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Ch 2 : Structure des solides cristallins

• Introduction
• Description de l’état cristallin
• Plans réticulaires et indices de Miller
• Structure des principaux matériaux
• Structure compact des métaux

• Structures des Céramiques

• Matériaux amorphes

• Structure des Polymères

• Propriétés Liées à la Structure


Introduction

 Les solides peuvent exister sous deux états différents :


 l’état désordonné caractérisé par une structure non ordonnée
c’est le cas des systèmes amorphes, par exemple les verres.
 l’état ordonné caractérisé par une structure ordonnée
correspond aux solides cristallins.

Schémas 2D: (a) SiO2 cristallin, (b) SiO2 amorphe


Introduction

États NON ORDONNES : Particules constituantes réparties au hasard


Les gaz et la plupart des liquides, verres

Etats ORDONNES Particules constituantes réparties régulièrement

Solides cristallins
Introduction

Figure 2 : a- Matériaux monocristallin, b- matériaux poly-cristallins


Introduction
Introduction

 Matériaux monocristallin
se caractérise par un arrangement périodique d’atomes qui
est parfait et qui se répète sans interruption dans tout
l’échantillon de matériaux.
 Matériaux polycristallins.

regroupent un grand
nombre de petits
cristaux ou grains
relis entre eux par
des joints de grains
Introduction
Conclusion : Un polycristal
ou matériau polycristallin
est un matériau solide
constitué d'une multitude de
petits cristaux appelés
cristallites de taille et
d'orientation variées, par
opposition à un matériau
monocristallin constitué d'un
seul et unique cristal.

( a), (b), (c)Schémas des diverses étapes de la solidification d’un matériau polycristallin
, (d)Représentation de la structure granulaire Les ligne sombres sont Les joints de grains
Notions de cristallographie
 La cristallographie
Elle décrit l’architecture des cristaux, c’est-à-dire la
répartition des atomes dans l’espace et les lois géométriques
qui en fixent la position.
 Structure cristallin

Les solides cristallins sont donc caractérisés par un ensemble


d’atomes arrangés périodiquement suivant les trois directions
de l’espace dans un ordre strict qui définit la structure
cristalline.
 Deux concepts fondamentaux sont à la base de la description de
la structure cristalline
Notions de cristallographie

 Deux concepts fondamentaux sont à la base de la


description de la structure cristalline.
Le réseau et le motif
Notions de cristallographie

 Réseau
Un réseau spatial est constitué par un ensemble de points
appelés nœuds, de dimension infinie, obtenu par translation
dans l’espace de trois vecteurs non coplanaires, a, b et c, qui
déterminent les directions et les distances entre les nœuds du
réseau.
Notions de cristallographie

 Motif
Le motif constitue l’élément de base dont la répétition suivant
le réseau spatial engendre le cristal. Le motif peut être un
atome ou un groupe d’atomes ayant une orientation et une
géométrie bien déterminées

La position d'un nœud quelconque du


réseau est donnée par le vecteur
r = ua + vb + wc
Notions de cristallographie

 La maille cristalline
On appelle maille la structure géométrique la plus simple qui
par translation dans les trois directions de l’espace, permet de
générer le réseau cristallin dans son ensemble.
La maille est généralement un parallélépipède,
définie par les trois longueurs a, b, c et par les
trois angles α, β, γ.
a, b et c constituent les paramètres de la maille.

La plus petite maille cristalline permettant de décrire tout le cristal est appelée
maille élémentaire.
Notions de cristallographie

Réseau + Motif = Cristal


Les réseaux de Bravais

Tous les réseaux cristallins peuvent être décrits à partir de 7


mailles élémentaires qui définissent 7 systèmes cristallins.
Selon que la maille élémentaire est simple ou multiple, et à
partir de ces 7 systèmes cristallins, on définit les 14 réseaux
de Bravais.
Les réseaux de Bravais

 1- Système Cubique
a =b =c
α= β = γ = 90°
1.1 Réseau cubique Simple
Les réseaux de Bravais
Les réseaux de Bravais

