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SERIE N 4
II : Le silicium cristallise dans le système cubique. Sa densité a pour valeur 2,38. L’analyse
par diffraction des rayons X, de longueur d’onde λ=1,5406 Å, d’un échantillon de cet
élément a permis d’obtenir le diffractogramme ci-dessous (les angles de diffraction sont
donnés en 2Ɵ).