Techniques de production et Lean management

maitrise statistique des procédés

M. EL ALAOUI
Prof.mohamed.elalaoui@gmail.com
 Qualité

Spécification 1. besoin non spécifié par le client et non réalisé (insatisfaction)

2. besoin spécifié par le client et non réalisé (défauts)
3 3. partie du produit spécifiée inutile et non réalisée (double
illusion)
2 4 4. partie du produit spécifiée inutile et réalisée (sur-qualité)
7
5. partie du produit non spécifiée, inutile et réalisée (gaspillage)
1 5
6. besoin non spécifié par le client et réalisé (qualité aléatoire)
6
7. qualité maîtrisée (doit être le plus grand possible)
Besoin Réalisation

Définition : l’ensemble des caractéristiques d’un produit ou service, qui lui confèrent l’aptitude
à satisfaire des besoins (attentes) exprimés et implicites.

2
 Objectifs de la MSP
Matières Produit
Machine 1 Machine 2 Machine n Fini
Premières

Éviter le retour des clients

Éviter de perdre du temps sur un produit non conforme
non satisfaits

Contrôler le processus de Origine de

fabrication variabilité
Causes
aléatoires ou
Évaluation de capabilité normales
(80%)

Causes
Améliorer et maintenir la qualité assignables
ou spéciales
(20%)

3
 Évolution de la qualité
• Constat d’échec
Contrôle • Contrôle en cours ou à la fin de
qualité fabrication sur certaines caractéristiques
afin d’apporter des actions correctives

Assurance • dispositions préventives afin de garantir

qualité le niveau de qualité attendu.

Système de • Englobe toute l’entreprise

management • La qualité devient l’affaire de tout le
monde
de la qualité

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 Méthodologie
Choix du processus ou produit

Analyse produit ou processus

Démarche
qualité
Choix des paramètres

Choix de la carte de contrôle

Calcul de la carte de contrôle

Contrôle Processus maitrisé statistiquement Non

qualité
oui
Non
Processus capable
oui
Maitriser et améliorer le processus

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 Critères à satisfaire

Les critères à satisfaire pour les cartes de contrôles sont:

Critère 1: 2/3 des points dans A et B
Critère 2 : peu de points dans E et F
Critère 3 : points répartis en dessous et au dessus
Critère 4 : pas de points en dehors des limites

Limite supérieure de contrôle

LSC
E
C
A
Moyenne
B
D
F LIC
Limite inférieure de contrôle
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 Cartes de contrôle aux mesures
Lorsque la caractéristique suivie est mesurable : poids, diamètre, longueur, viscosité …
Hypothèse: les données de la caractéristique suivent une loi de distribution normale
Objectif: détecter la présence de causes assignables affectant la centrale et ou la variabilité du processus.
Symbole Signification Formule
𝑛 Taille de l’échantillon -
Phase initiale :
𝑘 Nombre d’échantillon -

𝑥𝑖𝑗 𝑗è𝑚𝑒 observation du 𝑖è𝑚𝑒 échantillon -

𝑛
estimation des
Moyenne du 𝑖è𝑚𝑒 échantillon. 𝑗=1 𝑥𝑖𝑗
𝑋𝑖
Les points calculés (à suivre)
paramètres 𝜇 et 𝜎
𝑛
𝑅𝑖 Étendu du 𝑖è𝑚𝑒 échantillon 𝑥𝑖𝑚𝑎𝑥 − 𝑥𝑖𝑚𝑖𝑛
𝑛
1 2
𝑆𝑖 Écart type du 𝑖è𝑚𝑒 échantillon 𝑥𝑖𝑗 − 𝑋𝑖
𝑛−1
Phase surveillance :
𝑗=1

𝑘
𝑋 Moyenne des moyennes 𝑖=1 𝑋𝑖

𝑘
𝑘
utilisation des paramètres
𝑖=1 𝑅𝑖
𝑅 Moyenne des étendus connus 𝜇0 et 𝜎0
𝑘
𝑘
𝑆 Moyenne des écarts types 𝑖=1 𝑆𝑖 7
𝑘
 Paramètres des principales cartes
3
Type Carte 𝜇 et 𝜎 inconnus (phase initiale) 𝐴2 =
de 𝑑2 𝑛
carte Ligne centrale Points suivis Limites de contrôle Estimations 3
𝐴3 =
𝑋 𝑋 𝑋𝑖 𝑋 ± 𝐴2 𝑅 𝜇=𝑋 𝑐4 𝑛
(𝑋, 𝑅) 𝑑3
𝑅 𝑅 𝑅𝑖 𝐷3 𝑅, 𝐷4 𝑅 𝜎 = 𝑅/𝑑2 𝐷3 = 1 − 3
𝑑2
(𝑋, 𝑆) 𝑋 𝑋 𝑋𝑖 𝑋 ± 𝐴3 𝑆 𝜇=𝑋 𝑑3
𝐷4 = 1 + 3
𝑆 𝑆 𝑆𝑖 𝐵3 𝑆, 𝐵4 𝑆 𝜎 = 𝑆/𝑐4 𝑑2

