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Introduction a` la mesure

et a` la mecatronique
Cours GMC-16433

Professeur Jean Lemay


Departement de genie mecanique
Janvier 2008

Table des mati`


eres
Introduction

1 Lapproche exp
erimentale
1.1 Design dexperience . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.2 Analyse des incertitudes . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.2.1 Concepts de base . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.2.2 Analyse detaillee des incertitudes . . . . . . . . .
1.3 Importance des etalonnages . . . . . . . . . . . . . . . .

1.3.1 Etalonnage
statique . . . . . . . . . . . . . . . . .

1.3.2 Etalonnage
dynamique . . . . . . . . . . . . . . .
1.3.3 Fonction de transfert et reponse en frequence dun
lineaire a` coefficients constants . . . . . . . . . . .
1.3.4 Realisation dun etalonnage dynamique . . . . . .
2 Introduction `
a l
electronique
2.1 Lelectronique et le genie mecanique . . . . . .
2.2 Notions de base . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.2.1 Source de tension . . . . . . . . . . . .
2.2.2 Source de courant . . . . . . . . . . . .
2.2.3 Conduction et resistance electrique . .
2.2.4 Le condensateur . . . . . . . . . . . . .
2.2.5 Linductance . . . . . . . . . . . . . .
2.2.6 Combinaisons RCL . . . . . . . . . . .
2.3 Amplificateur operationnel et circuits de base

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syst`eme
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24

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3 Acquisition de donn
ees
53
3.1 Generalites . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53

3.2 Echantillonnage
et recouvrement . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
3.3 Conversion A/N . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
i

3.4
3.5

Composantes de base dun syst`eme dacquisition de donnees . . . . . . .


Pre-traitement des signaux . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

4 Introduction au post-traitement des signaux


4.1 Notions de statistiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.2 Calculs de regression . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.2.1 Fonctions impliquant la resolution dun syst`eme lineaire .
4.2.2 Coefficients de correlation et de regression . . . . . . . .
5 Mesure de la temp
erature
5.1 Generalites . . . . . . .
5.2 Detecteurs `a variation de
5.3 Thermistors . . . . . . .
5.4 Thermocouples . . . . .

. . . . . . . . . . . . . . . .
resistance electrique (RTD)
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85
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6 Mesure de la pression
107
6.1 Concepts de base . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107
6.2 Capteurs de pression . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113
7 Mesure du d
ebit
119
7.1 Conservation de la masse, debit massique et debit volumique . . . . . . . 119
7.2 Classification des debitm`etres . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 122
7.3 Exemple de standard international: la Norme ISO 5167 . . . . . . . . . . 136
8 Mesure des forces et des d
eformations
8.1 Rappel sur les contraintes et les deformations . . . . . . . . . . . . . .
8.2 Extensometrie et jauges a` variation de resistance electrique . . . . . . .
8.3 Mesure dune variation de resistance electrique: le pont de Wheatstone
8.4 Utilisation des jauges de deformation . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
8.5 Les cellules de charge . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
8.5.1 Principaux types de cellules de charge . . . . . . . . . . . . . .
8.5.2 Quelques applications . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
9 Mesure de la position
9.1 Potentiom`etres . . . . . . . . . . . . . . . .
9.2 LVDT, RVDT . . . . . . . . . . . . . . . . .
9.3 Techniques basees sur des principes optiques
9.4 Capteurs ultrasoniques . . . . . . . . . . . .
9.5 Capteurs magnetostrictifs . . . . . . . . . .
ii

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184

9.6
9.7

Capteurs inductifs et capacitifs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188


Encodeurs de position absolue et relative . . . . . . . . . . . . . . . . . . 190

10 Mesure des vibrations


10.1 Quantites a` mesurer et types de capteurs . . . . . . . . . . . . . . . . .
10.2 Capteurs seismiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
10.2.1 Reponse en frequence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
10.2.2 Comportements asymptotiques . . . . . . . . . . . . . . . . . .
10.3 Accelerom`etres de type piezoelectriques . . . . . . . . . . . . . . . . . .
10.3.1 Leffet piezoelectrique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
10.3.2 Raccordement avec circuit integrateur: lamplificateur de charge
10.3.3 Description dun accelerom`etre de type piezoelectrique . . . . .

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194
197
200
200
201
202

Annexes

203

A Exercices

205

B Rappel sur les probabilit


es et les statistiques
B.1 Construction dun histogramme . . . . . . . .
B.2 Densite de probabilites . . . . . . . . . . . . .
B.3 Esperance mathematique . . . . . . . . . . . .
B.4 Variable centree et reduite . . . . . . . . . . .
B.5 La distribution normale ou Gaussienne . . . .
B.6 Distribution de Student . . . . . . . . . . . .

221
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222
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C Compl
ement de la section 3.2 sur le recouvrement et le
diagramme de repliement
229
C.1 Exemple de recouvrement . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229
C.2 Construction du diagramme de repliement . . . . . . . . . . . . . . . . . 229
D R
eponse en fr
equence dun capteur s
eismique:
analyse dimensionnelle

233

Bibliographie

235

iii

iv

Liste des unit


es et des symboles
Unit
es de mesure
Note:
Les unites de base SI (Syst`eme International) sont le m`etre [m], le kilogramme [kg],
la seconde [s], lamp`ere [A], le kelvin [K], la candela [cd] et la mole [mol]. Elles sont
soulignees dans le tableau suivant. Ces unites de base servent `a exprimer toutes les
autres unites SI que lon denomme unites derivees. Les unites derivees sont par exemple
le joule [J], le newton [N], lohm [], le henry [H], etc... Notons enfin que le radian [rad],
unite de mesure des angles plans, constitue une unite supplementaire SI.
Symbole

denomination

Unites SI
de base

[A]

amp`ere

[A]

Courant electrique

[C]

coulomb

[As]

Charge electrique

[cd]

candela

[cd]

Intensite lumineuse

farad

[A2 s4 /(kgm2 ]

[s/]

Capacitance

[H]

henry

[kgm2 /(A2 s2 )]

[s]

Inductance

[Hz]

hertz

[1/s]

[J]

joule

[kgm2 /s2 ]

[Nm]= [Ws]

Frequence

Energie

[K]

kelvin

[K]

Temperature

[kg]

kilogramme

[kg]

Masse

[m]

m`etre

[m]

Longueur

[mol]

mole

[mol]

Quantite dune substance

newton

[kgm/s2 ]

[Pa]

pascal

[kg/(ms2 )]

[s]

seconde

[s]

[T]

tesla

[kg/(As2 )]

volt

[kgm2 /(As3 )]

watt

[kgm2 /s3 ]

weber

[kgm2 /(As2 ]

ohm

[kgm2 /(A2 s3 )]

[F]

[N]

[V]
[W]
[Wb]
[]

Unites
equivalentes

Quantite
physique

Force
[N/m2 ]

Pression, contrainte
Temps

[Vs/m2 ]

Densite de flux magnetique


Force electromotrice

[J/s]

Puissance
Flux magnetique

[H/s]

Resistance

Liste des symboles


Note:
Certains symboles ont plusieurs usages et se retrouvent donc plus dune fois dans le
tableau suivant. Cest le cas par exemple du symbole p qui est utilise pour la pression
et pour la densite de probabilite, ou encore du symbole V utilise pour designer leffort
tranchant et lamplitude dune tension alternative. Ces doubles usages ne portent cependant pas `a confusion, car le contexte dutilisation des symboles permettra den faire une
interpretation unique. De plus, les unites SI de chacun des symboles sont indiquees dans
la deuxi`eme colonne du tableau. Les unites identifiees par [...] indiquent que le symbole
en question aura des unites qui dependent de la variable mesuree. Les unites identifiees
par [1] indiquent quil sagit dun symbole sans dimension.
Notation

Unites

Definition

[m2 ]

Surface, aire, section

Ac , Ap

[m2 ]

Section dun conducteur, section dun piston

Af

[m2 ]

Surface frontale dune cible

~a

[m/s2 ]

Vecteur acceleration

~ac

[m/s2 ]

Vecteur acceleration de Coriolis

aj
~ B
B,

[...]

Coefficient j dun polynome de regression

[T]

Vecteur et module de densite de flux magnetique

Bx

[...]

Incertitude reliee au biais

[F]

Capacitance dun condensateur

C
~ C
C,

[1]

Coefficient de decharge

[Nm]

Vecteur et module du couple resultant sur un tube de Coriolis

CD , CF

[1]

Coefficient de tranee, coefficient de force

[Ns/m]

Facteur damortissement

ci

[...]

Coefficient des lois detalonnage des thermocouples

cp

[J/(kgK)]

Chaleur massique `a pression constante dune substance

[m]

Diam`etre dun tuyau

[N]

Tranee aerodynamique ou hydrodynamique dun corps

[m]

Diam`etre dun cylindre, dun orifice ou dun col de debitm`etre

di

[...]

Difference yei yi dans un calcul de regression

[V]

Tension continue

[1]

Facteur de vitesse dapproche dans lutilisation dun debitm`etre

[N/m2 ]

Module delasticite ou module dYoung dun materiau

Ei

[V]

Tension dalimentation continue dun instrument

EF SR

[V]

Tension dentree pleine echelle dun convertisseur A/N

vi

Notation

Unites

Definition

ei

[...]

Erreur elementaire dans un processus de mesure

eQ

[V]

Erreur de quantification dun convertisseur A/N

[N]

Intensite dune force, dun effort

F , K, T
F~c , Fc

[...]

Coefficient daplatissement dun echantillon ou estimateur de 4

[N]

Vecteur et module de la force de Coriolis

[Hz]

Frequence

fc

[Hz]

Frequence de coupure dun instrument

fech.

[Hz]

Frequence dechantillonnage

fN

[Hz]

Frequence de Nyquist

fn

[Hz]

Frequence naturelle dun capteur

[N/m2 ]

Module de cisaillement dun materiau

Ga

[1]

Gain interne dun amplificateur operationnel

[m/s2 ]

Acceleration gravitationnelle

[A/m]

Force dun champ magnetique

H()

[1]

Reponse en frequence dun circuit ou dun capteur (ou H(f ))

HA (f )

[1]

Reponse en frequence dun accelerom`etre

[m]

Hauteur dun liquide, difference delevation (h = z1 z2 )

[J/kg]

Enthalpie massique dune substance

I, i
~i

[A]

Courant continu, courant alternatif ou variable

[1]

Vecteur unitaire oriente dans le sens de laxe x (longitudinal)

ig
~j

[A]

Courant circulant dans un galvanom`etre

[1]

Vecteur unitaire oriente dans le sens de laxe y (transversal)

[1]

Nombre imaginaire (j 2 = 1)

[...]

Sensibilite statique dun instrument

[1]

Facteur de jauge

[W/(mK)]

Conductivite thermique (ou en [W/(m C)])

k
~k

[N/m]

Rigidite ou constante de ressort

[1]

Vecteur unitaire oriente verticalement (vers le haut)

ks

[Nm/rad]

Rigidite en torsion

L
~ L
L,

[H]

Inductance

[m]

Vecteur et longueur definissant un conducteur ou un tube

[m]

Longueur dune barre

[1]

Nombre de bits formant un code binaire (mot de M bits)

[Nm]

Moment de flexion

M, m

[kg]

Masse

[kg/s]

Debit massique

vii

Notation

Unites

Definition

[1]

Taille dun echantillon de mesure

[1]

Nombre de spires dune bobine

~n

[1]

Vecteur unitaire perpendiculaire `a une surface de controle

Px

[...]

Incertitude reliee `a la precision

[1]

Densite de probabilite

[Pa]

Pression

pabs

[Pa]

Pression absolue

patm

[Pa]

Pression atmospherique

pjauge

[Pa]

[C]

Pression jauge (pjauge = pabs patm )


Charge electrique

[V/bit]

Resolution dun convertisseur A/N

Q
Q

[m3 /s]

Debit volumique

[W]

Taux de transfert de chaleur ou puissance thermique

Q J
Q P

[W]

Taux de transfert de chaleur par effet Joule

[W]

Taux de transfert de chaleur par effet Peltier

Q T

[W]

Taux de transfert de chaleur par effet Thompson

[N/m]

Chargement

qm

[kg/s]

Debit massique (Norme ISO 5167)

qv

[m3 /s]

Debit volumique (Norme ISO 5167)

[]

Resistance electrique dun conducteur

Ra , Ro

[]

Impedances dentree et de sortie dun amplificateur operationnel

Re

[1]

Nombre de Reynolds

Rm

[]

Resistance interne dun galvanom`etre ou dun voltm`etre

rxy

[1]

Coefficient de correlation entre les distributions x et y

rye y

[1]

Coefficient de regression

[...]

Coefficient de dissymetrie dun echantillon ou estimateur de 3

St

[1]

sx , s

[...]

Nombre de Strouhal

Ecart-type
dun echantillon x ou estimateur de

sxy

[1]

Covariance entre les distributions x et y

[K] ou [ C]

Temperature (T [K] = T [ C] + 273.15)

[s]

Temps dobservation dun signal discret (T = N t)

[s]

Temps

t, t,p
~, U
U

[...]

Variable de la loi de Student

[m/s]

Vecteur et module de la vitesse

Ua

[m/s]

Projection du vecteur vitesse suivant la direction axiale

Uc

[m/s]

Vitesse de propagation dune onde de compression

viii

Notation

Unites

Definition

Un

[m/s]

Projection du vecteur vitesse suivant ~n

Us
~t
U

[m/s]

Vitesse de propagation dune onde de cisaillement

[m/s]

Vecteur de vitesse tangentielle `a une pale dhelice

ux

[...]

Incertitude finale sur la mesure de x

[N]

Effort tranchant

[V]

Amplitude dune tension alternative

[V]

Tension alternative ou variable

vi vo

[V]

Tensions variables `a lentree et `a la sortie dun circuit

vm

[V]

W
~
W

[J]

Tension electrique aux bornes dun pont de Wheatstone

Energie

[m/s]

~ =U
~ U
~ t)
Vecteur de vitesse relative (W

X(f )

[...]

Transformee de Fourier de x(t)

x(t)

[...]

Signal dentree dun syst`eme lineaire

x(t)

[...]

Abscisses dun nuage de points dans un calcul de regression

x(t)

[m]

Position absolue de la base dun capteur seismique

[m]

Position dun potentiom`etre lineaire

~xa

[m]

Vecteur position de laxe dun tube de Coriolis

y(t)

[...]

Signal de sortie dun syst`eme lineaire

y(t)

[...]

Ordonnees dun nuage de points dans un calcul de regression

y(t)

[m]

Position absolue de la masse dun capteur seismique

ye

[...]

Fonction estimee dans un calcul de regression

Z, Zeq.
ZC , ZL

[]

Impedance et impedance equivalente dun circuit electrique

[]

[m]

Impedance capacitive, reactance inductive


evation, altitude, coordonnee cartesienne selon le vecteur ~k
El

z(t)

[m]

Position relative de la masse dun capteur seismique

z, zp

[...]

Variable centree reduite

Symboles
grecs

Unites

Definition

[deg]

Angle dincidence

[/( C]

Coefficient de temperature de la resistivite

[1]

Coefficient decoulement dans lutilisation dun debitm`etre

3 , 4

[1]

Coefficients de dissymetrie et daplatissement dune population

AB

[V/K]

Coefficient deffet Seebeck (ou en [V/ C])

[...]

Coefficient des lois detalonnage des thermocouples

[...]

Erreur systematique (biais)

ix

Symboles
grecs

Unites

Definition

[1]

Rapport des diam`etres dans lutilisation des debitm`etres

[N/m3 ]

Poids specifique dune substance ( = g)

[1]

Deformation angulaire ou glissement (ou en [rad])

[...]

[m]

Erreur totale

Elongation
totale

[t]

Valeur du pas de temps dechantillonnage (t = 1/fech. )

[...]

Erreur aleatoire (precision)

[1]

Deformation unitaire

[1]

Coefficient damortissement dun capteur

[rad]

Angle de torsion dun tube de Coriolis

[rad]

Position angulaire dun potentiom`etre rotatif

[m]

Longueur donde

[...]

Esperance mathematique dune population

[Pas]

Viscosite dynamique dun fluide

[H/m]

Permeabilite magnetique du vide

[1]

Permeabilite magnetique relative dun materiau

[...]

Moment dordre r

[m2 /s]

Viscosite cinematique dun fluide

[1]

Coefficient de Poisson dun materiau

[m2 /N]

Piezoresistance

AB

[V]

Coefficient deffet Peltier (ou en [W/A])

[kg/m3 ]

Masse volumique dune substance

[m]

, 2

[...]

Resistivite electrique

Ecart-type
et variance dune population

[V/K]

Coefficient deffet Thompson (ou en [W/(AK)])

[N/m2 ]

Contrainte normale

[s]

Constante de temps dun instrument

[N/m2 ]

Contrainte de cisaillement

[rad]

Angle de dephasage ou de phase

[Wb]

Flux magnetique

[...]

Valeur moyenne quadratique

[rad/s]

Frequence angulaire ou circulaire ( = 2f )

~,

[rad/s]

Vecteur et module de la vitesse angulaire

Autres
notations

Unites

A/N

Definition

Analogique/Numerique

bit

Unite binaire prenant la valeur 0 ou 1 (BIT = Binary unIT)

[m3 ]

Volume

()
()

[...]

Valeur moyenne dune quantite donnee

[...]

d( )/dt

()

[...]

d2 ( )/dt2

E[ ]

[...]

Esperance mathematique dune quantite donnee

( )

[...]

Variation ou increment dune quantite donnee

( )R , ( )I

[...]

Partie reelle, partie imaginaire dun nombre complexe

||

[...]

Module dun vecteur ou dun nombre complexe

xi

Introduction
Lorsque lon cherche `a resoudre un probl`eme dingenierie, deux approches generales peuvent etre considerees: lune fait appel a` la theorie et lautre a` lexperimentation. Dans
bien des cas, le probl`eme sera resolu en ayant recours aux deux approches; cela depend
de la nature du probl`eme. En fait, il nexiste pas de fronti`ere nette entre les deux approches (et notre but nest pas den etablir ...). Lexperimentation pure sappuie sur
de la theorie alors que toute theorie doit etre corroboree par des observations qui sont
souvent de nature experimentale... Les probl`emes se situant aux fronti`eres de la connaissance requi`erent souvent un emploi extensif de lexperimentation et de la theorie.
Les approches theorique et experimentale devraient donc etre considerees comme etant
complementaires lune de lautre. En general, un ingenieur qui adopte ce point de vue
sera beaucoup plus efficace pour resoudre des probl`emes que celui qui neglige lune ou
lautre de ces approches.
Le tableau 0.1 resume les principales caracteristiques des deux approches.

Approche theorique
Approche experimentale
Donne souvent des resultats dutilisation Donne souvent des resultats qui
generale plutot que dapplication
sappliquent specifiquement au
restreinte.
syst`eme etant `a lessai. Des
techniques telles que lanalyse
dimensionnelle peuvent toutefois
conduire `a quelques generalisations.
Requiert presque toujours des
Aucune hypoth`ese simplificatrice
hypoth`eses simplificatrices.
necessaire si les essais sont
On etudie donc plutot un mod`ele
effectues directement sur le syst`eme
mathematique simplifie du syst`eme
reel. On doit disposer de la technique
au lieu du syst`eme physique reel.
de mesure appropriee (celle-ci
Cela signifie que le comportement
doit exister ...). Dans ces conditions,
reel pourra differer du comportement
le comportement reel du syst`eme
theorique predit.
physique peut etre revele.

Approche theorique (suite)


Dans quelques cas, peut mener a`
des probl`emes mathematiques tr`es
complexes. Cela a autrefois limite
le traitement theorique de plusieurs
probl`emes. Aujourdhui, laccroissement des performances des ordinateurs
permet daborder un bon nombre de
probl`emes autrefois inaccessibles
par lapproche theorique.
Requiert seulement un crayon, du
papier, un ordinateur ... Des
installations co
uteuses telles que
des laboratoires ne sont pas requises.
Les ordinateurs sont chers mais ils
peuvent etre utilises pour solutionner
une grande variete de probl`emes.

Approche experimentale (suite)


Des mesures precises sont necessaires
pour donner une image representative
de la realite. Cela peut necessiter
lemploi dequipements co
uteux,
sophistiques et complexes. De plus,
les caracteristiques de lequipement
de mesure et dacquisition de donnees
doivent etre rigoureusement connues
et comprises de lexperimentateur.
Requiert un laboratoire qui comprend
tout lequipement de mesure necessaire
ainsi que le syst`eme reproduisant le
phenom`ene physique a` etudier
(syst`eme reel ou mod`ele respectant les
caracteristiques significatives du
syst`eme reel). Les equipements de
laboratoire sont la plupart du temps
dedies `a une tache precise.
Pas de delai de temps engendre par la Temps considerable requis pour faire
construction dun mod`ele, lassemblage le design, la construction et la mise
et la verification des instruments,
au point du montage.
le depouillement des donnees ...
Tableau 0.1: Caracteristiques des approches theorique et experimentale.

Lorsque lon fait appel `a lapproche experimentale, une selection pertinente des instruments de mesure necessite une bonne connaissance de ce qui est disponible sur le
marche. Pour bien connatre le marche, il nest pas necessaire de repertorier tous les
fabriquants ainsi que tous leurs produits. Il est plus important de connatre quels sont
les differents elements sensibles qui servent a` fabriquer les instruments de mesure. Il est
aussi important de savoir ce a` quoi ces elements sont sensibles (temperature, pression,
vitesse, deformation, deplacement . . .) et pourquoi ils le sont. Si on adopte cette optique
on peut en quelque sorte demystifier le marche et realiser que personne ne propose de
capteurs miracles. En fait, la plupart des capteurs sont bases sur des principes relativement simples qui sont ensuite bonifies a` laide de circuits electroniques (generalement
pour rendre leur reponse lineaire, sans hysteresis, compensee pour differents facteurs de
derive . . .). Pour faire de la recherche, il faut aller au del`a de lemballage (comprendre
comment ca marche . . .) et meme quelques fois verifier les caracteristiques des capteurs que le fabriquant propose. Differentes verifications peuvent etre faites par le biais
detalonnages adequats. Le but du cours nest pas de faire une revue des differents cap2

teurs. Il est plutot (entre autres) de rendre letudiant `a laise et minutieux lorsquil fait
de lexperimentation.
Les capteurs qui sont `a la base de tout syst`eme de mesure peuvent etre classes en
deux categories: les capteurs actifs et les capteurs passifs. Les instruments de nouvelle
generation utilisent generalement des capteurs actifs.
Une composante dont lenergie de sortie est enti`erement ou presque enti`erement
fournie par le signal dentree est appele un capteur passif. Un thermom`etre de verre a`
dilatation de mercure est un capteur passif. Un tube de pitot combine a` un manom`etre
est aussi un capteur passif. Par opposition, un capteur actif poss`ede une source de puissance auxiliaire. Celle-ci lui fournit la majeure partie de la puissance de sortie alors que
le signal dentree nen fournit quune portion insignifiante. Un accelerom`etre, un pont
de jauges de deformations ou un capteur de pression a` elements piezoelectriques sont
tous des exemples de capteurs actifs.
Dans le cours, on sinteresse plus particuli`erement aux capteurs actifs. Ceux-ci peuvent etre integres a` une chane de mesure automatisee, approche que nous favoriserons dans le cours. Cependant, cela ne veut pas dire que les capteurs passifs naient
pas dinteret; au contraire, certains de ces capteurs servent souvent de reference lors
detalonnages de capteurs actifs.

Chapitre 1
Lapproche exp
erimentale
1.1

Design dexp
erience

Le design dune experience comprend:


+ la selection dune technique de mesure appropriee,
+ la selection des instruments acceptables,
+ le choix des etalonnages adequats,
+ un plan exposant la facon suivant laquelle les mesures seront prises, depouillees et
presentees.
La planification globale peut etre divisee en plusieurs etapes individuelles, mais liees
entre elles. Celles-ci doivent obligatoirement etre realisees avant le debut effectif de la
campagne de mesures. La conception dune experience peut ainsi etre resumee de la
facon suivante:
Objectif
r Identifier les variables `a mesurer.
r Identifier les interactions pertinentes entre les variables et les param`etres de
controle.
Plan
r Developper une strategie de variation des variables independantes.
r Developper si necessaire une strategie de variation aleatoire des variables
externes au probl`eme.
5

r Sassurer que linformation acquise soit suffisante pour atteindre les objectifs.
r Le plan doit faire appel si possible `a des methodes concomitantes de telle
sorte que lon puisse minimiser le biais sur les mesures.
Methodologie devaluation des methodes
r Identifier une ou plusieurs methodes de mesure candidates.
r Se baser sur un examen de la litterature des techniques et instruments disponibles.
r Une large gamme dinformations existe dans les livres specialises et les journaux scientifiques (methodes detaillees, theorie...), dans les codes nationaux
(techniques), dans les journaux commerciaux specialises (techniques, instrumentation...) et dans les bulletins techniques ou brochures des fabriquants et distributeurs dinstruments de mesure (techniques, details des caracteristiques des instruments...).
Analyse des incertitudes
r Decider du niveau minimum dexactitude que lon peut tolerer.
r Faire ce choix de telle sorte que les donnees finales puissent toujours rencontrer
les objectifs de depart.
r Le seuil dexactitude depend de lapplication (recherche seuil eleve, estimation industrielle seuil moyen ou faible...).
r Choisir les methodes de mesure et les instruments qui peuvent respecter le
niveau dexactitude fixe.
Co
uts
r Classer chaque candidat retenu au point 4 en fonction du co
ut.
r Determiner sil y a une methode candidate qui rencontre les contraintes
budgetaires.
r Sil y a un probl`eme on doit:
- reviser le budget `a la hausse avec les groupes administratifs...
- reviser le point 4 avec un seuil dexactitude a` la baisse... (il est possible que
lon doive alors reviser les objectifs de depart).

Etalonnage
r Les etalonnages reduisent les erreurs de mesure; ils sont cependant co
uteux
(investissements, temps...).
6

r Les specifications des fabriquants sont parfois suffisantes.


r Prendre la decision en fonction du seuil dexactitude determine au point 4.
Acquisition des donnees
r Determiner la chane de mesure suivante:
phenom`ene a` mesurer capteurs signaux conditionneurs . . .
. . . convertisseurs A/N enregistreurs
r Determiner la taille des echantillons a` mesurer.
r Determiner la frequence a` laquelle les donnees doivent etre mesurees.
r Determiner la gamme de conditions doperation.
Depouillement des donnees
r Concevoir les moyens de traitement des donnees depuis lacquisition effective
des signaux jusqu`a la presentation des resultats finaux.

1.2

Analyse des incertitudes

Un des principes de base en instrumentation consiste `a admettre quon ne peut effectuer


de mesure sans erreur. On ne peut donc connatre exactement la valeur vraie dune
quantite mesuree ni, par consequent, lerreur exacte associee a` sa mesure. On peut
cependant essayer de minimiser les erreurs.

1.2.1

Concepts de base

Chaque mesure x peut etre visualisee comme etant accompagnee dune erreur telle que
lintervalle x contiendra la valeur vraie, que lon note ici xV . Lerreur de mesure
est generalement exprimee en terme de deux composantes: = + , o`
u est lerreur
systematique et  lerreur aleatoire.
Erreur al
eatoire 
r Dispertion des mesures autour dune valeur moyenne notee x.
r Mesures generalement reparties autour de la moyenne suivant une distribution
gaussienne.
r Peut etre causee par les caracteristiques du syst`eme de mesure.
7

r Le terme precision est utilise pour caracteriser lerreur aleatoire.


r Lecart-type (ou s, lestimateur de ) sert a` quantifier cette erreur.
Erreur syst
ematique
r Aussi appelee erreur de biais.
r Erreur fixe donnant une mesure systematiquement plus haute ou plus basse que la
valeur vraie.
r Le terme exactitude est utilise pour caracteriser lerreur systematique.
r Lorsque le biais peut etre quantifie, on peut corriger les valeurs mesurees.
r Le biais peut etre minimise par des etalonnages adequats.
Supposons que lon mesure a` N reprises une quantite x. Lensemble des N mesures
discr`etes constitue un echantillon de taille N . La figure 1.1 schematise graphiquement
les relations existant entre les erreurs mises en jeu:
= erreur de biais

histogramme de
l'chantillon de
taille N

(cte pour toutes les mesures)

xV

k
erreur totale sur
la mesure de xk

x
xk

erreur alatoire sur la


mesure de xk

avec: xV = valeur vraie


x = moyenne de lechantillon
xk = k i`eme mesure de la quantite x (1 k N )
Figure 1.1: Relation graphique existant entre lerreur de biais et lerreur aleatoire.

- EXEMPLE
Considerons un processus impliquant un four dans lequel on mesure une
montee en temperature en fonction du temps. Ce processus est repetitif
de facon precise; cest-`a-dire que lon peut repeter plusieurs fois la meme
montee de temperature en fonction du temps. Pour cet exemple, supposons
que lon connaisse la valeur vraie `a laide dune sonde RTD (ces sondes
sont les plus precises).
8

Courbe moyenne du RTD (faible car sonde


prcise) = rfrence ou valeurs vraies de T

T (oC)

Courbe moyenne T(t) du thermocouple


TV1
T1

Reprsentatif de l'erreur alatoire

biais

4 s1

t1

t (s)

Histogramme des mesures du


thermocouple au temps t1

Figure 1.2: Evolution


temporelle de la temperature dans un four.

On sinteresse `a analyser les erreurs que lon retrouve dans les mesures effectuees par un thermocouple qui est place dans le four juste au voisinage
de la sonde RTD. On rep`ete ce processus N fois et on compile des statistiques avec les mesures faites par les deux sondes. Le graphique de la figure
1.2 illustre les resultats obtenus. On observe par exemple quau temps t1 ,
le thermocouple donne une valeur moyenne T 1 et un ecart-type s1 ; la
sonde RTD qui fournit les valeurs vraies donne une valeur moyenne TV 1 .

Exactitude et pr
ecision
Les quatre schemas de la figure 1.3 illustrent bien la difference fondamentale que lon
etablit entre lexactitude et la precision. De facon generale, les mesures sont considerees
comme etant precises si s est petit et exactes si (x xV ) est egalement petit.
bonne prcision
mauvaise exactitude

xV
mauvaise prcision
mauvaise exactitude

xV

mauvaise prcision
bonne exactitude

xV
bonne prcision
bonne exactitude

xV

Figure 1.3: Differences entre lexactitude et la precision.

Finalement, rappelons que lerreur aleatoire suit une distribution gaussienne. On


sait que pour une telle distribution, 68% des observations se situent dans lintervalle
, 95% dans lintervalle 2 et 99.7% dans lintervalle 3. Ici, et 2
representant respectivement lesperance mathematique et la variance de la population ne
sont pas connues. Nous connaissons seulement leurs estimateurs respectifs x et s2 . Ces
estimateurs peuvent etre consideres comme etant non-biaises sils sont calcules a` partir
dechantillons de taille suffisamment grande (disons N > 100). Pour que lechantillon
soit significatif, il doit etre compose de N realisations independantes; cela veut dire que
lon doit effectuer N fois la meme mesure dans N experiences differentes. Dans ces conditions, on peut baser notre raisonnement sur une distribution normale. Si N est petit,
nous nobtenons pas une bonne estimation de et de et on doit raisonner `a partir
dune loi de Student.
Il est pertinent de faire ici un rappel de quelques definitions:
r Esperance mathematique de la population
N
1 X
xi pour une distribution discr`ete de probabilites p(x)
N N
i=1

= lim

ou =

(1.1)

x p(x) dx pour une distribution continue de probabilites p(x) (1.2)

r ecart-type de la population
= lim

v
u
u
t

N
1 X
(xi )2
N i=1

(distribution discr`ete)

(1.3)

r Moyenne dun echantillon de valeurs discr`etes


x =

N
1 X
xi
N i=1

(1.4)

r ecart-type dun echantillon de valeurs discr`etes


s =

v
u
u
t

N
1 X
(xi x)2
N 1 i=1

(1.5)

Si N est eleve, la moyenne de lechantillon tend vers lesperance mathematique de la


population (x ) et lecart-type de lechantillon tend vers celui de la population
(s ). Si N est petit, on retrouve une erreur de biais sur lestimation de x par rapport
10

a` . Le facteur N 1 est alors utilise a` la place de N dans lequation determinant s,


de facon a` compenser le biais resultant de lutilisation de x a` la place de dans cette
equation; on majore ainsi la valeur de s pour tenir compte du fait quon lestime a` laide
dun echantillon fini. Il persiste malgre tout une erreur de biais sur lestimation de s par
rapport `a . Cest pourquoi on doit avoir recours a` une loi de Student lorsque N est
trop petit.

- EXEMPLE
Un experimentateur utilise un capteur de pression differentielle dont on lui
a dit que la plage de precision etait de 2%, pour une difference de pression de 20 P a. Afin de verifier cette affirmation, il etalonne le capteur
en effectuant 100 mesures de la tension v donnee par le capteur lorsque
la pression differentielle est p = 20 P a (il controle cette pression de
facon tr`es precise). `a partir de son echantillon de 100 mesures, il calcule
v = 5 V et s = 0.2V . Il pretend que le capteur nest pas aussi precis quon
le lui avait certifie. Afin de bien comprendre pourquoi, regardons de plus
pr`es ses donnees. Une precision de 2% serait obtenue en considerant
lintervalle v s/2 (en fait, n s/v = 0.02 n = 1/2). Si on consid`ere une distribution gaussienne, cet intervalle comprend seulement 38%
des observations. On a donc plus dune chance sur deux deffectuer une
mesure qui ne soit pas incluse dans la plage de precision annoncee. Ceci est
evidemment inacceptable. Un intervalle de s/2 est donc trop mince pour
etre considere comme plage de precision. Si on veut effectuer des mesures
se situant dans la plage de precision avec une probabilite de 95%, on doit
dire que la precision de ce capteur de pression est de 8% (2 s/v = 0.08).

Lorsque la taille N dun echantillon est elevee, on peut decrire une observation
discr`ete x comme suit: x zp avec une probabilite p dinclure dans cet intervalle (dapr`es la loi normale: zp = 1 p = 68%, zp = 2 p = 95% et
zp = 3 p = 99.7%). Cela signifie par exemple quune mesure discr`ete doit se situer
dans lintervalle x 3 avec une probabilite de 99.7%.
Lorsque la taille N est petite, on doit utiliser dans un sens plus stricte la notation
des estimateurs et la loi de Student. Une observation discr`ete est alors decrite par:
x t,p s. De facon generale, la description compl`ete dune mesure discr`ete comporte
trois elements:
r x la mesure proprement dite
11

r t,p s la precision ( = N 1 et si N est eleve, t,p zp )


r p la probabilite que cette mesure soit incluse dans lintervalle x t,p s

- EXEMPLE
Reprenons les donnees de lexemple precedent (v = 5 et s = 0.2)
avec un echantillon de 5 mesures au lieu de 100. La loi de Student doit etre appliquee avec t4,95 = 2.776. La precision relative est
donnee par t,p s/v = 0.11. On obtient donc une precision
de 11% avec une probabilite de 95% quune mesure discr`ete soit
incluse dans cet intervalle. Si on compare au resultat obtenu dans
lexemple precedent avec 100 mesures (precision de 8%), on constate
que lincertitude saccrot lorsque la taille de lechantillon diminue. Ceci
est du au fait que lon commet une erreur de biais sur lestimation
de et que la loi de Student majore la valeur de s en consequence.

Ecart-type
des moyennes
Supposons que lon mesure N fois une variable x dans des conditions doperation fixes
et que lon calcule la valeur moyenne de cet echantillon (x). Si on rep`ete cette procedure
M fois, on obtiendra M valeurs moyennes, chacune correspondant `a un echantillon (x1 ,
x2 , x3 , . . ., xM ). Si M est grand, les valeurs moyennes seront distribuees suivant une
gaussienne et ce, peu importe la fonction de densite de probabilite propre `a la variable
mesuree. Ceci est une consequence du theor`eme central limite.
Imaginons que la taille de chacun des echantillons soit petite (N petit) et que lecarttype de chacun de ces echantillons soit eleve (sx eleve). Dans ce cas, les valeurs moyennes
calculees pour ces echantillons seront dispersees et lecart-type des xi sera eleve (sx eleve).
Ce probl`eme est inherent aux echantillons de taille finie. Considerant que sx depend en
quelque sorte de N et de sxi , on peut estimer lecart-type de la distribution des valeurs
moyennes a` partir dun seul echantillon:
sx
sx =
N

(1.6)

a` partir de cette definition et dun seul echantillon, on peut considerer que la valeur
moyenne vraie, xV , doit etre incluse avec une probabilite de p % dans un intervalle:
x t,p sx
12

(1.7)

1.2.2

Analyse d
etaill
ee des incertitudes

Considerons maintenant un processus de mesure de la variable x. Lintervalle de precision


de lestimateur de la valeur vraie sera defini de facon plus large, de telle sorte que lon
puisse prendre en compte le processus de mesure complet et non seulement lechantillon
statistique. On note ainsi lintervalle incluant la valeur moyenne vraie xV avec une
probabilite de p % comme suit:
x ux

(p %)

(1.8)

Lanalyse des incertitudes est la methode utilisee pour quantifier le terme ux .


Sources derreurs
Considerons un processus de mesure comme etant compose des trois etapes suivantes:

1- Etalonnage
2- Acquisition des donnees
3- Traitement des donnees
Chacune de ces etapes constitue une source derreur potentielle. Il est donc important
detablir la liste la plus compl`ete possible des types derreurs qui peuvent intervenir
dans la mesure. Chaque element dune telle liste est appele erreur elementaire. De plus,
chaque erreur elementaire peut etre identifiee comme faisant partie de la caterorie des
erreurs de biais ou des erreurs de aleatoires.
Propagation des erreurs
el
ementaires
Tel que decrit precedemment, on mesure x avec un instrument sujet a` plusieurs types
derreurs elementaires (linearite, repetabilite, hysteresis, etc...) notees ei . On estime
lincertitude sur x due `a K erreurs elementaires comme suit:
q

ux = e21 + e22 + . . . + e2K

(1.9)

Sachant que ei peut etre une incertitude reliee au biais ou `a la precision, on ecrit de
facon plus detaillee:
q

(1.10)

(1.11)

Biais:

Bx = e21B + e22B + . . . + e2KB

Precision:

Px = e21P + e22P + . . . + e2KP


q

Incertitude finale: ux = Bx2 + (t,P Px )2


13

(P %)

(1.12)

Propagation des incertitudes dans le calcul dun r


esultat
Considerons un resultat (e.g. rendement dune machine, etc...) obtenu a` partir de la
mesure de plusieurs quantites physiques (e.g. debit, pression, etc...). On cherche `a
obtenir le meilleur estimateur de RV , la valeur vraie `a partir de R, la valeur moyenne du
resultat. Il est necessaire detudier la facon suivant laquelle lincertitude reliee a` chacune
des quantites physiques se propage dans le calcul du resultat final.
Dans un premier temps, nous developpons la procedure pour une fonction de deux
variables. Soit le resultat R = f (x, y), o`
u x et y, deux variables independantes,
representent les deux quantites physiques necessaires au calcul de R. Si x et y sont
deux variables independantes, on aura R = R(x, y). Considerons de plus quune analyse
de la propagation des erreurs elementaires nous a conduit a` determiner les erreurs de
biais et de precision associees aux variables x et y. On a ainsi quantifie les erreurs Bx ,
Px , By et Py .
Rappelons que lon cherche `a obtenir le meilleur estimateur de R; developpons ainsi
R en serie de Taylor autour de R(x, y), ce qui nous permet de determiner comment la
fonction R secarte de R:

R
R


R(xi , yi ) = R(x , y ) +
(xi x ) +
(yi y ) + O(2)
x x ,y
y x ,y

(1.13)

o`
u xi et yi sont des echantillons de mesure (i = 1 a` N ). En utilisant la notation

Ri

R
R
= R(xi , yi )R(x , y ), xi = xi x , yi = yi y , x =

et y =

,
x x ,y
y x ,y

et en se limitant aux termes du premier ordre, on obtient:


Ri = x xi + y yi .

(1.14)

En elevant au carre et en faisant la sommation de 1 `a N , on peut ecrire:


N
X
i=1

Ri 2 =

N
X
i=1

(x xi )2 +

N
X

(y yi )2 + 2

i=1

N
X

(x y xi yi )

(1.15)

i=1

En utilisant la notation de la variance (et de la covariance) et en rappelant que les


variables sont independantes (xy 0), on ecrit
R 2 = x 2 x 2 + y 2 y 2
On peut generaliser le developpement precedent `a L variables:
14

(1.16)

R 2 =

L 
X

xj 2 xj 2

(1.17)

j=1

Generalement, on traitera la propagation des erreurs de biais et de precision en


utilisant le raisonnement que lon vient de developper. Ainsi, on aura
BR 2 =

L 
X

xj Bxj

2

et

L 
X

PR 2 =

j=1

xj Pxj

2

(1.18)

j=1

et lincertitude finale sur R secrira


q

uR = BR 2 + (t,P PR )2

(P %)

(1.19)

Pour les cas particuliers o`


u la taille N des echantillons des variables xj diff`ere dun
echantillon a` lautre, il faudra calculer la valeur de (les degres de liberte de lestimateur
t de la loi de Student) avec la formule de Welch-Satterthwaite:

PL

j=1

R = P 
L
j=1

j Pxj

j Pxj

2 2

4

/xj

= P 
L
j=1

PR 4
j Pxj

4

(1.20)

/xj

Notons finalement que si N est le meme pour toutes les variables, on peut developper
la relation donnant uR comme suit :

uR =

v
u
L 
uX
2
u
t
xj uxj

(1.21)

j=1

1.3

Importance des
etalonnages

Dans la section precedente, nous mentionnons que lerreur systematique peut etre minimisee si les etalonnages sont effectues adequatement. Il est donc primordial dintroduire
ici deux categories detalonnages: ceux de type statique et ceux de type dynamique. Le
choix des etalonnages est fait en considerant linstrument de mesure utilise, la quantite
physique `a mesurer ainsi que les differents param`etres qui sont susceptibles devoluer
pendant lexperience.

1.3.1

Etalonnage
statique

Certaines applications necessitent seulement la mesure de quantites qui sont constantes


ou qui evoluent lentement dans le temps. On doit donc connatre les caracteristiques
15

statiques des instruments utilises. En effet, la plupart des instruments de mesure sont
simultanement sensibles aux variations de plusieurs param`etres physiques (pression, temperature, vitesse, vibrations . . . ).
Toutes les caracteristiques statiques dun instrument de mesure sont obtenues par un
procede denomme etalonnage statique. De facon generale, un etalonnage statique est effectue en gardant tous les param`etres dentree de lexperience constants sauf un. On doit
alors faire varier ce param`etre dentree sur un intervalle de valeurs constantes1 , obtenant
ainsi des valeurs de sortie qui varient aussi sur un intervalle de valeurs constantes. La
relation entree/sortie developpee de cette facon constitue un etalonnage statique; celuici est valide tant que les autres param`etres dentree restent constants. On peut repeter
cette procedure en variant a` tour de role chacun des param`etres dentree; on developpe
alors une famille de relations entree/sortie. Letalonnage complet, menant a` la connaissance globale des caracteristiques statiques de linstrument, est realise en superposant
de facon adequate tous les effets individuels.