1.2 Réseau cubique centré


Les réseaux de Bravais

1.3 Réseau cubique faces centrées


Les réseaux de Bravais

2- Système rhomboédrique
a=b=c
α= β = γ ≠ 90°
Les réseaux de Bravais

 3- Système hexagonal
a=b≠c
α= β = 90° γ=120°
Les réseaux de Bravais

4- Système Tétragonal (quadratique)


a=b≠c
α= β = γ = 90°

4.1 Réseau quadratique primitif 4.2 Réseau quadratique centré


Les réseaux de Bravais

5- Système orthorhombique a ≠ b ≠ c α= β = γ=90°

5.1 Réseau orthorhombique primitif 5.2 Réseau orthorhombique centré


Les réseaux de Bravais

5.3 Réseau orthorhombique 5.4 Réseau orthorhombique


base centrée faces centrées
Les réseaux de Bravais

6- Système monoclinique : a ≠ b ≠ c α= β =90° γ≠90°

6.1 Réseau monoclinique 6.2 Réseau monoclinique


primitif base centrée
Les réseaux de Bravais

7- Système triclinique
a≠b≠c
α≠ β ≠ γ
structure cristalline et le paramètre de maille des éléments de la
classification périodique.
Plans réticulaires et indices de Miller
 Définitions
Toute droite passant par deux nœuds constitue une rangée
réticulaire. Tout plan passant par trois nœuds du réseau
constitue un plan réticulaire.
Les nœuds du réseau peuvent être regroupés en plans
parallèles et équidistants : on obtient ainsi une famille de
plans réticulaires.
Plans réticulaires et indices de Miller

Dans un cristal où la maille est définie par les vecteurs


fondamentaux (a, b, c ), considérons un plan réticulaire
Quelconque coupant les trois axes respectivement en (X,0,0)
(0,Y,0) et (0,0,Z). On peut écrire :
X = Aa ; Y = Bb ; Z = Cc
où A, B, C sont des réels.
Plans réticulaires et indices de Miller

Les indices de Miller h, k et l s'obtiennent en prenant les


inverses de A, B et C et en multipliant par un entier n de
manière à ce que h, k et l soient entiers et les plus petits
possibles.
Plans réticulaires et indices de Miller
Plans réticulaires et indices de Miller
Plans réticulaires et indices de Miller
Plans réticulaires et indices de Miller
 On peut ainsi voir toutes les combinaisons :
 Le plan coupe A seul en étant parallèle à B et C on note 100.
 Le plan coupe B seul en étant parallèle à A et C on note 010.
 Le plan coupe C seul en étant parallèle à A et B on note 001.
 Le plan coupe A et B en étant parallèle à C on note 110.
 Le Plan coupe A et C en étant parallèle à B on note 101.
 Le plan coupe C et B en étant parallèle à A on note 011.
 Comme on la vu sur le troisième dessin si le plan coupe les trois axes
A, B et C en formant un triangle on note 111.
 Lorsque les plans sont coupés dans la partie négative d’un axe on note
ī (lire moins un)
Plans réticulaires et indices de Miller
Plans réticulaires et indices de Miller
Plans réticulaires et indices de Miller
Direction cristalline

Considérons le cas d'une maille


cubique et un point/nœud comme
origine du système, à partir de
celui-ci nous pouvons tracer
plusieurs vecteurs qui interceptent
d'autres nœuds du réseau et qui
constitueront les directions
cristallographiques définies
par les coordonnées du nœud le
plus proche de l'origine :
Direction cristalline
Quelques relations particulières

Les plans d'une famille (h, k, l) sont équidistants. Cette


équidistance ou distance interéticulaire notée dhkl diminue
lorsque les indices de Miller augmentent.
Pour le système cubique, on démontre que (a paramètre de
maille) :

