TP PROFILOMETRE

1 Profilomètre
Un profilomètre est un appareil de mesure servant à étudier l’état de
surface d’un matériau. Comment fonctionne-t-il ? L’appareil est constituer
d’un microscope et d’une mise au point automatique. Ce microscope relève
la hauteur sur un point de la surface (voi figure 1), lorsque la mise au point
du microscope rend une image nette. Pour faire la mise au point le profilo-
mètre possède un objectif Mirau qui est contrôlé par l’ordinateur. Ce type
de capteur est passif c’est-à-dire qu’il n’y a pas de contact entre l’appareil
et l’échantillon.

Figure 1 – Principe Profilomètre

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 Voici en figure 2 un exemple d’échantillon passé en profilométrie.

Figure 2 – Echantillon placé au profilomètre

2 Essais
L’objectif de ce TP est dans un premier temps de prendre en main le
profilomètre. Puis dans un second temps d’étudier un échantillon.
Pour l’étude portant sur l’échantillon nous avons décider d’étudier une
face plane d’un morceau de cuivre. Le cuivre est un matériau assez intéres-
sant car il possède une dureté très faible, il prend donc beaucoup la mémoire
de ces impacts. L’échantillon est passé dans un premier temps dans le pro-
filomètre avec un grossisement x5, puis x10. Les profils de ces échantillons
sont présent dans la figure 3.

x5 x10

Figure 3 – Mapping du cuivre

Le logiciel intégré au profilomètre nous permet aussi d’étudier un para-

mètre important des surfaces qui se nomme la rugosité (voir figure 4).

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 x5 x10

Figure 4 – Analyse

Les rugosités obtenues pour les mêmes surfaces avec différents grossisse-
ments sont de Ra “ 1, 5179 µm pour un grossissement x5 et Ra “ 396, 94
nm pour un grossissement de x10. Pourquoi la rugosité diminue ? Une des
hypothèses est lorsque nous observons de plus près, la matière perçu devient
de plus en plus pure avec moins de rayures ou de d’empreintes sur la sur-
face. Il y a aussi l’hypothèse de la résolution qui à de plus en plus de mal à
percevoir les variations de hauteurs de la surface.
De plus, lorsque nous observons la figure 5, des lignes apparaissent. L’hy-
pothèse que nous avons mis en place correspond au surfaçage du cuivre effec-
tué par un tour. Pour évaluer cette hypothèse nous avons relevé la différence
de hauteur sur une ligne de la surface perpendiculairement aux traces d’ou-
tillages potentielles (voir figure 5).
Puis sur chaque grossissements on effectue une transformé de Fourier
pour identifier les potentielles rayures redondantes. Les résultats sont pré-
senté sur les figures 7 et 8.
La première FFT sur le grossissement x5 nous montre qu’il y a un signal
avec une fréquence d’environ 0,009 µm´1 , soit une rayure toutes les 0,125
mm, ce qui pourrait correspondre à une passe effectué par un tour. Lorsque
nous comparons ce résultat avec le signal obtenu pour le grossissement x5
nous retombons quelques fois sur une redondance de hauteur dans le signal
fournit par le profilomètre. Sur la seconde FFT effectuée sur le grossissement
x10 il est compliqué de tirer des conclusions à la vue de celle-ci. Ce signal
brouillé est surement dû aux nombreuses taches présentent sur la surface
(voir figure 6).

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Figure 5 – x5

Figure 6 – x10

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Figure 7 – FFT x5

Figure 8 – FFT x10