TV = TRTD

Histogramme des mesures du


thermocouple au temps t1

TV1
Histogramme des mesures de
la sonde RTD au temps t1
T1

Tthermocouple

Figure 1.4: Incertitudes et etalonnage.

Cet etalonnage nous permet donc de connatre les caracteristiques statiques de linstrument de mesure employe. Parmi les caracteristiques dinteret, on note les suivantes:
+ Precision et exactitude
Nous avons dej`a discute de ces deux caracteristiques a` la section precedente.
Nous avons alors simplifie lapproche en considerant une incertitude sur un seul
1

On entend par valeurs constantes des valeurs stationnaires ou stables au niveau temporel.

16

param`etre de mesure. Dans lexemple de letalonnage du thermocouple (section


1.2), nous considerons que TV est mesuree de facon tr`es precise (avec une sonde
RTD prise comme reference) et on evalue la precision et lexactitude des mesures
T obtenues par le thermocouple. Dans la realite, il y aura aussi une incertitude
dans la mesure de TV et on devra considerer une distribution de probabilite des
couples (T, TV ) telle quillustree sur la figure 1.4.
Mentionnons enfin quil est possible de considerer une autre approche lorsque lon
dispose dune loi detalonnage connue. Prenons comme exemple le cas dune sonde
anemometrique `a fil chaud que lon utilise pour mesurer la vitesse instantanee en
un point dun ecoulement dair. Ce type de sonde donne un signal de sortie v (en
Volt) qui suit une loi de type v 2 = A + B U N , o`
u A, B et N sont des constantes
definies par etalonnage et U represente la vitesse de lecoulement. Dans ce cas, on
peut utiliser les couples (U, v) pour calculer une regression des moindres carres sur
lequation detalonnage. Le coefficient de regression obtenu nous donne alors une
indication de la precision et du biais de letalonnage.
+ Sensibilite statique K
Si on definit xi comme etant le signal dentree et vo le signal de sortie dun instrument, on calcul la sensibilite en faisant le rapport K = vo /xi ; il sagit donc
de la pente de la courbe detalonnage vo vs xi .
+ Facteurs de derives
On peut parler de deux types de derives: la derive de zero et la derive de sensibilite.
La figure 1.5 illustre ces deux caracteristiques.

Drive de zro

vo

Drive de sensibilit

xi
Figure 1.5: Illustration des deux types de derive dun etalonnage.

17

- EXEMPLE
Considerons le cas dun capteur de pression qui est etalonne `a temperature
constante de 20 o C. Si on utilise ce capteur `a une temperature
de 30 o C, il est fort possible quune erreur de biais soit introduite dans les mesures. En effet, dans bien des cas, une variation
de temperature constitue un facteur de derive non negligeable. On
doit donc effectuer letalonnage de telle sorte que lon puisse identifier les derives. Signalons cependant que plusieurs instruments de
mesure sont compenses en temperature (capteurs de pression, ponts
de jauges de deformations montes en compensation de temperature . . . ).

+ Linearite
Plusieurs instruments poss`edent des plages dutilisation lineaire. Ceux-ci ont donc
une sensibilite constante sur une certaine gamme de vo ou xi . La connaissance
dune plage lineaire propre a` un instrument peut saverer utile pour des questions
de simplicite dutilisation de la loi detalonnage (vo = K xi + b). On doit cependant
bien connatre cette plage de facon a` ne pas exceder ses limites dutilisation.
+ Seuil (treshold), resolution et hysteresis
Le seuil est la limite inferieure xi min dutilisation dun instrument de mesure. Sous
la valeur de xi min , aucune valeur de vo nest detectee. La resolution est definie
par la plus petite variation xi min detectable. Une variation inferieure `a xi min
ne produit aucune variation de vo (vo = 0 si xi < xi min ). Letalonnage
doit nous permettre didentifier le seuil et la resolution (lorsquils sont inconnus
ou lorsque lon doute des valeurs connues . . . ). Letalonnage doit aussi etre fait de
facon `a determiner si linstrument est sujet au phenom`ene dhysteresis.
+ Limite superieure doperation (span)
Ce param`etre, ainsi que plusieurs autres, est normalement specifie par le fabriquant. Dans le cas o`
u lon ne connat pas cette limite, on doit la determiner par
letalonnage et sassurer de ne pas lexceder lors des utilisations subsequentes.

18

1.3.2

Etalonnage
dynamique

Rappel sur les transform


ees de Laplace
Soit f (t) une fonction definie pour t > 0. La transformee de Laplace de f (t), notee
L{f (t)}, secrit:
L{f (t)} = F (s) =

est f (t) dt

(1.22)

te
s:
Quelques proprie

r Linearite
L{c1 f1 (t) + c2 f2 (t)} = c1 L{f1 (t)} + c2 L{f2 (t)} = c1 F1 (s) + c2 F2 (s) (1.23)
r Deuxi`eme propriete de linearite
(

L{f (t)} = F (s)


alors

et

g(t) =

f (t a)
0

t>a
t<a

L{g(t)} = eas F (s)

(1.24)
(1.25)

r Translation
L{f (t)} = F (s) = L{eat f (t)} = F (s a)
r Derivees

d f (t)
L
dt

(1.26)

= s F (s) f (0)

(1.27)

r Transformee inverse
L{f (t)} = F (s) = f (t) = L1 {F (s)}

(1.28)

r Convolution
si f (t) = L1 {F (s)}
alors

L1 {F (s) G(s)} =

et
Z t
0

commutativite: f g = g f

19

g(t) = L1 {G(s)}

(1.29)

f (u) g(t u) du = f g

(1.30)

f (t)
1
t
tn pour n = 0, 1, 2, . . .
eat
sin at
cos at
0 t<a
echelon U(t a) =
1 t>a
impulsion unitaire (t)
(ou fonction de Dirac)
(t a)

F (s)
1/s (s > 0)
1/s2 (s > 0)
n!/(sn+1 ) (s > 0)
1/(s a)
a/(s2 + a2 ) (s > 0)
s/(s2 + a2 ) (s > 0)
eas /s
1
eas

Tableau 1.1: Transformees de Laplace de quelques fonctions elementaires.

- EXEMPLE

Determinons la transformee de Laplace de la fonction f (t) = et cos 2t.


Puisque

L{cos 2t} =

s2

s
+4

L{eat f (t)} = F (sa) (ici a = 1).

et

s+1
(s + 1)2 + 4

F (s) =

- EXEMPLE

Calculons la transformee inverse de la fonction F (s) = 1/[s2 (s + 1)2 ].


On a :

L1

1
s2

=t

et
(

Convolution
=

= L

L1

1
2
s (s + 1)2

1
(s + 1)2
)

Z t

= t et (par translation)

ue

(tu)du =

Z t
0

t

(ut u2 ) (eu ) (t 2u)(eu ) + (2) (eu )
0
(
)

L1

s2

1
(s + 1)2

20

= t et + 2 et + t 2

(utu2 )eu du

1.3.3

Fonction de transfert et r
eponse en fr
equence dun
syst`
eme lin
eaire `
a coefficients constants

Considerons un syst`eme de mesure, pour lequel il existe une relation dynamique entre
lentree xi et la sortie vo , telle que:
a0 v o + a1

dvo
d2 vo
d2 xi
dn vo
dxi
dn xi
+ a2 2 + . . . + an n = b 0 x i + b 1
+ b2 2 + . . . + bn n (1.31)
dt
dt
dt
dt
dt
dt

Soulignons que xi et vo representent des quantites instantanees qui sont toutes deux des
fonctions du temps.
Instrument dordre zero
Dans ce cas, on consid`ere: a1 = a2 = . . . = an = 0 et b1 = b2 = . . . = bn = 0. Cela
signifie que vo = K xi , o`
u K = b0 /a0 represente la sensibilite statique.
Instrument du premier ordre
Dans ce cas, on consid`ere: a2 = . . . = an = 0 et b1 = b2 = . . . = bn = 0. Cela
signifie que vo + dvo /dt = K xi , o`
u K = b0 /a0 represente la sensibilite statique et
= a1 /a0 definit la constante de temps.
+ Fonction de transfert dun syst`eme du premier ordre:
vo (t) +

dvo (t)
= K xi (t)
dt

y = vo (t) et x = xi (t)
L{ } avec y(0) = 0

(1.32)

dy
=Kx
dt
Y (s) + s Y (s) = K X(s)
y+

(1.33)
(1.34)

K
X(s)
(1.35)
s+1
K
H(s) =
(1.36)
s+1
La fonction de transfert que lon note H(s) sert `a etablir une relation entre Y (s) et X(s).
Y (s) =

+ Reponse dun syst`eme du premier ordre `a un signal dentree de type fonction echelon:
xi (t) = x(t) = xis pour t > 0

X(s) =


xi s
s


Y (s) =

y(t) = vo (t) = K xis 1 et/


21

K xi s
1
s(s + 1 )



vo (t)
= 1 et/
K x is

(1.37)

(1.38)

+ Reponse dun syst`eme du premier ordre `a un signal dentree de type fonction sinusodale:
xi (t) = x(t) = xiA sin t avec = 2f
(1.39)

1
(1.40)
X(s) = xiA 2

Y
(s)
=
K
x

i
A
s + 2
( s + 1) (s2 + 2 )
On cherche A, B et C tels que:
A
Bs+C
1
+ 2
=
2
s+1
s +
( s + 1) (s2 + 2 )

(1.41)

Apr`es quelques manipulations, on trouve:


2
A=
1 + ( )2

B=

1 + ( )2

et

C=

1
1 + ( )2

(1.42)

On obtient donc pour Y (s) lexpression suivante:


"

s
1
K x iA
1
2
+ 2
Y (s) =

2
2
1 + ( )
s + 1/
s +
s + 2

(1.43)

La transformee inverse L1 { } de cette expression donne:


y(t) =

i
K x iA h
t/

e
+
sin
t

cos
t
1 + ( )2

(1.44)

ou, apr`es manipulation:


q


K x iA
t/
2 sin t tan1 ( )

e
+
1
+
(
)
1 + ( )2


y(t) =

(1.45)

La reponse y(t) du syst`eme peut finalement secrire:


y(t) =

t/
A
| e{z }

+ B sin(t )

r
eponse transitoire

avec : A =

{z

(1.46)

r
eponse stationnaire

K xiA
K x iA
B=q
= tan1 ( )
2
2
1 + ( )
1 + ( )

(1.47)

La constante B represente lamplitude de la reponse stationnaire et le dephasage.


Remarques:
1. Apr`es un certain temps (t  1/ ), le terme transitoire et/ tend vers 0 et il ny
a plus que la reponse stationnaire.
22

2. Pour un temps t donne, plus la constante de temps du syst`eme est petite, moins
la reponse transitoire prend dimportance et plus le dephasage est faible.
3. Plus la frequence du signal dentree est faible devant 1/ , plus le dephasage est
faible.
La figure 1.6 illustre les reponses de differents syst`emes du premier ordre.
y(t)

=0.05

=0.2

0.5

0.5

0.5

-0.5

-0.5

-0.5

-1
0

-1

temps (s)
=0.4

-1

2
=0.6

0.5

0.5

-0.5

-0.5

-0.5

-1

2
=1.2

2
=2

0.5

-0.5

-0.5

-0.5

-1

-1

-1

=0.8

2
=4

0.5

-1

0.5

0.5

-1

=0.3

Figure 1.6: Reponses de differents syst`emes dynamiques du premier ordre (pour differentes
valeurs de ) exposes au signal dentree x(t) = sin 4t (ici = 4 rad/s); lignes: pointillee =
entree x(t); pleine = sortie y(t) (totale et partie transitoire).

Les cas illustres par ces figures sont obtenus avec les valeurs de indiquees dans le
tableau 1.2 (on y indique aussi les valeurs de B et de obtenues avec = 4 rad/s et
K xiA = 1).
23


4
4
4
4
4
4
4
4
4

0.05
0.2
0.3
0.4
0.6
0.8
1.2
2
4

B
0.981
0.781
0.640
0.530
0.385
0.298
0.204
0.124
0.062

11.3
38.7
50.2
58
67.4
72.6
78.2
82.9
86.4

Tableau 1.2: Reponses de differents syst`emes lineaires du premier ordre.

+ Reponse stationnaire et reponse en frequence dun syst`eme du premier ordre:


Considerons la reponse stationnaire dun syst`eme que lon soumet a` un signal dentree
sinusodal de frequence . Lensemble des reponses, pour = 0 , est appele reponse
en frequence de ce syst`eme. Pour un syst`eme donne ( est fixe), la reponse stationnaire
B sin(t ) est fonction de seulement (car B et sont egalement des fonctions de
seulement). Pour un syst`eme donne, la reponse en frequence (figure 1.7) est donc une
fonction de . On definit:
M () =

1
B
= Gain
=q
K xi A
1 + ( )2

() = tan1 ( ) = Phase

1.3.4

(1.48)
(1.49)

R
ealisation dun
etalonnage dynamique

Plusieurs probl`emes de mesure sont relies a` des quantites ou phenom`enes qui varient
rapidement dans le temps (fluctuations, impulsions, explosions, chocs, vibrations . . . ).
Dans ce cas, nous nous interessons aux relations dynamiques existant entre les signaux
dentree et de sortie de linstrument. On doit donc determiner les caracteristiques dynamiques des instruments, telles que la constante de temps, la frequence de coupure
etablissant la bande passante, la fonction de transfert, la reponse en frequence (gain et
phase), le depassement . . . Considerons le cas de linstrument du premier ordre soumis
a` un signal dentree de type fonction echelon; comme nous avons fait le developpement
a` la section precedente, nous savons que la reponse aura la forme suivante:
h

vo = K xis 1 et/
24

(1.50)

90

1
()
(Phase)

0.8

90

-10

20 log M ()
(Gain en dB)

()
(Phase)

60

60
0.6

-20
0.4

30

30

0
0

20

40

asymptote
de pente =
-20 dB/decade

-30

M ()

(Gain)

0.2

60

80

0
100

-40
0.01

0.1

10

0
100

Figure 1.7: Reponse en frequence (gain et phase) dun syst`eme du premier ordre en fonction
du produit .

Les courbes de la figure 1.8 representent cette equation pour deux valeurs de differentes:

vo
petit

lev

K xis

t
Figure 1.8: Reponse de deux syst`emes du premier ordre `a une excitation de type echelon.

On peut egalement tracer vo /(K xis ) vs t/ ; on obtient alors une courbe universelle
(figure 1.9) qui sapplique a` tous les instruments du premier ordre soumis a` un signal
dentree de type echelon.

25

vo
K xis

t/
0
1
2
3
4

0.8
0.6
0.4
0.2
0

vo /(K xis )
0.000
0.632
0.865
0.950
0.982
1.000

t/
Figure 1.9: Reponse universelle dun syst`eme du premier ordre `a un echelon.

Determination de la constante de temps dun syst`eme du premier ordre:


Pour un instrument donne, le temps de reponse `a un echelon depend du seuil que
lon decide dimposer en terme de pourcentage de la valeur finale a` atteindre. Autrement
dit, si lon desire connatre le temps de reponse `a 95% par exemple, il faut mesurer le
temps t necessaire pour atteindre le niveau vo / K xis = 95%. Connaissant ce temps t
et sachant que pour ce pourcentage le rapport t/ = 3, on peut determiner la valeur de
, la constante de temps de linstrument en question.
En procedant de cette facon, on obtient seulement une estimation de qui est relativement grossi`ere. On peut faire une analogie avec le fait de tracer une droite avec deux
points au lieu de faire une regression lineaire sur beaucoup plus de points. Une facon de
proceder qui est plus elegante consiste `a considerer tout le signal (toutes les valeurs de
vo / K xis au lieu de seulement celle correspondant a` vo / K xis = 0.95 . . .) et `a faire une
regression des moindres carres sur lequation
h
i
vo
= K 1 et/
xi s

(1.51)

avec K et comme param`etres de la regression. On obtient ainsi une constante de


temps des moindres carres qui est plus precise.
Determination de la reponse en frequence dun syst`eme du premier ordre:
Pour determiner la reponse en frequence de linstrument, on peut par exemple le
soumettre a` un signal dentree sinusodal de frequence connue. On doit tracer le gain,
20 log(vo /Kxi ) en fonction de log f . Dans le cas dun instrument du premier ordre,

on sait que pour 2f = 1/ on a |H(f )|/K = 1/ 2; en decibel, cela correspond a`

20 log(1/ 2) = 3 dB. Donc, lorsque f = 1/(2 ), on observe une attenuation de -3 dB


par rapport au niveau correspondant `a f = 0. Cette frequence est appelee la frequence
26

de coupure
1
(1.52)
2
De part et dautre de fc , il existe deux asymptotes: une a` basse frequence dont la pente
est nulle et une a` haute frequence dont la pente est de -20 dB/decade (voir le graphique
presente precedemment). Si les mesures ne suivent pas ces asymptotes, cela signifie
que linstrument considere nest pas un instrument du premier ordre. Si on a trace le
graphique du gain de la reponse en frequence et que lon ne connat pas la valeur de fc , on
peut en determiner la valeur comme suit: il sagit de trouver le point correspondant soit
a` une attenuation de -3 dB ou soit `a lintersection du prolongement des deux asymptotes.
fc =

27

28

Chapitre 2
Introduction `
a l
electronique
2.1

L
electronique et le g
enie m
ecanique

Il y a quelques annees, les champs dexpertise des ingenieurs electriques et mecaniques


etaient bien distincts. Aujourdhui, loptimisation des procedes de fabrication, la modernisation des chanes de production et plusieurs autres taches obligent lingenieur mecanicien a` concevoir des syst`emes integrant des capteurs, des circuits dinterface et des
composantes electroniques diverses. Par exemple, les dispositifs pneumatiques font
appel aux electro-distributeurs pilotes par des automates programmables industriels.
Lentranement `a vitesse variable des charges mecaniques est desormais devolu `a un ensemble entranement electronique (drive) / moteur electrique. Les automobiles sont
de plus en plus equipees de capteurs et dactionneurs qui permettent daugmenter la
puissance par unite de poids tout en minimisant les effets nefastes sur lenvironnement.
Avec son bagage de connaissances, lingenieur en mecanique devient la reference lorsquil
faut decider du niveau dintegration des technologies de lelectronique dans les syst`emes
mecaniques. Sa polyvalence facilite son integration dans les equipes de travail multidisciplinaires.
Cette evolution des technologies de commande permet daugmenter ladaptabilite,
la performance et le co
ut des procedes de fabrications. Pour effectuer un choix eclaire,
lingenieur doit connatre la technologie des capteurs et des actionneurs electromecaniques quil utilise. Il doit bien comprendre les specifications et les limites operatoires,
particuli`erement lorsque les equipements sont requis pour preserver la sante et la securite
des travailleurs. Des connaissances minimales en transport de signal, en amplification
et filtrage guide lingenieur dans la localisation des equipements et des machines sur le
plancher dune usine. La figure 2.1 presente un syst`eme electromecanique.
29

Vrin
hydraulique / pneumatique

Position

Temp.

Moteur
lectrique

Pres.

Force

Distributeur

Balance
Entranement
lectronique
(drive)

Systme ordin

ements dun syst`eme mecanique moderne: syst`eme mecatronique flexible inFigure 2.1: El
cluant de linstrumentation specialisee associee aux technologies de pointe en informatique.

2.2

Notions de base

2.2.1

Source de tension

Une source de tension est un dipole electrique capable de maintenir une difference de
potentiel electrique (la tension electrique) constante peu importe la nature de la charge `a
laquelle elle est raccordee. Le graphique de la figure 2.2 presente les caracteristiques v i
dune telle source. Lorsque la tension est constante, i.e. independante du temps, il sagit
dune source de tension continue. La batterie dune automobile en est un bon exemple.
Lorsque la tension varie en fonction du temps, nous parlons dune source a` tension
alternative. Une prise electrique raccordee au reseau de distribution de lelectricite
(Hydro Quebec) est un bon exemple dune source de tension alternative. La figure
2.3 illustre les symboles utilises pour representer une source de tension. En pratique,
il nexiste pas de source de tension ideale, capable de debiter un courant infini sans
probl`eme (puissance infinie). Une source reelle poss`ede une impedance interne (figure
2.2) qui provoque une chute de tension en fonction du courant debite. La source de
tension est dite quasi ideale lorsque limpedance de la charge est largement superieure a`
limpedance interne de la source. Par exemple, une batterie dautomobile est une source
parfaite lorsquelle est utilisee pour alimenter un recepteur radio (variation de tension
30

v
Source idale

Sortie d'un
capteur

Pile
chimique

imax (capteur)

Figure 2.2: Diagramme v i de quelques sources de tension.

negligeable). Par ailleurs, lorsque le demarreur de la voiture est active, la tension aux
bornes de la batterie peut varier de plusieurs volts et, dans ce cas, le type de pile et
sa capacite sont des facteurs determinants. Le tableau 2.1 presente quelques dipoles
electriques consideres comme sources de tension.
Source de
Source de
tension continue tension alternative
(E)
(V )

La notation V est utilisee pour representer


lamplitude dune tension alternative harmonique complexe v(t).

v(t) = V ejt = V cos(t) + jV sin(t)

(2.1)

Notons aussi, pour des fins ulterieures, que


dv
= jV ejt
dt

(2.2)

Figure 2.3: Representation schematique des sources de tension.

Lorsque lon utilise un capteur possedant un signal de sortie en tension proportionnelle a` une grandeur mecanique, nous considerons que cette source est ideale jusqu`a la
valeur de courant nominal specifiee par le fabriquant.
Un poste de soudure de type GMAW1 impose une caracteristique de type source de
tension aux bornes de larc. La puissance de soudage est fonction du niveau de la source
et du debit du cable de soudage.
1

Gas Metal Arc Welding aussi denomme MIG Welding (Metal Inert Gas Welding)

31

Pile chimique
Generatrice a` courant continu
Pile `a combustible
Jonction thermocouple
Machine synchrone (alternateur)

CC
CC
CC
CC
CA

Tableau 2.1: Quelques sources de tension typiques.

2.2.2

Source de courant

Le courant electrique est une mesure du debit des electrons `a travers un materiau conducteur. Une source de courant est un dipole electrique capable dimposer un courant
dans une charge peu importe sa nature. Le graphique de la figure 2.4 presente les caracteristiques v i dune telle source.

v
vmax

Source
relle performante

Source
idale

Source typique
d'un poste de
soudage classique

i
Figure 2.4: Diagramme v i de quelques sources de courant.

La figure 2.5 illustre les symboles utilises pour representer une source de courant.
Lorsque le courant est constant et independant du temps, il sagit dune source de courant
continu. Il nexiste pas de source de courant dans la nature. Les sources utilisees en
electronique et en electrotechnique sont synthetisees a` partir de sources de tension et de
composantes electroniques. La figure 2.6 presente le schema de principe dune source
de courant variable utilisee dans les capteurs. Il est impossible de concevoir une source
de courant ideale, capable dimposer une tension infinie dans une impedance infinie. La
source de courant continue impose le courant aussi longtemps que la tension maximale
de la source de tension utilisee pour la realiser nest pas atteinte.

32

Source de
courant
(I)
ou

Figure 2.5: Representation schematique dune source de courant.

Les postes de soudure a` la baguette et de type GTAW2 reproduisent les caracteristiques dune source de courant continu ou alternatif aux bornes de larc. Les capteurs
ayant une sortie en courant fonction de la grandeur mecanique mesuree sont largement
utilises dans le monde industriel pour le transport de signaux sur de grandes distances
(standard 4-20 mA). Le courant est une grandeur conservatrice. En labsence de fuites,
le courant qui entre dans un equipement doit obligatoirement en sortir. Cette affirmation
est mise a` profit dans les prises electriques differentielles utilisees dans les salles de bain.
Ces prises int`egrent un dispositif electronique qui mesure et amplifie la difference entre
le courant entrant et le courant sortant. Aussitot que la mesure differentielle nest plus
nulle, ceci indique que le courant circule par un autre chemin, quil y a une fuite (par
exemple `a travers le corps humain). Un disjoncteur integre a` la prise coupe lalimentation
electrique et elimine le danger delectrocution.

IRef

IRef +

Rgulateur

Mesure

Figure 2.6: Source de courant synthetisee.

Gas Tungsten Arc Welding aussi denomme TIG Welding (Tungsten Inert Gas Welding).

33

2.2.3

Conduction et r
esistance
electrique

Le ph
enom`
ene de conduction
electrique
Pour transporter lenergie electrique, nous utilisons des cables en cuivre ou en aluminium. Ces materiaux font partie de la famille des conducteurs.
Les atomes ont des electrons qui gravitent sur plusieurs orbites (figure 2.7). Les
electrons des couches pr`es du noyau servent `a creer des liens avec les atomes voisins et
il faut une tr`es grande energie pour les dissocier de latome. Ces electrons font partie de la bande de valence (figure 2.8). Sous leffet dun champ electrique resultant de
lapplication dune tension ou sous leffet dune elevation de temperature, les electrons
sur les orbites externes sont facilement soustraits de lattraction du noyau et peuvent
circuler dans le metal en sautant dun atome a` lautre (figure 2.9). Ces electrons font
partie dune bande energetique appelee bande de conduction. Les electrons en perpetuel
mouvement voyagent `a une vitesse inter-atomique de plus de 1000 km/s. Ces electrons
libres de circulation sont en tr`es grande quantite dans les bons materiaux conducteurs.
Lorsquil y a beaucoup delectrons, il y a beaucoup de collisions qui produisent de la
chaleur. Plus la temperature du conducteur est elevee plus il y a delectrons disponibles
pour la conduction, plus il y a de collision. Un bon conducteur est un element atomique possedant un nombre minimal delectrons dans la bande de conduction pour la
circulation, mais pas trop eleve pour ne pas offrir un une trop grande probabilite de
collisions.
13+

29+

Aluminium

Cuivre

1022 lectrons libres/cm3

Figure 2.7: Schema illustrant les orbites des electrons dans des conducteurs.

Le ph
enom`
ene disolation
electrique
Les isolants sont des materiaux dont la bande de conduction est vide, noffrant ainsi
aucune possibilite de circulation. Les semi-conducteurs sont des materiaux qui poss`edent
peu delectrons dans la bande de conduction. Les niveaux energetiques des bandes de
valence et de conduction sont proches. Une augmentation de la temperature apporte
suffisamment denergie pour provoquer la migration delectrons depuis la bande de valence vers la bande de conduction.
34

N
E
R
G
I
E

lectron
libre
+

Lien de covalence

Bande de
conduction

Bande de
conduction

W ~ 6 eV

Bande de
conduction

W ~ 1 eV

Bande de
valence

Bande de
valence

Bande de
valence

Isolants

Semi-conducteurs

Conducteurs

lectron de valence

Figure 2.8: Representation simplifiee de la structure atomique des solides en termes de


niveaux denergie associes aux bandes de valence et de conduction.

+ + + + + +

i+

+ + + + +
Vitesse de
propagation
du courant:
vitesse de
la lumire

Vitesse moyenne
d'un lectron dans
l'axe du courant:
5 cm/h

Vitesse instantane
d'un lectron:
1000 km/s

- - - - - -

- - - - - -

Figure 2.9: Schema de circulation du courant electronique dans un conducteur.

35

Le ph
enom`
ene de r
esistance
electrique
La resistance electrique est une mesure de la difficulte `a faire circuler un courant
aux bornes dun conducteur, dune charge ohmique (figure 2.10). La convention sur le
sens du courant est `a linverse du deplacement des electrons. La figure 2.11 presente le
symbole de la resistance et lequation qui etablit sa valeur en fonction des dimensions
geometriques du conducteur. La resistivite electrique (e ) est un param`etre intrins`eque
dun materiau et le tableau 2.2 fournit quelques valeurs utiles.

Materiau [symbole]

Proprietes electriques

et

resistivite electrique e

composition

a0 C
`
nm

Proprietes thermiques et mecaniques


coef.

masse

conduct.

temper. de

volum.

therm. k

fusion Tf

`a 0 C

nm

`a 20 C

10

kg/m

W/(m C)

Aluminium [Al]

26.0

28.3

4.39

2703

218

660

Argent [Ag]

15.0

16.2

4.11

10500

408

960

-0.03

8900

4.27

8890

7.34

7900

' 0.03

' 2500

'5

3600

Constantan

500

500

22.6

1190

54%Cu, 45%Ni, 1%Mn

Cuivre [Cu]

15.88

Fer [Fe]

88.1

Graphite/Carbone [C]

8000 `
a 30000

Manganin

17.24
101

394
79.4

1083
1535

482

482

0.015

8410

20

1020

1080

1082

0.11

8400

11.2

1400

84%Cu, 4%Ni, 12%Mn

Nichrome
80%Ni, 29%Cr

Nickel [Ni]

78.4

85.4

4.47

8900

90

1455

Or [Au]

22.7

24.4

3.65

19300

296

1063

Platine [Pt]

98

3.9

21400

71

1773

Tungst`ene [W]

49.6

5.5

19300

20

3410

106
55.1

Tableau 2.2: Proprietes de quelques conducteurs.

La relation tension courant aux bornes dun element resistif est donnee par la loi dOhm.
vR (t) = R iR (t)

(2.3)

De facon generale, le rapport v/i propre a` un circuit quelconque definit limpedance Z


du circuit. On peut alors generaliser la loi dOhm en utilisant la notation dimpedance.
Dans le cas de la resistance, on ecrit donc:
vR = ZR iR

avec
36

ZR = R

(2.4)

i
direction
convenue du dbit
de courant
anode
cathode

+ source de
tension

Dbit d'lectrons libres


dans le conducteur et
convention utilise pour
reprsenter le vecteur
de potentiel

chute de
tension

charge

direction
relle du dbit
d'lectrons

Figure 2.10: Schema illustrant un circuit electrique de base et la circulation du courant dans
un conducteur.
Rsistance
(R)

R=
Ac

e l
Ac

Figure 2.11: Representation schematique dune resistance et relation exprimant la resistance


electrique dun conducteur de longueur l, de section Ac et de resistivite electrique e .

La resistivite est un param`etre qui est fonction de la temperature. Cette propriete est
mise a` profit pour la realisation de sondes de temperature (par exemple, les sondes RTD
en platine). Dans le cas des conducteurs, il est a` noter que la resistivite, cest-`a-dire
la difficulte de faire circuler un courant, crot avec la temperature. La variation de
resistance avec la temperature sexprime, au premier ordre, par la relation suivante:
R = R0 [1 + (T T0 )]

(2.5)

Pour les semi-conducteurs, la resistivite diminue en fonction de la temperature (sonde


thermistor). Si on abaisse considerablement la temperature de certains conducteurs,
tous les electrons dans la bande de conduction migrent vers la bande de valence et deviennent des isolants.
37

Il existe des materiaux qui sont parfaitement conducteurs. Ils sont appeles supraconducteurs. Malheureusement, cette propriete apparat a` de tr`es faibles temperatures,
lorsque lagitation electronique est tr`es faible. Les supraconducteurs sont utilises pour
la construction de bobines qui produisent de tr`es forts champs magnetiques dans des
appareils medicaux (scanner). Ces bobines sont refroidies par de lazote liquide. Nous
sommes a` la recherche de materiaux supraconducteurs a` la temperature de la pi`ece. La
decouverte de tels materiaux serait une revolution pour le monde de lelectrotechnique.
Les resistances utilisees dans les montages electroniques standards sont des resistances
dites `a basse temperature (moins de 155 C). En general, la valeur de la resistance est
indiquee par un code a` quatre bandes de couleur: les deux premi`eres bandes indiquent
les deux premiers chiffres, la troisi`eme bande indique le nombre de zeros et la quatri`eme
la precision (or 5% et argent 10%). La figure 2.12 illustre un exemple de codage par
bandes de couleur.
Couleur

noir

brun

rouge

orange

jaune

vert

bleu

violet

gris

blanc

Chiffre

R = 56 102 (0.05 5600)


R = 5600 280

or = 5%
vert =5

bleu = 6

rouge =2

Figure 2.12: Codage de la valeur dune resistance electrique par bandes de couleur.

Notons enfin que la puissance electrique (en Watt) est le produit de la tension et du
courant. Lenergie (en Joule) debitee par la source est lintegrale de la puissance par
rapport au temps.
W =

vi dt

(2.6)

Dans le cas dune chute de tension a` travers une resistance (v = Ri), on obtient:
W =

Ri2 dt

(2.7)

Cette energie est alors dissipee sous forme de chaleur. Ce phenom`ene est denomme effet
Joule.
38

2.2.4

Le condensateur

Considerons le schema presente a` la figure 2.13 illustrant deux plaques metalliques parall`eles. Lorsque lon ferme linterrupteur (initialement ouvert), on applique une source
de tension continue aux bornes du dispositif. Un courant circule alors pendant un court
instant, des electrons quittant la plaque de polarite positive pour se retrouver sur la
plaque de polarite negative (sens inverse du courant). Un champ electrique se developpe
ainsi entre les deux plaques. Lintegrale du courant permet de calculer la charge Q
deplacee sur les plaques. Le rapport entre la charge deplacee et la tension appliquee
definit la capacitance C et sexprime en Farad.
C = Q/E

(2.8)
A

+++++++++
d

- - - - - - - - -

Figure 2.13: Schema de chargement initial dun condensateur lorsquune source de tension
est soudainement imposee.

Le dispositif ainsi forme est appele condensateur et le symbole utilise en electronique est
illustre a` la figure 2.14.
Condensateur
(C)

Figure 2.14: Representation schematique dun condensateur.

Pour deux plaques parall`eles dont la largeur et la profondeur sont dix fois superieures a`
la distance qui les separent, la capacitance sexprime par
39

C = r 0 A/d

(2.9)

o`
u A est laire dune plaque, d est la distance entre les plaques, r est la permittivite
relative du materiau se trouvant entre les deux plaques (par rapport au vide, ce qui
implique r 1 pour le vide) et 0 est la permittivite du vide (8.8542 1012 Farad/m).
La capacitance varie de facon inversement proportionnelle a` la distance d. Cette
propriete est utilisee dans les capteurs de proximite capacitifs. Par exemple, ce type de
capteur est utilise pour mesurer lepaisseur dune couche de peinture sans alterer le fini
de surface.
Lenergie stockee dans un condensateur est
1
1
(2.10)
W = Q E = C E2
2
2
Lorsquon ins`ere un materiau isolant entre les deux plaques (materiau dielectrique),
les orbites des electrons du dielectrique sont deformees sous linfluence du champ electrique. Cette deformation fait apparatre des dipoles atomiques et provoque un deplacement
additionnel de charge. Lajout de lisolant augmente la valeur du condensateur. Le
tableau 2.3 presente les principaux materiaux utilises dans la conception des condensateurs.
La presence dun milieu non-conducteur entre les deux plaques rend impossible la
circulation dun courant continu. Le condensateur est utilise dans les circuits o`
u la tension est variable. Lequation du courant instantane en fonction de la tension instantanee
est :
d vC (t)
(2.11)
dt
Cette equation nous indique quun condensateur soppose `a une variation brusque de
la tension a` ses bornes. Lorsquun condensateur de grande capacite est court-circuite,
le courant peut atteindre plusieurs milliers damp`eres. Le condensateur se comporte
comme une inertie de tension. Durant un court instant, le dispositif reagit comme une
source de tension. Cette propriete est utilisee pour filtrer les signaux de tension bruites.
iC (t) = C

Lorsque la source dalimentation est de type harmonique (tension sinusodale pure de


frequence , soit vC = VC ejt ), la relation exprimant le courant secrit:

40

Type

Gamme

Mica

1 pF 0.01 F
10 pF 1 F

Fuites

Remarques

Bonne

Stabilite
en temperature
Bonne

Faibles

50 - 30 000

Mauvaise

Mauvaise

Moderees

0.001 F 50 F
100 pF 50 F

50 - 600

Bonne

Mauvaise

Faibles

100 - 800

Excellente

Bonne

Tr`es
faibles

Tantalum

0.1 F 500 F

6 - 100

Mauvaise

Mauvaise

Moderees

Electrolytique

0.1 F 1.6 F

3 - 600

Tr`es
mauvaise

Tr`es
mauvaise

Tr`es
grandes

Excellent,
bon aux RF
Petite taille,
faible co
ut,
tr`es populaire
Faible co
ut,
populaire
Bonne qualite,
faible absorption
dielectrique
Capacitance
elevee, co
ut
eleve, petite taille
Courte duree
de vie, faible
co
ut, capacitance
elevee

Ceramique

Polyester
Polypropyl`ene

Tension
maximum
(Volts)
100 - 600

Precision

Tableau 2.3: Proprietes de differents types de condensateurs utilises en electronique.

iC = j C VC ejt = j C vC

(2.12)

La relation tension-courant secrit donc:


vC =

1
iC = ZC iC
jC

avec ZC =

1
jC

(2.13)

Le terme ZC represente limpedance capacitive.

2.2.5

Linductance

Lorsquun conducteur est parcouru par un courant electrique, un champ magnetique


H apparat dans lespace entourant le conducteur. Considerons une courbe fermee de
longueur lT , faisant le tour dun fil conducteur. Selon la loi dAmp`ere, le courant circulant
dans le fil est egal a` lintegrale de contour ferme du champ magnetique effectuee sur une
courbe quelconque autour du fil:
fil
iL

iL =

dl

41

Hdl

(2.14)

Cette loi exprime le fait que le champ magnetique est une quantite conservative.
Lorsque le conducteur forme dans lair une bobine torode de N spires, de section A et
de petit diam`etre devant la longueur lT , on obtient, en negligeant les effets de bouts:
I

Hdl = H lT = N iL H =

N iL
lT

(2.15)

iL
section A
N spires
contour ferm
de longueur lT

Figure 2.15: Representation schematique dun bobinage torode.

Linduction magnetique est definie par B = 0 r H, o`


u 0 represente la permeabilite
magnetique du vide (4 107 Henry/m) et r represente la permeabilite relative du
materiau se trouvant au centre des spires (par rapport au vide, ce qui implique r 1
pour le vide). Le flux magnetique traversant la section du torode est:
A
= B A = 0 r N i L
(2.16)
lT
Le rapport entre la quantite de flux magnetique produit et le courant applique definit
linductance L et sexprime en Henry.


N
iL
Le symbole utilise en electronique est illustre `a la figure 2.16.
L=

(2.17)

En utilisant la relation exprimant , lequation definissant linductance peut secrire:


L = 0 r N

A
lT

(2.18)

La tension instantanee vL (t) induite aux bornes dune bobine de N spires est decrite par
la loi de linduction magnetique de Faraday:
vL (t) = N
42

d
(t)
dt

(2.19)

Inductance
(L)

Figure 2.16: Representation schematique dune inductance.

avec (t) = L iL (t) vL (t) = L

d
iL (t)
dt

(2.20)

Lenergie emmagasinee dans le champ magnetique ( representant un volume) est exprimee par:
1
1
W = B H = L i2L
2
2

(2.21)

Il est important de noter que linductance emmagasine de lenergie sous la forme dun
champ magnetique, alors que le condensateur emmagasine de lenergie sous la forme
dun champ electrique.
Lorsquun noyau magnetique est introduit dans la bobine, la permeabilite est augmentee dun facteur r , la permeabilite relative du materiau. La valeur de linductance
crot. Cette propriete est utilisee pour realiser des capteurs de proximite.
La tension moyenne aux bornes dune inductance est toujours nulle. Pour maintenir
une tension continue aux bornes dune inductance, il faudrait utiliser une source capable
de debiter un courant infini et une bobine en mesure de supporter ce courant. En effet, la
tension etant definie par vL = L diL /dt, il faudrait que le courant augmente lineairement
dans le temps pour obtenir une tension constante; donc apr`es un certain temps, la valeur
du courant deviendrait tr`es elevee et devrait eventuellement tendre vers linfini.
Lorsquune inductance ideale (resistance nulle) est parcourue par un courant continu a` travers un court-circuit, celui-ci circule indefiniment (figure 2.17). Si lon tente
dinterrompre brusquement ce courant en ouvrant linterrupteur, lequation vL = LdiL /dt
indique que la bobine soppose au changement en developpant une tr`es grande tension
43

iL

iL

ouverture de
l'interrupteur

interrupteur
initialement
ferm

diL

dt

(2.22)

Figure 2.17: Schema dune inductance debitant un courant dans un interrupteur initialement
ferme et que lon ouvre subitement.

(vL ). On observera alors la formation dun arc electrique aux bornes des contacts de linterrupteur. En realite, lenergie stockee doit etre rendue et larc electrique
est le lieu de cette restitution. Linductance se comporte comme une inertie de courant.
Durant un tr`es court instant, linductance reagit comme une source de courant.
Lorsque le courant circulant dans linductance est de type harmonique (courant sinusodal pur de frequence , soit iL = IL ejt ), la relation exprimant la tension secrit:
vL = j L IL ejt = j L iL

(2.23)

La relation tension-courant secrit donc:


vL = j L iL = ZL iL

avec ZL = jL

(2.24)

Le terme ZL represente la reactance inductive.


Linductance est tr`es utilisee dans les circuits electroniques `a haute frequence, lorsque
limpedance resistive est negligeable devant la reactance. Lusage du condensateur est
privilegie dans les circuits electroniques operant a` basse frequence.

2.2.6

Combinaisons RCL

Lanalyse presentee dans cette section est faite en considerant des tensions harmoniques
v = V ejt . Le calcul des circuits composes dimpedances de type R, L et C fait ainsi
appel a` la resolution dequations complexes dans lesquelles les impedances capacitives
et inductives sont fonctions de la frequence complexe j. La combinaison RC presentee
a` la figure 2.18 represente le schema dun filtre passe-bas du premier ordre. La figure 2.20 presente un filtre passe-bas du second ordre. Le comportement des syst`emes
44

electroniques du second ordre est similaire a` la reponse dun syst`eme mecanique de


type masse-ressort-amortisseur (ex. suspension automobile). Plus lordre du filtre est
eleve, plus la pente de lattenuation (coupure) est elevee. Chaque ordre correspond `a
une coupure de -20 dB par decade (un facteur 10 en amplitude pour un facteur 10 sur
lechelle de frequence). Un filtre passe-bas du second ordre attenue le signal au-del`a de
la frequence de coupure dun facteur de -40 dB/decade.
Circuit `
a deux composantes en s
erie

iR
vR

iC
vC

vC

Figure 2.18: Circuit en serie (2 composantes): le filtre RC du premier ordre.

Limpedance equivalente de ce circuit est:


Zeq. =

v
1 + R C j
= ZR + ZC =
i
C j

(2.25)

La tension aux bornes du condensateur sexprime comme:


vC = ZC iC = ZC

ZC
v
v
=
)
v (puisque i = iC =
Zeq.
ZR + ZC
Zeq.

(2.26)

Notons que si on remplace le condensateur par une resistance R2 , on obtient un circuit


tr`es utile appele diviseur de tension3 . Le rapport entre la tension aux bornes du condensateur et la tension a` lentree definit la reponse en frequence H() du circuit4 . Elle
secrit:
vC
1
= H() =
v
1 + R C j
On ecrit le gain de la reponse en frequence:
|H()| = q

1
1 + (R C )2

(2.27)

(2.28)

On obtient, pour le diviseur de tension, vR2 = vR2 /(R + R2 ).