1
𝐵3 = max 0; 1 − 3 −1
𝑐4 2

1
𝐵4 = 1 + 3 −1
𝑐4 2

8
 Exemple carte (𝑋, 𝑅) et (𝑋, 𝑆)
Numéro numéro pièce
échantillon 1 2 3 4 5
tracez les cartes 𝑋, 𝑅 et 𝑋, 𝑆 relatives aux 1 19,91 19,93 19,96 19,93 19,94
2 19,9 19,93 19,91 19,92 19,92
échantillons du tableau suivant:
3 19,93 19,91 19,96 19,9 19,97
4 19,96 19,94 19,96 19,91 19,93
5 19,95 19,92 19,93 19,91 19,92
6 19,92 19,94 19,97 19,93 19,93
7 19,9 19,92 19,88 19,93 19,92
8 19,97 19,94 19,97 19,93 19,93

9
 Exemple carte (𝑋, 𝑅) et (𝑋, 𝑆)
X R
19,96 0,12

19,95 0,1

19,94 0,08

0,06
19,93
𝜎 = 𝑅/𝑑2
19,92 0,04
= 0,0204
19,91 0,02

19,9 0
1 2 3 4 5 6 7 8 1 2 3 4 5 6 7 8
Xibar Xbarbar LICX LSCX Ri Rbar LICR LSCR

X S
19,96
0,045
19,95 0,04
0,035
19,94
0,03
19,93 0,025
𝜎 = 𝑆/𝑐4
0,02
19,92
0,015 = 0,0208
19,91 0,01
0,005
19,9
0
1 2 3 4 5 6 7 8
1 2 3 4 5 6 7 8
Xibar Xbarbar LICX LSCX
Si Sbar LICS LSCS

Tous les points sont à l’intérieur des limites de contrôle : procédé maitrisé statistiquement
Les limites retrouvées peuvent être utilisées pour le suivi en temps réel
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 Paramètres des principales cartes
Type de Carte 𝜇0 et 𝜎0 connus (phase surveillance)
carte
Ligne centrale Points suivis Limites de contrôle
𝑋 𝜇0 𝑋𝑖 𝜇0 ± 𝐴𝜎0
(𝑋, 𝑅)
𝑅 𝑑2 𝜎0 𝑅𝑖 𝐷1 𝜎0 , 𝐷2 𝜎0
(𝑋, 𝑆) 𝑋 𝜇0 𝑋𝑖 𝜇0 ± 𝐴𝜎0
𝑆 𝑐4 𝜎0 𝑆𝑖 𝐵5 𝜎0 , 𝐵6 𝜎0

𝐴 = 3/ 𝑛
𝐷1 = 𝑑2 − 3𝑑3
𝐷2 = 𝑑2 + 3𝑑3
𝐵5 = 𝑐4 − 3 1 − 𝑐4 2

𝐵6 = 𝑐4 + 3 1 − 𝑐4 2

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 Exemple carte (𝑋, 𝑅) et (𝑋, 𝑆)
Numéro numéro pièce
échantillon 1 2 3 4 5
En fixant 𝜇0 = 19,93 et 𝜎0 = 0,02 1 19,91 19,93 19,96 19,93 19,94
2 19,9 19,93 19,91 19,92 19,92
tracez les cartes 𝑋, 𝑅 et 𝑋, 𝑆 relatives aux
3 19,93 19,91 19,96 19,9 19,97
échantillons du tableau suivant: 4 19,96 19,94 19,96 19,91 19,93
5 19,95 19,92 19,93 19,91 19,92
6 19,92 19,94 19,97 19,93 19,93
7 19,9 19,92 19,88 19,93 19,92
8 19,97 19,94 19,97 19,93 19,93

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 Exemple carte (𝑋, 𝑅) et (𝑋, 𝑆)
X
19,96

19,95

19,94

19,93

19,92 S
19,91 0,04
0,035
19,9
1 2 3 4 5 6 7 8 0,03
0,025
Xibar mu0 LICX LSCX
0,02
0,015
R 0,01
0,1 0,005
0,09 0
0,08 1 2 3 4 5 6 7 8
0,07
Si c4sigma0 LICS LSCS
0,06
0,05
0,04
0,03
0,02
0,01
0
1 2 3 4 5 6 7 8

Ri d2sigma0 LICR LSCR

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