Avec a paramètre de maille, (h, k, l) indice de Miller


Quelques relations particulières
Structure des principaux matériaux

Structure compact des métaux


La liaison métallique est une liaison forte non orientée et les
atomes des métaux ont tendance à adopter l’arrangement le
plus compact possible donnant à la formation de structures
cristallines simples et de haute densité.
Structure compact des métaux

La plupart des métaux purs cristallisent dans :


 Le système cubique :
 CFC (cubique à faces centrées) par exemple : Cu, Ag, Al,
Au, Ni, Pt, Pb, Feγ ;
 CC (cubique centré) par exemple : Feα, Mn, Cr, V, Mo,
Ta, Tiβ ;
 Le système hexagonal
(hexagonal compact HC); par exemple Tiα, Mg, Zr, Cd, Zn,
Be.
Structure compact des métaux

La structure Cubique Centrée (CC)

Le nombre de coordination,
représentant le nombre de
premiers voisins d'un atome
donné, est de 8.
:

Structure compact des métaux


Relation entre a et R

Coordinence :
Nombre de plus proches voisins à égale distance d’un atome donné 8 atomes
à a √ 3/2
Compacité : La compacité de la structure C, définie par le rapport du volume
des atomes sur le volume de la maille.
Volume occupé par tous les atomes / Volume de la maille → C = 0,68 = 68%
soit 32 % de vide
Structure compact des métaux


Masse volumique : N = nombre associés à chaque
maille élémentaire
M = masse molaire
Na= nombre d’Avogadro (6,023 x 10
23 atomes / mol).
Structure compact des métaux

La structure Cubique à Faces Centrées (CFC)

Descriptif: 1 atome à chaque sommet : 8x1/8


1 atome au centre de chaque face 6 x 1/2
= 4 atomes / maille
Paramètre de la maille a: arête du cube
Structure compact des métaux

Relation entre a et R
Structure compact des métaux
La structure hexagonale compacte (HC)
Structure compact des métaux
Structure compact des métaux

Conclusion : Métaux et alliages


Structure des céramique

Les céramiques peuvent adopter un état cristallin ou non


cristallin (amorphe …).
Les liaisons atomiques de ces matériaux varient beaucoup :
Certains sont strictement ioniques tandis que d’autres sont
totalement covalentes. On observe la présence de ces deux
types de liaison dans bon nombre de céramique.

Schémas 2D: (a) SiO2 cristallin, (b) SiO2 amorphe


Structure des céramique

Céramiques à Liaisons Ioniques


Leur structure dépend la taille relative des anions (rayon des
anions Ra) et des cations (rayon des cations Rc).
• si Rc/Ra > 0,73, la structure modèle est celle du ClCs
(cubique simple)
Structure des céramique

Céramiques à Liaisons Ioniques


• si 0,33 < Rc/Ra < 0,73, la structure modèle est celle du
NaCl (cubique à faces centrées).
Structure des céramique
Céramiques à Liaisons Ioniques
si 0,23 < Rc/Ra < 0,33, la structure modèle est celle du ZnS: Structure de
type blende : concerne les ions dont le nombre de coordination est de 4 et
qui se regroupent donc en tétraèdres. Elle porte le nom de structure
blende.
Structure des céramique

Céramiques à Liaisons Covalentes


Dans les solides covalents, le nombre n de premiers voisins d'un atome
donné, est égal à 8 - N où N est le nombre d'électrons participant à la
liaison (ou le numéro de la colonne du tableau périodique dont est issu
l'élément.
Par exemple, dans le cas du carbone diamant (2s2 2p2) ou du silicium
(3s2 3p2), chaque atome est entouré de quatre premiers voisins (angle
entre les liaisons : 109,5°). Cette structure appartient au réseau CFC
Structure des céramique
Céramique de silicates

Les silicates dont l'importance industrielle est énorme (matière première des céramiques) ont
des structures dérivées de celle de la silice. On retrouve toujours comme unité de base
les tétraèdres (SiO4)4-, liés par l'intermédiaire d'ions métalliques qui cèdent leurs électrons pour
établir les liaisons.
Structure des céramique