La reponse en frequence est une fonction (ou un vecteur) complexe comportant une partie reelle et
une partie imaginaire; on peut aussi la definir sous sa forme polaire avec son module (ou gain) et sa
phase: H() = Hr jHi = |H()|ej() .
4

45

On reconnat ici lequation dun syst`eme dynamique du premier ordre. On appelle ce


circuit un filtre RC du premier ordre et la frequence de coupure du filtre est c = 1/(RC).

Circuit `
a deux composantes en parall`
ele
i
v

iR

iL

vR

vL

Figure 2.19: Circuit en parall`ele (2 composantes).

Limpedance equivalente de ce circuit est:


Zeq. =

ZR ZL
R L j
v
=
=
i
ZR + ZL
R + L j

(2.29)

Circuit combin
e s
erie/parall`
ele (3 composantes)
i

iL

L
vL

iR

iC

vR

vC

vC

Figure 2.20: Circuit combine serie/parall`ele (3 composantes).

Limpedance equivalente de ce circuit est:


Zeq. =

v
ZR ZC
= ZL +
i
ZR + ZC

(2.30)

La tension aux bornes du condensateur sexprime comme:


vC = ZC iC = R iR iR =

ZC
iC
R

(2.31)

et la tension a` lentree sexprime comme:


v = Zeq. i = Zeq. (iR + iC )
46

(2.32)

La reponse en frequence definie ici par le rapport entre la tension aux bornes du condensateur et la tension `a lentree secrit comme suit:
vC
ZC R
= H() =
v
Zeq. (ZC + R)

(2.33)

Apr`es quelques manipulations, on obtient finalement la reponse en frequence de ce circuit:


H() =

L C

1
+

L
R

(2.34)

j + 1

Le gain de la reponse en frequence secrit:


|H()| = q

1
(1 L C 2 )2 +

L
(R

)2

=q

1
(1

( n )2 )2

+ (2

2
)
n

(2.35)

En utilisant la notation de frequence naturelle et de facteur damortissement


1
n =
LC

1
et =
2R

L
C

(2.36)

on obtient la reponse classique du syst`eme du second ordre dont le graphique est


represente sur la figure 2.21:
|H()| = q

1
(1

( n )2 )2

+ (2

(2.37)

2
)
n

20 log (|H()|)
= 0.1

10

= 0.707

= 1.5

-10

-20

Attnuation de
-40 dB/dcade

-30

-1

log(/n)

Figure 2.21: Gain de la reponse en frequence dun filtre du deuxi`eme ordre.

47

2.3

Amplificateur op
erationnel et circuits de base

Amplificateur op
erationnel
Un amplificateur operationnel est en quelque sorte un circuit integre compose de transistors, diodes, resistances et capacitances miniaturises (figure 2.22). Cette composante
peut etre utilisee pour realiser differents circuits, tels que les amplificateurs lineaires, les
amplificateurs differentiels, les differenciateurs, les integrateurs... Il sagit dajouter au
circuit des composantes externes passives, telles que des resistances et des capacitances
de facon `a obtenir la fonction desiree.
dc+ dc- alimentation

entre
inverse

vi1
vi2

entre
non inverse

Ra
+

du circuit
(5V 15V)

Ga
sortie

vo

Figure 2.22: Representation schematique de lamplificateur operationnel.

Les caracteristiques generales de lamplificateur operationnel sont les suivantes:


tr`es haute impedance dentree (Ra > 107 );
relativement faible impedance de sortie (Ro < 100);
Gain interne eleve (Ga ' 105 a` 106 ).
En circuit ouvert, on aura:


vo (t) = Ga vi2 (t) vi1 (t)

(2.38)

Lamplificateur operationnel en circuit ouvert est en quelque sorte un amplificateur


differentiel. Son gain est cependant trop eleve et sa stabilite trop mauvaise pour quon
lutilise dans cette configuration. On peut realiser differents circuits plus pratiques en
ajoutant a` lamplificateur operationnel certaines composantes passives plus precises et
plus stables. On utilise alors lamplificateur operationnel en configuration de boucle de
retroaction (feedback). On controle de cette facon le gain global du circuit que lon
appelle gain de boucle fermee.

48

Amplificateur lin
eaire inverseur
Dans ce circuit, la tension dentree vi est appliquee au port dentree negatif (entree
inversee) de lamplificateur operationnel a` travers une resistance R1 . Le port positif
(entree non inversee) de lamplificateur operationnel est branche `a la masse. La tension
de sortie vo retroagit sur le port dentree negatif de lamplificateur operationnel a` travers
la resistance de retroaction R2 (figure 2.23).

R2
R1

i1

ia
3

va

vi

i2

Ra

vo

Figure 2.23: Schema de lamplificateur lineaire inverseur.

Le gain Ga et limpedance dentree Ra etant tous deux tr`es eleve, on observe que le
courant interne et la difference de potentiel `a lentree sont pratiquement nuls (ia ' 0 et
va ' 0). On peut donc ecrire la somme des courants au point 3 comme etant:
i1 + i2 ' 0 i1 ' i2

(2.39)

La chute de tension a` travers les resistances R1 et R2 sexprime par:


R1 i1 = vi va ' vi

(2.40)

R2 i2 = vo va ' vo

(2.41)

Le rapport de la tension de sortie sur la tension dentree secrit alors comme ceci:

vo
R2 i2
R2 i1
R2
=
=
=
vi
R1 i1
R1 i1
R1

(2.42)

Lequation exprimant la relation entree / sortie secrit finalement:

vo (t) =

R2
vi (t)
R1

49

(2.43)

Quelques circuits de base

Amplificateur lineaire non inverseur

R2
R1

R1 + R2
vo (t) =
vi (t)
R1

+
vo

vi

Cas particulier avec R2 = 0 et R1 : le suiveur

vo (t) = vi (t)

+
vo

vi

Amplificateur inverseur generalise

Z2
vo (t) =

Z2
vi (t)
Z1

Z1
vi

vo

Amplificateur lineaire inverseur

vo (t) =

R2
R1

R2
vi (t)
R1

vi

50

vo

Amplificateur differentiel

vo (t) =

R2
R1


R2 
vi2 (t) vi1 (t)
R1

vi1

vi2

R1

+
vo

R2

Integrateur

C
Z1 = R et Z2 =

1
C j

Z2
1
Vi
Vi =
Z1
R C j
1 Z
vo (t) =
vi (t)dt
RC

vi

Vo =

+
vo

Differenciateur

Z1 =

1
C j

R
C

et Z2 = R

Z2
Vi = RCj Vi
Z1
dvi
vo (t) = RC
dt

vi

Vo =

+
vo

Notons enfin que lamplificateur operationnel etablit de facon generale une relation fonctionnelle entre une entree et une sortie: vo (t) = h{vi (t)} o`
u h{} est un fonction. Comme
toute composante de ce type, sa reponse en frequence est finie et la gamme de tension
dentree est limitee.

51

52

Chapitre 3
Acquisition de donn
ees
3.1

G
en
eralit
es

Le concept de chane de mesure ou de chane dacquisition de donnees pris dans un


sens large, peut nous conduire a` definir une classification qui comprendrait plusieurs
categories. Dans ce cours, nous nous limitons `a considerer une seule des categories
possibles. Celle-ci est caracterisee par lemploi de capteurs actifs, de convertisseurs
analogique/numerique et dun ordinateur.
Phenom`ene physique

Quantites
` mesurer
a

BMB
B
B
hension
Compre
Action

Capteurs
actifs
Signaux
analogiques
(tension,
courant,
r
esistance ...)

- Conditionneurs - Pre-traitement
de signaux
Tensions
analogiques

Echantillons
de signaux
continus dans
le temps

Amplificateurs
Filtres passe-bas
passe-haut
passe-bande
Pr
eparation des
signaux analogiques
en vue de les rendre
compatibles avec
les convertisseurs A/N

?
Analyse des
Ordinateur
 Depouillement 
 Convertisseurs
resultats par
(post-traitement)
A/N
en temps reel
lexperimentateur
6


Depouillement 
en differe

53

?
Sauvegarde des
informations

Conversion des
signaux analogiques
en informations
num
eriques
Informations
compatible avec les
composantes
num
eriques
(ordinateurs ...)

Echantillons
de
valeurs discr`
etes
des signaux
originaux

Ces trois caracteristiques definissent bien une chane de mesure qui est couramment employee. Les capteurs actifs, situes en debut de chane, fournissent des signaux
analogiques; les modules situes en milieu de chane convertissent les signaux en informations numeriques; ces informations sont traitees en emmagasinees par un ordinateur
situe en fin de chane. Dans cette categorie de chanes de mesure, nous considerons les
trois options illustrees sur la figure 3.1.
option 1

instruments
numriques
interface
RS-232, GPIB,
VXI, PXI, SCXI...

option 2
carte
d'acquisition
de donnes
option 3

systme
d'acquisition
de donnes

Figure 3.1: Schema illustrant differentes options de chane de mesure.

Nous terminons cette section en faisant une br`eve revue du vocabulaire utilise en
acquisition de donnees.

D
efinition de quelques termes anglo-saxons
r BIT
(Binary unIT) Unite binaire (0 ou 1) utilisee pour coder des informations compatibles avec les composantes electroniques dun syst`eme numerique. On peut
54

ainsi coder des nombres ou des informations logiques. On peut considerer un bit
comme etant un interrupteur on/off (1/0) pouvant transmettre des informations `a
une composante electronique. Il est possible de combiner des bits pour coder des
nombres entiers plus grands que 1 ou 0. Une telle combinaison est appelee un mot
(word). Si lon code sur 2 bits, on pourra representer les entiers 0, 1, 2 et 3 par les
codes binaires 00, 01, 10 et 11 respectivement. Dans ces mots de 2 bits, le bit qui
represente la valeur decimale 1 (20 ) se trouve a` droite et on lappelle le bit 0; le bit
representant la valeur decimale 2 (21 ) est donc celui de gauche et on lappelle le bit
1. Ainsi, dans un mot de M bits, le bit de gauche appele bit M 1 represente
la valeur decimale 2M 1 . Notons enfin que si lon code sur M bits, on pourra
representer 2M entiers differents.
r LSB
(Least Significant Bit) Bit le moins significatif; il sagit du bit 0, dapr`es la definition
donnee au paragraphe precedent.
r MSB
(Most Significant Bit) Bit le plus significatif; il sagit du bit de gauche ou du bit
M 1 sur un mot de M bits.
r BYTE
Mot de 8 bits traduit par OCTET. Un octet peut representer 256 (28 ) entiers
differents. Loctet est, entre autre, lunite de base representant un espace
memoire dordinateur.
r MUX
(analog MUltipleXer) Abreviation couramment utilisee pour le mot multiplexeur
analogique. Un multiplexeur est, de facon schematique, un interrupteur multiport qui permet de brancher plusieurs entrees analogiques a` une sortie unique
commune. Ces dispositifs comprennent generalement 8 ou 16 entrees qui sont
branchees sequentiellement `a la sortie `a une frequence determinee par une horloge
externe.
r A/D CONVERTER
(Analog/Digital Converter) Un convertisseur analogique/numerique sert `a convertir lamplitude dun signal analogique en un nombre binaire. Les convertisseurs les
plus couramment utilises codent les donnees sur des mots de 12 bits (on retrouve
aussi des convertisseurs qui codent sur 8, 10, 16 ou 32 bits). Notons que des mots
55

de 12 bits et de 16 bits occuperont tous deux 2 octets (bytes) despace memoire.


La conversion sur 16 bits au lieu de 12 nest donc pas penalisante au niveau espace
memoire et donne lavantage doffrir une plus grande resolution (precision). La
vitesse de conversion plus lente est son seul desavantage. De facon similaire, les
convertisseurs qui codent sur 10 et 8 bits sont plus rapides et offrent moins de
resolution. Ce sera le type de convertisseur que lon retrouvera sur les syst`emes
haute vitesse (frequence dechantillonnage > 50 MHz par exemple).
r S/H
(Sample/Hold) echantillonneur/bloqueur; il sagit dun dispositif servant a` fixer
une valeur de tension analogique que le convertisseur situe en aval devra coder
sous forme numerique. Une horloge dechantillonnage controle le module S/H de
facon a` ce que celui-ci puisse fournir les valeurs analogiques `a convertir `a un taux
correspondant `a la frequence dechantillonnage.
r SE/DIFF
(Single Ended/DIFFerential) Syntaxe se rapportant au referentiel choisi pour effectuer la mesure des signaux dentrees analogiques: SE signifie un referentiel
unique pour tous les signaux et DIFF signifie un referentiel propre a` chaque signal.
r EFSR
(Full Scale analog voltage Range) Il sagit du voltage definissant le seuil maximum
dentree analogique dun convertisseur ou en dautres termes, la gamme de conversion. Si la valeur de tension du signal dentree exc`ede ce seuil, le convertisseur
sature et les valeurs converties sont inutilisables.
r PGA
(Programmable Gain Amplifier) Amplificateurs a` gain programmable; ces amplificateurs sont tr`es utiles si on veut utiliser la pleine gamme des convertisseurs. Ils
constituent une partie de ce quon appelle letage de pre-traitement du signal. Les
amplificateurs ne sont pas obligatoirement programmables et inclus dans une carte
dacquisition; ils peuvent etre externes et reglables manuellement. Il est cependant
plus commode de les adresser par programmation.
r PIO
(Programmed Input/Output) Entrees/Sorties programmees; mode dacquisition
suivant lequel on sauvegarde une valeur convertie dans une variable de programmation (ou plusieurs valeurs converties dans une variable vectorielle ou matricielle).
56

On peut par exemple vouloir tracer `a lecran les signaux convertis au fur et a`
mesure que lacquisition seffectue. Ce mode dacquisition est relativement lent.
r DMA
(Direct Memory Access) Terme qui definit un mode dacquisition qui permet un
acc`es memoire direct. Ce mode dacquisition peut etre jusqu`a 500 fois plus rapide
que le mode PIO. Il consiste simplement `a remplir une memoire tampon `a laquelle on peut acceder a` un taux eleve.
r GPIB
(General Purpose Interface Bus) En 1965, la compagnie Hewlett-Packard met sur
le marche linterface HPIB. Cette interface sert alors a` connecter leur gamme dins
truments programmable `a leurs ordinateurs. Etant
donne son taux de transfert
de donnees eleve (jusqu`a 1 M B/s compare `a 2 kB/s pour RS-232), linterface
HPIB gagne rapidement en popularite. On etend alors son champ dapplication
vers la communication inter-ordinateur et vers le controle dunites peripheriques.
En 1975, lindustrie laccepte comme un standard; lassociation IEEE lui donne
alors le numero IEEE 488. En 1978, la situation evolue et on definit le standard
AN SI IEEE 488. Linterface porte desormais le nom de General Purpose
Interface Bus ou GPIB.
r ALIASING
Terme traduit par le mot recouvrement. Ce phenom`ene est discute a` la section 3.2
et `a lannexe C.

3.2

Echantillonnage
et recouvrement

Lechantillonnage dun signal analogique consiste a` donner une representation discr`ete


dun signal continu pouvant varier dans le temps. On emploie souvent le terme discretisation `a la place du terme echantillonnage.

- EXEMPLE
Prenons comme exemple x(t), le signal sinusodal suivant damplitude X:
x(t) = X sin 2f t

avec

X = 10

et

f = 1 Hz

x(t) est un signal analogique = il est continu dans le temps. Si on


echantillonne en prenant une valeur discr`ete `a chaque 0.1 seconde pendant
T = 1 seconde, on aura un ensemble de valeurs discr`etes = x(nt)
57

avec n = 1 N o`u n est un entier


t = 0.1
N = T /t
Dans ce cas, la frequence dechantillonnage, definie par fech. = 1/t,
est egale `a 10 Hz. En echantillonnant un sinus de frequence 1 Hz `a une
frequence de 10 Hz, on obtiendra N = 10 valeurs discr`etes par periode.
La figure suivante illustre cet exemple:
x(t)
2

10
n =1

3
4

5
5

10

-5
6
-10

9
7

0.2

0.4

0.6

8
0.8

n
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10

x(nt)
5.9
9.5
9.5
5.9
0
5.9
9.5
9.5
5.9
0

Temps (s)

Figure 3.2: Echantillonnage


dun sinus.

Th
eor`
eme d
echantillonnage et recouvrement
La frequence dechantillonnage a un effet significatif sur la reconstruction dans le domaine temporel dun signal analogique. La perception que lon peut avoir dun signal
mal echantillonne peut etre tout a` fait fausse si lon compare au signal original. Lorsque
la frequence dechantillonnage diminue, la quantite dinformations par unite de temps
servant a` decrire le phenom`ene diminue.
Le theor`eme dechantillonnage stipule que pour reconstruire correctement le contenu
en frequence dun signal analogique, la frequence dechantillonnage fech. doit etre plus
de deux fois la frequence la plus elevee fm contenue dans le signal.
fech. > 2 fm

(3.1)

Lorsquun signal est echantillonne a` une frequence inferieure a` 2 fm , le contenu haute


frequence du signal analogique prendra la fausse identite dun signal `a frequence plus
58

faible dans la serie discr`ete resultant de lechantillonnage. Considerons le signal de


lexemple precedent; il sagit du sinus de frequence fm = 1 Hz. Dapr`es le theor`eme
dechantillonnage, on devrait utiliser fech. > 2 Hz. Si on echantillonne `a 1.2 Hz,
on obtiendra une fausse representation avec une serie discr`ete de frequence 0.2 Hz.
Cette derni`ere frequence est appelee frequence de recouvrement (alias frequency). Le
phenom`ene de recouvrement est une consequence inherente au processus dechantillonnage discret.
` partir de la frequence dechantillonnage, on definit la frequence de Nyquist de
A
lechantillonneur par:
fN = fech. /2

(3.2)

La frequence de Nyquist represente ce quon appelle un point de repliement (folding)


du phenom`ene de recouvrement (aliasing). Tout le contenu en frequence du signal
analogique superieur a` fN apparatra dans la serie discr`ete a` des frequences inferieures
a` fN . De telles frequences sont repliees et percues comme des basses frequences, tel
quillustre par le diagramme de repliement (figure 3.3).

3.2

3fN

2.8
2.6
2.4
2.2

2fN

1.8
1.6
1.4
0

0.2

0.4

0.6

1.2
0.8

fN

Figure 3.3: Diagramme de repliement; la frequence du signal analogique est lue sur les axes
inclines et la frequence restituee apr`es echantillonnage est lue sur laxe horizontal.

3.3

Conversion A/N

Une tension analogique donnee est convertie ou codee en valeur numerique `a laide
dune composante que lon appelle convertisseur Analogique/Numerique. Un convertisseur A/N poss`ede un cote analogique et un cote numerique, chacun ayant ses propres
59

specifications (analogique EF SR ... , numerique M bits ...). Une valeur


numerique est generalement codee en mot de M bits en se deplacant bit par bit de
la droite vers la gauche:
bit M 1
2M 1
2M 1

bit 2
22
4

bit 1
21
2

bit 0
20
1

De droite a` gauche, la valeur du mot de M bits est augmentee de 1, 2, 4 jusqu`a 2M 1


si la valeur du bit correspondant est de 1. Ce type de code est appele code binaire droit
(straight binary code). Rappelons que le MSB est le bit M 1 et le LSB est le bit
0. Prenons comme exemple loctet 00101101; sa valeur decimale est 20 + 22 + 23 + 25 =
1+4+8+32 = 45. Dans un octet, le MSB vaut 128 et le LSB vaut 1.
Les convertisseurs les plus utilises codent sur 12 bits. On retrouve egalement de
facon courante des convertisseurs de 8, 10 et 16 bits. Le convertisseur de 6 bits a aussi
beaucoup ete utilise dans les premiers encodeurs dimages (cameras CCD, scanners).
Un convertisseur de 12 bits permet de coder linformation numerique sur 212 = 4096
entiers. Le tableau 3.1 resume la situation.
nombre
de bits
nombre
dentiers
cod
es

10

11

12

13

14

15

16

16

32

64

128

256

512

1024

2048

4096

8192

16384

32768

65536

Tableau 3.1: Nombre dentiers codes par des convertisseurs de differentes resolutions.

Si on utilise par exemple loption de tension unipolaire 0 a` 10 V (cote analogique


dun convertisseur) sur un convertisseur de 12 bits, on pourra coder la gamme de 0 a`
10 V sur 4096 valeurs discr`etes. Si on choisit loption bipolaire 5 V, on conservera le
MSB pour le signe (0 = + et 1 = -) et on codera de 0 a` 5 V (en valeur absolue) sur 2048
valeurs (soit 11 bits), ce qui donne avec le signe 4096 valeurs pour 5 V . Ce code est
alors appele code binaire a` un complement.
Resolution
La resolution Q dun convertisseur A/N est donnee en Volts/bit:
Q = EF SR /2M

(3.3)

En fait, il sagit de la valeur en volt du LSB. Un convertisseur de 12 bits dont le seuil est
de 10 V aura une resolution de 10/4096 Q = 2.44 mV/bit. Un convertisseur de
60

16 bits ayant le meme seuil aura une resolution de 0.15 mV/bit alors que celui de 8 bits
aura Q = 39 mV/bit. La resolution est parfois donnee en terme de gamme dynamique:
gamme dynamique (en dB) = 20 log Q/EF SR = 20 log 1/2M
On dit generalement que la resolution dun convertisseur 12 bits est de une partie
dans 4096 ou de -72 dB (20 log 1/4096), ce qui est equivalent.
Erreur de quantification
Considerons un convertisseur A/N codant sur 2 bits et fonctionnant en tension unipolaire
entre 0 et 4 V. La figure 3.4 illustre la relation entree analogique / sortie numerique
associee a` ce convertisseur. On constate en premier lieu que la resolution est Q = 1
V/bit. La resolution etant toujours une grandeur finie et non nulle, il y aura possibilite
derreur entre la valeur reelle de lentree analogique et la valeur numerique determinee
par le convertisseur A/N. Par exemple, une tension vi = 0.3 V sera codee par 00 tout
comme une tension de 0 V ou 0.49 V. On voit que la resolution limitee du convertisseur
conduit a` une imprecision dans le codage de linformation; lerreur resultante est appelee
erreur de quantification et on la note eQ . La valeur de eQ est definie par:
eQ = Q/2

(3.4)

Erreur de saturation
Lorsque la valeur de la tension analogique vi exc`ede le seuil EF SR. , le convertisseur ne
peut plus coder correctement linformation et donne systematiquement sa valeur maximale; le convertisseur est alors sature. Dans ce cas, si la tension analogique augmente,
la valeur numerique demeure inchangee. La figure 3.4 illustre cette situation.
De plus, pour le convertisseur A/N correspondant a` la figure 3.4, on note que
lerreur de quantification est superieure `a Q/2 pour la plage de tension analogique correspondant `a 3.5 V < vi 4 V. De facon generale cette plage de tension sur laquelle on observe une erreur de quantification superieure a` Q/2 est definie comme suit:
EF SR Q/2 < vi EF SR . Pour un convertisseur standard, cette plage sera tr`es restreinte et aura relativement peu dimportance. Dans le cas du convertisseur A/N codant
sur 12 bits dans la gamme 0-10 V, cette plage sera definie par 9.9988 V < vi 10 V.
Generalement, on cherchera `a utiliser le convertisseur dans des conditions telles que les
probl`emes de saturation puissent etre evites. On utilisera donc une amplification permettant deviter cette plage (voir la section 3.5).

61

Sortie
numrique

Conversion
idale
Saturation

11

10

01

00

Entre
analogique (V)

Figure 3.4: Schema illustrant le principe de quantification et de saturation associee `a un


convertisseur A/N codant sur 2 bits et dont la tension pleine echelle est EF SR = 4 Volts. Les
petites fl`eches verticales representent les erreurs de quantification.

Erreur de conversion
Un convertisseur est un instrument qui peut etre expose a` des probl`emes dhysteresis,
de linearite, de sensibilite, de zero et de repetabilite. Ces probl`emes peuvent apparatre
de facon plus ou moins importante avec des variation de temperature par exemple. Ceuxci sont a` la source de la precision et du biais pouvant resulter en ce que lon denomme une
erreur de conversion. Ce type derreur est fonction de la conception du convertisseur.

3.4

Composantes de base dun syst`


eme dacquisition
de donn
ees

Nous faisons ici une br`eve description des principales composantes que lon retrouve
generalement dans les syst`emes dacquisition de donnees. La figure 3.5 illustre un schema
typique de carte dacquisition de donnees que lon peut inserer dans un micro-ordinateur
(toutes les valeurs numeriques sont donnees a` titre dexemple). On y retrouve dans
lordre habituel: le multiplexeur (MUX), lamplificateur `a gain programmable (PGA),
le module echantillonneur / bloqueur (S/H) et enfin, le convertisseur A/N (A/D). Sur
62

la plupart des cartes, on retrouve egalement des ports dentrees / sorties numeriques
(Digital I/O) ainsi que des ports de sorties analogiques.
autres ports d'entre / sortie
(vers d'autres cartes)

entres
analogiques
vi0, vi1, vi2,...

MUX
16 SE /
8 DIFF

PGA

convertisseur
A/N
12 ou 16 BIT

S/H

entres /
sorties
numriques

8 sorties

8 entres

G = 1, 10, 100

sortie
analogique
convertissseur N/A 12 BIT
sortie
analogique

interface

compteur

BUS

Figure 3.5: Representation schematique dune carte dacquisition de donnees.

La pi`ece matresse dun syst`eme dacquisition de donnees est bien entendu le convertisseur analogique / numerique. Afin de comprendre les principes de fonctionnement des
differents types de convertisseurs, il est utile de se referer au chapitre 2 qui traite des
notions elementaires relatives a` lamplificateur operationnel; celui-ci est `a la base de la
conception des differents convertisseurs.

Convertisseurs Num
eriques / Analogiques
Lavantage principal des cartes dacquisition de donnees reside dans le fait quil soit
possible deffectuer des mesures assistees par ordinateur. Comme nous lavons vu precedemment, cette tache est principalement accomplie par le groupe MUX-PGA-S/HA/D (voir le schema de la carte dacquisition de donnees presente precedemment). La
plupart des cartes offrent cependant dautres avantages qui permettent par exemple
deffectuer une action destinee `a une tache de controle ou de regulation. Ces actions
63

sont en fait des tensions qui transitent par les ports de sorties analogiques (12 bits D/A)
et les ports numeriques (Digital I/O). Lorsque lon desire imposer un certain niveau de
tension analogique `a laide dun ordinateur, on doit se rappeler que celui-ci fonctionne
sur une base numerique. On doit donc convertir des donnees numeriques (par exemple
des mots de 12 bits) en tensions analogiques. Cette operation est effectuee par un
convertisseur N/A du meme type que celui illustre sur la figure 3.6.

2M-1
MSB
2M-2

Eref

2M-3

2R
Rr

4R

2M-4

20
LSB

8R

vo

2M-1R

Figure 3.6: Representation schematique dun convertisseur Numerique / Analogique.

Dans la partie de droite du schema, on remarque la presence dun amplificateur lineaire


de type inverseur; la tension de sortie est alors donnee par:
vo = Eref

Rr
,
Req.

(3.5)

o`
u Req. = resistance equivalente du reseau de resistances en parall`ele et Eref = tension dentree de lamplificateur inverseur ( voir le schema precedent). La resistance
equivalente du reseau de resistances en parall`ele est donnee par:
M
X
cm1
1
=
,
M
m R
Req.
m=1 2

(3.6)

o`
u cm = 0 ou 1 dependant de la valeur du bit (cm = 1 interrupteur ferme,
cm = 0 interrupteur ouvert). Lexpression de Req. permet donc decrire:
vo = Rr Eref

M
X
m=1

64

cm1
M
2 m R

(3.7)

Un convertisseur N/A est donc caracterise par des specifications numeriques (M ) et


analogiques (valeurs des resistances et de Eref ). Les caracteristiques les plus communes
sont: M = 8, 12, 16 et 18 bits et des tensions analogiques de 0 `a 10 V ou 5 V.
Convertisseurs Analogiques / Num
eriques
Il existe trois principaux types de convertisseurs A/N: les convertisseurs a` approximations successives (mod`eles les plus repandus), les convertisseurs a` rampe et les convertisseurs parall`eles, aussi appeles de type flash.
+ Approximations successives
Ce convertisseur, illustre sur la figure 3.7, est principalement caracterise par lemploi
dun convertisseur N/A et dun amplificateur differentiel (comparateur). La tension
analogique `a convertir est comparee a` une autre tension analogique dont on connat la
valeur numerique. En fait, cette tension de comparaison provient du convertisseur
N/A qui recoit des valeurs numeriques `a convertir en provenance dun registre. En
analysant le schema, on comprend que la facon la plus rapide deffectuer la conversion
est de proceder par approximations successives en fixant la valeur du MSB en premier.
Une fois le MSB fixe, on fixe la valeur du bit suivant sur la droite et ainsi de suite
jusquau LSB. On voit immediatement la necessite de garder la tension analogique a`
convertir `a une valeur stable pendant loperation. Cette tache est assuree par le module
echantillonneur / bloqueur.
vi entre
analogique
convertir

contrle
logique

amplificateur
diffrentiel
(comparateur)

v >

horloge

flip/flop
porte
AND logique

convertisseur
N/A

registre
M - bit

flip/flop sortie
numrique

Figure 3.7: Representation schematique dun convertisseur Analogique / Numerique de type


approximations successives.

65

Notons enfin que du point de vue de la vitesse de conversion, les limitations actuelles
de ce type de convertisseur proviennent du comparateur et du convertisseur numerique
analogique. Ces composantes analogiques poss`edent des constantes de temps qui sont
finies et on doit attendre letablissement dun regime permanent avant de poursuivre
une operation.

- EXEMPLE
Considerons un convertisseur 4 bits avec EF SR = 10 V en option
unipolaire. Selon ce que nous avons vu precedemment, la resolution de ce
convertisseur est Q = 0.625 V/bit. Prenons ici , le seuil de comparaison,
comme etant egal `a Q/2, soit 0.3125 V. Le tableau 3.4 retrace les
differentes etapes de la conversion par approximations successives pour 4
tensions analogiques differentes.
Entree
Sortie
vi = 7 V
Sortie =
1011
vi = 6.5 V
Sortie =
1010
vi = 8.3 V
Sortie =
1101
vi = 1.45 V
Sortie =
0010

Mot de
4 bits
3210
1000
1100
1010
1011
1000
1100
1010
1011
1000
1100
1110
1101
1000
0100
0010
0011

Tension
analogique
de comparaison
5
7.5
6.25
6.875
5
7.5
6.25
6.875
5
7.5
8.75
8.125
5
2.5
1.25
1.875

-2
0.5
-0.75
-0.125
-1.5
1
-0.25
0.375
-3.3
-0.8
0.45
-0.175
3.55
1.05
-0.2
0.425

v  ?
si oui, bit
teste = 1
O
N
O
O
O
N
O
N
O
O
N
O
N
N
O
N

Decision

bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit
bit

3
2
1
0
3
2
1
0
3
2
1
0
3
2
1
0

=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=
=

1
0
1
1
1
0
1
0
1
1
0
1
0
0
1
0

Tableau 3.2: Exemple de conversion A/N par approximations successives.

+ Rampe
Cet autre type de convertisseur est caracterise par lemploi dun integrateur (generateur
de rampe) et dun amplificateur differentiel. Lorsque linterrupteur du generateur de
rampe est en court-circuit, la rampe est mise a` zero. En ouvrant linterrupteur (circuit
ouvert), lintegration commence et on compare alors la tension analogique a` convertir
66

avec la tension analogique de la rampe. Au meme moment, le registre compte les valeurs
numeriques bit par bit en synchronisation avec lhorloge. La tension analogique de la
rampe augmentant avec le temps, on cherche `a determiner `a quel instant les deux tensions
analogiques sont egales. Lorsque celles-ci sont effectivement egales, le registre est arrete
et fournit ainsi la valeur numerique correspondant a` la tension analogique dentree.
Porte
logique

signal du
contrleur
C
gnrateur
de rampe

horloge

impulsion
de dpart

interrupteur
lectronique
flip/flop

comparateur

Eref

1 au dpart
0 pour vi = rampe

AND
0
0
1
1

et
et
et
et

0
1
0
1

=
=
=
=

0
0
0
1

registre
compteur
(arrt lorsque
vi = rampe)

sortie
numrique

vi entre
analogique
convertir

Figure 3.8: Representation schematique dun convertisseur Analogique / Numerique de type


rampe.

+ Flash
Le convertisseur de type Flash, aussi appele convertisseur parall`ele, est caracterise
par lemploi dun diviseur de tension et de plusieurs comparateurs (figure 3.9). Il est
tr`es simple a` concevoir, mais son principe de fonctionnement requiert lemploi de 2M
resistances en serie, constituant un diviseur de tension, ainsi que de 2M 1 comparateurs (M representant la resolution du convertisseur exprimee en bits).
La tension de reference dun comparateur donne est superieure `a la tension de
reference du comparateur situe directement au niveau precedent. Cette difference de
tension est egale `a la tension correspondant a` la resolution (1 LSB).
Les convertisseurs parall`eles sont les plus rapides (> GHz) mais aussi les plus co
uteux,
car le principe de fonctionnement necessite lemploi de nombreuses composantes. Leur
` titre dexemple, un convertisresolution est generalement limitee `a 8 bits ou moins. A
seur Flash de 8 bits est compose de 256 resistance et de 255 comparateurs. Comme
ils comportent un tr`es grand nombre de composantes, ils seront aussi moins precis. Ce
type de convertisseur est habituellement utilise dans les oscilloscopes numeriques ainsi
que dans les numerisateurs de signaux transitoires (transient digitizers).

67

Eref
3R/2
comparateurs

5/8 Eref

R
3/8 Eref
Eref

+
-

C2

dcodeur
logique

C1

bit 0 = C0.C1+C2

sortie
numrique
2 bits

bit 1 = C1

1/8 Eref

C0

R/2
vi entre
analogique

Figure 3.9: Representation schematique dun convertisseur Analogique / Numerique de type


flash ou parall`ele codant sur 2 bits. Les relations booleennes appliquees au niveau du
decodeur logique servent `
a obtenir les valeurs codees en sortie (la notation C1 signifie linversion
logique de letat de sortie du comparateur C1 ).

- EXEMPLE
Considerons un convertisseur de type flash codant sur 2 bits avec une
tension pleine echelle EF SR = 4 V en option unipolaire. Selon ce que
nous avons vu precedemment, la resolution de ce convertisseur est Q = 1
V/bit. Le schema de quantification de ce type de convertisseur est le
meme que celui illustre sur la figure 3.4. Les resultats obtenus avec ce convertisseur sont presentes dans le tableau 3.4. Les valeurs numeriques sont
determinees en appliquant les relations booleennes inscrite sur la figure 3.9.
Gamme de
tension
dentree vi
0.0
0.5
1.5
2.5

0.5
1.5
2.5
4.0

Etat
logique
`a la sortie
du comparateur
C0
C1
C2
0
0
0
1
0
0
1
1
0
1
1
1

Sortie
numerique
sur 2 bits
00
01
10
11

Tableau 3.3: Exemple de conversion A/N de type flash.

68

La consommation denergie (et la dissipation en chaleur) constitue un autre desavantage relie a` lutilisation des convertisseurs parall`eles. Un convertisseur codant sur 8
bits et fonctionnant `a une cadence de 1 GHz (109 conversions par seconde) consommera
typiquement plus de 5 W. Il dissipera donc une quantite de chaleur considerable si lon
compare par exemple a` un convertisseur `a approximations successives codant lui aussi
sur 8 bits (16 000 fois plus !). Le convertisseur `a approximation successive dont il est
question sera cependant 40 000 fois plus lent.
En resume, lavantage du convertisseur de type parall`ele est sa tr`es grande rapidite
et ses faiblesses se situent au niveau de son co
ut eleve, de sa consommation denergie
et de sa precision. Lorsque la frequence dechantillonnage nest pas tr`es elevee, on
utilisera habituellement un convertisseur a` approximation successive dont la precision
est generalement superieure.

3.5

Pr
e-traitement des signaux

Le pre-traitement dun signal sert a` sassurer que la discretisation et la conversion du


signal seffectuent correctement. Pour que la discretisation soit bonne, il faut eviter les
probl`emes de frequence de recouvrement. Pour que la conversion soit la plus precise
possible, on doit sassurer de la meilleure resolution possible tout en evitant la saturation du convertisseur. La figure 3.10 illustre les differentes etapes de pre-traitement dun
signal.
Determination de la frequence des filtres
La question que lon doit se poser est la suivante: comment eviter que le phenom`ene de
recouvrement napparaisse lorsque lon echantillonne un signal de contenu en frequence
inconnu ? Pour repondre a` cette question, considerons deux cas:
Si la gamme de frequences dinteret est limitee `a une certaine frequence maximum, le signal devrait etre filtre en passe-bas `a cette frequence avant le processus

dechantillonnage. Evidemment,
la frequence dechantillonnage devra etre definie
selon le theor`eme dechantillonnage (fech. > 2 ff iltre puisque ff iltre = fm ).
Si on na pu determiner la frequence maximum du signal ou si cette derni`ere est
superieure a` la moitie de la frequence dechantillonnage maximum dont on dispose,
alors la facon de faire les choses le plus proprement possible est la suivante: on
doit utiliser la frequence dechantillonnage maximum dont on dispose et filtrer en
69

passe-bas a` une frequence leg`erement inferieure `a fech. /2. Dans tous les cas, lorsque
la frequence dechantillonnage est choisie, le signal doit etre filtre en passe-bas a`
moins de fN = fech. /2, afin deviter les probl`emes de frequences de recouvrement.
Le filtre alors utilise est appele filtre anti-recouvrement ou filtre anti-repliement
ou filtre anti-aliasing.

0010
0101
1001
1100
...

Signal d'un
capteur =
entre analogique

Amplificateur
Filtre
anti-repliement

chantillonneur /
bloqueur

Convertisseur
analogique /
numrique

0010
0001
0110
1000

1000
0110
1001
0111

Sauvegarde
des valeurs
numriques

Figure 3.10: Illustration des differentes etapes dacquisition dun signal analogique.

Determination du gain des amplificateurs


Lutilisation dun oscilloscope permet dobserver facilement la dynamique dun signal
x(t). Il permet de sassurer quen utilisant un gain G, le produit G x(t) soit toujours
inferieur au seuil maximum EF SR du convertisseur. On a cependant interet a` determiner
G de facon a` avoir {G x(t)}max le plus pr`es possible de EF SR . De cette facon, on obtiendra une meilleure resolution sur la conversion du signal analogique en valeurs numeriques.

70

Chapitre 4
Introduction au post-traitement des
signaux
Generalement, quatre types de fonctions statistiques sont utilisees pour decrire les proprietes de base dun signal aleatoire:
1. Moyenne et ecart-type (valeur rms)
Ces quantites donnent une description rudimentaire de lintensite dun signal. Un
voltm`etre rms peut generalement fournir ces informations.
2. Fonctions de densite de probabilite
Ces fonctions fournissent de linformation concernant les proprietes du signal dans
le domaine de lamplitude. On sinteresse a` la distribution de x(t) (valeur instantanee dun phenom`ene x) autour de la valeur moyenne; on devra alors utiliser un
syst`eme dacquisition de donnees plus performant que celui du cas precedant.
3. Fonctions dauto-correlation et de correlation temporelle
Ces fonctions fournissent des informations sur levolution temporelle du signal. Un
syst`eme dacquisition de donnees performant est requis ainsi quun pre-traitement
adequat (frequence dechantillonnage, filtre, amplification ...).
4. Fonctions de densite spectrale
La fonction de densite spectrale fournit des informations equivalentes `a la fonction dauto-correlation sauf que ces informations sont donnees dans le domaine
frequentiel et non temporel. Cette analyse requiert les memes conditions dacquisition de donnees que celles definies a` litem precedent. On aura souvent recours a`
un outil, appele analyseur de spectre, qui est specifiquement dedie a` cette tache.
Dans ce cours, nous nous limitons a` lutilisation des fonctions statistiques simples
servant a` faire une analyse dans le domaine temporel.
71

4.1

Notions de statistiques

Dans les prochains paragraphes, nous definissons des outils statistiques qui font appel a` lhypoth`ese dergodicite du phenom`ene etudie. Cela signifie que les moyennes
densemble (grandeurs moyennes prises au sens large) sont egales aux moyennes temporelles prises sur un echantillon. Lhypoth`ese dergodicite implique que le nombre
dechantillons N pour les moyennes densemble dune part et que, dautre part,
le temps dintegration T pour les moyennes temporelles. En pratique, il est
evident que la realisation dun echantillon infiniment long et lacquisition dune infinite
dechantillons sont irrealisables. Cela signifie que les grandeurs moyennes seront toujours estimees et non calculees de mani`ere exacte. Lerreur de biais resultante est dune
importance majeure en analyse de donnees.
Dans les paragraphes qui suivent, nous adoptons le schema de presentation suivant:
Outils
Outils
Outils
statistiques
statistiques
statistiques
definis pour Ergodicite redefinis pour Discretisation redefinis pour
un
un
une

echantillon
continu

population

echantillon
discretise

Densit
e de probabilit
e dune population
Considerons les densites de probabilites p(x), p(y) ou p(x, y) dune ou deux variables
aleatoires x et y; on verifie que:
Z +

p(x) dx = 1 ,

Z +

p(y) dy = 1

et

Z + Z +

p(x, y) dxdy = 1

(4.1)

r Esperance mathematique:
Par definition, lesperance mathematique E[x] de la variable aleatoire x secrit:
E[x] =

Z +

x p(x) dx = x

(4.2)

De la meme facon, on definit la valeur moyenne quadratique comme etant lesperance


mathematique de x2 :
2

E[x ] =

Z +

x2 p(x) dx = 2x
72

(4.3)

On definit egalement la variance de x comme etant lesperance mathematique de (x


x )2 :
E[(x x )2 ] =

Z +

(x x )2 p(x) dx = x2

(4.4)

` partir des definitions precedentes, on peut demontrer que:


A
x2 = 2x 2x

(4.5)

r Moments:
De facon generale, on definit un moment dordre r comme etant lesperance mathematique de la quantite (x x )r ; soit
r

E[(x x ) ] =

Z +

(x x )r p(x) dx = r

(4.6)

Si on compare cette expression aux expressions precedentes, on constate que pour les
moments dordre 1 et 2, on doit avoir 1 = 0 ainsi que 2 = x2 .
Il est souvent pertinent de sinteresser aux moments dordre eleve (r > 2). Precisons
que dans bien des cas, on se limite `a lutilisation des moments dordre 3 et 4. Dans ce
type danalyse, on consid`ere habituellement des coefficients normalises (sans dimensions)
plutot que des moments bruts. On definit alors deux coefficients:
Coefficient de Dissymetrie (Skewness Factor)
3 =

3
3/2
2

3
3

(4.7)

Coefficient dAplatissement (Flatness Factor ou Kurtosis)


4 =

4
4
= 4
2
2

(4.8)

Soulignons que 3 peut etre de signe positif ou negatif; cela depend du signe de 3 .
Quant a` 4 , on constate que par definition, il doit toujours etre de signe positif. Dans
le cas dune distribution de probabilites normale ou Gaussienne, on peut demontrer que
3 = 0 et 4 = 3.
73

- EXEMPLE
Afin dillustrer limportance fondamentale de lutilisation de ces deux coefficients, analysons les quatre densites de probabilites des variables aleatoires
w, x, y et z. Ces variables representent des phenom`enes ergodiques.
La figure suivante represente les evolutions temporelles de chacun des
phenom`enes w(t), x(t), y(t) et z(t), ainsi que les densites de probabilites
p(w), p(x), p(y) et p(z) de leur population respective. Soulignons ici que
les quatre variables sont centrees (w = 0, x = 0, y = 0 et z = 0).
Rappelons de plus que, par definition, lintegrale de chacune des densite de
probabilites est egale `a 1.
w

3 0
4 3

p(w)

t
x

3 < 0
4

p(x)

3 0
4

p(y)

z
p(z)

3 0
4

Figure 4.1: Exemple de densite de probabilites de quatre signaux.

