( )
To

 θi (MTBF instantanée)
T T T
θ  n 
c n θ T a
c θ ( )
o T
o
a
(1 - a ) o
T
nT
θ
o
T a T

dn
 (1 - a ) T - a o  (1 - a ) ( o )a
1
dT θ T θ
o o
29
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Croissance de fiabilité
dn 1 dn 1
 i    (1 - a )
dT θ i dT θc

θc
 θi 
1-a

 Les droites représentant i et c sont //

 Le programme de croissance peut-être mené sur i ou c
Remarque : a : Pente de la droite est aussi le coefficient
d’amélioration (de la croissance) de fiabilité
30
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Croissance de fiabilité
Typiquement a est compris entre 0,2 et 0,4

a = 0,1 : Aucune attention particulière aux améliorations de

fiabilité
a = 0,2 : Attention normale (essais conditions normales)
Actions correctives pour mode de def importants
a = 0,3 – 0,4 : Attention particulières (test avec conditions
d’environnement)
Action correctives pour mode de def importants
a = 0,4 – 0,6 : Programme avec gros efforts pour éliminer les
modes de défaillance
Essais accélérés ; analyse immédiate et correction
des def.
31
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Croissance de fiabilité
Utilisation pratique :
Au bout de combien de temps d’essais, peut-on atteindre
l’objectif de MTBF fixé ?

Exemple :
Lors des premiers essais d’un nouveau matériel électronique, on
a enregistré 11 défaillances en 600 h sans mode de défaillance
prédominant.
Combien de temps supplémentaire d’essais doit-on prévoir si on
veut garantir une MTBF i de 500 h ?
(simulation de 2 scénarios: a = 0,3 et a = 0,5)

32
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

T 600
θo    54,4 h
n 11
θ c  350h a  0,3
θ i  500 h  θ c  500 (1 - a )
θ c  250h a  0,5

θ c 1/ a
)a
T
θ c  θ o (  T  To ( )
To θ o

 T = 297 200 h a = 0,3

T = 12 670 h a = 0,5
Remarque : Il est impensable de faire ~ 300 000 h d’essais

 se donner les moyens d’améliorer la fiabilité

33
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Essais accélérés
MIL – STD 217
Pb : Transposer les valeurs des caractéristiques de
fiabilité obtenues en conditions sévérisées à des
prévisions de fiabilité en condition normale
d’utilisation

Exemple : Loi d’Arrhénius

Essais réalisés à une température T1
Transposer les résultats pour une température T2

34
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Essais accélérés
= Loi de dégradation physico-chimique la plus simple et la plus fréquente
 1 1 
 2   1 exp  Ea / K ( - ) (1)
 T1 T 2 
 
K : Constante de Baltzman 8,617 x 10-5 ev/°K
Ea : Energie d’activation nécessaire pour créer le mécanisme de défaillance
1 = taux de def à la t° abs T1 (°K)
2 = taux de def à la t° abs T2 (°K)
2 E a 1 1
(1)  Log  ( - )  Log h
1 K T1 T2
Où h = coefficient d’accélération du processus entre T1 et T2

35
 Cours: Calcul en fiabilité (2)
C. Essai de fiabilité et étude de croissance

Essais accélérés

Exemple :
Lors d’un essai de fiabilité réalisé sur un
échantillon de 300 pièces à une
température de 168°C, on a observé 5
défaillances.

Calculer le taux de défaillance prévisionnel

pour une température de 50°C (Ea/K = 7532
d’après MIL – HDBK 217).

36
 Exemple LOGARITHME DUANE
90,00

80,00

70,00

60,00

50,00

40,00

30,00

20,00

10,00

0,00
0 5000 10000 15000 20000 25000 30000 35000 40000 45000 50000

37