 Matériau amorphe ou désordonné :


Concerne surtout
 Exemple : silice (SiO2)

Schémas 2D: (a) SiO2 cristallin, (b) SiO2 amorphe


Structure des céramique

Céramique de Carbone
Structure des polymères
Dans le cas des polymères, les unités constitutives sont des molécules de
grande dimension et non plus, comme dans les cas précédents, des atomes
ou des groupes de quelques atomes. Ce sont des macromolécules
contenant jusqu'à quelques milliers d'atomes.
Structure des polymères

Polymères amorphes et polymères cristallins


Dans Les polymères cristallins :
la symétrie des chaînes
macromoléculaires par rapport à
leur axe est importante, la
structure des chaînes est régulière,
les polymères peuvent
présenter une structure
cristalline (triclinique,
monoclinique, rhomboédrique,
quadratique, orthorhombique).
Structure amorphe (et structure semi-cristallin) En général, un polymère n'est
jamais totalement cristallin et
présente un degré de
polymérisation d'au plus 80 ou
90%. On parle de
polymères<semi-cristallins.
Propriétés liées à la structure

De nombreuses propriétés des cristaux sont liées à la nature


de la cohésion de la structure cristalline.
Propriétés mécaniques (compressibilité, modules d'élasticité),
électriques (résistivité électrique..), magnétiques,
thermiques (température de fusion, chaleur spécifique,
dilatation thermique, conductibilité thermique), d'autres sont
déterminées par l'agitation thermique ou par la nature des
défauts contenus dans le cristal.
Propriétés liées à la structure

Fragilité – Ductilité
Propriétés liées à la structure
Dans les matériaux à liaisons covalentes, la forte directionnalité des
liaisons fait que la position des atomes les uns par rapport aux autres ne
peut guère varier. De tels matériaux soumis à une contrainte rompent
généralement de façon fragile par bris des liaisons. Ce n'est pas le cas des
matériaux à liaisons métalliques pour lesquels un déplacement relatif
permanent des atomes les uns par rapport aux autres leur confère une
certaine ductilité.
Propriétés liées à la structure

 Conductibilité électrique et thermique


Les conductibilités électrique et thermique sont dues
essentiellement à la possibilité de déplacement des
électrons sous l'effet d'une différence de potentiel ou d'un
gradient de température. Plus les électrons sont libres de se
mouvoir (cas des matériaux à liaisons métalliques), plus
ces grandeurs sont importantes.
Propriétés liées à la structure

 Température de fusion - Inertie chimique


La forte intensité des liaisons covalentes et ionique conduit à
des valeurs des températures de fusion importante et à une
grande inertie chimique (MgO, Al2O3, Si02).
Propriétés liées à la structure
 Dilatation Thermique
La dilatation thermique des matériaux est liée à leur énergie de cohésion.
Si une élévation de température est imposée à un matériau, les atomes le
constituant vibrent autour de leur position d'équilibre du fait de l'agitation
thermique. Notons que la dilatation thermique est d'autant plus faible que
l'énergie de cohésion est plus forte .
Cette dilatation peut s'exprimer simplement par un coefficient en calculant
la déformation d'un matériau sous la seule influence d'une variation de
température :
Propriétés liées à la structure

où L0 représente la longueur initiale de l'éprouvette test et ΔL la variation


de longueur résultant de la variation de température.
Le coefficient de dilatation linéaire des métaux usuels est de l'ordre de
10-5 (par °C). Dans le cas des céramiques, ce coefficient est inférieur de
moitié environ et peut même être proche de 0 (silice hexagonale / quartz).
Dans le cas des matières plastiques, le coefficient de dilatation est environ
10 à 100 fois supérieur à celui des métaux.
Propriétés liées à la structure

Quelques Ordres de Grandeur


Propriétés liées à la structure

Principales caractéristiques des liaisons et propriétés qui en découlent


Conclusion

 Métaux et alliages
Conclusion

 Céramique
• Structure désordonnées : amorphe : verre de silice ..
• Structure ordonnées
Conclusion