Supposons que les quatre populations aient des ecart-types egaux (w =


x = y = z ). On constate alors quil est impossible danalyser ces quatre
phenom`enes par de simples mesures de valeurs moyennes et rms (mesures
dc et ac sur multim`etre par exemple). On obtiendrait dans ce cas les
memes resultats pour les quatre phenom`enes qui, on le voit bien, sont fondamentalement differents. Les mesures de 3 et 4 seraient ici indispensables `a une bonne comprehension de la realite physique des phenom`enes.
Une analyse de type statistique, faisant appel aux densites de probabilites et aux
moments dordre eleve, permet dobtenir:
74

+ Une evaluation de la normalite (phenom`ene Gaussien ou non)


+ Une indication des effets non-lineaires (un phenom`ene Gaussien qui subit une transformation lineaire reste Gaussien . . .)
+ Une analyse des valeurs extremes (3 et 4 donnent du poids aux valeurs extremes
meme si elles sont doccurrences relativement faibles)
chantillon continu
Moyennes temporelles sur un e
Nous avons vu que pour un phenom`ene ergodique, on peut considerer un outil statistique defini sur une population et le transposer sur un echantillon continu dans le temps.
Pour que cette transposition soit valable, on doit cependant considerer un echantillon infiniment long (T ). Cette condition etant irrealisable dans la pratique, on consid`ere
donc des echantillons de taille finie. On est ainsi amene a` definir des estimateurs pour
les outils statistiques qui nous interessent. En identifiant un estimateur par la notation
(d), on definit les moments comme suit:
1ZT
(x x)r dt
T T 0

cr = mr = lim

avec

1ZT
x dt
T T 0

x = b = lim

(4.9)

Si x0 = x x, on peut noter:
1 Z T 0r
mr = lim
x dt = x0r
T T 0

(4.10)

Lecart-type est alors defini par


cx = s =

m2 =

x02 = xrms

(4.11)

La notation valeur rms est largement employee pour signifier lecart-type dun
echantillon; on ecrit r pour la racine (root), m pour le surlignage qui signifie la
moyenne (mean) et s pour le carre de x0 (square). Pour les coefficients 3 et 4 ,
on ecrit:
c3 = S =

m3
3/2

m2

x03
x02

3/2

c4 = F, K ou T =

m4
x04
=
2
m22
x02

(4.12)

o`
u la lettre S est utilisee pour Skewness, F pour Flatness, K pour Kurtosis et T
sans raison speciale sauf quelle suit S dans lalphabet . . .
chantillon de valeurs discre
`tes
Moyennes sur un e
Lorsque lon utilise un syst`eme dacquisition de donnees qui effectue des conversions analogique/numeriques des signaux, nous avons seulement acc`es `a des echantillons
75

de valeurs discr`etes. Considerons un echantillon de N valeurs discr`etes de la variable aleatoire x: x = (x1 , x2 , x3 , . . ., xN ). Le temps dobservation du phenom`ene
est T = N/fech . Les quantites definies precedemment sont estimees comme suit:
N
1 X
r
mr =
x0i
N i=1

x0i

avec

= xi x

et

N
1 X
x=
xi
N i=1

(4.13)

- EXEMPLE
Pour illustrer lutilisation des moments dordre 3 et 4, considerons un signal
de fil chaud u(t) place dans une couche de melange turbulente. On analyse
des echantillons de 10240 valeurs discr`etes dont on a fait lacquisition `a
une frequence dechantillonnage de 10 kHz. Deux de ces signaux sont
representes et pour chacun dentre eux, on trace lhistogramme brut de
meme que lestimateur de la densite de probabilites (en variable centree et
reduite: p(u0 ) vs u0 / avec u0 = uu). Ainsi, lintegrale de lhistogramme
donne 10240 et lintegrale de la densite de probabilite donne 1.
u

45

(m/s)
40

35

30

25
0

0.1

0.2

0.3

0.4

0.5

0.6

0.7

0.8

-2

0.9

(s)

p(u')

250

0.5

200

0.4

150

0.3

100

0.2

50

0.1

0
25

30

35

40

45

-4

u'/

3 = 0.048

u = 33.25 m/s
q

u02 = 3.096 m/s

4 = 2.643

Figure 4.2: Signal avec son histogramme et sa densite de probabilites.

76

Remarquons que sur les figures 4.2 et 4.3, nous avons choisi de representer
le signal en reliant les points discrets par des droites. Cette representation
permet de mieux visualiser le signal et de suivre son evolution temporelle. Il
faut cependant garder `a lesprit que les extremites des droites representent
des valeurs discr`etes (en temps et en amplitude) et quune interpolation lineaire peut etre quelques fois hasardeuse (on ne peut obtenir plus
dinformation que lechantillonnage ne nous en donne).
u

45

(m/s)
40

35

30

25
0

0.1

0.2

0.3

0.4

0.5

0.6

0.7

0.8

-2

0.9

(s)

p(u')

500

0.5

400

0.4

300

0.3

200

0.2

100

0.1

35

40

45

u'/

3 = 1.511

u = 40.13 m/s
q

-4

u02 = 1.570 m/s

4 = 6.936

Figure 4.3: Signal avec son histogramme et sa densite de probabilites.

Le premier echantillon est presque gaussien alors que le deuxi`eme est caracterise par un coefficient de dissymetrie negatif. On observe effectivement sur ce dernier des bouffees negatives importantes (loin de la valeur
moyenne et inferieures `a celle-ci) qui ont relativement peu doccurrences
par rapport `a la valeur la plus probable (elles sont intermittentes). Notons que la valeur la plus probable est differente de la valeur moyenne
meme si dans bien des cas elle en sera tr`es pr`es. Ce phenom`ene est
alors represente par ce quon appelle une queue negative de densite
de probabilites. On se sert habituellement de la gaussienne comme base
de comparaison pour analyser les estimateurs de densites de probabilites.

77

4.2

Calculs de r
egression

Le probl`eme general consiste a` trouver une approximation de type ye = F (x) pour un


ensemble de N points discrets (xi , yi ). On appelle F (x) la fonction estimee, do`
u la notation ye . Ce probl`eme consiste a` minimiser une certaine fonction de lecart di = yei yi
ou, en dautres termes, a` faire une regression suivant un certain crit`ere (moindres carres
. . . ) sur les points (xi , yi ) avec une fonction F (x).
La difference di = yei yi est appelee erreur, ecart ou residu (di peut etre > 0, < 0
ou = 0). La figure 4.4 schematise le probl`eme que nous venons de definir.
y
yN

dN

(xN ,yN )

(x4 ,y4 )
y4

y1

ye

d4
(x1 ,y1 )

d1
x1

xN

x4

Figure 4.4: Courbe de regression (estimation ye ) sur un nuage de points (xi , yi ).

Plusieurs fonctions telles que di 2 ou |di | peuvent etre utilisees pour obtenir une
certaine qualite dajustement de la courbe ye aux donnees (xi , yi ). Le cas le plus classique concerne la regression de type moindres carres.
P

Soit un vecteur d = (d1 , d2 , . . . , dN ). La norme dun vecteur est generalement definie


par:
v
kdk =

d1 + d2 + . . . + dN =

uN
uX
t
d2
i

(4.14)

i=1

Cette definition de kdk est aussi appelee la norme euclidienne. Une regression dans le
sens dune minimisation de la norme euclidienne est appelee une regression des moindres
carres 1 . Nous nous limitons dans le cadre du cours a` ce type de regression.
1

P
Les autres normes les plus courantes sont: la norme de Laplace
|dP
i |, la norme du minimax de
Laplace-Tchebychef max |di | et la norme des carres ponderes de Legendre
di 2 i (i 0).

78

4.2.1

Fonctions impliquant la r
esolution dun syst`
eme lin
eaire

Dans cette section, nous nous interessons aux fonctions dans lesquelles les param`etres
(a0 , a1 , . . . , an ) apparaissent sous forme lineaire. Ces mod`eles lineaires incluent:
Les polynomes simples:
yei = a0 + a1 xi + a2 xi 2 + . . . + an xi n

(4.15)

Les polynomes de Legendres:


yei = a0 P0 (xi ) + a1 P1 (xi ) + a2 P2 (xi ) + . . . + an Pn (xi )

(4.16)

Les polynomes de Bessel:


yei = a0 J0 (0 , xi ) + a1 J1 (1 , xi ) + a2 J2 (2 , xi ) + . . . + an Jn (n , xi )

(4.17)

o`
u les coefficients 0 , 1 , . . . , n sont connus.
Les formes de Fourier:
yei = a0 + a1 sin(xi ) + a2 sin(2xi ) + . . . + an sin(nxi )

(4.18)

o`
u la frequence est connue.
Les formes exponentielles:
yei = a0 + a1 e1 xi + a2 e2 xi + . . . + an en xi

(4.19)

o`
u les coefficients 0 , 1 , . . . , n sont connus.
Comme nous le verrons, les regressions effectuees sur ce type de fonction impliquent
la resolution dun syst`eme dequations lineaires. Pour illustrer la methode, nous allons
considerer dans cette section seulement des polynomes simples.
` partir de N points (xi , yi ), on cherche a` definir une regression de type ye =
A
i
P 2
P
2
n
2
a0 + a1 xi + a2 xi + . . . + an xi telle que di = (yei yi ) soit minimale (moindres
carres).
On peut ecrire la fonction estimee comme:
yei =

n
X
k=0

79

ak x i k

(4.20)

Le probl`eme revient `a determiner les coefficients ak qui minimisent Q qui est defini par
le carre de la norme euclidienne:
Q=

N
X

di =

i=1

N
X

yi

i=1

n
X

!2

ak x i k

(4.21)

k=0

On minimise Q en faisant Q/aj = 0 (j = 0, 1, 2, . . . , n). En derivant ainsi par


rapport `a chacun des coefficients aj , on obtient n + 1 equations qui, apr`es quelques
manipulations, secrivent:
n
X

N
X

ak

xi

j+k

i=1

k=0

N
X

yi xi j (j = 0 n)

(4.22)

i=1

Ces n + 1 equations sont appelees equations normales; elles forment un syst`eme lineaire:
k=0

k=1

...

k=n

j = 0 a0

PN

xi 0 +

a1

PN

xi 1

+ ... +

j = 1 a0

PN

xi 1 +

a1

PN

xi 2

+ . . . + an

i=1

i=1

i=1

i=1

..
.

..
.
j = n a0

PN

x i n + a1

PN

PN

y i xi 0

xi n+1 =

PN

y i xi 1

i=1

PN

i=1

..
.

i=1

PN

an

xi n

i=1

i=1

..
.

i=1

xi n+1 + . . . +

an

PN

i=1

..
.
xi 2n

PN

i=1

y i xi n

Ce syst`eme lineaire peut se mettre sous la forme matricielle B A = C o`


u A = [{a}]
est un vecteur colonne forme des coefficients du polynome recherche.

B
PN

i=1

xi 0

N
1

i=1 xi

..

PN
n
i=1

xi

PN

i=1

PN

i=1

xi 1
xi 2

...
...

..
.
PN

i=1

xi n+1 . . .

PN

xi n

a0

n+1

x
i=1 i

..

PN
2n

a1

..
.

i=1

PN

i=1

xi

an

C
PN

y i xi 0

N
1

i=1 yi xi

..

PN
n

i=1

i=1

y i xi

Les matrices B et C sont construites a` laide dune matrice definie par =


.
. .
[{x}0 ..{x}1 .. . . . ..{x}n ] o`
u {x} represente un vecteur colonne dont les elements sont x1 ,
x2 , . . . , xN . De cette facon, on constate que lon peut construire les matrices B et C
80

par les produits matriciels:


B = T

C = T Y

(4.23)

o`
u T represente la matrice transposee et Y = [{y}] est un vecteur colonne compose
des elements y1 , y2 , . . . , yN .
Le syst`eme secrit finalement:
B A = C avec B = T et C = T Y

(4.24)

Si B est une matrice non-singuli`ere, alors sa matrice inverse B1 existe. Les coefficients
a0 , a1 , . . . , an du polynome de regression sont trouves par:
A = B1 C

(4.25)

En fait, plusieurs algorithmes sont destines a` resoudre de tels syst`emes; on peut citer par
exemple ceux utilisant les methodes delimination de Gauss (de loin la plus repandue),
de Gauss-Jordan, de substitution ou iterative.
Note
Lorsque n + 1 > N , on a un syst`eme sous-determine qui a une infinite de solutions
(cest le cas de la droite passant par un point).
Lorsque n + 1 = N , on a un syst`eme qui fournira une solution unique (cest le cas
de la droite passant par deux points).
Lorsque n + 1 < N , on a un syst`eme sur-determine et on obtient une solution pour
le vecteur A qui produit un vecteur ye qui approche y dans le sens des moindres
carres.

4.2.2

Coefficients de corr
elation et de r
egression

Coefficient de corr
elation
Le coefficient de correlation defini par
N
(xi x)(yi y)
sxy
=
= qP i=1
PN
N
sx sy
2
2
i=1 (xi x)
i=1 (yi y)

rxy

(4.26)

represente le degre de linearite dun ensemble de points. Rappelons que sxy represente
la covariance entre les distributions x et y alors que sx et sy representent les ecart-types
81

respectifs de ces distributions.


Il est important de bien realiser que ce coefficient est independant du type de
regression considere; Il est uniquement fonction du nuage de points, ou en dautres
termes, de la distribution des N points (xi , yi ). Pour un ensemble de points donne, peu
importe la courbe de regression consideree, la valeur de rxy restera la meme.

Coefficient de r
egression
Considerons une regression quelconque (ye = mx, ye = a0 + a1 x + a2 x2 + a3 x3 ,
ye = A + BxC , ye = AeBx , . . . ). Le coefficient de correlation lineaire etabli entre les
distributions ye et y est defini par:
N
s ye y
(ye ye )(yi y)
=
= qP i=1 i
PN
N
s ye s y
2
2
i=1 (yei ye )
i=1 (yi y)

rye y

(4.27)

Le coefficient rye y est appele coefficient de regression generalise; il represente le niveau ou


la mesure dajustement de la courbe de regression (quelconque) ye aux points (xi , yi ). Notons que lajustement est parfait dans le cas o`
u ye = y; on obtient alors sur le graphique
ye vs y, une droite parfaite de pente 1 et dordonnee a` lorigine 0.
Contrairement au coefficient de correlation, le coefficient de regression generalise est
fonction `a la fois de la distribution des points et du type de regression considere. Pour
un ensemble de points donne, la valeur de rye y variera avec le type de regression.

Cas de la r
egression polynomiale
Dans le cas o`
u ye = a0 + a1 x + a2 x2 + . . . + an xn , on peut definir dune autre facon la
mesure dajustement de la courbe de regression. Cette mesure est obtenue en definissant
un autre coefficient a` partir de la relation triviale:
yi y = (yi yei ) + (yei y)

(4.28)

De cette expression valide pour chacun des points, on obtient en elevant au carre et en
faisant la sommation sur tous les points i, lequation suivante:
N
X
i=1

(yi y)2 =

N
X

(yi yei )2 +

i=1

N
X

(yei y)2

i=1

82

(4.29)

Cette equation nest evidemment valable que pour une regression de type polynomiale
pour laquelle on peut verifier que
N
X

(yi yei )(yei y) = 0

(4.30)

i=1

On utilise generalement la nomenclature suivante:


ecart total
N
X

(yi y)2

(4.31)

i=1

ecart inexplique ou residuel ou aleatoire representant en fait ce quon minimise


P
( di 2 )
N
X

(yi yei )2

(4.32)

i=1

ecart explique
N
X

(yei y)2

(4.33)

i=1

En manipulant lequation que nous avons obtenue, on peut ecrire le coefficient de


regression suivant:
2

r =

PN

2
i=1 (yei y)
PN
2
i=1 (yi y)

PN

(yi yei )2
2
i=1 (yi y)

= 1 Pi=1
N

(4.34)

Comme tous les termes impliques sont positifs ( ( )2 > 0), le dernier terme de droite
doit etre 1 (en dautres termes, lecart residuel doit evidemment etre inferieur a` lecart
total). Cela implique aussi r2 1.
P

Dans le cas dune regression polynomiale, on sait que y = ye ; on peut donc ecrire le
coefficient r sous la forme:
r=

v
u PN
u
t i=1 (yei
PN

sy
ye )2
= e
2
sy
i=1 (yi y)

(4.35)

Finalement, mentionnons que lon peut demontrer que


r=

s ye
sye y
=
= rye y
sy
s ye s y
83

(4.36)

Le coefficient r represente donc bel et bien une coefficient de regression pour les fonctions
polynomiales.
Cas de la regression lineaire
La regression lineaire, pour laquelle ye = a0 + a1 x, constitue un cas particulier de la
regression polynomiale. On retrouve donc ici aussi r = rye y . Dans le cas de la regression
lineaire, on peut de plus demontrer que rxy = r = rye y . Ainsi pour ce cas particulier, le
coefficient de correlation lineaire peut servir de coefficient de regression.
Cas de la regression de type ye = mx
Il sagit dun type de regression utilise pour certains etalonnages (capteurs de pression par exemple . . . ). Dans ce cas, rxy 6= r 6= rye y . Le seul coefficient valable pour
apprecier le degre dajustement de la courbe de regression est rye y .

84

Chapitre 5
Mesure de la temp
erature
5.1

G
en
eralit
es

Des caracteristiques physiques telles que la pression, le volume, la resistance electrique,


le coefficient dexpansion, etc, sont toutes influencees par la temperature via la structure
moleculaire fondamentale. Comme ces caracteristiques changent avec la temperature,
on peut tirer partie de ces changements pour obtenir une technique de mesure de la
temperature. Ce faisant, il faut evidemment avoir recours `a un etalonnage de la technique
que lon vise a` utiliser en comparant avec des standards etablis. La definition actuelle
de lechelle de temperature est donnee par une norme appelee ITS-90 (International
Temperature Scale of 1990). Celle-ci etablit les points fixes (tableau 5.1) de references
de temperature et fournit la procedure a` suivre pour interpoler entre les points fixes.

Etat
de reference
Point triple de lhydrog`ene

Equilibre
liq./vap. de lhydrog`ene `a 1 atm
Point triple du neon
Point triple de loxyg`ene
Point triple de largon
Point triple de leau

Equilibre
sol./liq. du gallium `a 1 atm

Equilibre sol./liq. de letain `a 1 atm

Equilibre
sol./liq. du zinc `a 1 atm

Equilibre
sol./liq. de largent `a 1 atm

Equilibre sol./liq. de lor `a 1 atm

Equilibre
sol./liq. du cuivre `a 1 atm

Temperature
C
K
13.8033 -259.3467
20.3
-252.87
24.5561 -248.5939
54.3584 -218.7916
83.8058 -189.3442
273.16
0.01
302.9146
29.7646
505.078
231.928
692.677
419.527
1234.93
961.78
1337.33
1064.18
1357.77
1084.62

Tableau 5.1: Principaux points fixes de la norme ITS-90.

85

Pour des temperatures se situant entre 13.8033 K et 1234.93 K, la norme etablit


que linstrument standard dinterpolation est le thermom`etre `a variation de resistance
electrique (RTD) en platine. La norme fournit egalement les equations dinterpolation
donnant la temperature en fonction de la resistance. Au dessus de 1234.93 K, la
temperature est definie en terme de rayonnement dun corps noir (la norme ne specifie
pas linstrument `a utiliser pour interpoler).
Considerons le cas o`
u lon desire par exemple fabriquer un thermom`etre de verre
a` bulbe de mercure utilisable dans la gamme -10 C a` 200 C. On peut exposer le
thermom`etre au point triple de leau (reference `a 0.01 C) et a` lequilibre sol./liq. de
letain `a 1 atm (reference `a 231.928 C). Ayant marque ces deux points de reference sur
le verre, on doit ensuite interpoler pour etablir lechelle compl`ete entre -10 C et 200

C. On effectue cette operation avec la sonde RTD en platine en suivant la norme ITS-90.

Thermom`
etres bas
es sur lexpansion thermique
Thermom`etres bimetalliques
Il sagit dune methode de mesure de temperature qui est largement utilisee. Cette
technique est basee sur lexpansion thermique differentielle de deux metaux. Le thermom`etre est constitue de deux pi`eces de metaux collees formant ainsi une bande bimetallique. Les coefficients dexpansion thermique des deux metaux etant differents,
une variation de temperature resulte en une deformation differentielle de la bande. Par
rapport a` la temperature de collage, la bande subira une deformation dans un sens ou
dans lautre suivant une augmentation ou une diminution de temperature.
La bande bimetallique peut avoir des formes variees suivant lapplication pour laquelle elle est destinee. La bande droite pouvant enclencher un interrupteur ainsi que la
spirale reliee a` une aiguille de lecture sont les formes les plus repandues.
Expansion dun liquide
Le thermom`etre le plus commun base sur le principe dexpansion dun liquide est le
thermom`etre a` bulbe de mercure ou dalcool. Le liquide est contenu dans une structure
de verre composee dun bulbe et dune colonne. Le bulbe sert de reservoir et contient
assez de liquide pour couvrir la pleine echelle de temperature. La colonne est en fait un
tube capillaire dans lequel le niveau de liquide sera fonction de la temperature.
86

Ce type de thermom`etre sera etalonne selon une des trois procedures suivantes:
1. Immersion compl`ete. Le thermom`etre est compl`etement immerge dans lenvironnement produisant la temperature detalonnage.
2. Immersion totale. Le thermom`etre est immerge dans lenvironnement produisant
la temperature detalonnage jusquau niveau de liquide dans le capillaire.
3. Immersion partielle. Le thermom`etre est immerge jusqu`a un niveau pre-determine
dans lenvironnement produisant la temperature detalonnage.
On devra idealement utiliser le thermom`etre dans les memes conditions quil a ete
etalonne. La figure 5.1 illustre ces trois procedures.

Trois types d'immersion


Partielle

Totale

Complte

Niveaux
d'immersion

Figure 5.1: Illustration des trois types dimmersion que lon retrouve pour les thermom`etres
`a bulbe de liquide.

87

Comparaison des diff


erentes techniques de mesure de temp
erature
Instrument

Thermom`etre
`a bulbe
dalcool
Thermom`etre
`a bulbe de
mercure
Bande
bimetallique

RTD

Thermistor

Gamme de
temperature
( C)
-70 `
a 65

Precision
approx.
( C)
0.5

Reponse
dynamique

Co
ut

Remarque

Mauvaise

Faible

Thermom`etre
bas de gamme

-40 `
a 300

0.25

Mauvaise

Variable

-70 `
a 550

0.25

Mauvaise

Faible

-180 `
a 1000

0.0025

-70 `
a 250

0.01

Passable
`a bonne
(selon
la taille)
Bonne
(selon
la taille)

Variable
(selon
lequipement
de lecture)
Faible
(lequipement
peut etre
cher)

Thermocouple1

Precision de
0.05 sur
certains
Largement utilise
pour faire du
controle de T.
de facon simple
La plus
pr
ecise des
m
ethodes
Utile pour
les circuits de
compensation
thermique

= f ()

type T

-200 `
a 350

0.25

Bonne

Faible

Bon `a tr`es
basse T.

type J

0`
a 750

0.5

Bonne

Faible

Mauvais `a
basse T.

type K

-200 `
a 1250

0.5

Bonne

Faible

Bon en milieu
oxydant

type S

0`
a 1450

0.25

Bonne

e
Elev

Bon `a haute T.
resiste `a
loxydation

type G

0`
a 2320

Bonne

Faible

-15 `
a 3300

2 `a 10

Mauvaise

Variable

650 et +

10

Mauvaise

Moyen

Pour tr`es
haute T.
Applications
tr`es diversifiees
Largement utilise
dans lindustrie

Thermom`etre
infrarouge
Pyrom`etre
optique

Tableau 5.2: Gamme dapplication des differentes techniques de mesure de la temperature.


1
Types: T = cuivre/constantan, J = fer/constantan, K = chromel/alumel, S = platinerhodium/platine, G = tungst`ene/tungst`ene-rhenium.

88

` la lecture du tableau 5.2, on constate quil existe une large gamme dinstruments
A
de mesure de la temperature. Dans les prochaines sections, nous faisons letude plus
detaillee des trois types de sondes suivants: les detecteurs a` variation de resistance
electrique (RTD), les thermistors et les thermocouples. Ces trois categories de capteurs
ont les caracteristiques suivantes:
RTD

Thermistor

R ()

Thermocouple

R ()

v (V)

Le plus stable
Le plus precis
Bonne linearite


Co
ut assez eleve
R/T faible
R absolue faible
Source de courant
necessaire

R/T eleve
R absolue elevee
R peut etre mesure
de facon standard
Bonne reponse
dynamique

Non-lineaire
Gamme de T. limitee
Fragile
Source de courant
necessaire

Auto-alimente
Simple
Robuste
Faible co
ut
Large gamme de T.

Non-lineaire
v/T faible
v absolue faible
Tref requise
Le moins stable

Tableau 5.3: Caracteristiques de trois types de capteurs de temperature.

5.2

D
etecteurs `
a variation de r
esistance
electrique
(RTD)

Les sondes de type RTD ont comme element sensible un fil ou un film de metal dont la
resistance electrique varie avec la temperature. En fait, il sagit plus exactement de la
resistivite du metal qui varie avec la temperature. Ce changement de resistivite produit
un changement de resistance electrique suivant la relation:
R=

e l
Ac

avec
89

e = f (T )

(5.1)

Lelement sensible est monte sur un support isolant qui est par la suite scelle, de facon
a` prevenir toute variation de resistance electrique du fil due `a des facteurs autres que
les variations de temperature (corrosion ...). On doit donc sassurer que la variation de
resistance electrique du fil depend seulement de la variation de la resistivite du metal
avec la temperature. Cela implique que lelement ne doit subir aucune deformation (expansion thermique du support ...) susceptible de faire varier l ou Ac . La resistance
electrique R(T ) peut sexprimer a` partir dune expansion en serie de Taylor centree sur
T0 , cette derni`ere etant une temperature de reference `a laquelle la resistance est R0 .
Dans le cas o`
u seule la temperature fait varier la resistance, on obtient:

(T T0 )2 2 R
(T T0 )n n R
R
+

+
.
.
.
+
+ rn (T ) . (5.2)
R = R0 + (T T0 )
T T0
2!
T 2 T0
n!
T n T0
En notant

1 R
1
2 R
=
, =
, ...
R0 T T0
2! R0 T 2 T0

(5.3)

la serie de Taylor peut etre recrite sous la forme dun polynome de degre n (pour des
applications particuli`eres, certains utilisent jusqu`a n = 20 ...):
h

R = R0 1 + (T T0 ) + (T T0 )2 + . . . .

(5.4)

La figure suivante nous indique les evolutions de R/R0 vs T pour trois metaux communs, soit le platine, le nickel et le cuivre:
R/Ro
8

Nickel

7
6

Cuivre

Platine

4
3
2
1
-200

200

400

600

800

T (oC)

Figure 5.2: Evolution


de la resistance electrique de certains metaux avec la temperature.

Pour des variations de temperature relativement faibles2 plusieurs se limitent `a une


2

Par exemple 0 `
a 100 C.

90

loi detalonnage lineaire:


R = R0 [1 + (T T0 )]

(5.5)

Si on choisit par exemple T0 = 0 C, on aura une loi de type:


R = R0 [1 + T ]

(avec R0 = R a` 0 C)

(5.6)

On constate que la resistance electrique du platine suit une evolution quasi-lineaire.


En fait, lapproximation lineaire est precise a` 0.3% dans la gamme 0 a` 200 C et a`
1.2% dans la gamme 200 a` 800 C.
Le terme des expressions precedentes represente le coefficient de temperature de
la resistivite. Les unites du coefficient sont /( C). En approximation lineaire, on
obtient lexpression:
1 R
(5.7)
=
R0 T
Soulignons que le produit R0 represente la sensibilite statique de linstrument. Le
tableau 5.4 presente les valeurs des coefficients de quelques metaux.

Metal

Aluminium (Al)
Cuivre (Cu)
Fer (Fe)
Nickel (Ni)
Or (Au)
Plomb (Pb)
Platine (Pt)
Tungst`ene (W)

/( C)
0.0044
0.0043
0.0065
0.0068
0.0040
0.0042
0.003927
0.0048

e 108
m

0 C 20 C
2.44
2.65
1.54
1.67
8.58
9.70
6.02
6.84
1.86
2.01
19.00 20.60
9.83 10.6
5.49
6.01

Tableau 5.4: Coefficient `a 0 Cet resistivite de differents metaux.

Le metal ideal pour construire une sonde RTD doit: 1- etre stable3 ; 2- avoir une
resistivite qui varie le plus lineairement possible avec la temperature (utile pour interpoler); 3- avoir une valeur de resistivite relativement elevee (de facon `a minimiser
la longueur du fil). Selon ces crit`eres on comprend pourquoi lor, par exemple, nest
pas un element sensible ideal; comme sa resistivite electrique est faible, la longueur de
fil (donc le prix) devrait etre relativement grande. Le cuivre poss`ede egalement une
3

Pour une temperature donnee, sa resistivite ne change pratiquement pas avec le temps.

91

faible resistivite; son faible prix et sa bonne linearite (voir la courbe precedente) en font
neanmoins une alternative economique. Notons cependant que lon recommande de limiter lutilisation des RTD en cuivre `a des temperatures inferieures `a 120 C.
Les metaux les plus communs utilises pour fabriquer les sondes RTD sont le nickel
et le platine. Ceux-ci ont des valeurs de resistivite relativement elevees et poss`edent
une bonne linearite sur differentes gammes de temperature (excellente linearite pour le
platine). Le metal le plus stable de ce tableau etant le platine, on comprend pourquoi
les sondes RTD en platine sont utilisees comme standard dinterpolation dans la norme
ITS-90.
Le platine dont les proprietes sont presentees dans le tableau 5.4 est appele platine
de type classe de reference. Il sagit dun platine ayant une purete superieure `a 99.999%.
La valeur du coefficient pour la classe de reference est 0.003927 /( C). Il existe une
autre categorie de platine que lon appelle la classe IEC/DIN. Il sagit dun platine pur
que lon a intentionnellement contamine avec un faible pourcentage dun autre metal
(de liridium ou du rhodium par exemple) de facon `a obtenir precisement une valeur
du coefficient egale `a 0.00385 /( C). Au cours des derni`eres annees, plusieurs
comites internationaux ont adopte le platine de classe IEC/DIN comme standard. De
plus, la sonde RTD standard reconnue poss`ede une resistance nominale de 100 `a une
temperature de 0 C. La sonde de classe IEC/DIN aura donc une resistance de 138.5
a` une temperature de 100 C, alors que celle de classe de reference aura une resistance
de 139.27 . Quoique les sondes de classe de reference soient toujours disponibles sur
le marche, il est utile de noter que les sondes de classe IEC/DIN sont actuellement les
plus repandues.
Mesure de la r
esistance des sondes RTD
Considerons une sonde RTD standard de classe IEC/DIN, dont la valeur de est de
0.00385 /( C). La resistance electrique `a 0 C est de 100 . La sensibilite ( R0 )
sera donc de 0.385 / C. On constate que la valeur de resistance absolue ainsi que la
sensibilite de cette sonde RTD sont faibles. Il nest donc pas adequat de mesurer les
valeurs de resistance avec une configuration standard impliquant un montage en serie
de la sonde RTD avec un ohmm`etre. Afin dillustrer la problematique, considerons par
exemple deux fils reliant la sonde RTD et lohmm`etre, chacun des fils possedant une
impedance de 5 . Si on utilise letalonnage du fabriquant (qui effectuait ses mesures de
resistance correctement), ces deux fils introduiront une erreur de mesure de 10/.385 =
26 C.
92

D
RTD

C
Figure 5.3: Configuration de type Siemen avec sonde RTD `a trois fils et pont de Wheatstone.

Il existe quatre methodes classiques permettant deviter ce probl`eme. Les trois


premi`eres font intervenir un pont de Wheatstone4 tel quillustre sur les figures 5.3 `a
5.5.

D
RTD

C
Figure 5.4: Configuration avec sonde RTD `a quatre fils et pont de Wheatstone.

La quatri`eme methode consiste a` utiliser une option appelee mesure de resistance


a` quatre fils. Cette option est habituellement disponible sur les multim`etres de haut
de gamme. La figure 5.6 illustre de quelle facon on effectue la mesure. Le voltm`etre
mesure essentiellement la chute de tension aux bornes de la sonde RTD. Limpedance du
voltm`etre etant tr`es elevee, il ny a pour ainsi dire aucun courant circulant dans les fils
4
Le fonctionnement detaille du pont de Wheatstone sera vu au chapitre traitant de la mesure des
deformations.

93

RTD
C
Figure 5.5: Configuration `
a potentiel flottant avec sonde RTD `a quatre fils et pont de Wheatstone.

reliant ce dernier a` la sonde. Cette configuration permet donc deviter tout probl`eme
produit par la resistance des fils de liaison.

I
Source
de courant
constant

Voltmtre

RTD

I
Figure 5.6: Configuration avec sonde RTD et multim`etre configure pour mesurer une
resistance par la methode `
a quatre fils.

5.3

Thermistors

Le thermistor est un autre dispositif dont la resistance varie avec la temperature. Ce


terme dorigine anglo-saxonne est un acronyme forme des mots Thermally sensitive
Resistor. On dit generalement que le thermocouple est lelement le plus versatile, le
RTD le plus stable et le thermistor de loin le plus sensible. Les thermistors sont faits de
materiaux semi-conducteurs (type ceramique) possedant une sensibilite5 negative; cesta`-dire que la resistance diminue avec une augmentation de temperature. La tr`es haute
5

Il existe des composantes avec une sensibilite positive, mais ce nest pas commun.

94

sensibilite des thermistors est obtenue au detriment dune perte de linearite. En fait, le
thermistor est un dispositif extremement non-lineaire.
La relation exprimant la resistance dun thermistor en fonction de la temperature est
generalement de la forme suivante:
R = R0 e

( T1 T1 )

(5.8)

avec = 3500 4600 K (les temperatures doivent etre considerees en Kelvin).


1
1


T
T0


= ln R ln R0

ln R ln R0
1
1
=

+
T

T0

(5.9)

On obtient finalement:

1
= A + B ln R
(5.10)
T
Cette expression poss`ede seulement deux degres de liberte, ce qui ne laisse pas beaucoup
de latitude pour ajuster une courbe de regression sur un ensemble de points. Cest
pourquoi lexpression suivante est beaucoup plus utilisee:

1
= A + B ln R + C(ln R)3
T

(5.11)

Soulignons finalement que puisque la valeur de resistance absolue est elevee, on peut
effectuer la mesure de resistance avec un ohmm`etre en configuration standard.

5.4

Thermocouples

Lorsque deux fils composes de metaux differents sont joints `a leurs extremites et que
celles-ci sont exposees `a des temperatures differentes, on observe une circulation de
courant dans ce quon appelle un circuit thermoelectrique. Thomas Seebeck a fait cette
decouverte en 1821. Dans le cas o`
u le circuit est ouvert, on observera une difference de
potentiel `a ses bornes. La figure 5.7 illustre un tel circuit.

mtal A
T1
mtal B

T2
mtal B

Figure 5.7: Illustration de leffet Seebeck.

95

Le coefficient deffet Seebeck est defini comme suit:


!
v
AB =
T circuit ouvert

(5.12)

o`
u les indices A et B representent les deux materiaux constituant le thermocouple.
Comme le coefficient deffet Seebeck est defini par le taux de changement de la tension
avec la temperature, il represente donc la sensibilite statique du thermocouple en circuit
ouvert. Levolution du coefficient deffet Seebeck avec la temperature est illustre a` la
figure 5.8 pour differents types de thermocouple.
Coefficient 100
d'effet
Seebeck
AB (mV/oC)
80

E
J

60

40

20

0
-250

R
S
0

250

500

750

1000

1250

Temprature (oC)

Figure 5.8: Evolution


de la sensibilite statique de differents thermocouples (coefficient deffet
Seebeck) en fonction de la temperature.

En plus de leffet Seebeck, un circuit impliquant un thermocouple est influence par


deux autres phenom`enes thermoelectriques: leffet Peltier et leffet Thomson.
Leffet Peltier se produit quand un courant electrique traverse une jonction de thermocouple (jonction AB entre deux metaux A et B par exemple). Il en resulte un
transfert de chaleur Q P = AB i, o`
u AB est le coefficient deffet Peltier pour la jonction
AB. Notons que AB = BA . En regime stationnaire, cet effet pourra etre minimise
si le courant est maintenu a` une tr`es faible valeur6 . Dans le cas dune mesure insta6

Cest le cas lorsque lon mesure une tension avec un voltm`etre dont limpedance est tr`es eleve.

96

tionnaire, il y aura transfert thermique entre la sonde et le milieu, produisant ainsi un


courant par effet Peltier. Ce courant produira une difference de potentiel (v = Ri) qui
introduira une erreur de biais sur la mesure.
Leffet Thomson est un autre type dinteraction thermoelectrique. Cet effet produit
un transfert thermique entre un conducteur et le milieu environnant. Cette situation
survient lorsquil y a un gradient de temperature le long dun conducteur et quun
courant circule dans ce dernier. Le transfert de chaleur d
u a` cet effet sexprime comme

suit: QT = i (T1 T2 ), o`
u est le coefficient deffet Thomson. Sil y a transfert
de chaleur entre le milieu et le conducteur, il y aura induction dun courant par effet
Thomson.
Les effets Peltier et Thomson influencant le courant qui parcourt le circuit, ceux-ci
produisent tous deux une tension electrique qui sajoute `a la difference de potentiel due `a
leffet Seebeck. Ceci affecte evidemment la precision de la technique. On pourra reduire
ces effets en minimisant le courant circulant dans le circuit thermoelectrique.
Notons finalement que dans tous les cas, si un courant i parcourt les conducteurs
formant le circuit, on observera un transfert de chaleur par effet Joule, soit Q J = R i2 .
Cet effet ninfluencera la tension mesuree que si le transfert de chaleur influence la
temperature a` mesurer (ce qui sera generalement evite).
` lheure actuelle, on ne connat pas de facon exacte et detaillee les lois de comA
portement reel des thermocouples7 . On a donc recours `a une forte dose dempirisme et
letalonnage constituera la seule approche acceptable. Lempirisme dont il est question
se resume par quelques lois que lon appelle les lois des thermocouples.

Lois des thermocouples


Loi de base
Un circuit thermoelectrique doit etre compose dau moins deux metaux differents
et dau moins deux jonctions.
Loi tension vs temperature
La difference de potentiel produite par un circuit thermoelectrique depend seulement de la difference de temperature des jonctions.
7
On dispose de quelques mod`eles theoriques qui sapprochent de la realite dans certains cas, sans
toutefois permettre une generalisation.

97

Loi des metaux intermediaires


Considerons un metal intermediaire insere dans un circuit thermoelectrique. La
difference de potentiel nette ne sera pas modifiee si les deux jonctions introduites
par le troisi`eme metal sont `a une meme temperature. Cette loi est illustree par le
schema de la figure 5.9.

mtal A

mtal A

mtal B

mtal C

mtal B

mtal B

bloc isotherme
Figure 5.9: Illustration de la loi des metaux intermediaires.

Loi des temperatures intermediaires


Considerons un circuit thermoelectrique qui produit une difference de potentiel v1
lorsque les jonctions sont `a des temperatures T1 et T2 ; cette difference de potentiel
devient v2 lorsque les jonctions sont a` T2 et T3 . Si on expose les jonctions du
meme circuit a` des temperatures T1 et T3 , la difference de potentiel produite sera
v3 = v1 + v2 . La figure 5.10 illustre cette loi.

mtal A
T1
mtal B

v1

T2

mtal A

mtal B

T1

mtal A
T2
mtal B

v2

mtal B

T3

v3

T3
mtal B

v3 = v1 + v2

mtal B

Figure 5.10: Illustration de la loi des temperatures intermediaires.

Jonction froide ou jonction de r


ef
erence
En vertu de la loi des metaux intermediaires, les trois schemas de la figure 5.11 sont
equivalents. Ces schemas servent `a comprendre ce qui se passe lorsque lon branche un
thermocouple directement sur un multim`etre dont les bornes dentree sont constituees
98

du meme metal et sont `a la meme temperature. Dans ces conditions et selon le schema
de la figure 5.11, les deux circuits de la figure 5.12 sont equivalents.

mtal A

mtal C

+
T1

T2

mtal B

mtal A

+
T1

mtal C

mtal B

T2

mtal B

mtal B

v = -vBA + vAB
mtal A

mtal A

+
T1

mtal B

T2

v
+
mtal A

v = vAB - vBA
Figure 5.11: Trois schemas equivalents dun branchement de thermocouple.

T2

T1

mtal A
mtal B

T2

mtal B

T1

mtal A
mtal B

Figure 5.12: Deux schemas equivalents dun branchement de thermocouple `a un multim`etre.

Notons ici que les bornes du multim`etre correspondent a` la jonction 2 du circuit


thermoelectrique. De plus, les deux circuits precedents sont equivalents a` celui illustre
sur la figure 5.13.
On obtient ainsi une mesure de la tension v qui est fonction de la difference de
temperature T1 T2 . La relation v = f (T1 T2 ) nest pas lineaire, phenom`ene qui se
traduit par une sensibilite statique variant avec la temperature T1 pour une valeur de
T2 donnee. La figure 5.8 illustre de quelle facon cette sensibilite statique varie avec la
temperature.
99

mtal A
T1

Cu

mtal B

mtal A

Cu
T3

T2

Figure 5.13: Illustration dun circuit de thermocouple avec une jonction de reference maintenue `a une temperature T2 .

- EXEMPLE
Prenons comme exemple le circuit de la figure 5.13. Nous considerons
ici le metal A comme etant du cuivre (Cu) et le metal B du constantan
(Cu-Ni); il sagit dun thermocouple de type T. Pour ce thermocouple,
les polarites seront les suivantes: borne positive Cu et borne negative Cu-Ni.
On cherche `a determiner la temperature T1 , sachant que lon a mesure les
param`etres suivants:
T2 = 20 C , v = 2.841 mV
Pour resoudre ce probl`eme, nous aurons recours `a la table du Bureau
National des Standards et `a la loi des temperatures intermediaires. La
table BNS est obtenue en utilisant une temperature de jonction froide
Tref = 0 C.
Selon la loi des temperatures intermediaires, on peut ainsi ecrire:
v(T1 Tref ) = v(T1 T2 ) + v(T2 Tref )
Tref = 0 C v(T1 0) = v(T1 T2 ) + v(T2 0)
Selon la table BNS, on obtient v(T2 0) = 0.789 mV, ce qui nous donne:
v(T1 0) = 2.841 mV + 0.789 mV v(T1 0) = 3.630 mV (5.13)
Finalement, nous obtenons T1 avec la table BNS qui nous donne pour la
tension 3.630 mV, une temperature T1 = 86 C.

