UNIVERSITÉ MOHAMMED V

RABAT
ECOLE NORMALE SUPÉRIEUR
DEPARTEMENT DE CHIMIE

LICENCE PROFESSIONNELLE :
CHIMIE INDUSTRIELLE_GÉNIE DES PROCEDES

Compte rendu du TP
Cristallographie et cristallochimie

Réalisée par :
 Lamhamdi Meryem

Encadrés par :

 Dr. Lahcen Boudad

 Pr . Abdellah EL Boukili

Année universitaire : 2021/2022

 I. Objectif du TP :
Le but de cette manipulation :
 Le dépouillement d'un spectre de rayons X d'un matériau
cristallisé.
 Détermination des paramètres de la maille cristalline du
matériau étudié
 Affinement des paramètres cristallins en utilisant le logiciel
AFMPOU.

II. Introduction :
La Diffraction des Rayons X (DRX) est une technique de caractérisation des
matériaux cristallisés, qu’ils soient massifs, sous forme de poudre ou de dépôts. En
laboratoire, cette technique est principalement appliquée aux matériaux
inorganiques : minéraux, métaux, alliages, céramiques….
La principale application de la diffraction des poudres aux rayons X est
l'identification de phases majeures et mineures, uniques ou multiples, d'un
échantillon inconnu.
L'identification de phase est l'application la plus importante de la diffraction de
poudre aux rayons X. La diffraction de poudre aux rayons X ne s'applique pas
uniquement aux échantillons de poudre, mais aussi aux solides polycristallins, aux
suspensions et aux couches minces. Les échantillons de poudre inorganiques sont
plus souvent mesurés dans la géométrie de réflexion classique de Bragg-Brentano.
D'autre part, une géométrie de transmission est normalement privilégiée pour les
matériaux organiques (ex. les produits pharmaceutiques et les polymères), les
liquides cristallins et les suspensions.
Et dans ce TP on va faire identification de poudre de NaCl et on utilise des logiciels
informatiques tel que le logiciel highscoreplus et AFMPOU.

III. Partie Théorique :

Techniques de diffraction des rayons X :

Une poudre est constituée de microcristaux présentant idéalement toutes les orientations cristallines possibles.
Cette technique permet une analyse rapide et non destructive d'un mélange de phases cristallines. Elle est donc
très largement utilisée dans de nombreux domaines tels que la minéralogie, la biologie, l'archéologie, la
pharmacologie, Les nombreuses orientations des petits cristaux d'une poudre produisent un très grand nombre
de taches groupées en cercles concentriques autour du point θ = 0, du fait de la symétrie de révolution autour
de la direction du faisceau incident.
Si l'on prend une phase pure, alors le diffractogramme (courbe I = f(2θ) est toujours le même. Le
diffractogramme diffère d'une phase à l'autre. Il s'agit donc d'une véritable signature de la phase.
Pour chaque phase, on peut ainsi constituer une fiche, une liste de pic (2θ , I) (position et hauteur des pics). La
hauteur I est la hauteur relative par rapport au pic le plus grand de la phase, en % (le pic le plus grand a alors
pour hauteur 100).
IV. Partie expérimentale :
1. Identification la phase synthétisée

1.1 Présentation de l'interface du logiciel :

Il existe différentes sections de traitement des données dans X'pert HighScore PlusC :
 Zone Graphique principaux ‘Main Graphics’ montrant le tracé principal des
donnéesanalysées.
 Zone Graphique supplémentaire ‘Additional Graphics’ affichant le tracé modifié
desdonnées pour assister au processus d'analyse.
 Le Volet de listes 'Lists Pane' qui regroupe des tableaux informatifs fournissant
unereprésentation globale des données et résumant les résultats de l'analyse.

1.2 Analyser l'exploitation des données

L'analyse du spectre RDX enregistré est réalisée en suivant les étapes indiquées ci-dessous :

 Démarrer le logiciel X’pert Highscore plus

 Ouvrir le fichier de données phase_cristalline.raw (menu ‘ file’ ‘open’)
 Déterminer la position des pics de diffraction en suivant les étapes suivantes :
 Cliquer sur menu ‘Treatement’, puis sur ‘Search Peaks’dans l'onglet qui apparait.
Vérifier que tous les pics sont bien pris en considération.
 Cliquer sur ‘Accept’, sinon, varier le paramètre Minimum Signifiance et recliquer sur
‘Search Peaks’.
 Lancer la recherche des phases présentes en suivant le chemin :
‘Reference pattern’ ‘retrieve pattern by’ ‘restrictions’ ; ou en cliquant directement sur
l’icône.
La fenêtre de dialogue ‘Restrictions’ qui s'ouvre, permet de définir les paramètres de sélection
des fiches de références qui seront extraites de la base de données. En ne définissant aucun
paramètre, toutes les fiches de la base de données seront importées.
Une fois que les paramètres de recherche sont définis, en utilisant autant ou aussi peu de
restrictions souhaitées, cliquer sur 'Load' pour effectuer la recherche et obtenir les fiches de
référence.
 Les fiches de référence seront ajoutées au volet 'Pattern List'.
La fenêtre Restrictions restera affichée, permettant ainsi de récupérer d'autres fiches de référence.
Cliquer sur 'Close' afin de fermer cette fenêtre.

Question 1 : Identifier la phase présente dans l'échantillon en vérifiant que tous les pics de diffraction du
spectre expérimental correspondent bien à ceux de la phase sélectionnée.

Alors on a le diffractogramme suivant :

Et pour une meilleure visualisation des fiches sélectionnées on clique sur l’icône :
Alors on a trouvé ces pics qui en vérifiant que tous les pics de diffraction du spectre expérimental
correspondent bien à ceux de la phase sélectionnée alors que c’est de la NaCl pur pas mélanger avec une autre
composition.