 Céramique à liaison ionique

Céramique à liaison covalente


Céramique de silicate
Conclusion
Céramique de Carbone
Conclusion
Polymère

Structure amorphe (et structure semi-cristallin)


Chapitre 4 : Diffraction des rayons X
• Introduction
• Généralités sur les Rayons X
• Principe
• Le spectre de Rayons X

• Les tubes de rayon X

• Interactions Rayons X / Matière


• Méthodes d'investigation utilisant les Rayons X
• La Radiocristallographie
• Historique

• Diffraction des rayons X : La loi de Bragg

• Analyse de l'intensité des taches de diffraction


Chapitre 4 : Diffraction des rayons X

• Les Principales Méthodes Expérimentales


• La méthode de Laue

• La méthode du cristal tournant

• La méthode de Debbye-Sherrer ou méthode des

poudres
• La méthode utilisant un diffractomètre à compteur

• Quelques Applications des Méthodes de


Radiocristallographie
• Conclusion
Introduction

Les rayons X sont utilisés pour déterminer:


 la structure des cristaux : arrangements atomiques et
moléculaires des solides
 pour analyser les différentes phases en présence dans un
matériau,
 pour déterminer les textures des cristaux.

 C’est une technique très importante dans la mise au point

de nouveau matériaux
On exploite la propriété qu'ont les cristaux de diffracter le
rayonnement X.
Généralités sur les Rayons X
Le rayonnement X, tout comme la lumière visible ou le
rayonnement γ, est un rayonnement électromagnétique. De
longueur d'onde très courte comprise entre 0,1 et 50 A °, et
dotées d'une grande énergie.
Ces longueurs d'onde de l'ordre de l'Angström (10-10 m), sont
proches des distances interatomiques, ce qui permet le
passage du rayonnement à travers la matière, alors qu'un
rayonnement de plus grande longueur d'onde se trouve
réfléchi par la surface du matériau étudié.
Généralités sur les Rayons X
Onde électromagnétique :
  
( E, H )   H
Equations de Maxwell rot E  -μ
(milieu non magnétique, isotrope,  t
non chargé)   E
rot H  ε
  t
div E  0
div H  0

Généralités sur les Rayons X
   j(t -k.r)
  E
2
E   2  0 E  Eoe
t

   j(t -k.r)
 B 2
B   2  0 B  Bo e
t
Cette équation vérifiée à la fois par :le champ électrique et
le champ magnétique est appelée
Equation de d’Alembert
Théorie ondulatoire
 Vitesse de propagation de la lumière
o Dans le vide c  2,99792458108 m.s 1

 c : célérité de propagation de la lumière dans le vide

o Dans un milieu d’indice de réfraction n :


c
v
n
Exemple : dans le verre de silice d’indice de réfraction n =1.5,
la vitesse de propagation est v =2.108 m/s
Théorie ondulatoire
 Chaque onde lumineuse est caractérisée par :

1
 fréquence  (ou sa période T ) T

c
Sa longueur d’onde  , dans le vide telle que :   cT 


 Les grandeurs théoriques k et  sont liées aux grandeurs pratiques  et  :

. 2 2

  et   2 
k T
Aspect corpusculaire de la lumière
Modèle du photon (Einstein, 1905)
 Une onde électromagnétique monochromatique est constituée de
particules : les photons.
 Chaque photon transporte un seul quantum d’énergie h. On dit que
l’énergie transportée par les ondes électromagnétique est quantifiée.
• Un électron qui absorbe un photon de fréquence  voit son énergie
augmenter de h
• Un électron qui émet un photon de fréquence  voit son énergie
diminuer de h.
Photon

 La longueur d’onde   cT

 2 
 le vecteur d’onde k  u

1
 la fréquence  
T

  2
 la pulsation

 La quantité de mouvement d’un photon est


h
P  k 
c
Aspect corpusculaire de la lumière.