100

Lexemple precedent illustre bien la necessite de connatre precisement la temperature


T2 . Cette temperature de reference est appelee temperature de jonction froide. Dans
les installations de type laboratoire, on utilisera une jonction froide maintenue a` une
temperature fixe et ce, de facon precise. La technique la plus commune consiste a` utiliser
un bain de glace fondante. La figure 5.14 illustre schematiquement un tel montage.

Chromel
T1

Alumel

Cu
Chromel

Cu
T2

bain de glace

Figure 5.14: Illustration dun circuit de thermocouple de type K avec une jonction de
reference maintenue dans la glace.

Pour les travaux necessitant une bonne precision, on devra utiliser de leau distillee
de facon `a eliminer les derives de temperature de fusion causees par divers contaminants.
On devra egalement bien isoler le contenant, de telle sorte que le taux de fusion de la
glace soit minimum. Rappelons que les tables fournies par le Bureau National des Standards sont basees sur une temperature de jonction froide de 0 C.
Si on cherche a` mesurer des temperatures T1 pr`es de 0 C, il faudra evidemment
utiliser une autre temperature de reference (sinon on aura a` mesurer des tensions autour
de 0 mV). En fait, la temperature de reference peut etre quelconque; limportant est que
celle-ci soit stable et connue de facon precise.

Code de couleur des principaux thermocouples


Les types de thermocouples sont identifies par un code de couleur tr`es pratique et
facile a` utiliser. La figure 5.15 presente le code utilise en Amerique du Nord pour les
thermocouples de type J, K, T et E. On retrouve dans cette figure la combinaison des
alliages composant chacun des types de thermocouples ainsi que la polarite leur etant
101

associee. Notons egalement que des informations relatives aux gammes de temperature
dutilisation sont donnees dans la colonne de droite.
Code
ANSI

J
K

Combinaison d'alliages
borne +

borne -

Fer
Fe

Constantan
Cu-Ni

(magntique)

(Cuivre-Nickel)

Chromel
Ni-Cr

Alumel
Ni-Al

Code de couleur

(Nickel-Chrome) (Nickel-Aluminium)
(magntique)

Cuivre
Cu

Chromel
Ni-Cr

Constantan
Cu-Ni

(Nickel-Chrome)

(Cuivre-Nickel)

Constantan
Cu-Ni

(Cuivre-Nickel)

Gamme de
temprature
d'utilisation
usuelle:
0 750 oC
maximale:
-210 1200 oC
usuelle:
-200 1250 oC
maximale:
-270 1372 oC
usuelle:
-250 350 oC
maximale:
-270 400 oC
usuelle:
-200 900 oC
maximale:
-270 1000 oC

Figure 5.15: Code de couleur utilise en Amerique du Nord pour les principaux thermocouples.

Toutes les composantes dassemblages de thermocouples (rallonges, connecteurs,


botiers, poignees, etc...)respectent ce code de couleur (figure 5.16). Celui-ci est pratique, car il permet deviter de raccorder des thermocouples de types differents.

Figure 5.16: Illustration de connecteurs standards de thermocouples de type J, K et T.

Notons egalement quen vertu de ce code, tous les alliages de polarite negative
adoptent la couleur rouge alors que ceux de polarite positive adoptent la couleur associee au type de thermocouple en question. Ceci permet deviter de raccorder les fils de
102

polarites differentes appartenant a` un meme thermocouple. Il sagit dune erreur classique; une personne inexperimentee branchant par exemple le fil rouge (borne -) dune
rallonge de type K sur la borne de chromel (+) dun connecteur de type K commettrait
un mauvais raccordement.

Etalonnages
du Bureau National des Standards
Les lois detalonnage reliant la tension thermoelectrique fournie par un thermocouple
a` la temperature sont de forme polynomiale. La tension v et la temperature T sont
respectivement exprimees en micro-Volt (V) et en degre Celsius ( C) et la temperature
de la jonction de reference est de 0 C. Dans la plupart des cas, on utilise lequation
suivante:
v=

n
X

ci T i = c0 + c1 T + c2 T 2 + . . . + cn T n

(5.14)

i=0

v (mV) 15

E
J
T

10

K
5

type
type
type
type

-5

50

100

150

J
K
E
T

200

T (oC)

Figure 5.17: Etalonnage


du Bureau National des Standards de differents thermocouples pour
la gamme de temperature setendant de -50 `a 200 C.

Pour le cas particulier du thermocouple de type K utilise dans la gamme 0 T 1372,


on a recours a` lequation suivante:

v=

n 
X

ci T i + 0 e1 (T 126.9686) = c0 + c1 T + c2 T 2 + . . . + cn T n + 0 e1 (T 126.9686)

i=0

(5.15)
103

Les coefficients ci et i de ces lois sont etablies par le Bureau National des Standards.
Les valeurs des differents coefficients associes aux thermocouples de type J, K, E et T
sont indiquees dans le tableau 5.5 et la figure 5.17 presente les courbes obtenues en
utilisant ces lois detalonnage. Le tableau 5.6 presente les valeurs numeriques utilisees
pour tracer les courbes de la figure 5.17.
Coef.
c0
c1
c2
c3
c4
c5
c6
c7
c8
c9
c10
c11
c12
c13
c14
c0
c1
c2
c3
c4
c5
c6
c7
c8
c9
c10
0
1

type J

type K

type E

type T

210 T 760

270 T 0

270 T 0

270 T 0

0.0000000000E+00
5.0381187815E+01
3.0475836930E-02
-8.5681065720E-05
1.3228195295E-07
-1.7052958337E-10
2.0948090697E-13
-1.2538395336E-16
1.5631725697E-20

0.0000000000E+00
3.9450128025E+01
2.3622373598E-02
-3.2858906784E-04
-4.9904828777E-06
-6.7509059173E-08
-5.7410327428E-10
-3.1088872894E-12
-1.0451609365E-14
-1.9889266878E-17
-1.6322697486E-20

0.0000000000E+00
5.86655087080E+01
4.54109771240E-02
-7.79980486860E-04
-2.58001608430E-05
-5.94525830570E-07
-9.32140586670E-09
-1.02876055340E-10
-8.03701236210E-13
-4.39794973910E-15
-1.64147763550E-17
-3.96736195160E-20
-5.58273287210E-23
-3.46578420130E-26

0.0000000000E+00
3.8748106364E+01
4.4194434347E-02
1.1844323105E-04
2.0032973554E-05
9.0138019559E-07
2.2651156593E-08
3.6071154205E-10
3.8493939883E-12
2.8213521925E-14
1.4251159478E-16
4.8768662286E-19
1.0795539270E-21
1.3945027062E-24
7.9795153927E-28

760 T 1200

0 T 1372

0 T 400

0 T 400

2.9645625681E+05
-1.4976127786E+03
3.1787103924E+00
-3.1847686701E-03
1.5720819004E-06
-3.0691369056E-10

-1.7600413686E+01
3.8921204975E+01
1.8558770032E-02
-9.9457592874E-05
3.1840945719E-07
-5.6072844889E-10
5.6075059059E-13
-3.2020720003E-16
9.7151147152E-20
-1.2104721275E-23

0.00000000000E+00
5.86655087100E+01
4.50322755820E-02
2.89084072120E-05
-3.30568966520E-07
6.50244032700E-10
-1.91974955040E-13
-1.25366004970E-15
2.14892175690E-18
-1.43880417820E-21
3.59608994810E-25

0.0000000000E+00
3.8748106364E+01
3.3292227880E-02
2.0618243404E-04
-2.1882256846E-06
1.0996880928E-08
-3.0815758772E-11
4.5479135290E-14
-2.7512901673E-17

1.1859760000E+02
-1.1834320000E-04

Tableau 5.5: Coefficients des lois detalonnage des thermocouples.

104

Temperature

( C)
-40
-38
-36
-34
-32
-30
-28
-26
-24
-22
-20
-18
-16
-14
-12
-10
-8
-6
-4
-2
0
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
22
24
26
28
30
32
34
36
38
40
42
44
46
48
50
52
54

vJ
(mV)
-1.961
-1.865
-1.770
-1.674
-1.578
-1.482
-1.385
-1.288
-1.190
-1.093
-0.995
-0.896
-0.798
-0.699
-0.600
-0.501
-0.401
-0.301
-0.201
-0.101
0.000
0.101
0.202
0.303
0.405
0.507
0.609
0.711
0.814
0.916
1.019
1.122
1.226
1.329
1.433
1.537
1.641
1.745
1.849
1.954
2.059
2.164
2.269
2.374
2.480
2.585
2.691
2.797

vK
(mV)
-1.527
-1.453
-1.380
-1.305
-1.231
-1.156
-1.081
-1.006
-0.930
-0.854
-0.778
-0.701
-0.624
-0.547
-0.470
-0.392
-0.314
-0.236
-0.157
-0.079
0.000
0.079
0.158
0.238
0.317
0.397
0.477
0.557
0.637
0.718
0.798
0.879
0.960
1.041
1.122
1.203
1.285
1.366
1.448
1.530
1.612
1.694
1.776
1.858
1.941
2.023
2.106
2.188

vE
(mV)
-2.255
-2.147
-2.038
-1.929
-1.820
-1.709
-1.599
-1.488
-1.376
-1.264
-1.152
-1.039
-0.925
-0.811
-0.697
-0.582
-0.466
-0.350
-0.234
-0.117
0.000
0.118
0.235
0.354
0.472
0.591
0.711
0.830
0.950
1.071
1.192
1.313
1.434
1.556
1.678
1.801
1.924
2.047
2.171
2.295
2.420
2.545
2.670
2.795
2.921
3.048
3.174
3.301

vT
(mV)
-1.475
-1.405
-1.335
-1.264
-1.192
-1.121
-1.049
-0.976
-0.904
-0.830
-0.757
-0.683
-0.608
-0.534
-0.459
-0.383
-0.307
-0.231
-0.154
-0.077
0.000
0.078
0.156
0.234
0.312
0.391
0.470
0.549
0.629
0.709
0.790
0.870
0.951
1.033
1.114
1.196
1.279
1.362
1.445
1.528
1.612
1.696
1.780
1.865
1.950
2.036
2.122
2.208

Temperature

( C)
56
58
60
62
64
66
68
70
72
74
76
78
80
82
84
86
88
90
92
94
96
98
100
102
104
106
108
110
112
114
116
118
120
122
124
126
128
130
132
134
136
138
140
142
144
146
148
150

vJ

vK

vE

vT

(mV)
2.903
3.009
3.116
3.222
3.329
3.436
3.543
3.650
3.757
3.864
3.971
4.079
4.187
4.294
4.402
4.510
4.618
4.726
4.835
4.943
5.052
5.160
5.269
5.378
5.487
5.595
5.705
5.814
5.923
6.032
6.141
6.251
6.360
6.470
6.579
6.689
6.799
6.909
7.019
7.129
7.239
7.349
7.459
7.569
7.679
7.789
7.900
8.010

(mV)
2.271
2.354
2.436
2.519
2.602
2.685
2.768
2.851
2.934
3.017
3.100
3.184
3.267
3.350
3.433
3.516
3.599
3.682
3.765
3.848
3.931
4.013
4.096
4.179
4.262
4.344
4.427
4.509
4.591
4.674
4.756
4.838
4.920
5.002
5.084
5.165
5.247
5.328
5.410
5.491
5.572
5.653
5.735
5.815
5.896
5.977
6.058
6.138

(mV)
3.429
3.556
3.685
3.813
3.942
4.071
4.200
4.330
4.460
4.591
4.722
4.853
4.985
5.117
5.249
5.382
5.514
5.648
5.781
5.915
6.049
6.184
6.319
6.454
6.590
6.725
6.862
6.998
7.135
7.272
7.409
7.547
7.685
7.823
7.962
8.101
8.240
8.379
8.519
8.659
8.799
8.940
9.081
9.222
9.363
9.505
9.647
9.789

(mV)
2.294
2.381
2.468
2.556
2.643
2.732
2.820
2.909
2.998
3.087
3.177
3.267
3.358
3.448
3.539
3.631
3.722
3.814
3.907
3.999
4.092
4.185
4.279
4.372
4.466
4.561
4.655
4.750
4.845
4.941
5.036
5.132
5.228
5.325
5.422
5.519
5.616
5.714
5.812
5.910
6.008
6.107
6.206
6.305
6.404
6.504
6.604
6.704

Tableau 5.6: Tensions thermoelectriques (en mV) en fonction de la temperature.

105

106

Chapitre 6
Mesure de la pression
6.1

Concepts de base

La pression nest pas une quantite fondamentale, mais plutot une quantite derivee dune
force et dune surface, qui sont elles memes derivees des trois quantites fondamentales
standards que sont la masse, la longueur et le temps. La pression est la force normale
quexerce un medium, habituellement un fluide, sur une surface unitaire.
Pression jauge pression absolue
La pression absolue est definie par rapport au vide parfait (pabs = 0). Il ne peut donc
y avoir de pression absolue negative. La pression jauge quant a` elle, est definie comme
etant la pression relative par rapport a` la pression atmospherique (pjauge = pabs patm ).
La pression jauge pourra etre positive ou negative selon le cas o`
u la pression absolue
sera superieure ou inferieure `a la pression atmospherique. Une pression jauge negative
est appelee vacuum. La figure 6.1 illustre ce concept.
pabs
pression
jauge du
systme

pression absolue
du systme

patm

pression
atmosphrique
absolue
vide parfait

Figure 6.1: Schema illustrant les concepts de pression jauge et de pression absolue.

107

Unit
es de mesure de la pression
Les unites courantes de mesure de la pression sont les suivantes: Le Pascal (Pa ou
kPa pour 1000 Pa) en syst`eme SI et le psi (lbf/in2 ) en syst`eme BG. Plusieurs autres
unites sont egalement utilisees de facon courante: e.g. atmosph`ere (atm), bar, hauteur
dun liquide (mm H2 O, in H2 O, mm Hg, in Hg ...), etc... Le tableau 6.1 presente quelques
unites typiques ainsi que leur facteur de conversion en Pascal.

Pascal
psi (lbf/in2 )
atmosph`ere
bar
millibar
millim`etre deau (4 C)
pied deau (39.2 F)
pouce deau (39.2 F)
millim`etre de mercure (0 C)
pouce de mercure (32 F)

1Pa
= 1 N/m2
1 psi
= 6.8947572 103 Pa
1 atm
= 1.01325 105 Pa
1 bar
= 1 105 Pa
1 mbar
= 1 102 Pa
1 mm H2 O = 9.80638 Pa
1 ft H2 O
= 2.98898 103 Pa
1 in H2 O
= 2.49082 102 Pa
1 mm Hg
= 1.33322 102 Pa
1 in Hg
= 3.386389 103 Pa

Tableau 6.1: Principales unites de mesure de la pression.

Pression hydrostatique
La distribution de pression hydrostatique que lon observe en changeant daltitude,
par exemple dans une piscine, dans locean ou dans latmosph`ere, est causee par le champ
gravitationnel. Ceci est une consequence de lequation du mouvement. Considerons
un fluide en labsence de forces de cisaillement et en labsence de forces volumiques
exterieures autres que la force gravitationnelle (e.g. pas de champ magnetique pour un
fluide sensible a` ce phenom`ene ...). Dans ce cas, lequation du mouvement secrit:
p ~k = ~a

(6.1)

o`
u le vecteur unitaire ~k est oriente verticalement (vers le haut) et = g represente le
poids specifique1 . Pour un fluide au repos (~a = 0), cette equation devient:
p = ~k

dp
=
dz

(6.2)

1
En considerant g = 9.81 m/s2 , et une temperature de 20 C, on aura pour leau = 9.8 103 N/m3
et pour le mercure = 133 103 N/m3 .

108

Cette relation est lequation fondamentale de la statique des fluides. Elle signifie que la
pression decrot lorsque lon se deplace vers le haut dans un fluide au repos. Elle illustre
la variation de la pression hydrostatique avec lelevation. Cette equation est aussi valide
pour un fluide dont le poids specifique est constant, tel quun liquide, que pour un fluide
dont la valeur de varie avec lelevation, tel lair ou tout autre gaz.
Considerons un liquide ( = cte) et des changements delevation pour lesquels on
negligera les variations de lacceleration gravitationnelle (g = cte); on obtient par
integration:
p2 p1 = (z2 z1 )
(6.3)
Le schema suivant illustre une situation pour laquelle le point 1 est `a la surface libre
(soumis a` patm ) dun liquide et le point 2 au fond dun reservoir ouvert contenant ce
liquide.
p1 = patm

1
liquide
= g
h

2
p2 = h
(pression jauge)

Figure 6.2: Illustration du concept de pression hydrostatique dans un reservoir ouvert.

On obtient ainsi:
p2abs patm = (z2 z1 ) = (z1 z2 )

p2abs = h + patm ou p2 = h

(6.4)
(6.5)

Notons que la pression p2 est une pression jauge (puisque nous avons retranche la pression atmospherique). Nous adopterons la convention habituelle qui consiste a` travailler
en pression jauge par defaut. Lorsque lon travaillera en pression absolue, on ajoutera
lindice abs.
Considerons maintenant un reservoir ferme tel que celui illustre sur le schema suivant.
Ce reservoir contient une hauteur h dun liquide et un certain volume dun gaz. En
109

negligeant la densite du gaz devant celle du liquide, on obtient:


p2 = h + p1

(6.6)

p1
1

Notons que p2 sera jauge si p1


est jauge.
liquide
= g

Notons egalement que si on ne


neglige pas la densite g du gaz,
on obtient pour hg , une hauteur
donnee de gaz:
p2 = h + p1 + g hg

2
p2 = h + p1

Figure 6.3: Illustration du concept de pression hydrostatique dans un reservoir ferme.

Manom`
etres
Considerons le manom`etre en U ci-contre dont les deux extremites sont constituees de
reservoirs fermes contenant un meme gaz de densite .
p1

p2

Le reservoir de gauche est a`


pression p1 et celui de droite `a
pression p2 . Le tube en U contient un liquide manometrique
de densite m . En appliquant
lequation de la statique des
fluides, on obtient:
p1 + (h + l) = p2 + l + m h

p1 p2 = (m )h

Figure 6.4: Principe de fonctionnement du manom`etre en U.

110

Barom`
etres
Le barom`etre est un instrument servant a` mesurer la pression atmospherique. Une
des applications pratiques les plus simples de lequation fondamentale de la statique
des fluides est le barom`etre `a cuvette. Cet instrument, dont le principe fut elabore par
Torricelli2 , est compose dun tube plongeant dans une cuvette remplie de mercure. On
fabrique ce barom`etre en remplissant un tube avec du mercure et en inversant celui-ci
dans un reservoir alors quil est submerge. En ressortant le tube, tout en maintenant sa
partie ouverte submergee, on produit un vacuum presque parfait dans la partie superieure
fermee du tube. Ceci est d
u au fait que le mercure poss`ede une pression de vapeur tr`es
faible a` la temperature de la pi`ece (pv = 0.00016 kPa pour le mercure vs pv = 2.338 kPa
pour leau a` 20 C). On obtient ainsi un instrument simple tel que celui illustre sur la
figure 6.5.

vapeur de
mercure
pression pv
mercure
liquide (Hg)

Lequation de la statique des


fluides permet dobtenir facilement une mesure de la pression
atmospherique:
patm = pv + Hg h

Soulignons aussi que la hauteur de mercure est telle que


linstrument poss`ede des dimensions permettant de le
deplacer et de le manipuler
facilement. En effet on trouve:

patm

h=

patm pv
Hg

Figure 6.5: Schema illustrant le principe du barom`etre `a cuvette.

Pour des conditions standards de pression atmospherique (1 atm = 101.33 kPa), une
temperature de 20 C(Hg = 13 600 kg/m3 ) et une altitude correspondant au niveau
2
evangelista Torricelli (16081647) est le physicien italien `a qui lon doit lexperience qui a conduit
a linvention du barom`etre `
`
a cuvette.

111

de la mer (g = 9.80665 m/s2 ), on obtient une hauteur de mercure h = 760 mm. Si le


barom`etre etait forme dune colonne deau, on obtiendrait une hauteur de plus de 10 m.
Soulignons que pv = f (T ) et que Hg = f (T, z), o`
u T est la temperature et z est
laltitude. Les mesures de pression atmospherique precises seront donc corrigees pour les
variations de temperature et daltitude. Pour des mesures moins precises, on utilisera
habituellement la relation patm ' Hg h avec Hg ' 133 kN/m3 .
Notons enfin quil existe dautres types de barom`etres. Le barom`etre a` siphon en
est un exemple; compose dun tube recourbe (tube de Bourdon) actionnant une aiguille,
il est linstrument typique dusage domestique. Le barom`etre a` cadran en est un autre
exemple; il est muni dun flotteur qui fait tourner une aiguille sur un cadran.

Etalonnage
statique par la m
ethode du poids mort
La technique du poids mort est utilisee comme standard de laboratoire pour etalonner
des capteurs de pression dans la gamme 70 Pa p 70 MPa (7.1 mm H2 O p
7 100 m H2 O). Le principe de base de cette technique consiste `a imposer une pression
suivant la definition fondamentale de cette quantite, soit une force par unite de surface.
Un banc detalonnage par la methode du poids mort est illustre sur la figure 6.6.

poids (Mg)

capteur de pression
talonner

piston
rservoir
p=

Ap

piston ajustable
pour rgler le niveau
du piston d'talonnage

Mg
Ap

valve
trois voies

Figure 6.6: Mesure de la pression par la technique du poids mort.

Ce banc detalonnage est constitue dune chambre interne contenant un liquide (habituelle112

ment de lhuile), dun piston mobile sur lequel on dispose les poids et dun piston
ajustable. Le piston ajustable sert a` regler le niveau du piston mobile de facon a` eviter
que le piston mobile ne vienne en butee. La pression imposee au capteur `a etalonner
est:
Mg
p=
(6.7)
Ap
o`
u M est le poids combine des masses et du piston mobile, g est lacceleration gravitationnelle et Ap est la section effective du piston.
Pour faire des mesures de haute precision, on devra considerer les sources derreur
suivantes:
Incertitude sur les valeurs des masses.
Incertitude sur la mesure de la section du piston mauvaise valeur de Ap .
Expansion thermique du piston variations de Ap .
Acceleration gravitationnelle depend du lieu... il faut connatre g.
Deformation elastique du piston mobile variation de Ap pour les masses importantes.
Effet visqueux (frottement statique) la pression resultant de la F normale
a` Ap supporte la majeure partie de la masse; le cisaillement statique le long du
piston peut avoir un effet partiel. On peut reduire cet effet en faisant tourner le
piston `a vitesse constante.
P

Effet de flottaison la masse occupe un volume dair () dans lequel il y a une


distribution de pression hydrostatique; flottaison air /masse .

6.2

Capteurs de pression

Linstrument de mesure que lon denomme capteur de pression est constitue des elements
suivants:
ement sensible primaire
El
Il sagit de lelement qui est en contact avec le fluide et qui reagit aux variations
de pression se produisant au sein de celui-ci.
113

ement sensible secondaire


El
Celui-ci transforme la reaction de lelement primaire en information electrique,
optique ou mecanique.
Conditionneur de signal
Cet ensemble delements sert a` maintenir le niveau de precision et de repetabilite du
capteur, sa linearite ainsi que son insensibilite aux variations de divers param`etres
exterieurs.
ements sensibles primaires
El
Ces elements sont habituellement elastiques; ils se deforment lorsquils sont soumis
a` une difference de pression. La figure 6.7 presente les principaux elements disponibles.

Le tube de bourdon

La capsule

mouvement

p2

p1

mouvement

p1

Le diaphragme

p1

p2

Le soufflet

p2

p1

mouvement

p2

mouvement

Figure 6.7: Illustration de differents types delements sensibles primaires.

ements sensibles secondaires


El
Lelement sensible secondaire sert a` convertir le mouvement ou la deformation de
lelement primaire en signal electrique ou en deplacement mecanique dun pointeur ou
114

dune aiguille sur un cadran. Le tube de bourdon est lexemple typique delement primaire faisant appel a` un element secondaire de nature mecanique. Le capteur resultant
de cette combinaison est tr`es repandu dans les applications industrielles sujettes a` des
controles visuels du niveau de pression. Le schema de la figure 6.8 illustre un tel capteur.
A

p2

D
C

Pour ce type de capteur, le tube


de Bourdon (A) est lelement sensible
primaire. Il se deforme sous leffet
dune difference de pression (p1 p2 ).
Cette deformation est transmise par le
mecanisme (B C D) qui constitue
lelement secondaire. La lecture de pression est faite par lintermediaire dun
cadran et dune aiguille (E) solidaire du
pignon (D).

p1

Figure 6.8: Tube de Bourdon avec element secondaire mecanique.

Dans le cadre du cours, nous nous interessons davantage aux capteurs actifs; cest
pourquoi dans les paragraphes suivants nous nous limiterons `a la description des elements
secondaires convertissant le mouvement des elements primaires en signaux electriques.
Soufflet ou capsule avec potentiom`etre

p2

p1

vo
mouvement
Ei

Figure 6.9: Capteur de pression utilisant un soufflet et un potentiom`etre.

Le potentiom`etre est precis et peu co


uteux. Il peut cependant etre desavantageux de
lutiliser dans les capteurs `a basse pression, car il est sujet au frottement.

115

Soufflet ou capsule avec LVDT


Le LVDT (Linear Variable Differential Transformer quon retrouve aussi sous lappellation Linear Variable Displacement Transformer) est precis mais il est cependant
co
uteux. Comme il nest pas sujet au frottement, on lutilise dans les capteurs de
precision a` basse pression.

bobinage
primaire

p2

bobinages
secondaires

p1

vi

vo

Figure 6.10: Capteur de pression utilisant une capsule et un LVDT.

Diaphragme
Le diaphragme, autre element secondaire tr`es repandu, est une mince feuille de metal
(surtout dacier inoxydable) ou de silicone. La deformation du diaphragme peut etre
mesuree par divers elements, tels que:
- un pont de jauges de deformation (jauges adaptees a` la forme du diaphragme)
- des elements piezoresistifs
- un element capacitif
- un cristal piezoelectrique (sert a` mesurer les fluctuations de pression)
Conditionnement du signal et capteurs de pression
Un capteur de pression est constitue dun element sensible primaire auquel on a
ajoute un element sensible secondaire et un etage de conditionnement du signal. Letape
de conditionnement du signal est tr`es importante. Elle permet dameliorer grandement
la reponse des elements sensibles. La figure 6.11 illustre comment la tension de sortie
116

dun element sensible secondaire peut etre influencee par letage de conditionnement du
signal.

vo

vo

(% pleine
chelle)

120

120

100

100

80

80

60

60

40

40

20

20

lments sensibles
seuls

-20
0

(% pleine
chelle)

(% pleine
chelle)
100

lments sensibles
+
conditionnement

-20

(% pleine
chelle)
100

Figure 6.11: Illustration de leffet du conditionnement du signal sur un capteur de pression.

Letage de conditionnement du signal sert `a reduire leffet de certains param`etres


pouvant provoquer des derives ou des erreurs. Le tableau 6.2 donne un exemple typique
des ordres de grandeurs des erreurs que lon peut obtenir avec un capteur de pression
sans conditionnement et avec conditionnement du signal.

erreur sans
conditionnement

param`etre
en cause

erreur avec
conditionnement

50%

Sensibilite

1%

20%

Zero

1%

0.5%

Non linearite et hysteresis

10%
5%

0.5%

Coef. thermique sur la sensibilite 0.5%


Coef. thermique sur le zero

0.5%

Tableau 6.2: Quantification des differentes erreurs avec et sans conditionnement du signal.

117

118

Chapitre 7
Mesure du d
ebit
Plusieurs procedes industriels, probl`emes dingenierie ou projets de recherche impliquent
une mesure du debit. Cette mesure peut servir par exemple a` effectuer le controle
(asservissement, regulation, etc.) dun procede ou simplement a` etablir les conditions
doperation dune experience (recherche dans le domaine medical, en aeronautique, etc.).
Elle peut servir a` etablir de mani`ere precise les diverses composantes que lon doit
melanger pour obtenir un produit dans lindustrie alimentaire, pharmaceutique ou chimique (peintures de differentes couleurs, resines, etc.). La mesure du debit est egalement
requise dans les operations commerciales impliquant la vente dun liquide (essence et
huile dans les reseaux de distribution de lindustrie petroli`ere, eau potable domestique,
boisson dans les usine dembouteillage et les bars, etc.) ou dun gaz (gaz carbonique,
oxyg`ene, etc.).
Le debit peut etre exprime de deux facons: lecoulement dun volume de fluide par
unite de temps est appele debit volumique (Q) alors que lecoulement dune certaine
masse de fluide par unite de temps est appele debit massique (m).
Les unites SI de ces
deux quantites sont respectivement le m3 /s et le kg/s.

7.1

Conservation de la masse, d
ebit massique et d
ebit
volumique

Pour definir lequation de conservation de la masse, nous aurons recours aux concepts
de syst`eme et de volume de controle. Un syst`eme est un ensemble de particules de fluide
que lon identifie a` un instant t0 . La masse Msys de cet ensemble est donnee par:
Msys =

Z
sys

119

(7.1)

o`
u est la masse volumique et d un element de volume. Lequation de conservation de
la masse pour un syst`eme secrit:
dMsys
=0
(7.2)
dt
Cette equation exprime le fait que la masse de lensemble des particules de fluide composant le syst`eme demeure constante dans le temps. Pour que cette equation soit
plus facilement utilisable, nous allons la transposer `a un volume de controle fixe et
indeformable. Le theor`eme de transport de Reynolds, qui sert a` transposer les equations
appliquees a` un syst`eme vers un volume de controle, nous permet decrire:
Z
d Z
Z
~ ~n dA = 0
d =
d + U
dt sys
t vc
sc

(7.3)

Le premier terme de lexpression de droite represente le taux de changement dans le


temps de la masse contenue dans le volume de controle. Le deuxi`eme terme represente le
flux massique `a travers les surfaces de controle. Le vecteur unitaire ~n est perpendiculaire
a` la surface de controle et, par convention, pointe vers lexterieur du volume de controle.
La figure 7.1 illustre cette convention.
U

.n=0

.n<0

.n>0

U
n

n
V.C.
Sys.

U.n=0

Figure 7.1: Schema representant la relation entre le volume de controle et le syst`eme.

~ ~n sera donc negatif pour tout debit entrant dans le volume de


Le produit scalaire U
controle alors quil sera positif pour tout debit en sortant. Ceci nous permet decrire:
Z

~ ~n dA =
U

sc

m
sort.

m
entr.

(7.4)

~ ~n), on
De plus, en considerant Un le vecteur vitesse projete suivant ~n (Un = U
exprime le debit massique passant par une surface A comme:
m
A=

Z
A

Un dA

120

(7.5)

Lorsque la densite du fluide est homog`ene sur la section A, on obtient:


m
A=

Z
A

Un dA

m
A Z
=
Q=
Un dA

et

(7.6)

o`
u Q est le debit volumique.

Ecoulement
stationnaire
Lorsque lecoulement est stationnaire, lequation de conservation de la masse ecrite pour
un volume de controle se simplifie. En effet, on a:
Z
d = 0
t vc

m
sort. =

m
entr.

(7.7)

Dautre part, si le fluide est incompressible et homog`ene dans tout le volume de controle,
on obtient:
X
X
Qsort. =
Qentr.
(7.8)
Vitesse moyenne
Dans des conditions decoulement incompressible et a` proprietes physiques homog`enes
( = cte sur toute la section A consideree), on definit la vitesse moyenne U par:
U=

Z
Q
avec Q = Un dA
A
A

(7.9)

Nombre de Reynolds
Dans la plupart des applications, on aura a` calculer le nombre de Reynolds dans un
tuyau ou une conduite. Ce nombre est defini par:
Re =

U D
UD
=

(7.10)

o`
u represente la viscosite dynamique (en Pas) et la viscosite cinematique (en m2 /s).
Le nombre de Reynolds est dune importance capitale en dynamique des fluides. Il
est sans dimension et exprime le rapport entre les forces dinertie et les forces dues `a
la viscosite. Ce nombre sert notamment a` faire des analyses de similitude ainsi qu`a
determiner le regime laminaire ou turbulent dun ecoulement. Pour lecoulement dans
un tuyau par exemple, on observera un regime laminaire pour Re < 2100 alors que
lecoulement sera turbulent pour Re > 4000 (approximativement). Pour un ecoulement
incompressible et `a proprietes physiques homog`enes, on peut aussi ecrire:
Re =

4Q
D

121

(7.11)

7.2

Classification des d
ebitm`
etres

Suivant leur mode de fonctionnement, les debitm`etres sont generalement classes en


trois categories: 1- debitm`etres sensibles aux variations de quantite de mouvement,
2- debitm`etres sensibles au variations de debit volumique et 3- debitm`etres sensibles
aux variations de debit massique. Le tableau 7.1 constitue un bon outil permettant
deffectuer une selection preliminaire dun type de debitm`etre. Soulignons cependant
que la liste des debitm`etres presentee dans ce tableau nest que partielle.

Fluide

Pr
ecis.

Diam`
etre
(mm)

Temp
erature
( C)

D
ebit
(m3 ou kg /hr)

Perte
de ch.

Sensib.
instal.

Co
ut

Orifice

LG

++

50 `
a 1000

-180 `
a 540

1`
a 3 106 (L)
10 `
a 4 106 (G)

++++

++++

Venturi

LG

++

50 `
a 1200

-180 `
a 540

30 `
a 7000 (L)
400 `
a 105 (G)

++

++

+++

Cible
Tran
ee

LG

12 `
a 100

-45 `
a 540

1`
a 5 104 (L)
0.5 `
a 3000 (G)

++++

++++

++

Rotam`
etre

LG

15 `
a 150

-200 `
a 350

103 `
a 1000 (L)
104 `
a 2000 (G)

++

D
epl. posit.

LG

+++

4`
a 1000

-50 `
a 315 (L)
-50 `
a 120 (G)

0.01 `
a 2000 (L)
0.01 `
a 3000 (G)

++++

++++

Turbine

LG

+++

5`
a 600

-200 `
a 260

0.01 `
a 104 (L)
0.01 `
a 105 (G)

++

++++

em. tourb.

LG

++

12 `
a 200

-40 `
a 200

3`
a 2000 (L)
50 `
a 105 (G)

+++

++++

electroma.

++

2`
a 3000

-50 `
a 190

102 `
a 3 105

++

++

Ultrason.

LG

3`
a 3000 (L)
20 `
a 2000 (G)

-40 `
a 200

3`
a 3 105 (L)
3`
a 106 (G)

+++

+++

Thermique

3`
a6

0`
a 65

3 104 `
a 0.03

++

++

Coriolis

++

1`
a 150

-75 `
a 245

5`
a 5 105

++

++

++++

Type de
d
ebitm`
etre
Quantit
e de
mouvement

Volumique

Massique

Tableau 7.1: Classification des principaux debitm`etres; le debit est exprime en m3 /hr ou
en kg/hr selon le type de debitm`etre decrit (volumique ou massique).

D
ebitm`
etres `
a variation de quantit
e de mouvement
Dans la premi`ere categorie, on retrouve les debitm`etres bases sur un principe de
variation de la quantite de mouvement. En effet, ces instruments sont sensibles aux
variations de U 2 (en ecoulement uniforme, incompressible et homog`ene, on obtient
mU
= QU = AU 2 ). Les debitm`etres de type orifice, tube de venturi, rotam`etre et
122

cible ou force de tranee (target flowmeter ou drag force flowmeter) sont les plus connus
de cette categorie. Le cas des tubes de venturi et des orifices est presente en detail a` la
section 7.3.
Le principe de fonctionnement des rotam`etres et des debitm`etres de type cible est
presente sur la figure 7.2. Ces deux types de debitm`etres fournissent un signal qui est
proportionnel a` U 2 ; en effet, ils exploitent le phenom`ene de tranee aerodynamique (ou
hydrodynamique) dun corps non profile. Dans les deux cas, on utilise le dispositif dans
un regime decoulement pour lequel on observe un coefficient de tranee CD constant.
Rappelons que CD = F(Re), mais que dans une certaine plage de nombre de Reynolds,
on observe une valeur de CD constante. Ceci permet decrire, pour une cible de surface
frontale Af :
CD =

D
1
U 2
2

Af

= F(Re) = cte sur une certaine plage


D = cte U 2

(7.12)
(7.13)

CD

zone utile

laminaire

turbulent
Re

mg

Rotamtre

Cible

Figure 7.2: Debitm`etre `


a variation de quantite de mouvement: principe de base.

123

Figure 7.3: Exemples de rotam`etres utilises dans lindustrie.

D
ebitm`
etres `
a d
ebit volumique
La deuxi`eme categorie regroupe les debitm`etres sensibles au debit volumique. Ceuxci sont donc sensibles soit directement `a Q (e.g. deplacement positif et turbine: mesure
de et de t) ou a` U (emission tourbillonnaire, electromagnetique, ultrasonique).
Debitm`etre a` deplacement positif
Ce debitm`etre est base sur un principe tr`es simple qui consiste `a transvider un volume
de liquide dun cote a` lautre du dispositif (figure 7.4).

Figure 7.4: Schema dun debitm`etre `a deplacement positif (engrenage ovale).

124

Debitm`etre de type turbine

R
Ua = Q/A

Ut
UW=

Ut

Figure 7.5: Schema dun debitm`etre de type turbine.

Dans le cas du debitm`etre de type turbine, on utilise les notations suivantes:


A est la section interne de la conduite;
est langle dincidence du bord dattaque de lhelice par rapport `a la direction
axiale;
~ est le vecteur de vitesse absolue de lecoulement (vitesse purement axiale Ua
U
dans le cas present);
~t est le vecteur de vitesse tangentielle des pales de lhelice;
U
~ =U
~ U
~t est le vecteur de vitesse relative de lecoulement par rapport a` lhelice;
W
`
Le schema de la figure 7.5 illustre la relation graphique entre ces trois vecteurs. A
~t | = r. De plus, par
une position r donnee, la vitesse tangentielle de lhelice est |U
construction geometrique, on peut ecrire:
tan() =

~t |
r
r
|U
=
Ua =

~|
Ua
tan()
|U

(7.14)

On constate tout dabord que le rapport r/ tan() doit etre constant; lhelice doit donc
etre vrillee afin de respecter cette contrainte. De plus, en considerant un ecoulement
incompressible et homog`ene (Q = A Ua ), on peut ecrire:
Q = A Ua = cte

(7.15)

Il sagit bien dun debitm`etre volumique. La figure 7.6 montre un exemple dun tel
debitm`etre.

125

Figure 7.6: Illustration dun debitm`etre de type turbine.

Debitm`etre a` aubes et a` helice


Un autre debitm`etre volumique est le debitm`etre `a aube (figure 7.7). Les aubes
sont immergees dans une petite portion de lecoulement, afin de minimiser les pertes de
charge, et sont donc entranees en rotation par le fluide. La disposition de ce type de
debitm`etre dans le circuit est cependant critique, car lecoulement doit etre de la meme
nature que celui ayant servi a` letalonnage (developpe, axisymetrique, etc.).

Figure 7.7: Illustration dun debitm`etre `a helice et de deux debitm`etres `a aubes.

126

Debitm`etre a` emission tourbillonnaire


Un autre appareil faisant partie de la categorie des debitm`etres sensibles au debit
volumique est le debitm`etre a` emission tourbillonnaire (vortex shedding flowmeter). Ce
type de debitm`etre est base sur le principe de detachement de tourbillons provenant dun
corps non-profile (bluff body) expose a` un ecoulement. La figure 7.8 illustre le concept
de base de ce type de debitm`etre.

Figure 7.8: Schema dun debitm`etre `a emission tourbillonnaire.

Le corps non-profile classique est le cylindre. Il est bien connu quun cylindre dont
laxe longitudinal est dispose perpendiculairement a` un ecoulement produira un sillage
dans lequel on observera des tourbillons de signes alternes (un tourbillon tourne dans
un sens et le suivant tourne dans le sens inverse). En fait, ces tourbillons proviennent
du decollement de la mince couche limite evoluant sur la surface du cylindre. Sur la
partie aval du cylindre, cette couche limite se trouve dans une region de gradient de
pression adverse (la pression augmente dans le sens de lecoulement). Les particules de
fluide evoluent dans un environnement au sein duquel la resultante des forces de pression
soppose a` leur mouvement. Elles sont donc ralenties. Lorsque les forces inertielles ( ~a)
deviennent inferieures aux forces de pression, la nature produit un phenom`ene que lon
denomme decollement de la couche limite. Dans le cas du cylindre ou de tout autre
corps non profile du meme type, le phenom`ene de decollement est instationnaire. En
effet, dun cote du cylindre, la couche limite decollee setire et senroule sous la forme
dun tourbillon qui quitte brusquement la surface. Ceci produit un desequilibre de pression qui influence la distribution de pression de lautre cote du cylindre et declenche le
processus de decollement de ce cote. Le phenom`ene se repetant ainsi en alternance dun
cote a` lautre, on observe une emission de tourbillons caracterisee par une periodicite
tr`es precise (tant que la vitesse est constante).
Lors de lemission tourbillonnaire, on observe que le cylindre est soumis `a une force
de portance (force perpendiculaire `a lecoulement) instantanee de nature periodique et
damplitude presque equivalente a` la force de tranee. Cette force est donc relativement importante (cest pourquoi on etudie soigneusement laerodynamique des struc127

tures telles que les cheminees, les gratte-ciels et les ponts). On a mentionne que la
frequence demission des tourbillons est stable et est fonction de la vitesse. Ainsi, en
mesurant la frequence de la force de portance periodique generee par lemission tourbillonnaire, on obtiendra une information sur la vitesse qui sera traduite en information
sur le debit. La figure 7.9 montre des mesures de force instationnaire sur un cylindre.
On observe bien le caract`ere periodique de la force resultante.

Vecteur de rfrence (CF = 1.2)


0

0.005

0.01

0.015

0.02
Temps (s)

Figure 7.9: Evolution


temporelle du vecteur force resultante agissant sur un cylindre soumis
`a un ecoulement perpendiculaire `
a son axe longitudinal; ecoulement dair avec U = 19.4 m/s,
diam`etre du cylindre d = 0.0254 m, nombre de Reynolds Red = 32 000, nombre de Strouhal
St = 0.205.

On peut generaliser le probl`eme en ayant recours a` lanalyse dimensionnelle. En


faisant cette analyse classique, on fait ressortir les groupes adimensionnels suivants: le
nombre de Reynolds Red , le coefficient de force CF et le nombre de Strouhal St. Pour un
cylindre de diam`etre d et de surface frontale Af , ces nombres adimensionnels sexpriment
comme suit:

CF =

1
2

fd
F
= F(Red ) , St =
= F(Red )
2
U
U Af

avec Red =

U d

(7.16)

Pour le cas du cylindre, la figure 7.10 illustre de quelle facon le nombre de Strouhal
evolue en fonction du nombre de Reynolds. On constate que pour une grande plage
de nombre de Reynolds (600 < Red < 2 105 ), la valeur du nombre de Strouhal est
approximativement constante. Cette observation est en general valable pour plusieurs
corps non-profiles (les fronti`eres de la plage peuvent varier). Ainsi, pour cette gamme
de nombre de Reynolds et pour une conduite de section A, on obtient:
cte U
cte
fd
= cte f =
=
Q Q = cte f
(7.17)
U
d
Ad
Une mesure de la frequence demission tourbillonnaire f (par le biais dune mesure de
force sur le corps non-profile par exemple) donne directement acc`es a` la mesure du debit.
Il sagit bien dun debitm`etre volumique.
St =

128

St

0.30

Diamtre du
cylindre d

U
0.25

couche limite
turbulente
sur le cylindre

mission de tourbillons
une certaine frquence f

Nombre de Strouhal
St = fd/U

St = 0.205

0.20

sillage
laminaire

0.15

transition
dans le
sillage

2D

sillage turbulent

(couche limite laminaire


sur le cylindre)

transition
dans la
couche limite
du cylindre

3D

0.12
49

180

240

104

106

Re

Figure 7.10: Evolution


du nombre de Strouhal en fonction du nombre de Reynolds pour un
ecoulement autour dun cylindre.

