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Approches Archéométriques
- Composites et hétérogènes
- Transformés par l’homme
- Affectés de dégradations naturelles (vieillissement)
- Souvent conservés en faible quantités
- Fabrication
o Quand ?
o Où par qui ?
o D’où viennent les matériaux ?
o Production en série ?
o Production domestique, artisanal ou industrielle ?
- Diffusion
o Acteurs et modalités de l’échange ?
- Usage
o Fonction et finalité ?
o Possesseur ?
- Abandon
o Quand ?
o Pourquoi ?
o Dans quel état ?
Archéométrie
La méthode scientifique
Echantillonnage
- Sélection d’un sous-ensemble d’individus au sein d’une population permettant d’estimer les
caractéristiques de la population entière
- Motivation
o La population ne peut pas être mesurée directement
o Coûts moins élevés
- Echantillonnage aléatoire
o Chaque élément à la même probabilité d’appartenir à la population
o Avec population homogène
- Echantillonnage systématique
o Le premier individu est choisi de manière aléatoire, puis les suivants à intervalle
régulier
- Echantillonnage stratifié
o La population est subdivisée en plusieurs parties avant de prendre l’échantillon
La notion de biais
- Erreur systématique ou simplification
o Erreurs de mesures, etc..
o Biais cognitif
Distorsions dans le traitement cognitif de l’information par rapport à la
réalité
o Biais statistiques
Tendances systématiques dans le traitement des données entrainant des
erreurs
o Biais de sélection
Résultent de l’observation d’individus non représentatifs des populations
étudiées
Ne permettent pas de répondre à la question posée
Interviennent lors de l’échantillonnage
o L’effet de Signor-Lipps
Principe
L’enregistrement fossile n’est jamais complet : ni le premier, ni le
dernier spécimen d’un taxon ne sont enregistrés comme fossiles
Conséquence
La plus ancienne ou la plus jeune occurrence d’un fossile ne
représentent pas l’apparition ou la disparition d’un taxon
o Biais de confirmation
Privilégier les informations qui confirment des hypothèses préconçues
Chercher préférentiellement une preuve de confirmation plutôt que
d’infirmation
- Représentativité de l’échantillonnage
o Facteurs et contraintes
Complexité du matériau
Nombres de restes
Degrés d’altération
Restaurations anciennes
Possibilités de prélèvement
o Protocole
Echantillonnage
Prélèvement
o Prélèvement détruit
Analyse invasive
Analyse destructive
o Analyse non invasive
Radioactivité
Les rayonnements
Interactions rayonnements-matière
- Généralités
o Rayonnement
Non ionisant
Indirectement ionisant
o Interactions
Particules chargées
Ionisant
Directement ionisant
o Ionisations
o Excitations
- Particules chargées
o e-
o e+
o p+
o α
- Interactions avec les électrons
o Ionisation
Éjection d’un électron du cortège électronique. Cet électron arraché est
appelé électron secondaire
o Excitation
Transfert d’un électron sur une couche électronique
- Interaction avec les noyaux
o La particule incidente est déviée de sa trajectoire
o Elle subit un ralentissement
o Ce changement de vitesse est accompagnée de l’émission d’un photon X
- Electron rétrodiffusés
o Interaction d’un faisceau d’électrons avec les noyaux d’un échantillon
o Sensibles au numéro atomique des atomes de la matière
Photons
Méthodes d’observation
- Seuil de perception
o Dimensions minimales d’un objet pour qu’il puisse être perçu par nos sens
- Pouvoir de résolution
o Distance minimale entre deux points pour qu’ils puissent être distingués
- Système optique à lentilles dont le but est d’obtenir une image agrandie de l’objet observé
- Grossissement
o Rapport de la taille de l’image à celui de l’objet
Méthodes d’analyse
- Analyse élémentaire
o Identifier la nature des éléments chimiques (qualitatif et / ou quantitatif)
- Analyse structurale
o Préciser les relations entre les éléments chimiques (liaisons chimiques)
- Fluorescence de rayons X
o Emission d’un rayonnement par un corps suite à l’absorption d’un rayonnement
d’énergie spécifique
o Toujours erreur de mesure
o Emission de rayon X
Rayons X
Spectrométrie de fluorescence X (dispersion d’énergie ou de
longueur d’onde)
Electrons
Microsonde électronique, couplage SEM-EDS
Ions
Sonde nucléaire (Particle-Induced X-ray Emission, PIXE)
o Diffraction de rayons X
Comportement des ondes lorsqu’elles rencontrent un obstacle
- Les solides cristallins
o Les atomes sont organisés en motifs géométriques réguliers (réseaux cristallins )
o Souvent anisotropes
o Possèdent une température de fusion à pression donnée