c
Photon  Energie E    h      h  h c 
-

1
  est le nombre d’ onde dont l’ unité habituelle est le cm -1.

h
  1,05457 10 34 J s
2

1.24
E(eV) 
λ(μm)
Spectre électromagnétique

 Le spectre électromagnétique est la décomposition du


rayonnement électromagnétique selon ses différentes
composantes en terme de fréquence, d‘énergie des photons
ou encore de longueur d’onde associée. Les trois grandeurs
ν (fréquence), E (énergie) et λ (longueur d'onde) étant liées
deux à deux par la constante de Planck h et la vitesse de la
lumière c, selon les formules.

c
Photon  Energie E    h      h  h c

Spectre électromagnétique
Spectre électromagnétique

a
Principe de Rayon x

Les rayons X sont produits


par l'interaction d'électrons
avec une cible métallique.
Les électrons sont émis par
un filament chauffé par effet
Joule (électrons thermiques).
Ces électrons sont accélérés
par une différence de
Schéma de principe de la production des potentiel et dirigés vers une
rayons X Les Tubes de Rayons cible métallique (anode ou
anticathode ex :Molybdène).
Principe de Rayon x

Le rendement de production des rayons X est faible, typiquement de


l'ordre de 0,2% ; le reste de l'énergie se dissipe sous forme de chaleur.
Il est donc nécessaire d'évacuer cette chaleur (nécessité d'un système de
refroidissement) et d'utiliser des matériaux de cible bons conducteurs
thermiques et de point de fusion élevé (métaux réfractaires : tungstène,
molybdène ou très bons conducteurs : cuivre).
Tube de rayon X

Schéma d'un tube de rayons X


Le spectre de Rayons X
 Supposons que l'on bombarde
une cible de Mo (le molybdène)
avec des électrons accélérés sous
des tensions croissantes.
Étudions pour chaque tension
d'accélération la répartition du
spectre obtenu, c'est à dire
l'évolution de l'intensité des
rayons X émis en fonction de
leur longueur d'onde
 Jusqu'à une tension de 20 kV, on
obtient un spectre continu qui
s'arrête vers les courtes longueurs
d'onde. A partir de 25 kV, des
raies d'émission très intenses
apparaissent; elles se détachent
du spectre continu : ce sont les
raies caractéristiques de Rayon X
Les raies caractéristiques

Longueurs d'onde des raies caractéristiques :


Si un électron est éjecté d'un niveau d'énergie W1 et est remplacé par un électron d'un niveau
d'énergie W2 < W1, le photon X émis aura une énergie
Les raies caractéristiques
Les deux métaux couramment utilisés pour l'anode sont le cuivre, qui
produit des rayons X de longueur d'onde λ = 1,54 Å et le molybdène,
λ = 0,709 Å. Comment choisir le matériau ? Pour avoir une diffraction
optimale, il faut utiliser un rayonnement de longueur d'onde du même
ordre de grandeur que la taille du réseau, ici l'espace interatomatique.
C'est pourquoi les sources à base de molybdène sont adaptées à la
résolution de structure sur monocristal de petites molécules. On utilise le
cuivre dans le cas des macromolécules (comme une protéine) et pour les
analyses de poudres car il permet une meilleure séparation des taches de
diffraction.
Interactions Rayons X / Matière
Les différents types d'interaction entre le faisceau de
rayons X et un matériau sont décrits sur la figure suivante.
• transmis sans changer de direction : on parle
de radiographie X que l'on utilise pour la
détection de porosités ou de fissures
•transmis en changeant de direction (selon
un angle 2θ) ou diffusés ; la diffusion
pouvant se faire :
sans perte d'énergie : on parle alors de
diffusion élastique, elle est à l'origine de la
Mécanismes d'interaction entre rayons X diffraction des rayons X par les cristaux,
et matériau avec perte d'énergie (une partie de l'énergie
est cédée à un électron) : on parle alors de
diffusion inélastique, elle est à l'origine de
l'effet Compton.
Interactions Rayons X / Matière
• absorbés par les atomes : sous l'action du
rayonnement incident, un électron d'un
atome de l'échantillon peut être éjecté de la
couche électronique qu'il occupait, c'est
l'effet photoélectrique, l'électron éjecté
étant appelé photo-électron. L'électron
éjecté peut être remplacé par un électron
d'une couche supérieure. Ce saut
électronique s'accompagne d'un
rayonnement X appelé rayonnement de
fluorescence, il est utilisé pour l'analyse
chimique des cristaux.
Mécanismes d'interaction entre • enfin, notons que tous ces phénomènes
rayons X et matériau s'accompagnent d'un dégagement de
chaleur.
Méthodes d'investigation utilisant les
Rayons X
 Les propriétés d'émission
permet l'analyse chimique du matériau considéré
 Les propriétés d'absorption