Dans le cas dun debitm`etre a` emission tourbillonnaire de type industriel, on utilisera une forme qui maximise la force des tourbillons emis tout en ayant une tranee
raisonnable, de mani`ere a` ne pas introduire une trop grande perte de charge. La forme
illustree sur la figure 7.8 est typique de ce que lon retrouve dans lindustrie.
Debitm`etre electromagnetique
La loi de linduction electromagnetique, decouverte par Faraday en 1831, constitue
un des phenom`enes les plus importants de lelectromagnetisme. Cette loi stipule que
lorsquon deplace a` vitesse U un conducteur de longueur L dans un champ magnetique
de densite de flux B, on observe une difference de potentiel entre les extremites du
conducteur. On dit alors quune tension electrique est induite dans le conducteur. La
forme generale de cette loi dinduction electromagnetique est de la forme suivante:
~ B
~ L
~
v=U

(7.18)

~ , representant la vitesse de deplaceDans le cas present, considerons que le vecteur U


~ representant la densite de flux
ment du conducteur, soit perpendiculaire au vecteur B
~ soit oriente
magnetique. De plus, considerons que le conducteur defini par le vecteur L
~ et B
~ (i.e. L
~ k a` U
~ B).
~ La difference de potentiel
de facon bi-normale aux vecteurs U
induite dans le conducteur est alors maximale et la relation (7.18) permet decrire:
v=UBL
129

(7.19)

Un debitm`etre electromagnetique fonctionne suivant ce principe dinduction. On


construit ce debitm`etre en disposant un bobinage `a lexterieur de la conduite. Celui-ci
sert `a produire un champ magnetique traversant le liquide dont on cherche a` determiner
le debit (figure 7.11). On utilise donc le principe dinduction electromagnetique tel
que decrit precedemment, en precisant les points suivants: le conducteur est constitue
du fluide conducteur secoulant dans la conduite et les extremites du conducteur sont
constituees de deux electrodes disposees sur la paroi de la conduite. Le fluide situe dans
la conduite entre les electrodes joue donc le role du conducteur se deplacant dans le
champ magnetique. La longueur de ce fil virtuel est egale au diam`etre interieur D de la
conduite. On observe ainsi une difference de potentiel v aux bornes des electrodes qui
est proportionnelle a` la vitesse de lecoulement.
v
U
B
D

= voltage induit
= vitesse moyenne du liquide
= densit de flux magntique
= distance entre les lectrodes
(diamtre du tuyau)

B
v
lectrodes

v
coulement

U
Liquide
conducteur

Tuyau

Bobinage produisant
le champ magntique

Figure 7.11: Illustration dun debitm`etre electromagnetique.

La principale difficulte associee a` la conception dun debitm`etre electromagnetique


consiste a` obtenir un champ magnetique uniforme, i.e. dorientation perpendiculaire
a` laxe de la conduite en tout point de lecoulement et dintensite uniforme sur tout
le diam`etre de la conduite. La relation de base (7.18) est toujours valide, mais avec
les imperfections, lapplication de la relation simplifiee (7.19) nest pas parfaitement
exacte. Afin de prendre en compte ces leg`eres imperfections, on introduit une constante
de proportionnalite:
v = cte U B D U = cte v Q = cte v

(7.20)

On constate quil sagit l`a aussi dun debitm`etre volumique, car le debit est directe130

ment proportionnel au voltage mesure. Il est important de rappeler que le debitm`etre


electromagnetique est limite a` la mesure du debit des liquides conducteurs electriques.
D
ebitm`
etres `
a d
ebit massique
La troisi`eme categorie regroupe les debitm`etres sensibles au debit massique. Les plus
repandus sont ceux de type thermique (aussi denommes debitm`etres `a tube chauffant)
qui servent a` mesurer le debit massique dun gaz et ceux de type Coriolis qui sont utilises
pour mesurer le debit massique dun liquide.
Debitm`etre de type thermique
Le fonctionnement dun debitm`etre de type thermique est base sur lutilisation du
premier principe de la thermodynamique applique a` lecoulement dun gaz a` faible vitesse
dans une conduite (principe de conservation de lenergie). Considerons un volume de
controle localise autour dun tube dans lequel secoule un fluide en regime permanent.

Si on injecte de la chaleur (taux de transfert de chaleur ou puissance thermique Q),


la conservation de lenergie stipule quil en resulte une augmentation de lenthalpie du
fluide: Q 12 = m
(h2 h1 ). Si le fluide est un gaz parfait pour lequel on consid`ere que la
chaleur specifique a` pression constante (cp ) ne varie pas avec la temperature, on obtient:
Q 12 = mc
p (T2 T1 ). Ceci est valable pour des variations limitees de temperature et pour
les gaz seulement (la valeur de cp varie avec la temperature de mani`ere importante pour
les liquides). Le debitm`etre de type thermique utilise pour mesurer le debit massique
dun gaz fonctionne donc en respectant la relation suivante:
p T )
m
= Q/(c

(7.21)

Ce type de debitm`etre est muni dun tube chauffant de tr`es faible diam`etre (presquun
tube capillaire) et ayant un grand rapport dallongement. Dans la plupart des cas, ce
tube poss`ede un seul element chauffant et deux capteurs de temperature. On le denomme
tube de mesure (figure 7.12). En imposant le taux de transfert de chaleur Q injecte par
lelement chauffant et en mesurant T , on obtient une mesure du debit massique m
par
la relation (7.21). La vitesse dans le tube capillaire etant limitee, on fabrique ce type de
debitm`etre en utilisant un dispositif de derivation de debit denomme bypass laminaire
(figure 7.13). Ce dispositif est constitue de plusieurs tubes de meme diam`etre et meme
longueur que le tube capillaire. En procedant ainsi, on fait passer une fraction connue
du debit total par le tube de mesure. Lequation detalonnage du debitm`etre massique
devient alors du type m
= cte T .
131

lment
chauffant

T1, capteur
de temprature
amont

le
ou

T2, capteur
de temprature
aval

Tube de mesure
ou Tube chauffant

ent

Pont pour
la dtection
du T

Source
d'alimentation

Amplificateur

Sortie
linarise

Figure 7.12: Schema representant le principe de fonctionnement dun debitm`etre massique


de type thermique.

Valve de
contrle
du dbit

Tube de bypass
laminaire
Entre

lm

ent c
hauff
ant
Mesu
re de
T

Sortie

Tube de mesure

Figure 7.13: Illustration dun debitm`etre de type thermique ou `a tube chauffant utilise pour
mesurer le debit massique dun gaz. Une valve de controle peut aussi etre utilisee lorsquon
veut imposer un debit massique.

132

Debitm`etre de type Coriolis


Considerons une particule de fluide elementaire de masse dm se deplacant a` vitesse
~ (figure 7.14). Il sagit dun
U dans un tube tournant `a vitesse angulaire avec
~ U
cas de mouvement plan dune particule relatif `a un rep`ere tournant. Les equations de la
dynamique stipulent que la particule de fluide subira une force deviante Fc orientee
~ que lon denomme force de Coriolis.
de facon bi-normale aux vecteurs
~ et U

dm

dFc = ac dm

Figure 7.14: Schema dune particule de fluide se deplacant dans un tube en rotation.

La force de Coriolis subie par la particule sexprime comme suit:


~ dm = ~ac dm
dF~c = 2
~ U

(7.22)

~ represente lacceleration de Coriolis.


o`
u le terme ~ac = 2
~ U
Considerons maintenant un tube en forme de U tel que celui illustre sur la figure 7.15.
Le tube tourne `a une vitesse angulaire dont le vecteur
~ est oriente dans le sens inverse
de laxe x. La particule de fluide de masse dm identifiee sur le schema secoule avec un
~ oriente suivant laxe y. La force de Coriolis agissant sur cette particule
vecteur vitesse U
~ dm et, selon la r`egle de la main droite1 , cette force est orientee dans
est dF~c = 2
~ U
une direction sortant de la feuille. La particule de fluide produit une force de reaction
sur le tube, de meme grandeur, mais de sens oppose. Ainsi, a` cet endroit, le tube subit
~ dm).
une force orientee dans la direction entrant dans la feuille (dF~t = dF~c = 2
~ U
Le moment de force par rapport a` laxe y exerce sur le tube sexprime ainsi (laxe y
est situe a` une distance xa de laxe local du tube):
1

~ et produit vectoriel
~ selon le pouce.
R`egle de la main droite: index selon
~ , majeur selon U
~ U

133

~ ) dm
dT~t = ~xa dF~t = 2 ~xa (~ U

(7.23)

Le moment resultant pour la premi`ere moitie du tube (y = 0 L) est obtenu en


integrant lexpression (7.23) et en considerant que dm = A dl:
T~0L =

Z L
0

dTc = 2 A

Z L
0

~ ) dl
~xa (~ U

(7.24)

x
dm

y
xa
L
U

Figure 7.15: Schema representant un ecoulement de fluide dans un tube en U en rotation.

~ tels quillustres sur le schema


Pour simplifier lanalyse, considerons les vecteurs
~ U
~ = U ~k (~k etant le vecteur unitaire dans la direction
de la figure 7.15. Ainsi,
~ U
sortant de la feuille). Pour la premi`ere moitie du tube (branche 0 L du tube en U), le
vecteur ~xa = xa~i. On obtient donc:
T~0L = 2 A

Z L
0

(xa ~i) ( U ~k) dl = 2 A U xa L ~j = 2 m


xa L ~j

(7.25)

puisque ~i ~k = ~j et m
= AU . Pour la seconde moitie du tube, on obtient de la meme
~
~ = T~0L + T~L0 agissant sur
facon TL0 = 2 m
xa L ~j. On obtient le couple resultant C
le tube comme etant:
~ =4m
C
xa L ~j

(7.26)

Pour le mouvement de rotation decrit sur les figures 7.15 et 7.16, on obtient un couple
imposant une deformation en torsion du tube dans le sens antihoraire. Pour des petites
deformations, langle de torsion du tube sexprime ainsi:
=

C
4m
xa L
=
ks
ks
134

(7.27)

o`
u ks represente la rigidite en torsion du tube. Pour ks , xa , et L fixes, on obtient:
ks
= cte
(7.28)
4 xa L
Il est important de noter quon ne peut evidemment faire tourner le tube en U a`
vitesse constante sur 360 . On le fait plutot osciller autour de laxe x a` laide dun
syst`eme de vibration electromecanique. Par le biais de la force de Coriolis, cette oscillation produit un mouvement de torsion periodique autour de laxe y. Le debit massique
est alors proportionnel a` lamplitude du mouvement de torsion. Un syst`eme optique
par exemple pourra servir a` mesurer lamplitude de langle , ce qui permet dobtenir le
debit m.

m
=

Force
coulement

Force

Tube vibrant
en forme de U

Forces produites par le fluide en


raction aux vibrations du tube
Angle de
torsion

Angle de
torsion

Vue de bout du tube


montrant sa torsion

Figure 7.16: Schema representant le principe de fonctionnement dun debitm`etre de type


Coriolis servant `
a mesurer le debit massique dun liquide.

135

7.3

Exemple de standard international:


la Norme ISO 5167

La Norme ISO 5167 sintitule Measurement of fluid flow by means of orifice plates,
nozzles and venturi tubes inserted in a circular cross-section conduits running full. Elle
date de 1980 et constitue un bon exemple de standard que lon doit utiliser pour sassurer
que la mesure du debit avec les debitm`etres decrits dans la Norme est faite suivant
des crit`eres bien etablis. Le but principal de cette Norme est de specifier la g
eom
etrie
et la proc
edure dutilisation des debitm`etres de type orifice, tuy`ere et tube de Venturi. On y trouve donc les informations pertinentes a` linstallation et aux conditions
doperation de ces debitm`etres. On retrouve egalement dans la Norme les informations
necessaires au calcul du debit et des incertitudes associees `a cette mesure.
Il est utile de noter que la Norme ISO 5167 sapplique seulement:
aux instruments fournissant un p et pour lesquels lecoulement demeure subsonique au niveau de la section de mesure;
aux ecoulements statistiquement stationnaires (champ de vitesse moyenne constant
dans le temps);
aux ecoulements mono-phasiques;
aux tuyaux dont le diam`etre est inclus dans la gamme 50 mm < D < 1200 mm;
aux ecoulements dont le nombre de Reynolds Re > 3150.
La figure suivante illustre un tube de Venturi sur lequel on specifie la nomenclature
utilisee dans la Norme.
p1
p2
U

La section 1 est appelee section amont et la section 2 section avale. Le diam`etre


amont est note D et le diam`etre du col ou de lorifice selon le type de debitm`etre est
note d. On definit les param`etres geometriques suivants:
d
D2
1

et E = 4
=
,
D
1 4
D d4
o`
u est le rapport des diam`etres et E le facteur de vitesse dapproche.
=

136

(7.29)

D
etermination du d
ebit
Considerons lecoulement stationnaire dun fluide ideal (non visqueux) et incompressible. Dans ces conditions, on peut utiliser lequation de Bernoulli le long dune ligne de
courant. Selon la figure suivante, on obtient entre les points 1 et 2:

p1 U1 2
p2 U2 2
+
+ z1 =
+
+ z2

2g

2g

(7.30)

Pour z1 = z2 , U1 = U2 A2 /A1 et Q = A2 U2 , on peut ecrire:


s

Qideal = A2

2p
,
(1 4 )

(7.31)

sachant que p = p1 p2 . Pour un ecoulement visqueux, on prendra en compte les


pertes de charge en ajoutant un coefficient appele coefficient de decharge C. Ainsi, on
ecrit:
s

Qreel = C A2

2p
(1 4 )

(7.32)

Notons que dans la Norme on utilise le symbole qv pour le debit volumique Qreel . En
utilisant les definitions du rapport des diam`etres , du facteur de vitesse dapproche E
et de la section A2 , on obtient:
s

d2 2p
d2 2p
qv = C E
=
,
(7.33)
4

sachant que lon definit le coefficient decoulement = C E. Notons que lon obtient
le debit massique ainsi: qm = qv (on consid`ere comme etant constant et homog`ene).
Le coefficient de decharge C et le coefficient decoulement dependent de la geometrie
et du nombre de Reynolds. La vitesse de reference utilisee pour calculer le nombre de
Reynolds est la vitesse moyenne observee a` la section 1 (U1 ). On peut alors calculer
deux nombres de Reynolds, selon le diam`etre de reference considere:
U1 d
U1 D
et Red =
.
(7.34)
1
1
Generalement, on utilisera le nombre de Reynolds ReD . Le coefficient de decharge varie
selon les tendances indiquees sur les schemas suivants:
ReD =

137

Orifice

0.65

Venturi

1.00

= 0.7

0.60

Gamme de valeurs
dpendant de la
gomtrie spcifique

= 0.2
0.94
104

105

106

104

ReD

105

106

ReD

Les valeurs de C et de sont donnees dans les tables de la Norme en fonction du


diam`etre D, du rapport et du nombre de Reynolds ReD . En observant les tables, on
constate que le tube de Venturi (C 1) introduit beaucoup moins de pertes que les
orifices et les tuy`eres. On constate egalement que lorsque ReD est eleve, le coefficient C
devient independant de ReD .
Un extrait2 de la Norme ISO 5167 est presente dans les pages suivantes. Il est utile
de se familiariser avec les precautions a` prendre au niveau de linstallation (notamment
les tables 3 et 4). Il est aussi pertinent de prendre connaissance des caracteristiques
geometriques des differents dispositifs, surtout en ce qui a trait aux positions des prises
de pression.

Lextrait est constitue dune selection de 14 pages sur un total de 65 pages composant la Norme.

138

139

140

141

142

143

144

145

146

147

148

149

150

151

152

Chapitre 8
Mesure des forces et des
d
eformations
8.1

Rappel sur les contraintes et les d


eformations

La theorie exposee dans cette section concerne les materiaux `a proprietes homog`enes et
isotropes possedant un comportement elastique. Nous nous limiterons ainsi a` lanalyse
des etats de contraintes dans le domaine elastique.
Mat
eriaux
elastiques Loi de Hooke
Considerons une barre droite et uniforme de longueur l que lon soumet a` un effort de
tension F . Celle-ci sallongera dune certaine distance que lon denomme lelongation
totale. La deformation unitaire () de cette barre et la contrainte normale () dans
celle-ci sexpriment respectivement comme:
=

F
et =
l
A

(8.1)

La loi de Hooke stipule que, dans certaines limites (domaine elastique), la contrainte
dans le materiau sera proportionnelle `a la deformation unitaire de ce dernier. Une barre
faite dun materiau elastique reprendra sa forme initiale si la contrainte est eliminee.
Tout materiau elastique ne suit pas forcement la loi de Hooke; precisons toutefois quun
materiau obeissant a` la loi de Hooke est un materiau elastique. De facon generale,
pour une contrainte normale () ou une contrainte de cisaillement ( ), la loi de Hooke
sexprimera comme:
= E  et = G
153

(8.2)

o`
u represente la deformation en cisaillement. Les constantes de proportionalite sont
respectivement les modules delasticite (E) et de cisaillement (G). En reprenant le cas
de la barre en traction, on peut obtenir son elongation totale comme suit:
Fl
l
=
(8.3)
E
AE
Lexperience demontre que lorsque cette barre est soumise `a une force de traction axiale (direction x), il ny a pas seulement une deformation axiale (x ), mais aussi une
deformation laterale (y ). Lorsque lon demeure dans la plage de validite de la loi de
Hooke, ces deux deformations sont proportionnelles lune par rapport a` lautre. La
constante de proportionalite est le coefficient de Poisson (P ) et sexprime comme:
= l =

y
x
Les trois constantes elastiques sont reliees lune a` lautre comme suit:
P =

E = 2G(1 + P )

(8.4)

(8.5)

Etat
de contrainte
La figure 8.1 represente un element soumis a` un etat de contrainte generale tridimensionnelle. Par convention, toutes les contraintes 3 normales et 6 cisaillements
sont representees dans des directions positives.
y
y
yx
yz

xy

zy

xz
yx

z
Figure 8.1: Definition generale des contraintes.

Dans ce contexte de chargement general, les deformations sexpriment par la loi de Hooke
generalisee (sans dilatation thermique):
154

x =

x P (y + z )
E

xy =

y =

xy
G

y P (x + z )
E

yz =

z =

yz
G

z P (x + y )
E

xz =

xz
G

(8.6)

(8.7)

Etat
de contraintes biaxiales
Letat de contraintes biaxiales est egalement appele etat plan de contraintes. On
obtient cet etat lorsque, par exemple, z = xz = yz = 0. Supposons que toutes les
parties de lelement soumis a` cet etat de contraintes soient en equilibre. Si on le coupe
suivant un plan oblique de longueur ds et dont la normale forme un angle avec laxe
x tel quillustre sur la figure 8.2 le corps resultant sera aussi en equilibre.

x
xy

x
yx
y

Figure 8.2: Definition de letat de contraintes biaxiales.

Cet element a une largeur dx, une hauteur dy et une epaisseur uniforme t dans la
direction normale `a la feuille. La somme des forces normales `a ds peut ainsi secrire:
t ds = (x cos + xy sin ) t dy + (y sin + yx cos ) t dx

(8.8)

Comme le corps original etait en equilibre, on peut considerer xy = yx ; nous


utiliserons la notation xy pour les deux contraintes. De plus, la geometrie de lelement
155

nous permet decrire dx = ds sin et dy = ds cos . Ceci nous permet de reecrire


lequation precedente comme suit:
= x cos2 + y sin2 + 2xy sin cos

(8.9)

` laide de relations trigonometriques et apr`es quelques manipulations, on peut ecrire:


A
=

(x + y ) (x y )
+
cos 2 + xy sin 2
2
2

(8.10)

Cette equation permet de determiner la contrainte normale a` un plan quelconque lorsque


les contraintes x , y et xy sont connues.
Grandeur et direction des contraintes principales
Contraintes normales
Il existe des angles 1 auxquels on observe des contraintes normales minimale et
maximale. Ceux-ci sont obtenus suivant la recherche dextrema en faisant / = 0
et en isolant 1 dans lexpression obtenue:

=0

(x y ) sin 21 + 2xy cos 21 = 0

(8.11)

2xy
2xy
et
(x y )
(x y )

(8.12)

tan 21 =

On constate que lon obtient deux valeurs dangle 21 opposes a` 180 . Ces angles
definissent les plans des contraintes normales maximale et minimale que lon denomme
contraintes principales et que lon note respectivement 1 et 2 . Les angles doubles
(21 ) `a 180 indiquent que les deux angles 1 sont `a 90 lun de lautre. Ceci constitue
un resultat tr`es important en analyse des contraintes: les plans des contraintes normales
minimale et maximale sont toujours perpendiculaires lun par rapport a` lautre.
En utilisant la relation issue de / = 0, on peut aussi ecrire:
(x y ) sin 21 = 2xy cos 21

(8.13)

et apr`es quelques manipulations, on peut ressortir les deux relations suivantes:


2xy
sin 21 = q
(x y )2 + (2xy )2
156

(8.14)

cos 21 = q

(x y )
(x y )2 + (2xy )2

(8.15)

En introduisant ces resultats dans lequation donnant , on obtient les expressions donnant les contraintes principales en fonction de x , y et xy :

1q
1
1 = (x + y ) +
(x y )2 + (2xy )2
2
2

(8.16)

1q

1
(x y )2 + (2xy )2
2 = (x + y )
2
2

Contraintes de cisaillement
En suivant le meme raisonnement que pour le cas des contraintes normales, on obtient la contrainte de cisaillement dans un plan quelconque:

(x y )
sin 2 xy cos 2
(8.17)
2
En substituant les angles 1 dans cette expression, on constate que les contraintes de
cisaillement associees a` 1 et 2 sont nulles. On notes ainsi 1 = 2 = 0, ce qui justifie
lappellation de contraintes principales pour 1 et 2 .
=

Les angles s auxquels on observe les valeurs maximale et minimale sont determines par
la relation
tan 2s =

(x y )
(x y )
et
2xy
2xy

(8.18)

Ces deux derni`eres relations permettent dexprimer les contraintes de cisaillement


maximale et minimale comme suit:

max =

1q
(x y )2 + (2xy )2
2

min =

1q
2

(x y )2 + (2xy )2

157

(8.19)

Cercle de Mohr pour letat plan de contraintes


Les relations developpees pour definir letat de contraintes biaxiales nous ont permis
de definir les contraintes principales 1 et 2 que lon observera `a des angles 1 orthogonaux. Nous avons demontre que les contraintes de cisaillement 1 et 2 sont nulles pour
ces deux angles. Dautre part, nous avons defini des expressions donnant les contraintes
et a` un angle quelconque. Il est utile de reprendre ici ces expressions pour langle
particulier 1 ; on obtient ainsi:
(1 + 2 ) (1 2 )
+
cos 21
(8.20)
2
2
(1 2 )
=
sin 21
(8.21)
2
On constate que si on consid`ere un graphique de vs , ces relations definissent un
cercle de rayon (1 2 )/2 centre en ((1 + 2 )/2, 0). Ce cercle, appele de cercle de
Mohr, est une construction tr`es utile qui sert `a visualiser les etats plans de contraintes.
La figure 8.3 illustre comment les differentes quantites sont disposees sur le cercle de
Mohr.
=

x
y

x y
x y

yx

x
y

sin

y co

xy

x y

Figure 8.3: Cercle de Mohr pour letat de contraintes biaxiales.

158

Effort tranchant et moment de flexion


Considerons le cas dune poutre supportant un chargement q(x) o`
u
q(x) = lim

x0

F
x

(8.22)

Leffort tranchant V et le moment de flexion M agissant aux fronti`eres dune portion


de poutre representee par un diagramme de corps libre (figure 8.4) sexpriment comme
suit:
d2 M
dV
= 2 = q(x)
(8.23)
dx
dx
q(x)

V+dV

M+dM

Figure 8.4: Conventions utilisees pour la charge repartie, leffort tranchant et le moment de
flexion (toutes les fl`eches sont dans le sens positif sur les faces positives).

8.2

Extensom
etrie et jauges `
a variation de
r
esistance
electrique

Lorsque lon doit analyser letat de contraintes dun element mecanique, on peut choisir
differents outils et ce, en fonction de la complexite du probl`eme et des moyens dont
on dispose. Les methodes analytiques seront choisies pour analyser les cas simples
(barres, poutres, plaques...), alors que les cas complexes necessiteront le recours aux
methodes numeriques (elements finis...). Dans certains cas complexes, on devra utiliser
une methode experimentale pour etudier les etats de contraintes et de deformations des
composantes mecaniques. Ceci permettra, en outre, de valider les approches numeriques
ou de definir des param`etres physiques inconnus (module delasticite de structures de
materiaux composites par exemple). La methode experimentale sert aussi a` definir le
chargement impose lors des etudes impliquant des cycles de fatigue. Enfin, la determination experimentale dun etat de contrainte sera aussi utile dans la conception de divers
instruments de mesure (balances, cellules de charge, capteurs de pression...).

159

Letude experimentale des contraintes se fait par le biais de la determination des


deformations (selon la loi de Hooke par exemple). La mesure des deformations est
appelee extensometrie et plusieurs techniques entrent dans cette categorie. Lutilisation
de vernis craquelants, linterferometrie laser et lutilisation des jauges `a variation de
resistance electrique sont des exemples typiques. Parmi ces techniques, celles ayant
recours `a lutilisation des jauges sont de loin les plus courantes. Dans le cadre du cours,
nous nous limitons `a letude des jauges composees dun conducteur electrique metallique.
Ceci exclut donc les jauges piezoresistives ou a` semi-conducteurs. Soulignons seulement
que les jauges piezoresistives ont une plus grande sensibilite, une meilleure resistance
mecanique et une plus grande duree de vie que les jauges metalliques. Elles ont cependant
une sensibilite marquee a` la temperature et elles repondent de facon non-lineaire a` la
deformation. Cest pourquoi les jauges metalliques sont plus simples dutilisation.
Facteur de jauge
Considerons un conducteur compose dun metal dont la resistivite electrique est notee
e . La resistance de ce conducteur de section Ac et de longueur L est:
e L
Ac
La variation de resistance electrique de ce conducteur peut secrire comme:
R=

dR
dL dAc de
=

+
R
L
Ac
e

(8.24)

(8.25)

Sachant que les variations de section et de longueur sont reliees par P , le coefficient de
Poisson, on obtient:
dAc
dL
= 2P
Ac
L

dR
dL
de
=
(1 + 2P ) +
R
L
e

(8.26)

La dependance de e en fonction de lallongement est appelee la piezoresistance. On


definit 1 , le coefficient de piezoresistance dun conducteur, comme:
1 =

1 de /e
E dL/L

(8.27)

o`
u E est le module delasticite du materiaux. En substituant de /e par 1 E dL/L, on
obtient:
dR
dL
=
(1 + 2P + 1 E)
R
L

160

(8.28)

On definit le facteur de jauge comme etant le rapport


K=

dR/R
dL/L

(8.29)

Pour les jauges metalliques, on a generalement 1 E ' 0.4 et P ' 0.3. Le facteur
de jauges est donc K ' 2. Notons que le coefficient de piezoresistance des jauges `a
semi-conducteurs est tr`es eleve, ce qui leur conf`ere une tr`es grande sensibilite (facteur
de jauge K ' 200, soit jusqu`a 100 fois plus eleve que celui des jauges metalliques).
Cest pourquoi on les appelle aussi jauges piezoresistives.
Fabrication des jauges
Nous avons dej`a observe que la resistance dun conducteur electrique varie avec la
temperature suivant une relation du type:
h

R = R0 1 + (T T0 ) + (T T0 )2 + . . .

(8.30)

o`
u R0 correspond `a la resistance du conducteur a` la temperature T0 . Rappelons quil
sagit en fait du phenom`ene physique etant `a la base du principe de fonctionnement
dune sonde RTD. Pour T0 = 0 C et une gamme de temperature relativement petite, on
peut ecrire:
R = R0 (1 + T )

(8.31)

o`
u T est en C. On constate donc que lon a interet a` utiliser des metaux dont la
valeur du coefficient de temperature est la plus faible possible. En effet, on cherche
a` obtenir une jauge sensible a` lelongation et non `a la temperature. Le Constantan
( ' 0.00002/( C) sera par exemple un choix judicieux par rapport au cuivre
( ' 0.0043/( C) qui est beaucoup plus sensible aux variations de temperature.
Les alliages les plus communs servant `a fabriquer des jauges de deformation sont le
Constantan (55% Cu 45% Ni) et le Nichrome (80% Ni 20% Cr). Ils sont caracterises
par un facteur de jauge ne variant pratiquement pas avec la deformation et par une
faible sensibilite a` la temperature.
Les jauges sont generalement concues pour que leur resistance nominale soit de 120
ou de 350 . On retrouve egalement, de facon moins repandue, des jauges de resistance
nominale de 500, 1000 et 5000 . Le procede de fabrication moderne des jauges est base
sur les techniques de decapage photosensibles. Une mince feuille dalliage est collee sur
une feuille de materiau isolant et tr`es flexible (plastique, polyamide, epoxy-phenolique...).
161

Cette feuille sert dune part a` isoler electriquement la jauge de la surface sur laquelle on
viendra la disposer. Elle servira dautre part de support pour manipuler la jauge ainsi
que de rep`ere pour lorienter. En effet, la feuille de support sera marquee de symboles
indiquant lorientation et les axes principaux de la jauge. La figure 8.5 illustre la facon
dont une jauge est disposee sur une feuille de support.
largeur
de la jauge

longueur
de la jauge
feuille de
support

bornes

fils de
liaison

Figure 8.5: Schema representant une jauge de deformation `a variation de resistance


electrique et exemple montrant deux jauges collees sur une lamelle utilisee dans une balance
aerodynamique.

Notons que la feuille de support sert egalement a` disposer des bornes destinees `a souder
les fils de liaison raccordant la jauge aux instruments de mesure.

8.3

Mesure dune variation de r


esistance
electrique:
le pont de Wheatstone

Le pont de Wheatstone est le montage classique servant a` mesurer des variations de


resistance (figure 8.6). Il poss`ede la grande qualite de pouvoir mesurer de facon precise
de faibles variations de resistance.
Les quatre resistances composent les branches du pont. On dira par exemple que les
resistances R1 et R4 sont dans des branches opposees. La tension dalimentation du pont
est notee Ei et on lapplique aux bornes A et D. La tension de sortie vm (aux bornes B
et C) est obtenue par une mesure du courant ig circulant `a travers un galvanom`etre de
162

ig

B
R1

R2
i1

i2
-

vm

i4

i3
R3

R4

Rm
+

C
+ Ei

Figure 8.6: Schema representant un pont de Wheatstone.

resistance interne Rm . On desire trouver lexpression de la tension de sortie vm = Rm ig


en fonction des valeurs des resistances R1 , R2 R3 , R4 et Rm ainsi que de la tension
dalimentation Ei . On utilise comme point de depart les equations suivantes pour les
tensions et les courants:
Boucle B A C G B:

i1 R1 + i3 R3 + ig Rm = 0

(8.32)

Boucle B D C G B:

i2 R2 i4 R4 + ig Rm = 0

(8.33)

Boucle B A Ei D B:

i1 R1 + Ei i2 R2 = 0

(8.34)

Courants:

i1 = i2 ig

i2 = i1 + ig

(8.35)

et

i4 = i3 ig

(8.36)

La resolution de ce syst`eme dequations donne:

vm = Rm ig =

R1 R2
(R3
Rm

+ R4 ) +

Ei (R1 R4 R2 R3 )
R3 R4
(R1 + R2 ) + (R1
Rm

+ R2 )(R3 + R4 )

(8.37)

On dit que le pont est equilibre lorsque le courant ig = 0. On obtient ceci lorsque
R1 R4 = R2 R3 . De plus, au lieu dutiliser un galvanom`etre, on peut aussi utiliser un
voltm`etre pour mesurer vm . Limpedance dun voltm`etre etant tr`es elevee (Rm ),
on peut dans ce cas ecrire:
163

vm '

8.4

Ei (R1 R4 R2 R3 )
(R1 + R2 )(R3 + R4 )

(8.38)

Utilisation des jauges de d


eformation

` la section 8.2, nous avons vu que la variation de resistance est proportionnelle a`


A
lelongation, soit dR/R = K dL/L ou dR/R = K ; nous utiliserons cette equation pour
etablir les relations donnant la tension de sortie de differents ponts de jauges.
Pont `
a une jauge
Considerons le cas dune jauge disposee en
R1 . On sait que la tension de sortie du
pont est:

ug

Ei (R1 R4 R2 R3 )
(R1 + R2 )(R3 + R4 )

ja

vm '

R1

R2

Si R1 varie et devient R1 +R1 , on obtient:


(vm + vm ) '

Ei [(R1 + R1 )R4 R2 R3 ]
(R1 + R1 + R2 )(R3 + R4 )

vm
R3

Si on consid`ere comme conditions initiales


un pont `a lequilibre (vm = 0) et des
resistances egales (R1 = R2 = R3 = R4 =
R), on obtient:

R4

+ Ei

Ei R
Ei [(R + R)R R2 ]
=
vm '
(2R + R) 2R
4R + 2R
Si on consid`ere R  R (ce qui sera toujours le cas dans le cadre de lutilisation des
jauges de deformations), on pourra ecrire:
vm '

Ei R/R
Ei K 
'
4
4

(8.39)

Compensation des variations de temp


erature
Supposons une augmentation de temperature T provoquant un accroissement R
de la resistance R1 de la jauge placee en 1 dans le pont. Cet accroissement peut
164

dependre de deux facteurs: 1- augmentation de la resistance due a` la sensibilite de


la resistance electrique du conducteur `a la temperature (coefficient ); 2- augmentation
de la resistance due `a une elongation reelle de la jauge provoquee par une difference
entre les coefficients de dilatation thermique de la jauge et de la pi`ece sur laquelle elle
est collee. Le R d
u au premier effet sera percu comme une deformation apparente alors
que celui d
u au deuxi`eme effet indiquera seulement la difference delongation entre la
jauge et la pi`ece. Dans les deux cas, on cherchera `a eliminer les effets de la temperature
en utilisant une jauge de compensation dans les branches 2 ou 3 du pont. Cette jauge devra etre collee sur une pi`ece non contrainte faite du meme materiau que la pi`ece etudiee
(figure 8.7).
jauge active

F
matriau et temprature
identiques
jauge de compensation

Figure 8.7: Schema illustrant le principe de compensation des variations de temperature.

Pour une jauge de compensation placee en 3 par exemple, on obtient:


(vm + vm ) '

Ei [(R1 + R1 )R4 R2 (R3 + R3 )]


(R1 + R1 + R2 )(R3 + R3 + R4 )

(8.40)

Considerons comme conditions initiales un pont `a lequilibre (vm = 0) et des resistances


egales (R1 = R2 = R3 = R4 = R). Si on observe, suite a` laugmentation de temperature
T , une augmentation R1 = R2 = R, on obtient:
vm '

Ei R [(R + R) (R + R)]
(2R + R)2
= vm ' 0

(8.41)
(8.42)

Le pont reste equilibre et est donc insensible aux variations de temperature. Signalons
enfin que lors du choix dune jauge de deformation, il est tr`es important de faire la
selection en fonction du materiau de la pi`ece sur laquelle la jauge sera collee. En effet,
les fabriquants indiquent la compatibilite des coefficients de dilatation de leurs differentes
familles de jauges avec la plupart des materiaux.
165

Demi-pont avec jauges adjacentes

vm '

ja

R1

R2

Si on consid`ere comme conditions initiales


un pont `a lequilibre (vm = 0) et des
resistances egales (R1 = R2 = R3 = R4 =
R), on obtient:

ug
ja

ug
e

Lutilisation dune combinaison de deux jauges dans un meme pont donne ce quon
appelle un demi-pont. Analysons dans un premier temps le cas des jauges disposees
dans des branches adjacentes du pont, par exemple en R1 et R2 . Pour des variations de
resistance R1 et R2 , la tension de sortie du pont sera:
Ei [(R1 + R1 )R4 (R2 + R2 )R3 ]
(vm +vm ) '
(R1 + R1 + R2 + R2 )(R3 + R4 )
vm
R3

R4

Ei [(R + R1 )R (R + R2 )R]
(2R + R1 + R2 ) 2R
+ -

Ei (R1 /R R2 /R)
vm '
4 + 2R1 /R + 2R2 /R

Ei

Si on consid`ere, comme precedemment, R  R, on pourra ecrire:


Ei
vm '
4

"

R1 R2

R
R

(8.43)

Notons que si la variation de resistance R est causee par une variation de temperature
T et que les jauges sont collees sur la meme pi`ece (on suppose donc quelles sont `a la
meme temperature), on aura R1 = R2 et vm = 0. On constate que ce pont est alors
compense en temperature.
Exemple: barre en traction
Considerons une barre rectangulaire homog`ene soumise `a un etat plan de contraintes
produit par une force de traction F :
y

Figure 8.8: Schema dune barre rectangulaire en traction.

166

Deux jauges sont collees de facon `a obtenir une configuration en demi-pont similaire a`
celle que lon vient danalyser. La jauge 1 est sensible a` la deformation dans le sens axial
(x) et la jauge 2 est sensible a` la deformation dans le sens transversal (y). On sait que
les taux de deformation dans les directions x et y sont relies par le coefficient de Poisson:
y = P x . Avec les facteurs de jauge, on peut ecrire:
R1
= K1 x
R

et

R2
= K2 y = K2 P x
R

Ei
(K1 x + K2 P x )
4
Si on a K1 = K2 = K, comme cest habituellement les cas, on obtient:
vm '

vm '

Ei K(1 + P ) x
4

(8.44)

(8.45)

(8.46)

Exemple: poutre encastr


ee en flexion
Considerons une poutre rectangulaire homog`ene encastree rigidement a` une extremite
et libre a` lautre (figure 8.9). Les axes sont definis comme suit: x est la direction
longitudinale, y est dans le sens de lepaisseur et z est laxe transversal suivant la largeur
de la poutre. Lextremite libre est soumise a` une force F perpendiculaire au plan xz.

y
1
2

x
z

Figure 8.9: Schema dune poutre encastree en flexion.

Les jauges 1 et 2 sont collees sur chacun des plans xz et elles sont sensibles aux
deformations longitudinales (suivant x). On consid`ere que les jauges sont placees de
facon symetrique par rapport a` laxe neutre passant par y = 0; on a donc y1 = y2 .
Ce type de chargement produit un etat plan de contraintes resultant dans les taux de
deformation suivants: x1 = x2 . Avec les facteurs de jauge, on obtient: R1 /R = K1 x
167

et R2 /R = K2 x . Pour des facteurs de jauge identiques (K1 = K2 = K), on peut


finalement ecrire:
vm '

Ei Kx
2

(8.47)

Demi-pont avec jauges oppos


ees
On peut obtenir une autre configuration de demi-pont en disposant les jauges dans
des branches opposees au lieu de les mettre dans des branches adjacentes. Considerons
par exemple les jauges montees en 1 et en 4; pour une variation de resistance R1 et
R4 , la tension de sortie du pont sera:
Ei [(R1 + R1 )(R4 + R4 ) R2 R3 ]
(R1 + R1 + R2 )(R3 + R4 + R4 )

vm '

ja

ug

Considerons comme precedemment les


conditions initiales suivantes: pont `a
lequilibre (vm = 0) et resistances egales
(R1 = R2 = R3 = R4 = R). On obtient
ainsi:

R1

R2

R3

R4

vm

ja

ug

(vm +vm ) '

Ei [(R + R1 )(R + R4 ) R2 ]
(2R + R1 ) (2R + R4 )
+ -

Ei (R1 /R + R4 /R + R1 R4 /R2 )
vm '
4 + 2R1 /R + 2R4 /R + R1 R4 /R2

Ei

En considerant, comme precedemment, R  R, on peut ecrire:


Ei
vm '
4

"

R1 R4
+
R
R

(8.48)

Notons que si la variation de resistance R est causee par une variation de temperature
T et que les jauges sont collees sur la meme pi`ece (on suppose donc quelles sont `a la
meme temperature), on aura R1 = R2 et vm = Ei R/(2R). On constate que ce pont
nest pas compense en temperature. Il faudrait ajouter des jauges de compensation en
2 et 3.

168

Pont `
a quatre jauges: pont complet

ja

vm
R4

ug

R3

#
e

ja

ug

R1 R4 R2 R3
+

R
R
R
R

R2

"

R1

ja

Ei
vm '
4

ug
ja

En considerant, comme precedemment,


R  R, on peut ecrire:

ug
e

Jusquici, nous avons vu que la sensibilite de la technique de mesure par jauges de


deformation peut etre influencee par: 1- la disposition des jauges sur la pi`ece (e.g. jauges
1 et 2 `a 90 sur la barre en traction) et 2- la position des jauges dans le pont. On peut
augmenter encore davantage la sensibilite de la technique en utilisant un pont complet,
cest-`a-dire un pont comprenant quatre jauges. On obtient ainsi:

+ Ei

y
4
3

1
2

x
z

Figure 8.10: Schema dune barre encastree en flexion avec quatre jauges montees en pont
complet.

Lorsque par exemple, les jauges sont disposees en pont complet sur une poutre encastree
en flexion (figure 8.10) on obtient:
vm ' Ei K x
169

(8.49)

8.5

Les cellules de charge

La cellule de charge est un element mecanique instrumente permettant de mesurer


une force. On rencontre dans la pratique plusieurs geometries de cellules de charge,
dependant de lapplication et de la grandeur de la force a` mesurer (figure 8.11). Le
principe de fonctionnement et les composantes generales sont cependant les memes pour
tous les types de cellules de charge. Nous limiterons lanalyse a` letude des cellules de
charge fonctionnant avec des jauges de deformation.

Figure 8.11: Exemple illustrant plusieurs types de cellules de charge.