Question 2 : Noter le numéro de la fiche référence ainsi que le groupe d'espace de la phase sélectionnée.

 Numéro de la fiche référence :

 Le groupe d'espace de la phase sélectionnée : Fm-3m

2. Indexation du spectre et calcul des paramètres de maille

Pour un plan d'indices de Miller (hkl), le facteur de structure est exprimé suivant l’équation :

𝑗=𝑁

𝐹 (ℎ, 𝑘, 𝑙) = ∑ 𝑓𝑗 exp[−2𝑖𝜋(ℎ𝑥𝑗 + 𝑘𝑦𝑗 + 𝑙𝑧𝑗)]

𝑗=1

Où la sommation est appliquée sur les N atomes de la base, ʆj étant le facteur de forme atomique du
jeme atome de la base (coefficient de diffusion de l'atome j dont les valeurs se trouvent dans les tables
internationales de diffraction des rayons X ).
Le facteur de structure F n'est pas nécessairement réel. Les valeurs de h, k, l qui annulent le facteur de
structure donnent lieu à des réflexions non permises.
Dans le cas du système cubique :

 Cubique simple (P) : (h, k,l )= f → Toutes les familles de plans diffractent le rayonnement, il
n y a aucune extinction.
 Cubique centré (I) : (h, k, l) = f[1+exp(-iπ(h+k+ l))] Seuls les plans pour lesquels

la somme des indices h, k. l est paire diffractent l'onde : h + k +l= 2n

 Cubique à faces centrées (F) :
F(h, k,l) = f[1+exp(-iπ(h+k))+ exp(-iπ(k +l )+ exp(-iπ(h+ l))] Seuls les
plans dont les indices sont de même parité donnent une intensité diffusée non nulle.

Question 3 : A partir des résultats précédents, compléter le tableau suivant en indiquant les plan réticulaires
correspondants à chaque sommation (h2+k2+l2) et préciser ceux vérifiant les conditions de la maille cubique à faces
centrées (mode F).
 Plans réticulaires Plan permis Plans réticulaires Plan permis
2 2 2 2 2 2
(h + k +l ) (h + k +l )
correspondants en mode (F) correspondants en mode (F)
1 (1.0.0) 9 (3.0.0)
2 (1.1.0) 10 (3.1.0)
3 (1.1.1) (1.1.1) 11 (3.1.1) (3.1.1)
4 (2 .0.0) (2.0.0) 12 (2.2.2) (2.2.2)
5 (2 .1.0) 13 (2.3.0)
6 (1.2.1) 14 (2.3.1)
7 15
8 (2.2.0) (2.2.0) 16 (4.0.0) (4.0.0)

Question 4 : En déduire les plans réticulaires correspondants aux raies détectées dans le spectre DRX
enregistré.

Alors on fait zoom sur le pic pour lire l’angle 2ө

1 2 3
Pics
2ө 27.52 31.848 45.603

Plans réticulaires (1.1.1) (2.0.0) (2.2.0)

Question 5 : Sachant que les distances interarticulaires (dhkl) sont liées aux angles de diffraction (ө) via la
loi de Bragg :
2dhkl sin(ө) = nʎ (ʎ est longueur d'onde du rayon X (ʎ = 1,54056)) et que le paramètre de maille
de la structure cubique est lié à dhkl par la relation c’est le cas du système cubique :
𝒂
𝒅𝒉𝒌𝒍 =
√𝒉𝟐 + 𝒌𝟐 + 𝒍𝟐

Calculer le paramètre « a » de la maille cristalline.

ʎ
On alors 𝒅𝒉𝒌𝒍 =
𝟐𝐬𝐢𝐧(ө)

 Pour le premier plan :

1,54056
𝑑ℎ𝑘𝑙 = = 3,238 Å
27,52
2 × 𝑠𝑖𝑛( 2 )

a= dhkl× √3 = 3,238 × √3 = 5,609 Å

 Pour le deuxième plan :
1,54056
𝑑ℎ𝑘𝑙 = = 2,807 Å
31.848
2 × 𝑠𝑖𝑛( 2 )

a= dhkl× √4 = 2,807 × √4 = 5,615 Å

 Pour le troisième plan :
1,54056
𝑑ℎ𝑘𝑙 = = 1,987 Å
45.603
2 × 𝑠𝑖𝑛( 2 )
a= dhkl× √8 = 1,987 × √8 = 5,621 Å

3. Affinement des paramètres de la maille cristalline

 Crée un nouveau dossier dans le bureau.

 Déplacer le logiciel AFMPOU vers le dossier créé.
 Créer un fichier texte d’entrée dans lequel sont citées les angles de diffraction et les plansréticulaires
correspondants aux différentes raies de diffraction.
 Enregistre le fichier d’entrée dans le dossier crée Ouvrir le
logiciel AFMPOU.exe
 Une fois le calcul est terminé un fichier de sortie(.out) est généré dans le dossier créé.
Question 6 : indiquer à partir du fichier de sortie les paramètres cristallins affinés, les incertitudes
correspondantes, ainsi que l’écart type obtenu.
On a trouver l’écart-type = 0,0407
Et les incertitudes correspondantes : 0,0035
 V. Conclusion :
Alors on a trouver que le réseau est cubique et Dans les cristaux cubiques, la direction [ℎ𝑘ℓ] est toujours
perpendiculaire au plan (ℎ𝑘ℓ) possédant les mêmes indices, il n’en est, en général, pas de même pour un autre
système cristallin. Et on a identifier la phase présente dans l'échantillon en vérifiant que tous les pics de
diffraction du spectre expérimental correspondent bien à ceux de la phase sélectionnée ainsi on a déduit les
plans réticulaire et enfin on a déterminer l’écart type et l’incertitude.