Elles sont la base des techniques de radiographie.


 Les propriétés de diffusion :

Dans le cas des cristaux, les photons diffusés élastiquement


sont localisés dans des faisceaux qui se propagent dans des
directions bien déterminées de l'espace : ce sont les faisceaux
diffractés. La radiocristallographie utilise cette propriété et
donne de nombreux renseignements sur la matière cristallisée.
Diffraction des rayons X : La loi de Bragg

L'expérience de Friedrich et Knipping 1912


Diffraction des rayons X : La loi de Bragg

Figure 3. Réflexion des rayons X par une famille de plans réticulaires


espacés d'une distance d
N.B L'angle θ (angle de Bragg) détermine l'incidence d'un faisceau parallèle de
rayons X sur ces plans réticulaires. Notez que θ est le complémentaire de l'angle
d'incidence usuel en optique
Diffraction des rayons X : La loi de Bragg

La différence de chemin optique entre les deux rayons lumineux particuliers


représentés vaut δ= 2 dhkl sinθ.
Ils interfèrent de manière constructive lorsque la différence de marche est
égale à un nombre entier n de longueur d'onde. C'est la loi de Bragg :
Diffraction des rayons X : La loi de Bragg
Interférence
constructive
δ = n
Diffraction des rayons X : La loi de Bragg
Diffraction des rayons X : La loi de Bragg

 La condition de diffraction d’un plan (hkl) est donnée par


la loi de Bragg:

2 dhkl sinq  n 

 longueur d’onde,
dhkl distance interarticulaire des plans (hkl)
Diffraction des rayons X : La loi de Bragg

Quelques remarques
 le faisceau incident, la normale aux plans diffractant et le faisceau
diffracté sont coplanaires et que le faisceau diffracté fait un angle 2θ
avec le faisceau incident,
 la réflexion de Bragg nécessite des longueurs d'onde λ inférieures ou
égales à 2d (les valeurs de d pour la plupart des métaux sont inférieures
à 4 Å et donc la longueur d'onde incidente ne doit pas dépasser 8 Å,
 par rapport à la réflexion de la lumière sur un miroir pour laquelle la
réflexion a lieu pour toutes les incidences, il faut noter que la
diffraction ne s'effectue que pour certaines directions,
Diffraction des rayons X : La loi de Bragg

 Conclusion
En résumé, pour une longueur d'onde λ et une famille de
plans réticulaires (hkl) telle que 2.dhkl ≤λ, il existe n
orientations de cette famille de plans par rapport au
faisceau incident susceptibles de donner un faisceau
diffracté. Les directions de ces faisceaux diffractés par
rapport aux plans (hkl) sont déterminées par l'angle θ
vérifiant la loi de Bragg.
Technique de diffraction