Une cellule de charge comprend trois elements principaux:


le bati
Cest un element tr`es rigide sur lequel est applique la force a` mesurer. Le bati
comprend des elements de fixations permettant de fixer la cellule au reste du
montage. La force a` mesurer est appliquee au bati de la cellule de charge. Le bati
etant tr`es rigide, il ne se deforme pas de facon significative sous leffet de la charge
mesuree.
Lelement mecanique sensible
Il sagit dune partie du bati qui presente volontairement une moins grande resistance
a` la deformation, afin que la charge appliquee produise un deplacement mesurable
a` cet endroit precis. Ainsi, sous laction dune force, lensemble du bati ne se
deformera pas, mais lelement mecanique sensible se deformera. Sa deformation
doit cependant demeurer dans le domaine elastique.
170

Les jauges de deformation


Des jauges sont collees a` lelement mecanique sensible, au point de deformation
maximale, et permettent de traduire la deformation produite par la force en variation de resistance, et finalement en signal electrique mesurable.
Ces trois elements de base sont choisis, dimensionnes et combines ensemble de facon
a` ce que la reponse de la cellule a` une force soit lineaire sur un intervalle donne correspondant `a letendue de mesure de la cellule.
Le bati entoure lelement mecanique sensible, le prot`ege et comprend souvent des
composantes mecaniques tels que des butees qui prot`egent lelement mecanique sensible
contre une surcharge.
Les differents types de cellules de charge sont definis dapr`es la forme generale du
` chaque forme de bati est associee une ou plusieurs formes delements sensibles.
bati. A
Les jauges sont quant `a elles assez universelles et ne changent pas beaucoup dun type
de cellule a` un autre.

8.5.1

Principaux types de cellules de charge

Cellule de type poutre en flexion (bending beam)


Ce type de cellule est constitue dune poutre rigide encastree a` une extremite, lautre
extremite etant le point dapplication de la force a` mesurer. Cette poutre rigide constitue le bati, et lelement sensible est une section intermediaire de la poutre qui a ete
affaiblie par retrait de mati`ere de facon `a augmenter localement les contraintes et les
deformations (figure 8.12).

Figure 8.12: Schema et illustration dune cellule de charge de type poutre en flexion.

171

Pour une poutre subissant un moment de flexion, les contraintes de tension-compression


maximales et les deformations correspondantes se retrouvent sur les faces opposees de
la poutre. Si la force est appliquee vers le bas, la face superieure est chargee en tension
tandis que la face inferieure est chargee en compression. Une paire de jauge est donc
collee sur la face superieure et une autre paire sur la face inferieure, et les quatre jauges
sont connectees en pont de Wheatstone complet.
Avec ce type de cellule de charge, le point dapplication de la force doit etre minutieusement controle puisquil determine la distance entre la charge et le point de mesure
et que cette distance influence directement le moment, donc les deformations au point
de mesure.
Cellule de type poutre en S (S beam)
La forme en S du bati (figures 8.13 et 8.14) de ce type de cellule aussi appele poutre
en Z permet une configuration alignant le point dapplication de la force et la fixation
du bati de la cellule de charge au reste du montage.

Figure 8.13: Schemas illustrant une cellule de charge de type poutre en S.

Lelement mecanique sensible est generalement un anneau cylindrique, et les jauges


sont collees sur la face interne, deux jauges dans une region en tension et les deux autres
dans une region en compression.

Cellule de type poutre en cisaillement (shear beam)


Comme pour la poutre en flexion, ce type de cellule est constitue dune poutre rigide
encastree a` une extremite, lautre extremite etant le point dapplication de la force a`
172

Figure 8.14: Illustration de cellules de charge de type poutre en S.

mesurer. La poutre rigide constitue le bati et lelement sensible est une section intermediaire de la poutre qui a ete affaiblie par retrait de mati`ere, de facon `a augmenter
localement les contraintes et les deformations (figures 8.15 et 8.16).

Figure 8.15: Schema illustrant une cellule de charge de type poutre en cisaillement.

Pour une poutre subissant un effort tranchant, les contraintes de cisaillement maximales et les deformations correspondantes se retrouvent a` laxe neutre, sur les faces
laterales de la poutre et `a des directions de 45 par rapport a` laxe neutre.
Une paire de jauge est collee sur chacune des faces laterales de la poutre. Sur chaque
face on retrouve une jauge en tension et une en compression et les quatre jauges sont
connectees en pont de Wheatstone complet.
Un des avantages de ce type de cellule de charge est que le point dapplication de la
force na pas a` etre minutieusement controle puisquil leffort tranchant est le meme pour
toutes les sections de la poutre entre la force et lencastrement. Le point dapplication
de la charge ninfluence donc pas la mesure.
173

Figure 8.16: Illustration montrant des cellules de charge de type poutre en cisaillement.

Cellule de type compression


Lelement sensible de ce type de cellule est une serie de colonnes chargees en compression, sur lesquelles les jauges sont collees. Le bati est une enceinte cylindrique (aussi
appele coffret) contenant les colonnes, do`
u lappellation canister type (figures 8.17 et
8.18). Ce type de cellule permet des mesures en compression, donc unidirectionnelles.

Figure 8.17: Schema illustrant une cellule de charge de type compression `a coffret.

Ces cellules sont tr`es repandues dans les syst`emes de pesee puisque les elements
peuvent reposer directement dessus, ce qui simplifie grandement le montage.

Figure 8.18: Illustration montrant des cellules de charge de type compression (load button).

174

Autres types de cellules de charge


Au-del`a des principaux types de cellules de charge qui ont ete presentes, et qui representent
la vaste majorite de ce qui se retrouve sur le marche et dans lindustrie, plusieurs autres
types sont fabriques pour des applications tr`es precises. La figure 8.19 en donne quelques
exemples.

Figure 8.19: Illustration de differents types de cellules de charge; cellule de compression


scellee, cellule `
a double embout et cellule de type boulon.

Pr
ecision des cellules de charge
Les cellules de charge sont des instruments de mesure extremement precis. Les mod`eles
de gamme moyenne, tr`es courants, presentent une precision de 0.05% de letendue de
mesure.
Les mod`eles de construction plus soignee presentent une precision de 0.03% de la
valeur mesuree, et la precision peut aller jusqu`a 0.01% de la valeur mesuree pour les
cellules haut de gamme.

8.5.2

Quelques applications

Les applications des cellules de charge sont tr`es variees. La plus grande famille dapplication est celle de la pesee (figure 8.20 et 8.21). En effet, toutes les balances electroniques
utilisent une forme de cellule de charge comme element sensible. Les balances de
precision de laboratoire pour peser de tr`es petites quantites, les cuves de pesee dans les
procedes industriels, les balances de controle routier, les p`ese-personnes que nous utilisons a` la maison, toutes ces applications utilisent des cellules de charge de geometries
et de tailles variees.
Elles sont egalement utilisees dans dautres applications: celles o`
u une mesure de couple est requise, dans les procedes o`
u une force precise doit etre appliquee, comme element
175

Figure 8.20: Illustration de differents syst`emes de pesee utilises dans lindustrie lourde (notamment balances pour camions, trains et autres).

Figure 8.21: Schema et illustration de syst`emes de pesee utilisant des cellules de type
poutre en S; lillustration de droite montre un appareil incluant une interface de traitement
numerique.

de protection contre la surcharge, ainsi que dans les essais destructifs de materiaux visant
a` determiner leurs proprietes mecaniques.

176

Chapitre 9
Mesure de la position
Les appareils de mesure de la position sont dune importance capitale en instrumentation,
car cette mesure intervient dans plusieurs applications. En plus de linteret de base
consistant a` mesurer la position (regulation, asservissement, etc...), on a recours a` ce
type dinstrument dans la conception de plusieurs capteurs (pression, debit, humidite,
etc...). En effet, il existe une multitude de capteurs dont lelement sensible produit
un deplacement qui doit etre converti en signal de sortie par le biais dune mesure de
position. Dans ce chapitre, on consid`ere des instruments utilises pour mesurer la position
ou le deplacement relativement `a un point de reference. Le deplacement pour aller
du point de mesure au point de reference se fera soit en translation, soit en rotation, ceci
en fonction des caracteristiques geometrique et cinematique propres a` ces deux points.

9.1

Potentiom`
etres

De facon simplifiee, un potentiom`etre est un element resistif constitue dun curseur de


contact mobile se deplacant sur une resistance (figure 9.1).
x-x
vo = x - x1 Ei
2
1

vo =

vo

x1

-
E
- i

x2

vo

- +

- +

Ei

Ei

Figure 9.1: Representation schematique des potentiom`etres lineaire et rotatif.

177

Le mouvement de la pointe de contact peut etre une translation, une rotation ou une
combinaison des deux (mouvement helicodal donnant un dispositif rotatif multi-tour).
Lelement resistif de ces instruments peut etre constitue dune bobine de fil, dun plastique conducteur ou dun depot de carbone conducteur. Les elements en plastique ou
en carbone auront une duree de vie accrue, car les probl`emes de frottement sont reduits
par rapport au cas du bobinage de fil.
vo/Ei 1

0
x1
(ou 1)

x2
(ou 2)

Figure 9.2: Reponse theorique dun potentiom`etre lineaire ou rotatif.

Pour les deux types de potentiom`etre, la tension de sortie theorique est une fonction
lineaire de la position (figure 9.2). Dans la realite, la linearite ne sera jamais parfaite;
on obtient des reponses lineaires precises a` environ 0.1% pour les bobinages et a` pr`es
de 1% pour les plastiques et les carbones. De plus, dans le cas du bobinage, la reponse
reelle sera plutot en escalier, car le passage du curseur dun fil `a lautre impose un
caract`ere leg`erement discontinu au signal de sortie. Mentionnons enfin que les potentiom`etres sont de moins en moins utilises pour faire de la mesure, car on les delaisse au
profit des encodeurs. Les principaux avantages et inconvenients relatifs a` lutilisation
des potentiom`etres sont:
Avantages:
1. Faible co
ut,
2. Simplicite de raccordement,
3. Bande passante elevee (instrument dordre zero),
4. Rep`ere absolu (indique la position d`es la mise en marche, sans initialisation).
178

nients:
Inconve
1. Frottement (usure et force indesirable dans certaines applications),
2. Defauts de linearite ' 0.1% (surtout les elements en plastique et en carbone),
3. Resolution limitee (cas du bobinage),
4. Sensible au vibrations (augmente lusure et source de bruit).

9.2

LVDT, RVDT

Les termes LVDT et RVDT signifient respectivement Linear Variable Differential Transformer et Rotary Variable Differential Transformer. Ces instruments fonctionnent suivant le principe dinduction magnetique (figure 9.3); ils produisent une tension de sortie
ac dont lamplitude est proportionnelle au deplacement du noyau ferreux mobile.
bobinage
secondaire
mouvement

bobinage
primaire

bobinage bobinage bobinage


secondaire primaire secondaire

bobinage
secondaire

noyau ferreux mobile

V1

V2

Vi

noyau ferreux
rotatif

Vo

V1

Vi

Vo = V1 - V2

Figure 9.3: Representation schematique dun LVDT et dun RVDT.

Avantages:
1. Aucun frottement,
2. Duree de vie illimitee,
3. Robuste,
4. Peu sensible a` lenvironnement,
179

V2

Vo

5. Position absolue.
nients:
Inconve
1. Co
ut eleve,
2. Bande passante limitee,
3. Plage de mesure limitee,
4. Linearite moyenne ' 0.2%,
5. Precision moyenne (0.5 `a 1%).

9.3

Techniques bas
ees sur des principes optiques

Source lumineuse, masque et photo-d


etecteur
Ce type de capteur est base sur lutilisation dun photo-detecteur qui donne un signal
proportionnel `a la quantite de lumi`ere recue (figure 9.4).

photosource
dtecteur
lumineuse
masque

Figure 9.4: Representation schematique de detecteurs de position optiques (lineaire et rotatif).

Le principe est le suivant: la lumi`ere est emise par une source lumineuse et son passage est obstrue par un masque dont la fente est specialement concue `a cette fin. Lorsque
le masque se deplace, la dimension de la fente varie de facon telle que le pourcentage
180

de lumi`ere la traversant est proportionnel a` la position. Il sagit donc dun capteur de


position absolue.
Avantages:
1. Co
ut relativement faible,
2. Simplicite,
3. Bonne precision,
4. Aucun frottement (sans contact),
5. Position absolue.
nients:
Inconve
1. Derive des facteurs detalonnage (vieillissement de la source lumineuse),
2. Fragile,
3. Sensible a` lenvironnement.
Diode laser et triangulation

x1

diode laser

x2

matrice de
photo-dtecteurs

Figure 9.5: Representation schematique dun capteur optique base sur la triangulation.

Avantages:
1. Excellente precision (10m et mieux),
2. Sans contact,
181

3. Ne perturbe pas le syst`eme a` mesurer,


4. Position absolue.
nients:
Inconve
1. Co
ut relativement eleve,
2. Plage de mesure limitee,
3. Temps de reponse relativement grand.
Utilisation dune nappe laser
En utilisant une lentille cylindrique et un jeu de lentilles approprie, un faisceau
laser peut etre diffuse de mani`ere a` former une mince nappe de lumi`ere composee de
faisceaux parall`eles. Lintensite de cette nappe de lumi`ere est mesuree par loptique
de reception qui est constituee dune matrice de photo-detecteurs (elements CCD). Le
nombre de photo-detecteurs determinera la resolution dimensionnelle de lappareil et le
taux dechantillonnage, exprime en cycles/s, determinera sa bande passante. Lorsque la
nappe de lumi`ere est obstruee par un obstacle, une ombre, dont la surface est proportionnelle a` la dimension de lobstacle, est projetee sur loptique de reception (figure 9.6).
On peut ainsi mesurer la dimension et la position de lobjet jusqu`a des cadences de
lordre 1 kHz. Loperation de balayage du signal de chacun des elements de la matrice
reduit cependant la bande passante de lappareil. On peut obtenir une bande passante
beaucoup plus elevee en utilisant un seul photo-detecteur (figure 9.7). Dans ce cas, la
nappe de lumi`ere doit converger vers cet unique detecteur par le biais dune lentille dont
le point focal se situe directement sur lelement de reception. La quantite de lumi`ere
recue est directement proportionnelle a` la dimension de lobjet (attention, sensible au
viellissement). Precisons toutefois quon perd ici linformation permettant de determiner
la position de lobjet au detriment de la bande passante amelioree (jusqu`a 300 kHz).
Avantages:
1. Bonne precision,
2. Sans contact,
3. Temps de reponse de moyen a` tr`es bon (selon loptique de reception),
4. Facteurs detalonnage tr`es stables (cas de la matrice).
182

optique de
transmission

optique de
rception

nappe de lumire

matrice
de photodtecteurs

diode laser

jeu de
lentilles

filtre
passe-bande

obstacle

Figure 9.6: Representation schematique dun capteur optique fonctionnant selon le principe
de la nappe de lumi`ere et muni dune matrice de photo-detecteurs.
optique de
transmission

nappe de lumire

diode laser

jeu de
lentilles

obstacle

filtre
passe-bande

optique de
rception

photodtecteur
unique

Figure 9.7: Representation schematique dun capteur optique fonctionnant selon le principe
de la nappe de lumi`ere et muni dun seul photo-detecteur.

nients:
Inconve
1. Mesure discr`ete (depend de la resolution de la matrice de photo-detecteurs),
2. Co
ut relativement eleve,
3. Sensible a` lenvironnement.

9.4

Capteurs ultrasoniques

Avantages:
1. Sans contact,
2. Grande plage de mesure,
3. Co
ut relativement faible.
nients:
Inconve
1. Precision limitee (liee aux proprietes du milieu),
2. Temps de reponse.
183

metteur-rcepteur
ultrasonique

U
x = U t/2
t
impulsion
incidente

impulsion
rflchie

Figure 9.8: Representation schematique dun capteur ultrasonique servant `a mesurer des
dimensions lineaires (ruban `
a mesurer ultrasonique utilise par les decorateurs, les inspecteurs
en batiment, les architectes, etc...).

9.5

Capteurs magn
etostrictifs

Les capteurs magnetostrictifs (aussi appeles capteurs de deplacement ultrasoniques ou


capteurs magnetosoniques) sont des capteurs de deplacement lineaire absolu sans contacts mecaniques bases sur le principe de la magnetostriction.
La magn
etostriction
La definition de la magnetostriction est la suivante: Modification de la forme dune substance ferromagnetique resultant de son aimantation. Elle est constituee dun ensemble
de phenom`enes observes dans les materiaux ferromagnetiques (ou ferreux) comme le fer,
le nickel, le cobalt et leurs alliages. Lorsque ces materiaux ferreux sont plonges dans
un champ magnetique, ils subissent des distorsions microscopiques de leur structure
moleculaire causant une variation de leur dimension. Les deformations mecaniques ainsi
provoquees sont associees a` divers inconvenients observes dans les appareils electriques.
Notamment, les bruits et vibrations a` frequences fixes facilement observables dans les moteurs electriques et les transformateurs sont des exemples typiques de ces consequences
negatives. La magnetostriction presente aussi des aspects positifs et on les met `a profit
dans la fabrication des capteurs de position ou de deplacement lineaire.
184

Les principaux effets magnetostrictifs sont les suivants:


1. Leffet Joule longitudinal
Il sagit du phenom`ene le plus important relie a` la magnetstriction: lorsquune
barre magnetostrictive de longueur L est soumise `a un champ magnetique axial,
on observe une variation de longueur L de la barre.
2. Leffet Joule transversal
Lorsque la barre magnetostrictive sallonge suite `a lapplication dun champ magnetique axial, on observe un changement de sa section transversale. Ce phenom`ene
relie au coefficient de Poisson du materiau constitue leffet Joule transversal.
3. Leffet Villari
Cest en quelque sorte leffet longitudinal inverse. Lorsque la barre magnetostrictive
sallonge sous leffet dune force, la barre saimante (ou change son etat daimantation) en creant (ou en modifiant) un champ magnetique axial. On met `a profit ce
phenom`ene dans la fabrication de capteurs de deformation de type magnetostrictif.
4. Leffet Wiedemann
Lorsque la barre magnetostrictive est traversee par un courant electrique et quelle
est soumise a` un champ magnetique axial, on observe une deformation en torsion. On exploite ce phenom`ene dans la conception des capteurs de position ou de
deplacement.
5. Leffet Guillemin
Si on encastre a` un bout la barre magnetostrictive et que lautre bout est libre,
on observe une certaine courbure ainsi quune fl`eche. Lorsque la barre est soumise
a` un champ magnetique axial, il y a variation de courbure due `a leffet Guillemin
qui affecte les contraintes de cisaillement en presence dun champ magnetique.
6. Leffet de forme
Il sagit dun effet de variation de volume (generalement negligeable) relie `a la
geometrie de lechantillon lorsquil est soumis `a un faible champ magnetique.
7. Leffet cristal
Il sagit dun autre effet de variation de volume (aussi negligeable) observe en
presence dun fort champ magnetique.
8. Leffet E
Il sagit de leffet entranant la variation du module dYoung du materiau magnetostrictif. Ce phenom`ene induit un glissement de la frequence de resonnance de la
barre magnetostrictive.
185

Principe de fonctionnement dun capteur magn


etostrictif
Les capteurs magnetostrictifs servant a` mesurer la position ou le deplacement lineaire
sont bases sur lutilisation de leffet Wiedemann. La figure 9.9 illustre le principe de
fonctionnement de tels capteurs. Les principales composantes du capteur magnetostrictif
sont le generateur dimpulsion, le guide donde constitue dune barre ferromagnetique,
laimant mobile, le recepteur ultrasonique, le tube de protection en materiau non ferreux.
Le principe de fonctionnement est le suivant: le generateur emet une onde de courant
impulsionnelle qui se propage dans le guide donde. Lorsque laimant mobile percoit
larrivee de londe de courant, leffet Wiedemann produit localement une deformation
en torsion de la barre ferromagnetique. Il y a alors emission dune onde mecanique
impulsionnelle qui se propage le long du guide donde depuis la position de laimant
jusquau recepteur ultrasonique. Tel que decrit dans les paragraphes suivants, cette
onde se propage a` une vitesse Us .
rcepteur
ultrasonique

onde de courant
impulsionnelle
mise par le
gnrateur

barre
magntostrictive

onde mcanique
impulsionnelle
se dplaant
vitesse Us

x = Us t

S
aimant
mobile

gnrateur
d'impulsions
de courant

effet Wiedemann
produisant localement
une dformation en
torsion de la barre et
mettant une onde
mcanique impulsionnelle

tube de
protection
en matriau
non ferreux

Figure 9.9: Representation schematique dun capteur magnetostrictif fonctionnant selon le


principe de leffet Wiedemann; laimant mobile est fixe `a lobjet dont on veut mesurer le
deplacement lineaire.

Les ondes ultrasoniques


Les sons et les ultrasons sont des vibrations mecaniques de la mati`ere. Ce qui les
differencie est la frequence les caracterisant; les sons audibles sont emis dans la gamme
20 < f < 20 000 Hz alors que les ultrasons sont emis `a des frequences inaudibles pour
loreille humaine, soit dans la gamme f > 20 000 Hz. Les ultrasons se propagent `a une
vitesse qui sera fonction de la nature du milieu, independamment de la frequence de
londe. Les ultrasons se propagent donc a` la vitesse du son. Dans le cas des metaux,
on definit la vitesse du son a` partir de la masse volumique et dun module caracterisant
186

lelasticite du materiau. Sil sagit dune onde de compression, on utilisera le module


dYoung (E) et sil sagit dune onde de cisaillement, on utilisera le module de cisaillement
(G). Il y a donc differentes vitesses du son selon le type donde considere, notamment
Uc pour une onde de compression et Us pour une onde en cisaillement. On definit:
s

Uc =

et Us =

(9.1)

Pour le fer (E = 211 GPa, G = 82 GPa et = 7 860 kg/m3 ), on obtient Uc = 5 181


m/s et Us = 3 230 m/s alors que pour le nickel (E = 200 GPa, G = 76 GPa et = 8 908
kg/m3 ), on obtient Uc = 4 740 m/s et Us = 2 921 m/s. Comme leffet Wiedemann induit
une onde de torsion, celle-ci se propagera `a la vitesse Us . De plus, londe induite est une
` la limite du son
onde ultrasonique car sa longueur donde est tr`es courte ( = Us /f ). A
audible (20 kHz), la longueur donde dans un metal ferreux est de lordre de 0.15 m.
Dans le cas present, les ondes etant beaucoup plus courtes, il sagit bien dultrasons.
Le syst`eme reception de londe vise a` convertir limpulsion mecanique en signal
electrique. Comme limpulsion mecanique emise est une onde ultrasonique, le dispositif
convertissant londe mecanique en signal electrique est denomme recepteur ultrasonique.
Il est generalement constitue dune bande faite dun materiau ferreux, combinee a` un
bobinage. Dans ce cas, son principe de fonctionnement est base sur lutilisation de
leffet Villari afin de convertir limpulsion mecanique (onde de torsion) se dirigeant vers
la bande en impulsion magnetique. Sous leffet du champ magnetique genere par la
bande, le bobinage induit une impulsion de courant permettant de connatre le temps
darrivee tf de londe mecanique. Connaissant le temps de depart ti de londe de courant,
dont la vitesse de propagation est tr`es grande (vitesse de la lumi`ere), on peut determiner
la valeur du temps de propagation de londe mecanique t ' tf ti (on neglige le temps
de propagation de londe de courant).
Laimant mobile, fixe a` lobjet dont on veut mesurer le deplacement lineaire, se trouve
a` une distance x que lon obtient par la relation:
x = Us t

(9.2)

Dans un capteur reel, il y a des trains dimpulsions qui se propagent constamment


a` vitesse ultrasonique le long du guide donde. La position de laimant mobile est constamment mesuree avec beaucoup de precision par la mesure des temps de propagation
des impulsions.

187

Les capteurs magnetostrictifs sont des instruments robustes utilises dans lindustrie
pour mesurer une position ou un deplacement lineaire dans des environnements sev`eres.
Ils sont par exemple largement utilises dans les cylindres hydrauliques. Les avantages et
les inconvenients de ces capteurs sont enumeres dans les paragraphes suivants.
Avantages:
1. Sans contact,
2. Precis (1 partie dans 10 000),
3. Large gamme (jusqu`a 10 m),
4. Robuste,
5. Utilise dans des environnements sev`eres.
nients:
Inconve
1. Co
ut relativement eleve,
2. Temps de reponse.

9.6

Capteurs inductifs et capacitifs

Ces deux types de capteur forment une categorie que lon appelle les capteurs de proximite; on utilise parfois le terme proxim`etre pour les denommer. Ils peuvent servir par
exemple `a mesurer des vibrations, a` detecter la presence de parois (interrupteur logique)
ou `a construire des tachym`etres.
Capteurs inductifs
Un capteur de proximite de type inductif (figure 9.10) est compose dun ensemble
ferrite/bobinage, dun oscillateur, dun circuit de detection et dune sortie de technologie
semi-conducteur1 (solid-state output).
Loscillateur cree un champ electro-magnetique `a haute frequence. celui-ci rayonne
depuis le bobinage vers lextremite du capteur par le biais du noyau ferreux (ferrite)
qui le concentre et le dirige vers lavant. Lorsque quun objet metallique pen`etre le
1

Par opposition `
a une sortie `
a relais.

188

champ
lectro-magntique
ferrite
dtecteur

cible

oscillateur

signal
de sortie

bobinage

Figure 9.10: Representation schematique dun capteur inductif.

champ magnetique, des courants de Foucault (eddy current) sont induits `a sa surface.
Ceci resulte en une perte denergie dans le circuit de loscillateur et, par consequent
reduit lamplitude des oscillations. Le circuit de detection reconnat les changements
specifiques damplitude et qui pourra se traduire par un signal de sortie de type ON
ou OFF. Lorsque lobjet metallique quitte la region couverte par le champ magnetique,
loscillateur revient `a son etat original.
Capteurs capacitifs
Un capteur de proximite de type capacitif (figure 9.11) est compose dun oscillateur
de type RC et dun element sensible multi-electrode.

cible

A = lectrode sensible

A
B
C

oscillateur

dtecteur

signal
de sortie

B et C = lectrodes de compensation

Figure 9.11: Representation schematique dun capteur capacitif.

Les capteurs capacitifs peuvent detecter la proximite des surfaces des liquides, des
poudres ou des solides. Cette detection se fait par le biais dune mesure de changement
189

de capacitance dont la valeur depend de la constante dielectrique du materiau que lon


cherche `a detecter. Les capteurs capacitifs sont fonctionnels avec tous les materiaux dont
la constante dielectrique relative (r ) est superieure `a 1.2. Cela signifie que les materiaux
possedant une grande constante dielectrique pourront etre detectes a` de plus grandes
distances. De plus, des materiaux dont la constante dielectrique est elevee pourront
etre detectes `a travers la surface dun contenant fait dun materiau de faible constante
dielectrique. On pourra par exemple detecter un niveau deau (r = 80) `a travers un
contenant en verre (r = 10).

9.7

Encodeurs de position absolue et relative


metteurs
vue de face

dtecteurs

vue en plan

metteurs et
dtecteurs

binaire

dcimal

00000
00001
00010
00011
00100
00101
00110
00111
01000
01001
01010
01011
01100
01101
01110
01111
10000
10001
10010
10011
10100
10101
10110
10111
11000
11001
11010
11011
11100
11101
11110
11111

0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

Figure 9.12: Representation schematique dun encodeur lineaire de position absolue (5 bits).

Avantages:
1. Capteur de position absolue,
190

2. Tr`es stable,
3. Sans contact.
nients:
Inconve
1. Plage limitee,
2. Precision limitee,
3. Fragile.

dtecteur #1

index
RAZ

dtecteur #2

dplacement linaire

signal #2
signal #1
temps

Figure 9.13: Representation schematique dun encodeur lineaire de position relative.

Avantages:
1. Co
ut relativement faible,
2. Tr`es stable,
3. Precision elevee,
4. Sans contact.
nients:
Inconve
1. Fragile,
2. Capteur de position relative.

191

192

Chapitre 10
Mesure des vibrations
10.1

Quantit
es `
a mesurer et types de capteurs

Lingenieur sinteresse a` la mesure de lacceleration dans des applications aussi variees


que le design des machines ou le guidage des syst`emes en mouvement. En fait, dans
ce contexte, la mesure de quantites physiques telles que la position (deplacement), la
vitesse et lacceleration est designee en termes de mesure de choc ou dimpulsion et de
mesure de vibration. Le terme choisi est fonction du contenu frequentiel (forme donde)
de la force qui provoque lacceleration. Si la force excitatrice est de nature periodique,
on analyse lacceleration en termes de vibrations. Si elle est de courte duree et de large
amplitude, lacceleration est analysee en termes de choc ou dimpulsion.
Les syst`emes vibratoires peuvent etre caracterises comme etant lin
eaire et non
lin
eaire. Pour les syst`emes lineaires, le principe de superposition sapplique et le traitement mathematique de tels syst`emes est bien connu. Par contre, lanalyse des syst`emes
non lineaires est plus difficile et le recours a` lexperimentation est souvent requis.
Il y a aussi deux grandes classes de vibrations: les vibrations libres et forc
ees.
Un syst`eme est en oscillation libre lorsquaucune force externe nimpose ou nentretient
le mouvement vibratoire. Un tel syst`eme vibre alors `a une frequence correspondant a`
un multiple entier de ses frequences naturelles. Celles-ci dependent de la repartition
de la masse et de la rigidite du syst`eme dynamique et constituent dimportantes proprietes de ce syst`eme. Un syst`eme excite par des forces externes est en oscillation
forcee. Lorsque la force dexcitation est de nature harmonique, le syst`eme est contraint de vibrer a` la frequence de lexcitation. Si la frequence dexcitation concide avec
une des frequences naturelles du syst`eme, on peut observer le phenom`ene de resonance
et lamplitude des vibrations resultantes peut etre tr`es importante, voire dangereuse.
193

Cependant, si le syst`eme est caracterise par un coefficient damortissement relativement


grand, lamplitude des oscillations a` la resonance sera limitee.
Il existe une grande variete de techniques et de capteurs associes aux mesures de
deplacement (x), de vitesse (x)
ou dacceleration (
x). La plupart des capteurs ayant la
capacite de mesurer ces quantites mettent en oeuvre des elements sensibles appartenant
a` lune des trois classes suivantes:
Capteurs de type piezoelectrique
Capteurs bases sur lutilisation des jauges de deformation
Capteurs bases sur la mesure de la position

10.2

Capteurs s
eismiques

10.2.1

R
eponse en fr
equence

Un capteur seismique est un dispositif qui utilise le principe dune masse seismique reliee
a` une base par le biais dun ressort et dun amortisseur. La figure 10.1 illustre un tel
capteur.
sortie du
capteur

y(t)

masse
sismique

ressort

z(t)

amortisseur

x(t) mouvement de la base


= entre

Figure 10.1: Representation schematique dun capteur de type seismique. Les positions
absolues de la base et de la masse sont respectivement notees x(t) et y(t). La position relative
de la masse est definie par z(t) = y(t) x(t).

Le mod`ele mathematique decrivant la reponse de ce capteur sappuie sur la seconde


loi de Newton appliquee a` la masse seismique:
X

Fverticales = Fressort + Famort. = m y(t) avec:


194

(10.1)

Fressort = k [x(t) y(t)] = k z(t)

(10.2)

Famort. = c [x(t)
y(t)]

= c z(t)

(10.3)

En considerant y(t) = z(t) + x(t), on peut ecrire:


m x(t) = m z(t) + c z(t)
+ k z(t)

(10.4)

La reponse en frequence du syst`eme dynamique decrivant le comportement du capteur


seismique est obtenue en prenant la transformee de Fourier (TdF) de cette expression.
Avant de developper davantage, rappelons dabord la definition de la TdF (et de la
transformee inverse notee TdF1 ) ainsi que quelques unes de ses proprietes:
e de Fourier
Rappel sur la Transforme
TdF{x(t)} = X(f ) =

TdF1 {X(f )} = x(t) =

x(t) ej2f t dt

(10.5)

X(f ) ej2f t df

(10.6)

Derivees:
TdF{x(t)}

= j 2f X(f )

(10.7)

TdF{
x(t)} = j 2 4 2 f 2 X(f ) = 4 2 f 2 X(f )

(10.8)

Dapr`es la definition de la transformee de Fourier, on constate que X(f ) est un nombre


complexe; soit
X(f ) = XR (f ) j XI (f )
(10.9)
avec les parties reelle et imaginaire definies par:
XR (f ) =
XI (f ) =

x(t) cos(2f t) dt

(10.10)

x(t) sin(2f t) dt

(10.11)

On peut aussi noter X(f ) sous sa forme polaire:


X(f ) = |X(f )| ej(f )
|X(f )| =

avec

(10.12)
"

XR (f ) + XI (f ) et (f ) = tan

XI (f )
XR (f )

(10.13)

La TdF de la reponse temporelle secrit donc:


m j 2 4 2 f 2 X(f ) = m j 2 4 2 f 2 Z(f ) + c j 2f Z(f ) + k Z(f )
195

(10.14)

En considerant j 2 1 et en manipulant, on obtient la reponse en frequence H(f ) du


capteur:
Z(f )
m 4 2 f 2
=
(10.15)
X(f )
m 4 2 f 2 + k + j c 2f
Lanalyse dimensionnelle presentee a` lAnnexe D permet decrire la reponse en frequence
en fonction de la frequence naturelle fn et du coefficient damortissement :
H(f ) =

Z(f )
(f /fn )2
=
(10.16)
H(f ) =
X(f )
1 (f /fn )2 + j 2 f /fn
La reponse en frequence est une fonction complexe qui secrit sous sa forme polaire
comme ceci:
H(f ) = |H(f )| ej(f )
(10.17)
Le module |H(f )| (aussi appele le gain dans le contexte dun instrument de mesure) et
la phase (f ) secrivent comme suit:
(f /fn )2

|H(f )| = q
[1 (f /fn )2 ]2 + [2 f /fn ]2

|H(f)|

(f ) = tan

2 (f /fn )
1 (f /fn )2

(10.18)

acclromtre

= 0.1
sismomtre

= 0.707
= 1.5

0
0

8
f/fn

Figure 10.2: Gain de la reponse en frequence du mod`ele mathematique dun capteur


seismique.

Levolution du gain en fonction de la frequence normalisee par la frequence naturelle est


illustree sur la figure 10.2 pour differentes valeurs du coefficient damortissement.
196

10.2.2

Comportements asymptotiques

D
efinition du s
eismom`
etre f /fn
Lorsque la frequence naturelle de linstrument est tr`es petite par rapport au contenu
frequentiel du phenom`ene vibratoire que lon doit mesurer (fn  f ), on constate que

f
1
fn

!2 2

f
fn

!4

et

f
fn

!4

"

f
 2
fn

#2

(10.19)

et on obtient alors
(f /fn )2
|H(f )| q
=1
(f /fn )4

et

(f ) = tan1 (0) = 0 ou .

(10.20)

Dans le cas present, on doit choisir (f ) = car f /fn est eleve. Cela signifie que
H(f ) = |H(f )| ej = 1 (cos() j sin()) = 1 Z(f ) = X(f )
z(t) = x(t) y(t) x(t) = x(t) y(t) = 0

(10.21)
(10.22)

On observe donc que y(t) = 0, ce qui signifie que la masse seismique demeure immobile
alors que la base se deplace (voir les conventions illustrees sur la figure 10.1). Les
instruments suivant ce comportement sont denommes s
eismom`
etres (figure 10.3). La
gamme de frequences dans laquelle on les utilise est identifiee sur la figure 10.2.

Figure 10.3: Ilustration dun seismom`etre commercial. Caracteristiques: frequence naturelle


nominale = 1 Hz, hauteur = 305 mm, diam`etre = 140 mm, masse totale = 5 kg.

197

Quelques informations:
Les seismom`etres sont generalement de dimension relativement importante et,
selon le montage considere, cela peut parfois constituer un desavantage considerable.
La gamme typique de frequences naturelles est de 1 a` 5 Hz et la gamme de
frequences utile a` la mesure des vibrations est de 10 a` 2000 Hz.
Les deplacements typiques mesurables sont de lordre de 5 mm crete `a crete.
Le seismom`etre utilise par la NASA dans son programme lunaire avait les caracteristiques suivantes: fn = 1 Hz, deplacement crete `a crete de 2 mm, diam`etre de
150 mm et masse totale de 5 kg.

D
efinition de lacc
el
erom`
etre f /fn  1
Lorsque la frequence naturelle de linstrument est tr`es grande par rapport au contenu
frequentiel du phenom`ene vibratoire que lon doit mesurer (fn  f ), on constate que
f
1
fn

!2

"

et

f
2
fn

#2

1

(10.23)

et on obtient alors
|H(f )|

(f /fn )2

= (f /fn )2
1

(f ) = tan1 (0) = 0 ou .

et

(10.24)

Dans le cas present, on doit choisir (f ) = 0 car f /fn est petit. Cela signifie que
H(f ) = |H(f )| e0 = (f /fn )2 Z(f ) =
TdF1 z(t) =

1 2
f X(f )
fn2

(10.25)

x(t) z(t) x(t)


(10.26)
4 2 fn2
On observe donc que la sortie du capteur est directement proportionnelle a` lacceleration
de la base (voir la figure 10.1). Les instruments suivant ce comportement sont denommes
acc
el
erom`
etres. La gamme de frequences dans laquelle on les utilise est identifiee sur
la figure 10.2.
Il est utile de refaire ici une partie des developpements mathematiques dej`a faits
pour le capteur seismique, en considerant cette fois lacceleration de la base au lieu de
son deplacement. En reprenant la somme des forces exprimee precedemment, on peut
ecrire:
c
k
x(t) = a(t) = z(t) +
z(t)
+
z(t)
(10.27)
m
m
198

c
k
j 2f Z(f ) +
Z(f )
m
m
En manipulant et en introduisant les notations de fn et , on obtient:
A(f ) = j 2 4 2 f 2 Z(f ) +

HA (f ) = 4 2 fn2

(10.28)

Z(f )
1
=
2
A(f )
1 (f /fn ) + j 2 f /fn

(10.29)

Le gain et la phase secrivent alors:


1

A (f ) = tan1

|HA (f )| = q
[1 (f /fn )2 ]2 + [2 f /fn ]2

2 (f /fn )
1 (f /fn )2

(10.30)

Notons que la phase A (f ) est la meme que celle obtenue pour le capteur seismique. La
figure 10.4 illustre levolution du gain |HA (f )| en fonction de la frequence normalisee et
ce, pour differentes valeurs du coefficient damortissement.
|HA(f)|

20 log (|HA(f)|)

= 0.2

= 0.1

10

1.4
= 0.707

= 0.4

1.2
= 1.5

-10

= 0.707

0.8

-20

=1

0.6

-30

= 1.5
-1

log(f/fn)

0.4

0.2

0.4

0.6

0.8

f/fn

Figure 10.4: Reponse en frequence du mod`ele mathematique dun accelerom`etre.

Quelques informations:
Pour un accelerom`etre caracterise par une faible valeur du coefficient damortissement (ex.: type piezoelectrique,  1), on constate que la gamme de frequences
utile est limitee a` environ f /fn 0.06 (voir la figure 10.4) Lorsque la valeur de
est voisine de 0.7, on peut considerer la plage de validite comme etant f /fn 0.2.
Un accelerom`etre de type piezoelectrique est caracterise par un tr`es faible coefficient damortissement et une frequence naturelle tr`es elevee. La gamme de
frequences utile de ce type daccelerom`etre est donc limitee a` f /fn 0.06. Pour un
accelerom`etre de ce type dont la frequence naturelle est par exemple de 50 000 Hz,
la gamme de frequences utile est de f 3000 Hz.
199

Lorsque cest possible, on a interet `a fabriquer un accelerom`etre avec une valeur de


qui optimise la largeur de la gamme de frequences utile. Le choix de = 0.707,
lamortissement critique, donne une gamme optimale denviron f /fn 0.2.
Un accelerom`etre de type electromagnetique, par exemple, sera concu en respectant
la r`egle precedente. Un tel accelerom`etre caracterise par = 0.707 et fn = 100 Hz
aura donc une gamme de frequences utile de f 20 Hz.

10.3

Acc
el
erom`
etres de type pi
ezo
electriques

10.3.1

Leffet pi
ezo
electrique

Sous leffet dun champ electrique, certaines structures cristallines tel le quartz subissent
une deformation des liens inters atomiques. Il en resulte une variation dimensionnelle
mesurable. Cette propriete est dite piezoelectrique. La figure 10.5 presente une source
de tension utilisee pour polariser un cristal de quartz. La presence du champ electrique
provoque un deplacement des charges electriques aux extremites du cristal. Certains
materiaux ceramiques composes dalumine ont une grande possibilite de deformation.
Ces materiaux sont employes pour realiser des actuateurs lineaires, utilises en nanotechnologies pour le positionnement et lusinage. Les ceramiques piezoelectriques servent a`
construire des emetteurs ultrasoniques de forte puissance. Les ultrasons sont utilises pour
le nettoyage, le polissage et meme le soudage de materiaux en plastique. Lagencement
des actuateurs permet de realiser des micromoteurs rotatifs puissants et compacts. Les
materiaux piezoelectriques sont tr`es rigides.
Q = charge
dplace

dformation
mcanique

+ + + + + +
+

Quartz

dformation
mcanique

- - - - - -

champ
lectrique

Figure 10.5: Schema illustrant un actuateur piezoelectrique.

Leffet piezoelectrique est reversible. Lapplication dune force provoque une deformation du reseau cristallin et un deplacement de charge vers la surface (figure 10.6). La
charge Q est proportionnelle a` la force appliquee. La rigidite du quartz utilise comme
200

capteur de force permet de realiser des capteurs de pression et des accelerom`etres ayant
une frequence de resonance tr`es elevee. La compagnie KISTLER a concu un capteur de
pression utilise pour mesurer la pression dans une chambre `a combustion dun moteur a`
piston. Le capteur dune capacite de 5000 psi poss`ede une bande passante de 500 kHz.
force
+ + + + + +Q
+
+

Quartz

symbole

- - - - - -

Figure 10.6: Schema illustrant un capteur piezoelectrique.

10.3.2

Raccordement avec circuit int


egrateur: lamplificateur
de charge

Le capteur piezoelectrique gen`ere une charge electrique. Pour convertir le signal en tension, il est possible de placer un condensateur aux bornes du capteur, tel quillustre sur
la figure 10.7.

F(t)

Ccapteur

Cmesure

v(t)

Ccblage

Figure 10.7: Schema raccordement de base dun capteur piezoelectrique.

La tension observee aux bornes du condensateur de mesure est:


v(t) = Q/(Ccapteur + Ccablage + Cmesure )

(10.31)

Cette equation demontre quil est difficile dimposer une valeur calibree de capacitance.
Pour contourner le probl`eme, il est possible dutiliser un circuit integrateur tel quillustre
sur la figure 10.8.

201

i(t) = dQ(t)/dt
F(t)

C
i=0

v(t) = 0

vo(t)

Figure 10.8: Schema dun amplificateur de charge.

Q(t)
1 Z
vo (t) =
=
i(t) dt
(10.32)
C
C
La charge Q est lintegrale du courant debite par le capteur. La tension aux bornes
du capteur demeure nulle. Les capacites en aval du capteur ne cumulent aucune charge
et ninfluencent pas la mesure. Le facteur de calibration depend du condensateur C en
retroaction. Ce circuit de conditionnement est appele amplificateur charge.
Certaines compagnies telles que PCB int`egrent lamplificateur de charge dans le capteur. Le capteur est alimente par une source de courant (4 mA), la tension en sortie est
proportionnelle `a grandeur physique `a mesurer.

10.3.3

Description dun acc


el
erom`
etre de type pi
ezo
electrique

La figure 10.9 illustre differents accelerom`etres de type piezoelectrique. Le schema


du centre de la compagnie PCB - est muni dun amplificateur de charge integre.
Laccelerom`etre de droite est commercialise par Endevco (associe `a Br
uel et Kjr).
botier

crou
masse
sismique
montant
lment
piezolectrique

Figure 10.9: Illustrations daccelerom`etres piezoelectriques.

202

Annexes

203

204

Annexe A
Exercices
Chapitre 1
1.1 On effectue 5 mesures de temperature dans une chambre maintenue a` temperature
constante. Les resultats sont les suivants:
T1 = 20.1 C T2 = 20.2 C T3 = 19.7 C T4 = 19.8 C et T5 = 20.2 C

Ecrire
la valeur moyenne ainsi que la precision de la mesure sous la forme T 
avec une probabilite de 95% dinclure la vraie valeur. On suppose que lerreur de
biais est nulle.
1.2 Une machine fabrique de petites pi`eces dont lepaisseur est de 1 mm. La production
dans son ensemble presente un ecart type de 0.1 mm sur lepaisseur des pi`eces. Si
on prel`eve 40 pi`eces au hasard, determiner la probabilite quen empilant les pi`eces
la hauteur de la pile soit comprise entre 33.26 et 46.74 mm.
1.3 Calculer la transformee de Laplace de la fonction
f (t) = e2t (3 cos 6t 5 sin 6t)
1.4 Calculer la transformee de Laplace inverse de la fonction
F (s) =

s2

3s + 7
2s 3

1.5 Determiner la fonction de transfert du syst`eme dont les signaux dentree et de


sortie sont relies par lequation differentielle suivante (conditions initiales nulles):
d2 y
dy
dx
+
3
+
2y
=
x
+
dt2
dt
dt
205

1.6 On effectue letalonnage dynamique dun instrument du premier ordre a` laide dun
signal dentree de type echelon dont lamplitude est de 100 unites (on consid`ere
K = 1). Apr`es 1.2 secondes, linstrument indique une valeur de 80 unites.
a) Estimer la constante de temps de linstrument.
b) Estimer lerreur de la valeur indiquee par linstrument apr`es 1.5 secondes,
sachant que y(0) = 0 unites.
1.7 Considerons un instrument du premier ordre que lon soumet a` un signal dentree en
echelon. Il faut un temps de 0.5 seconde pour que le signal de sortie de linstrument
atteigne 80% de sa valeur finale (ou reponse statique). Determiner est la constante
de temps de linstrument.
1.8 On effectue letalonnage dynamique dun instrument du premier ordre en utilisant un signal dentree sinusodal damplitude xiA = 10 unites. Pour differentes
frequences du signal dentree, on enregistre les resultats suivants:
f (Hz) Amplitude du signal
de sortie Vo (V)
10
100
100
100
1 000
31.62
10 000
3.162
a) Quelle est la frequence de coupure de linstrument ?
b) Quelle est la constante de temps de linstrument ?
c) Quelle est la sensibilite statique de linstrument ?
1.9 Un instrument du premier ordre reagit selon lequation suivante:
50vo + 0.002

dvo
= xi
dt

a) Quelle est la frequence de coupure de linstrument ?


b) Quelle est la sensibilite statique de linstrument ?
c) Tracer le diagramme de Bode representant le gain de la reponse en frequence
de linstrument (v0 /xi en dB vs log f ).

206

Chapitre 2
2.1 Soit le circuit de la figure suivante.
i

vi

vo

a) Determiner limpedance Zeq. de ce circuit dans le domaine de Fourier.


b) Determiner la reponse en frequence H() (on consid`ere des tensions harmoniques).
c) Determiner le gain de la reponse en frequence.
d) Quel est le gain de la reponse en frequence pour = 0 et pour ?
e) Quelle est la frequence de coupure du filtre (fc en Hertz) ?
f) Tracer le graphique du gain de la reponse en frequence en fonction de la frequence
normalisee (/c ). De quel type de filtre sagit-il ?
2.2 Soit le filtre passe bande du deuxi`eme ordre de la figure suivante.
i

vi

vo

a) Determiner la reponse en frequence H() (on consid`ere des tensions harmoniques).


b) Determiner le gain de la reponse en frequence.
c) Reecrire lexpression du gain de la reponse en frequence en introduisant les
expressions exprimant la frequence naturelle, la frequence de resonance et le facteur
de qualite:
1
1
n
r =
Q=
n =
RC
r
LC
d) Quel est le gain de la reponse en frequence pour et pour = r ?
e) Tracer le graphique du gain de la reponse en frequence en fonction de la frequence
normalisee (/n ) pour un facteur de qualite Q = 10.
2.3 Repeter lexercice precedent en utilisant le circuit de la figure suivante. Le filtre
est de type Notch.
207

R
L

vi

vo
C

Ce filtre est tr`es interessant lorsquil faut eliminer une composante frequentielle se
trouvant dans la zone dynamique dinteret (exemple le 60 Hz). Ce type de filtre
est frequemment utilise dans les syst`emes asservis.

2.4 Soit le circuit de la figure suivante utilisant un amplificateur operationnel ideal.

Z2
Z3
Z1
vi

+
vo

a) Determiner de la reponse en frequence H() = f (Z1 , Z2 , Z3 ) (on consid`ere des


tensions harmoniques).
Pour les questions b) a` e), posons Z1 comme etant une resistance R1 , Z2 une
resistance R2 et Z3 un condensateur C.
b) Determiner la reponse en frequence H() (on consid`ere des tensions harmoniques).
c) Determiner le gain de la reponse en frequence.
d) Quel est le gain de la reponse en frequence pour = 0 et pour ?
e) Quelle est la frequence de coupure du filtre (fc en hertz) ?
f) Tracer le graphique du gain de la reponse en frequence en fonction de la frequence
normalisee (/c ) pour R2 = R1 . De quel type de filtre sagit-il ?
208

Chapitre 3
3.1 On effectue une campagne dessais `a laide dune chane dacquisition de donnees
configuree de la facon suivante:
Frequence dechantillonnage:
50 kHz
Resolution du convertisseur A/N: 0.1526 mV/bit
Mode bipolaire avec EF SR =
5 V
On realise `a laide de cette chane des echantillons dune duree de 10 secondes
chacun. Calculer le nombre maximum dechantillons que lon peut sauvegarder
sur un disque rigide dune capacite de 40 G-octets (40 GB).
3.2 Considerons une camera CCD donnant des images numerisees de 512 512 pixels
et fonctionnant en noir et blanc.
a) Determiner la vitesse minimale du convertisseur A/N necessaire pour que la
camera puisse fournir 24 images par seconde.
b) Chacun des pixels est code suivant son niveau de gris. Si le convertisseur A/N
permet de coder 256 niveaux de gris (0 = noir et 255 = blanc), calculer lespace
memoire (en MB) occupe par un film durant 1 minute.
3.3 On desire echantillonner un signal sinusodal dont la frequence est de 32 Hz.
a)Quelle doit etre la frequence minimum du syst`eme dacquisition de donnees ?
b) Si on echantillonne le signal a` une frequence de 50 Hz, quelle sera la frequence
du signal mesure ?
3.4 Considerons le signal analogique suivant:
x(t) = sin 43.98t + sin 69.12t
Identifier le contenu frequentiel du signal discret resultant dun echantillonnage
effectue a` fech. = 10 Hz.
3.5 On desire mesurer des tensions provenant dune sonde de temperature thermocouple. Sachant que les tensions a` mesurer sont de lordre de 1 mV, avec des variations
significatives inferieures a` 0.1 mV, est-il approprie dutiliser un convertisseur A/N
ayant une gamme dentree de 5 V a` +5 V et une quantification numerique sur
12 bit ?
209

3.6 Un convertisseur N/A codant sur 4 bits est concu pour fournir une tension de
sortie analogique dans la gamme 0 10 V. Les resistances du circuit en parall`ele
ont des valeurs de R = 3 et la resistance utilisee dans lamplificateur lineaire a
une valeur de Rr = 8 .
a) Determiner la tension de reference Eref .
b) Determiner la tension de sortie correspondant a` lentier de valeur decimale 9
envoye comme commande dentree numerique.

Chapitre 4
4.1 Parmi les densites de probabilites illustrees ci-dessous, identifier celle qui a:
a) Le coefficient daplatissement le plus eleve.
b) Un coefficient de dissymetrie negatif.
c) Une valeur la plus probable inferieure a` la valeur moyenne.

p(x)
d

c
a

x-x
4.2 Calculer le coefficient 6 pour une densite de probabilites Gaussienne.
4.3 Considerons la densite de probabilites triangulaire suivante:

p(x) =

n12 x +
1
x
n2

1
n

1
n

0xn
n x 0

Determiner la valeur du coefficient daplatissement de cette distribution.


210

4.4 On trace lhistogramme representant la repartition de N = 46 donnees experimentales:

ni

N=

14

ni = 46

x = 5.413

2
2

2
3

2
9

1
10

1
11

` partir de cette repartition, calculer le coefficient de dissymetrie de cet echantillon.


A
` partir des equations normales, ecrire les expressions determinant la valeur des
4.5 A
coefficients a0 et a1 de la regression des moindres carres de la forme ye = a0 + a1 x
pour un echantillon de N valeurs de xi et N valeurs de yi .
4.6 Considerons les 5 valeurs xi = 1.12 2.03 2.97 4.03 5.07 ainsi que les 5 valeurs
yi = 2.99 5.10 7.08 8.95 11.12.
a) Calculer la regression lineaire des moindres carres de la forme ye = ax + b.
b) Calculer le coefficient de correlation lineaire rxy = sxy /(sx sy ).
c) Calculer le coefficient de regression generalise rye y .
d) Verifier que ye = y.
e) Verifier que ye = ax + b.

4.7 Ecrire
lequation determinant la valeur de m pour une regression de type ye = mx.
4.8 Demontrer que pour une regression lineaire, on peut ecrire: rxy = rye y .

211

Chapitre 5
5.1 Considerons la figure suivante. Pour une temperature de jonction T1 = 50 C
identifier les schemas qui sont exacts.
a)

b)

c)

T1

T1
Cu-Ni

T1

Fe

Fe

Ni-Al

Cu-Ni

Ni-Cr

Fe

Cu-Ni

v = 2.268 mV

Ni-Cr

v = 2.585 mV

v = 2.585 mV

bain de glace

bain de glace

e)

d)
T1

T1
Ni-Al

Fe

Ni-Cr

Cu-Ni

Ni-Cr

Cu-Ni

v = 2.022 mV

v = 2.585 mV

bain de glace

5.2 Considerons des thermocouples de type J et K que lon utilise `a des temperatures
T1 = 90 C et T2 = 25 C (jonction froide). Estimer lerreur relative commise si
on utilise une relation du type vvoltm`etre = v(T1 T2 )etalonnage NBS .
5.3 Un thermocouple de type J est branche comme suit:

T1

Fe

J1

Cu

Cu-Ni

Fe

Cu

J2

bain de glace
Le voltm`etre donne une lecture de 9.667 mV. Sachant que la jonction J2 est a`
T2 = 0 C, determiner la temperature T1 de la jonction J1 .
212

5.4 Considerons des thermocouples de type J et K mesurant une temperature T1 =


200 C. Pour une temperature de jonction froide T2 = 20 C, montrer que lon ne
peut utiliser la relation vvoltm`etre = v(T1 T2 )etalonnage NBS que si , le coefficient
deffet Seebeck, est approximativement constant sur cette plage de temperature1 .
5.5 Sachant que nest pas constant sur la plage de 0 a` 180 C, determiner la lecture
du voltm`etre du probl`eme #5.3 pour T1 = 180 C et T2 = 30 C.
5.6 Considerons un thermocouple de type K que lon utilise dans une plage o`
u est
constant. On sen sert pour mesurer deux temperatures T1A et T1B . La temperature
A est de 75 C et le voltm`etre donne une lecture de 2.436 mV; la temperature B
est inconnue et le voltm`etre donne 4.302 mV. Determiner T2 , la temperature de la
jonction froide, qui est la meme pour les cas A et B, ainsi que la temperature T1B .
5.7 a) Quelle doit etre la resistance nominale dune sonde RTD en Nickel pour quelle
presente la meme sensibilite statique quune sonde de platine de classe IEC/DIN ?
b) Montrer que pour 2 sondes RTD qui presentent la meme sensibilite statique,
lerreur commise sur la temperature en utilisant un cable de resistance Rc en configuration `a 2 fils est la meme.
c) Calculer lerreur commise sur la mesure dune temperature de 25 C si Rc = 4.

Chapitre 6
6.1 a) Calculer la profondeur maximale `a laquelle il est possible de pomper de leau
dune nappe souterraine avec une pompe `a succion disposee au niveau du sol.
On suppose que la surface libre de la nappe deau est soumise a` une pression
atmospherique de 101 kPa et que leau est a` 20 C.
b) Si on mesure la pression a` lentree de la pompe avec un capteur absolu alors
quon tente de pomper de leau depuis une profondeur de 15 m, quelle sera la
pression mesuree par le capteur ?
6.2 Un capteur de pression dont letendue de mesure est de 2 po deau est utilise pour
mesurer des vitesses decoulement avec un tube de Pitot. La precision du capteur
est de 1 % de son etendue de mesure.
a) Calculer la vitesse maximum mesurable dans leau.
1

Voir le graphique de vs T de la section 5.4.

213

b) Calculer lerreur sur la vitesse mesuree si la vitesse est 10 % de la vitesse


maximum mesurable.
6.3 Un reservoir hermetique peut contenir un volume de 10 m3 deau. La section
du reservoir est de 3.2 m2 , et lair contenu au-dessus de la surface libre peut
etre pressurise jusqu`a 50 kPa. Un capteur de pression p1 dont la reference est
la pression atmospherique permet la mesure du niveau `a partir dune prise deau
situee au fond du reservoir. Un deuxi`eme capteur p2 dont la reference est egalement
la pression atmospherique, permet la mesure de la pression au-dessus de la surface
libre.

a) Ecrire
la relation reliant le niveau h aux autres param`etres.
b) Determiner letendue de mesure minimum que doit presenter le capteur p1 .
c) Considerant que le capteur choisi presente une precision de 0.1 % de son etendue
de mesure, quelle sera la precision correspondante sur le volume contenu dans le
reservoir ?

Chapitre 7
7.1 On utilise un debitm`etre de type orifice dans un tuyau de 250 mm de diam`etre.
Sachant quil y a un coude de 90 situe `a une distance de 4.5 m en amont de
lorifice, determiner le diam`etre que doit avoir lorifice (faire le calcul pour quil
ny ait aucune incertitude additionnelle).
7.2 On utilise un debitm`etre de type orifice dans un tuyau de 100 mm de diam`etre
dans lequel secoule de leau `a un debit de 50 l/s. On consid`ere les caracteristiques
suivantes:
orifice: = 0.5
prises de pression: flange tapping
eau: = 999 kg/m3
= 1 106 m2 /s
Estimer la difference de pression mesuree par ce debitm`etre.
7.3 Un debitm`etre de type turbine est installe dans un conduit de 100 mm de diam`etre.
` un rayon de 75 mm, langle
Le diam`etre du moyeu de la turbine est de 30 mm. A
des pales de la turbine est de 20 degres. La turbine tourne a` 200 RPM. Calculer
le debit.
214

7.4 Considerons un rotam`etre. Montrer que la section de passage de lecoulement doit


augmenter lineairement avec la hauteur pour que lechelle verticale du debit soit
lineaire.

Chapitre 8
8.1 Considerons un pont de Wheatstone initialement `a lequilibre, avec une jauge de
resistance nominale R = 350 (1/4 de pont) et un facteur de jauge K = 1.8. La
jauge est montee axialement sur une tige daluminium dont la section est de 1 cm2
(E = 70 GPa). Lorsque lon charge axialement la tige, la tension de sortie du pont
est de 1 mV (tension dalimentation Ei = 5 V). Determiner la charge appliquee.
8.2 Considerons une poutre soumise a` une charge axiale et `a un moment de flexion.
On desire utiliser deux jauges montees en demi-pont.
a) Comment doit-on les disposer sur la poutre et dans le pont pour obtenir un
ensemble sensible `a la charge axiale seulement.
b) Comment doit-on les disposer sur la poutre et dans le pont pour obtenir un
ensemble sensible au moment de flexion seulement.
c) Pour chacun des cas a) et b), etablir la relation entre la charge et la tension de
sortie du pont (le moment dinertie de la poutre est note Iz , la section est notee
A, la distance entre laxe neutre et les surface est notee Y et le module de Young
est note E).
8.3 Deux jauges (K = 2 et R = 120 ) sont montees en demi-pont en R1 et R4
(branches opposees). Elles sont disposees sur une pi`ece qui subit une contrainte
axiale. Pour une tension dalimentation Ei = 4 V et une tension de sortie de
120 V, estimer lelongation de la pi`ece (). Calculer la variation de resistance
electrique de chaque jauge.
8.4 Une jauge dont la resistance nominale est de 350 et le facteur de jauge est de
1.9 est collee sur une pi`ece dacier. Le facteur dexpansion thermique de la jauge
est 3 106 m/m C. Si la jauge a ete collee sur la pi`ece dacier a` une temperature
de 25 C, calculer la variation de resistance de la jauge due `a la temperature si
lensemble est soumis a` une temperature de 60 C. Le coefficient dexpansion
thermique de lacier est de 12 106 m/m C.
215

8.5 Considerons une cellule de charge de type poutre en cisaillement. La section de


mesure comporte 4 jauges connectees en pont complet, et collees suivant les directions des contraintes principales.

a) Ecrire
lexpression donnant vm en fonction des param`etres Ei , K et  , la
deformation en cisaillement a` 45 .

b) Ecrire
lexpression reliant la force appliquee a` la deformation mesuree 

Chapitre 9
9.1 Les capteurs optiques utilisant le principe de nappe laser sont utilises pour controler
les dimensions de pi`eces de precision produites `a la chane. Dans le cas de pi`eces
dont les dimensions sont comprises entre 1 et 5 cm, la resolution requise est de
5 106 m. Pour un tel instrument muni dune matrice de photodetecteurs:
a) Calculer le nombre de photodetecteurs.
b) Quelle doit etre la resolution du convertisseur ?
c) Calculer la vitesse requise du convertisseur, pour une bande passante de 1 kHz.

Chapitre 10
10.1 Un seismom`etre a les caracteristiques suivantes: fn = 4.75 Hz et = 0.65.
Determiner la plus basse frequence au del`a de laquelle lerreur de mesure devient
inferieure a`:
a) 1 % et b) 2 %.
Note: pour resoudre ce probl`eme, il est suggere de tracer la reponse en frequence
du syst`eme.
10.2 On fabrique une accelerom`etre a` laide dun cristal piezoelectrique ayant une
rigidite k = 1.8 109 N/m. On utilise une masse totale (cristal + seismique
+ ...) m = 18.238 grammes. Calculer la frequence naturelle de cet accelerom`etre
(en Hertz).
10.3 Un accelerom`etre de type piezoelectrique (coefficient damortissement ' 0)
mesure pour une frequence de vibration de 4000 Hz, une acceleration n2 Z(f ) =
10 m/s2 . Sachant que la valeur vraie de lacceleration est A(f ) = 9.6 m/s2 ,
determiner la frequence naturelle de cet instrument.
10.4 Laccelerom`etre du probl`eme precedent poss`ede un coefficient damortissement =
0.03, valeur typique associee aux accelerom`etres piezoelectriques. Verifier que le
fait davoir considere ' 0 etait une hypoth`ese justifiee.
216

R
eponses des exercices
1.1 20 0.29 C

1.8 a) fc = 316.2 Hz
b) = 5 104 sec.

1.2 90 %
1.3 F (s) =

c) K = 10 V/unite

3s 24
s + 4s + 40
2

1.9 a) fc = 3.98 kHz

1.4 f (t) = 4e3t et

b) K = 0.02

1
1.5 H(s) = s +
2

c)

20 log (vo /xi)


3.6

1.6 a) = 0.746 sec.

-20
-54

1.7 = 0.311 sec.

1 + R C j
C j

b) H() =

e) fc =

RC
RC j

c) |H()| = q

log f

1
-34

b) Erreur = 13.4%

2.1 a) Zeq. =

4.6

f)

pente
-20 dB/dcade

1
2 R C

20 logH

-10

RC
(R C )2 + 1

-20
-30

d) |H()|=0 = 0 ; |H()|= = 1

0.1

10

100

Il sagit dun filtre passe haut.


2.2 a) H() =

RC
R C + (L C 2 1)j

b) |H()| = q

e) H 1

RC

0.8

(R C )2 + (L C 2 1)2

0.6
0.4
0.2

/n

c) |H()| = s
h

i2



Q n

2

2

d) |H()|=0 = 0 ; |H()|= = 0 ; |H()|=r = 1


217

0.05

0.1

0.15

0.2

2.3 a) H() =

1 L C 2
1 L C 2 + R C j

e) H 1
0.8

b) |H()| = q

|1 L C |

0.6

(1 L C 2 )2 + (R C )2

0.4
0.2



2

1 Q


n


2 2 h

c) |H()| = s
1 Q n

0.05

0.1

0.15

0.1

10

0.2

i2

d) |H()|=0 = 1 ; |H()|= = 1 ; |H()|=r = 0

2.4 a) H() =

Z2 Z3
Z1 Z2 + Z1 Z3

R2
b) H() =
R1


c) |H()| =

f)

20 log
0
-10

1
R2 C j + 1

-20
-30
-40

R2
1
q
R1 1 + (R2 C )2

-50

100

Il sagit dun filtre passe bas.


d) |H()|=0

e) fc =

R2
=
; |H()|= = 0
R1

1
2 R2 C

3.4 Le signal echantillonne est vu comme


un signal compose des frequences
f1 = 3 et f2 = 1 Hz.

3.1 40 000 echantillons


3.2 a) fech. = 6.3 MHz
b) 378 MB

3.5 non, resolution de 2.44 mV/bit

3.3 a) fech. min. = 64 Hz


b) f = 18 Hz

3.6 a) Eref. = 2 V
b) vo = 6 V

218

4.1 a) a

4.6 a) a = 2.0286, b = 0.8728

b) c

b) rxy = 0.9990

c) d

c) rye y = 0.9990
d) y e = y = 7.048

4.2 6 = 15

e) y e = ax + b = 7.048

4.3 4 = 2.4
4.4 S = 0.790
N
X

4.5
a1 =

N
X

4.7
m=
xi y i N x y

i=1
N
X

xi y i

i=1
N
X

x2i

i=1

x2i N x2

i=1

a0 = y a1 x
avec x =

N
N
1 X
1 X
xi et y =
yi
N i=1
N i=1

5.1 d) et e)

5.5 vvoltm`etre = 8.132 mV

5.2 erreur relative = 1.4% pour le type


K et 1.9% pour le type J

5.6 T2 = 15 Cet T1B = 120 C


5.7 a) R0 = 56.6 c) erreur = 42 %

5.3 T1 = 180 C

6.3 a) h = (p1 p2 )/g

6.1 a) h = 10.077 m
b) pv = 2.338 kPa

b) 80.64 kPa
c) 26 litres

6.2 a) 0.71 m/s


b) erreur = 41 %

7.1 dorif ice = 150 mm


7.2 p = 8.3 105 Pa
7.3 0.016 m3 /s

219

8.1 = 0.031 GPa


8.2 a) jauges opposees dans le pont
(ex.: 1 et 4) montees axialement
sur des faces opposees de la poutre
b) jauges adjacentes dans le pont
(ex.: 1 et 2) montees axialement

8.2 c) a: vm = (K Ei /2AE) Fa et
b: vm = (K Ei Y /2Iz E) Mf
8.3 = 3 105 et R = 0.0072
8.4 0.209
8.5 a) vm = Ei K

sur des faces opposees de la poutre

9.1 a) 104 photodetecteurs


b) 14 bit
c) 1 kHz

10.1 a) 15.9 Hz
b) 7.45 Hz
10.2 fn = 50 000 Hz
10.3 fn = 20 000 Hz

220

Annexe B
Rappel sur les probabilit
es et les
statistiques
B.1

Construction dun histogramme

Amplitude x(ti )

Considerons un echantillon discret x(ti ) constitue de N points dont lamplitude est


fonction du temps ti (i = 1 `a N ). Pour construire lhistogramme de ce signal, on divise
dabord lechelle damplitude en Nc intervalles ou classes de largeur x. Dans lexemple
de la figure B.1, on a choisi dutiliser Nc = 101 classes avec x = 0.17. Le seconde etape
de la procedure consiste a` compter le nombre doccurrences nk du signal compris dans
chacune des classes k (avec 1 k Nc ).
45

45

40

40

x
35

30

Nc Classes

35

0.1

0.2

0.3

0.4

0.5

0.6

0.7

0.8

0.9

Temps ti (sec)

100

200

300

400

500

Occurrence nk

Figure B.1: Schema illustrant la construction dun histogramme; le signal discret est constitue
de N = 10 240 points et lhistogramme est construit avec 101 classes.

Lhistogramme doit respecter les proprietes suivantes:


Nc
X

nk = N

k=1

Nc
X

nk
= 1,
k=1 N

o`
u le terme nk /N represente la frequence doccurrence.
221

(B.1)

B.2

Densit
e de probabilit
es

La probabilite P (xk ) quun evenement damplitude xk se produise (xk etant inclus dans
lintervalle k de largeur x) est definie a` partir de la frequence doccurrence observee
sur un echantillon de taille infinie:
nk
(B.2)
N N
La densite de probabilites p(x) est definie `a partir de lhistogramme, en considerant
une largeur de classe infinitesimale (x 0) et un echantillon de taille infinie (N ).
On obtient ainsi:
P (xk ) = lim

p(x) = lim

x0

P (xk )
= lim
N
x

x0

nk
N x

(B.3)

La relation (B.1) permet decrire lintegrale de la densite de probabilite comme suit:


Z

Nc 
X

p(x) dx = lim

x0 k=1

nk
1
N x


(B.4)

Cette relation tr`es importante indique que lintegrale de la densite de probabilite est
unitaire.

B.3

Esp
erance math
ematique

Lesperance mathematique dune quantite quelconque associee a` une variable aleatoire


est definie comme suit:
Z
( ) p(x) dx
(B.5)
E[( )] =

Il est important de noter que loperateur E[ ] est un operateur lineaire. Ainsi, on aura
E[a(b + c)] = a (E[b] + E[c]).
` partir de cette definition, lesperance mathematique de x, representant la valeur
A
moyenne (), est exprimee par:
E[x] =

x p(x) dx

(B.6)

De la meme facon, lesperance mathematique de (x )2 representant la variance ( 2 )


est definie comme suit:
2

E[(x ) ] =

(x )2 p(x) dx

Notons enfin que lecart-type est defini par la racine carree de la variance.
222

(B.7)

B.4

Variable centr
ee et r
eduite

Il est souvent tr`es utile dexprimer les quantites statistiques en fonction de la variable
centree et reduite definie comme suit:
z=

(B.8)

On demontre facilement que E[z] 0 et que E[z 2 ] 1. En effet:




E[z] = E

x
1
1
= (E[x] E[]) = ( ) 0


(x )2
1 
1 2
2
E[z ] = E
=
E[(x

)
]
=
1
2
2
2
"

et

La relation (B.4) indique que lintegrale dune densite de probabilite est unitaire et
ceci est valable, que la variable aleatoire soit brute ou quelle soit centree et reduite.
Ainsi,
Z

p(x) dx =

p(z) dz 1

(B.9)

Selon la definition (B.8) de la variable centree et reduite, on a: dz = dx/. Cette


expression introduite dans la relation (B.9) impose donc que p(z) = p(x).

B.5

La distribution normale ou Gaussienne

On dit quune variable aleatoire suit une distribution normale ou Gaussienne si sa densite
de probabilites est definie par la relation suivante:
1
2
2
p(x) = e(x) /2 ,
(B.10)
2
o`
u, tel quintroduit precedemment, et representent respectivement lesperance mathematique et lecart-type de la variable aleatoire. En utilisant la notation de variable
centree et reduite, on obtient:
1
2
(B.11)
p(z) = ez /2 ,
2
Le graphique de la distribution normale centree et reduite est presente sur la figure B.2.

223

p(z)
0.4

0.3

0.2

0.1

p(z) dz = 1

0
-4

-2

Figure B.2: Distribution normale ou Gaussienne centree et reduite.

Probabilit
e que la valeur de z se situe entre z1 et z1
La probabilite que la valeur de z se situe entre z1 et z1 est notee P (z1 z z1 ).
Cette probabilite est definie par la surface noire de la figure B.3.

p(z)
0.4

0.3

0.2

0.1

0
-4

-2
-z 1

z1

Figure B.3: Graphique de la Gaussienne centree et reduite illustrant la probabilite que z se


situe entre z1 et z1 .

La valeur de P (z1 z z1 ) est definie comme suit:


P (z1 z z1 ) =

Z z1

p(z) dz = 2

z1

Z z1
0

224

p(z) dz = 2 f (z1 )

(B.12)

La moitie de lintegrale bornee par z1 est une fonction notee f (z1 ) que lon retrouve
dans la plupart des tables des livres de probabilites et statistiques. En fait, la valeur de
f (z1 ) represente la probabilite que z se situe entre 0 et z1 . Une autre quantite dinteret,
notee (z1 ), represente lintegrale de la Gaussienne calculee de z1 a` linfini. Selon la figure B.3, on peut ecrire P (z1 z z1 ) + 2(z1 ) 1, ou encore, 2(f (z1 ) + (z1 )) 1.
Ainsi, (z1 ) = 0.5 f (z1 ). Les valeurs de ces fonctions sont fournies pour differentes
valeurs de z1 dans le tableau B.1.
z1

f (z1 )

(z1 )

0.0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1.0
1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
1.6
1.7
1.8
1.9
2.0
2.1
2.2
2.3
2.4
2.5
2.6
2.7
2.8
2.9
3.0

0.0000
0.0398
0.0793
0.1179
0.1554
0.1915
0.2257
0.2580
0.2881
0.3159
0.3413
0.3643
0.3849
0.4032
0.4192
0.4332
0.4452
0.4554
0.4641
0.4713
0.4772
0.4821
0.4861
0.4893
0.4918
0.4938
0.4953
0.4965
0.4974
0.4981
0.4987

0.5000
0.4602
0.4207
0.3821
0.3446
0.3085
0.2743
0.2420
0.2119
0.1841
0.1587
0.1357
0.1151
0.0968
0.0808
0.0668
0.0548
0.0446
0.0359
0.0287
0.0228
0.0179
0.0139
0.0107
0.0082
0.0062
0.0047
0.0035
0.0026
0.0019
0.0013

Tableau B.1: Fonctions f (z1 ) et (z1 ) de la distribution normale centree et reduite.

La figure B.4 illustre trois cas particuliers, soit les cas pour lesquels z1 = 1, 2 et
3. Pour ces trois cas, les probabilites que z se situe dans les intervalles cites sont
respectivement de 68.3%, 95.4% et 99.7%.
225

p(z)

p(z)

p(z)

0.4

0.4

0.4

0.3

0.3

0.3

0.2

0.2

0.2

68.3%

0.1

0
-4

-3

-2

-1

95.4%
68.3%

0.1

0
-4

-3

-2

-1

99.7%
68.3%

0.1

0
-4

-3

-2

-1

Figure B.4: Graphique de la Gaussienne centree et reduite illustrant la probabilite que z se


situe entre z1 = 1, z1 = 2 et z1 = 3.

B.6

Distribution de Student

La distribution de Student, aussi denommee distribution de t, est tr`es utile en statistique.


Sans faire un developpement detaille, on peut simplement mentionner que la distribution
de Student permet deffectuer une analyse statistique lorsque lechantillonnage est fait
a` partir dune population normale de variance inconnue et que la taille de lechantillon
est petite (e.g. N < 30). La distribution de Student est definie par lequation (B.13)
dans laquelle la variable = N 1 represente le nombre de degres de liberte, la fonction
Gamma est decrite par lexpression (B.14) et t represente la variable centree et reduite.
[( + 1)/2]
t2
p(t ) =
1+
[/2]

"

p(t )

#(+1)/2

(B.13)

p(t )
gaussienne

0.4

=3
=2
=1

0.3

0.3

0.2

0.2

0.1

0.1

-4

-2

= 15
=7
=4

gaussienne

0.4

-4

-2

Figure B.5: Graphique de la distribution de Student presentee pour differentes valeurs de ;


on constate que lorsque la valeur de est elevee, la distribution de Student sapparente `a la
Gaussienne.

226

Les graphiques de la figure B.5 representent la distribution de Student presentees pour


differents nombres de degre de liberte. La fonction Gamma [x], pour laquelle x > 0 et
m est entier, que lon retrouve dans lexpression B.13 est definie par:

x = m + 1 [m + 1] = m!

x = m + 1/2 [m + 1/2] = (1 3 5 (2m 1))/(2m )

Valeurs particuli`eres: [1/2] = et [1] = 1


Formule de recurrence: [m + 1] = m [m]

(B.14)

Selon la loi de Student, on definit les probabilites suivantes:


P (t, t t, ) =
et P (t t, ) =

Z t,
t,

Z
t,

p(t ) dt = P

(B.15)

p(t ) dt =

(B.16)

Ainsi, on obtient P + 2 1. Le graphique de la figure B.6 illustre de quelle facon ces


probabilites sont representees. De plus, le tableau B.2 fournit les valeurs de t, pour
differentes valeurs de et de .
p(t )

= 15

0.4

0.3

0.2

0.1

-4

-2

-t

Figure B.6: Graphique de la distribution de Student presentee pour une valeur de = 15; la
probabilite P (t, t t, ) est egale `a P et la probabilite P (t t, ) est egale `a .

227

P =

0.8

0.9

0.95

0.98

0.99

0.100

0.050

0.025

0.010

0.005

t,

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
32
34
36
38
40
60
80
100
120

3.078
1.886
1.638
1.533
1.476
1.440
1.415
1.397
1.383
1.372
1.363
1.356
1.350
1.345
1.341
1.337
1.333
1.330
1.328
1.325
1.323
1.321
1.319
1.318
1.316
1.315
1.314
1.313
1.311
1.310
1.309
1.307
1.306
1.304
1.303
1.296
1.292
1.290
1.289

6.314
2.920
2.353
2.132
2.015
1.943
1.895
1.860
1.833
1.812
1.796
1.782
1.771
1.761
1.753
1.746
1.740
1.734
1.729
1.725
1.721
1.717
1.714
1.711
1.708
1.706
1.703
1.701
1.699
1.697
1.694
1.691
1.688
1.686
1.684
1.671
1.664
1.660
1.658

12.706
4.303
3.182
2.776
2.571
2.447
2.365
2.306
2.262
2.228
2.201
2.179
2.160
2.145
2.131
2.120
2.110
2.101
2.093
2.086
2.080
2.074
2.069
2.064
2.060
2.056
2.052
2.048
2.045
2.042
2.037
2.032
2.028
2.024
2.021
2.000
1.990
1.984
1.980

31.821
6.965
4.541
3.747
3.365
3.143
2.998
2.896
2.821
2.764
2.718
2.681
2.650
2.624
2.602
2.583
2.567
2.552
2.539
2.528
2.518
2.508
2.500
2.492
2.485
2.479
2.473
2.467
2.462
2.457
2.449
2.441
2.434
2.429
2.423
2.390
2.374
2.364
2.358

63.656
9.925
5.841
4.604
4.032
3.707
3.499
3.355
3.250
3.169
3.106
3.055
3.012
2.977
2.947
2.921
2.898
2.878
2.861
2.845
2.831
2.819
2.807
2.797
2.787
2.779
2.771
2.763
2.756
2.750
2.738
2.728
2.719
2.712
2.704
2.660
2.639
2.626
2.617

Gaussienne

1.282

1.645

1.960

2.326

2.576

Tableau B.2: Evolution


de t, en fonction de et de ou P .

228

Annexe C
Compl
ement de la section 3.2 sur le
recouvrement et le diagramme de
repliement
Nous presenterons ici un exemple de recouvrement (aliasing) dune frequence superieure `a la frequence de Nyquist de lechantillonneur vers une frequence inferieure. Nous
presenterons egalement la methode de construction du diagramme de repliement.

C.1

Exemple de recouvrement

Pour completer lexemple dechantillonnage discret des notes de cours, considerons un


signal sinusodal de frequence f = 9 Hz, echantillonne de la meme mani`ere que le signal
de lexemple, soit avec une temps discret de 0.1 seconde entre chaque prise de mesure.
La frequence de lechantillonneur est de 10 Hz, soit une frequence de Nyquist fN = 5 Hz.
Le signal a` mesurer (f = 9 Hz) est donc de frequence f = 1.8fN : en consultant le diagramme de repliement, on peut predire quil y aura repliement du signal vers f = 0.2fN ,
soit 1 Hz. La figure C.1 represente ce phenom`ene. Le trait continu represente le signal
reel, les points representent les valeurs discr`etes echantillonnees, et le trait pointille est
le signal percu.

C.2

Construction du diagramme de repliement

Considerons un signal e1 (t) = sin(2f1 t) que lon echantillonne a` une frequence fech. .
Cela signifie que lon observe e1 (t) a` des temps discrets tn = nt, avec n = 0, 1, 2, ... et
t = 1/fech. . Le signal discret peut alors secrire comme:
229

1.0
0.5
0.0
-0.5
-1.0
0.0

0.2

0.4

0.6

0.8

1.0

Figure C.1: Illustration du probl`eme de recouvrement des frequences.

e1 (tn ) = sin(2f1 nt) = sin 2n

f1
fech.

).

(C.1)

Nous supposerons ici que f1 est inferieure `a la frequence de Nyquist fN de lechantillonneur (fN = fech. /2). Considerons ensuite un signal e2 (t) = sin(2(rfech. f1 )t) avec
r = 1, 2, .... La frequence f2 du signal e2 (t) prendra ainsi les valeurs suivantes: fech. f1 ,
fech. + f1 , 2fech. f1 , 2fech. + f1 , ... Notons que f2min est obtenue pour f1 = fN , soit
f2min = fech. fN = fN . Le signal e2 (t) aura donc une frequence superieure ou egale a`
la frequence de Nyquist de lechantillonneur.
Le signal discret de e2 (t) peut secrire comme:
e2 (tn ) = sin (2(rfech. f1 )nt)

= sin 2(rfech. f1 )

n
fech.

) = sin (2rn 2n ff1 ) .

(C.2)

ech.

Sachant que sin(2m+x) = sin(x) pour m entier, on peut reecrire lexpression precedente
comme1

e2 (tn ) = sin 2n

f1
fech.

).

(C.3)

Le signal e2 (t) sera donc percu comme un signal de frequence f1 < fN . En fait, f1
est la frequence repliee de toutes les frequences rfech. f1 , r = 1, 2, .... Ce raisonnement permet de construire le diagramme de repliement et denoncer le theor`eme
1
Nous conserverons ici uniquement le signe positif. Le signal de signe negatif est identique au premier,
mais en opposition de phase.

230

dechantillonnage: fm < fN ou 2fm < fech. ou fech. < 2fm , fm etant la frequence
la plus elevee dans le signal `a mesurer. On doit donc choisir un echantillonneur dont la
frequence est superieure a` 2fm .

231

232

Annexe D
R
eponse en fr
equence dun capteur
s
eismique: analyse dimensionnelle
Lequation de la reponse en frequence dun capteur seismique etablie au chapitre 10 peut
secrire sous la forme suivante:
Z(f ) =

m 4 2 f 2 X(f )
= G(m, f, X, k, c)
m 4 2 f 2 + k + j c 2f

(D.1)

Selon le theor`eme de Buckingham1 , une equation impliquant 6 variables, exprimees a`


laide de 3 dimensions (F, L et T), peut etre reduite `a une relation impliquant 6 3 = 3
termes sans dimensions et independants. Le probl`eme precedent peut donc etre reduit
a` lexpression suivante:
1 = (2 , 3 )

(D.2)

Dans le syst`eme F, L, T, les dimensions de base des variables du probl`eme sont:


Z
X
m
f
k
c

[L T]
[L T]
[F L1 T2 ]
[T1 ]
[F L1 ]
[F L1 T]

(D.3)

Lanalyse dimensionnelle est effectuee en considerant Z(f ) comme variable dependante


et celle-ci fera partie du terme 1 . Le theor`eme de Buckingham nous impose de choisir
3 variables repetees qui doivent faire intervenir toutes les dimensions de base. Nous
choisissons les variables X, m et k comme variables repetees. Les trois termes peuvent
alors sexprimer comme ceci:
1

Voir le cours de Mecanique des Fluides, chapitre sur lanalyse dimensionnelle.

233

1 = Z X a mb k c
2 = f X a mb k c
3 = cX a mb k c

(D.4)

Les termes etant sans dimension, on obtient donc pour chacun des termes:
1 a = 1 b = 0
c=0
1 = Z/X
q
2 a = 0
b = 1/2
c = 1/2 2 = f m/k

3 a = 0
b = 1/2 c = 1/2 3 = c/ km

(D.5)

Par commodite, on peut multiplier les termes par des constantes sans changer la
nature de lanalyse dimensionnelle. Ainsi, on adopte generalement les termes suivants:
c
m
f
=
et 3 = =
(D.6)
k
fn
2 km
Notons que lon a introduit la notation de frequence naturelle fn et de coefficient
damortissement . La frequence naturelle est definie par
Z(f )
1 = H(f ) =
, 2 = 2f
X(f )

1
fn =
2
On obtient finalement le resultat classique

k
m

f
H(f ) =
,
fn

234

(D.7)

(D.8)

Bibliographie
[1] Baker, R.C. 2000: Flow Measurement Handbook. Cambridge University Press.
[2] Beckwith, T.G.; Marangoni, R.D.; Lienhard, J.H. 1993: Mechanical Measurements. 5th Ed., Addison-Wesley.
[3] Bendat, J.S.; Piersol, A.G. 2000: Random Data; Analysis and Measurement Procedures. 3rd Ed., Wiley.
[4] Bendat, J.S.; Piersol, A.G. 1980: Engineering Applications of Correlation and
Spectral Analysis. Wiley.
[5] Benedict, R.P. 1984: Fundamentals of Temperature, Pressure, and Flow Measurements. 3rd Ed., Wiley.
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[8] Dally, J.W.; Riley, W.F.; McConnel, K.G. 1993: Instrumentation for Engineering
Measurements. 2nd Ed., Wiley.
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[11] Doebelin, E.O. 1995: Measurement Systems: Application and Design. 4th Ed.,
McGraw-Hill.
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[13] Histand, M.B.; Alciatore, D.G. 1999: Introduction to Mechatronics and Measurement Systems. McGraw-Hill.
[14] Holman, J.P. 1984: Experimental Methods for Engineers. 6th Ed., McGraw-Hill.
[15] Papoulis, A. 1991: Probability, Random Variables, and Stochastic Processes. 3rd
Ed., McGraw-Hill.
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[18] Wheeler, A.J.; Ganji, A.R. 1996: Introduction to Engineering Experimentation.
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Autres ouvrages de reference:

[19] LabVIEW Manuel de lutilisateur, National Instrument, Janvier 2002, Reference


321190D-01.
[20] LabVIEW Measurement Manual, National Instrument, Juillet 2000, Reference
32661A-01.
[21] Tutorial de LabVIEW (Disponible via le logiciel LabVIEW 6.1 ).
[22] Site internet de National Instrument: www.zone.ni.com
[23] Users Guide: CL550 Portable Temperature Calibrator, Omega, 1999.

236