2 dhkl sinq  n 
Analyse de l'intensité des taches de
diffraction

L'intensité du signal lumineux diffracté est importante à


analyser. En effet, elle dépend de la nature des atomes et de
leurs positions suivant le facteur de structure :
Cette intensité s'exprime en fonction des entiers h', k', l' tels
que h'=n.h, k'=n.k et l'=n.l avec h, k et l indices de Miller de
la famille de plans diffractant. L'intensité diffractée peut se
mettre sous la forme :
Facteur de structure
où Fhkl est le facteur de structure pour la diffraction considérée, n l'ordre
de la diffraction et A est une fonction de l'angle de Bragg et de divers
autres paramètres. Le facteur de structure est un terme qui prend en
compte la disposition des atomes à l'intérieur de la maille cristalline, c'est
à-dire le motif. Fhkl s'exprime de la façon suivante :

avec xj , yj , zj , les coordonnées de l'atome j dans la maille fj le facteur


de diffusion qui dépend essentiellement du numéro atomique des atomes
considérés.
Facteur de structure

La loi de Bragg étant satisfaite, on aura diffraction si


Fhkl est non nul, ce qui impose des conditions sur h, k,l.

Ces règles d'extinction sont résumées dans le tableau


suivant.
Technique de diffraction

Les méthodes de diffraction utilisent soit le spectre continu (λ


variable), soit les raies monochromatiques ou (λ fixe). La
diffraction apparaît lorsque la loi de Bragg est vérifiée : il en
résulte deux types de méthodes présentées dans le tableau
suivant.

Méthodes expérimentales
Techniques de diffraction

Schéma d’un diffractomètre


de rayon x, où
T= source des rayons X.
E = échantillon,
C = détecteur,
et 0 = axe de rotation de
l’échantillon et de détecteur.
Techniques de diffraction

méthode du cristal tournant


Cette méthode consiste à placer un échantillon monocristallin au centre
d'une chambre cylindrique de telle sorte qu'il puisse tourner autour d'un
axe donné. L'échantillon est bombardé par un faisceau de rayons X
monochromatique perpendiculaire à l'axe de rotation. La variation de
l'angle θ amène des plans cristallographiques différents en position de
diffraction.
On fait tourner le cristal jusqu'à ce qu'un faisceau diffracté
soit reçu par le film photographique cylindrique placé sur la
paroi de la chambre ou sur un compteur placé à l'extrémité
de la platine dans une direction faisant un angle 2θ
avec le faisceau transmis.
Spectre de diffraction de rayon X
Règles d'extinction pour la diffraction des rayons X : listes des plans diffractant pour
les différents réseaux de Bravais de la structure cubique (marqué d'un X)
Cristal parfait
Cristal réel
Matériau amorphe
Spectre de diffraction de rayon X
Techniques de diffraction

La diffraction des rayons X permet l’identification de la


structure cristallin
Les positions angulaires des pics de diffractions permets de
mesurer la distance interréticulaire d'une famille de plans
donnée ainsi que la géométrie et la taille de la maille
élémentaire.
L’arrangement des atomes au sein de la maille élémentaire
est associé à la l’intensité relative de ces pics.
Techniques de diffraction

Application de la diffraction des rayons X en métallurgie


Diffraction des rayons X appliquée à la
métallurgie
 Utilisation de la position angulaire des pics de diffraction
Structure cristallin
Reconnaissance de phases
Dosage d’une solution solide.
 Utilisation de la variation de position des pics de diffraction :
contraintes résiduelles
 Utilisation de l’intensité des pics de diffraction : analyses quantitatives
 Utilisation de la variation d’intensité diffractée en fonction de
l’orientation de l’échantillon : texture
 Utilisation de la variation d’intensité d’une raie de diffraction :
épaisseur d’un revêtement
Diffraction des rayons X appliquée à la
métallurgie

 Utilisation de la forme d’une raie de diffraction


Largeur à mi-hauteur : détermination du taux
d’écrouissage
 Largeur intégrale : détermination de l’énergie élastique
et de la densité de dislocations
Détermination le degré de cristallinité / d’amorphicité
caractérisation du désordre et des défauts
Conclusion

La diffraction des rayons X sert à déterminer la structure et l’espacement


interplanaire d’un cristal . Selon la loi de Bragg : 2 dhkl sinq  n 
L’espacement interplanaire est fonction des indices de Miller, des
paramètres du réseau et de la structure cristallin.

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