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Chapitre 1:
Défaillances et méthodologie
d’analyse quantitative
Un mauvais Due à l’application de contraintes au-delà des possibilités données du système (pression surélevée par exemple).
Critère: causes (intrinsèques et
extrinsèques) des défaillances
emploi
une faiblesse Il s’agit d’une faiblesse inhérente/intrinsèque au système lui-même lorsque les contraintes ne sont pas
inhérente au-delà des possibilités données du système (défaut de conception par exemple).
Défaillance La cause directe ou indirecte n’est pas la défaillance d’un autre système (exemple système
première d’alimentation d’un palier de l’arbre d’une motopompe).
Tx de défaillance
Critère: le moment où elle se
processus de détérioration
Se produisant durant le cycle de vie utile du bien
vie du bien
au début
d’usure
Temps
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Défaillance La déviation d’une ou de plusieurs caractéristiques opératoires au-delà des limites spécifiées,
partielle mais telle qu’elle n’entraine pas une disparition complète de la fonction requise.
Critère: degré de
défaillance
Défaillance La déviation d’une ou de plusieurs caractéristiques opératoires au-delà des limites qui entraîne
complète une disparition complète de la fonction requise.
Défaillance Défaillance s’effectuant pendant une durée limitée, à la fin de laquelle le système retrouve son
intermittente aptitude à accomplir sa fonction requise, sans avoir été soumis à une action corrective externe
(souvent répétitive).
Défaillance soudaine Qui n’aurait pas pu être prévue par un examen ou une surveillance antérieurs.
d’apparition
Critère:
vitesse
Défaillance progressive Qui aurait pu être prévue par un examen ou surveillance antérieurs.
catalectique t
complète. seuil de seuil de
perte perte
de la de la
Défaillance Qui est à la fois progressive et fonction fonction
Temps
par partielle.
dégradation
Temps
TBF TBF
Refus de Perte de
fonctionnement dégradé
démarrer la fonction
Modes génériques
de défaillance
Refus de Fonctionnemen
s'arrêter Résultat de la t intempestif
défaillance
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Quantitative Prévisionnelle
Soit de manière
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L’âge du matériel
diagramme
Causes – Effets
Objectif: Rechercher toutes les
combinaisons
de défaillances élémentaires
(primaires)
pouvant déboucher vers une
panne
Porte OU : Porte ET :
B
A B S
S
A
Le système S sera défaillant si les composant
A OU B sont défaillants. C’est le modèle ˝série˝.
Le système S sera défaillant si les composant
A ET B sont défaillants.
C’est le modèle ˝parallèle˝ ou ˝redondant˝.
B
ET
0 1
OU
0 0 0
A S
1 0 1
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Losange représente un événement non élémentaire dont les causes ne sont pas recherchées.
Double
losange représente un événement non élémentaire dont le développement est à faire ultérieurement.
La partie de l'arbre qui suit le premier symbole se retrouve identique, sans être répétée, à l'endroit
Triangle
indiqué par le second symbole
Triangle
La partie de l'arbre qui suit le premier symbole se retrouve semblable mais non identique à
inversé
l'endroit indiqué par le second symbole.
Exemple1: Arbre de défaillance relatif à la perte d’éclairage Exemple2: Température d’un fluide
d’un poste de travail
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Exemple:
Grace à la redondance active d’ordre 2 ( fonction ET à 3 portes) le système présente une grande
sécurité d’usage. Celle-ci doit être jugée économiquement. (ratio fiabilité/coût)
L’ABAQUE DE NOIRET
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Exemple
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❑ Le schéma de principe d’une unité de production de vapeur (UPV) est donné figure
suivante.
❑ L’UPV comporte deux chaudières alimentées en combustible et en eau.
❑ Elle possède également un système de rejet des produits de combustion permettant
de respecter l’environnement. Combustible
Chaudière 1
(charbon + fuel)
❑ La vapeur produite par les deux chaudières alimente deux utilisateurs, U1 et U2. Déchets
Eau Chaudière 2
❑ On définit deux niveaux de performance :
➢ Niveau de performance 1 : les deux utilisateurs U1 et U2 sont alimentés avec Vanne
deux chaudières en fonctionnement nominal. d’admission
A B
E E manque manque
manque manque
eau combustible eau combustible
F G F G
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Caractérise la
fiabilité de
l’équipement
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Application Pareto
Soit 1 semaine de relevés pour une machine d’insertion de composants électroniques.
55 interventions correctives ont été relevées pendant 1 semaine sur une machine.
Cet échantillon hebdomadaire d’interventions correctives correspond à 13,72 heures d’arrêt
de production, qu’il faut réduire.
Composant N (nombre de pannes) ∑TTR (h) TTR cumulé % TTR cumulé
C- 34 5,17 5,17 0,37682216
B- 2 3,3 8,47 0,61734694
F- 12 2,4 10,87 0,79227405
A- 3 1,05 11,92 0,86880466
E- 1 1 12,92 0,94169096
D- 2 0,5 13,42 0,97813411
G- 1 0,3 13,72 1
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Application Pareto
6 120%
5 100%
4 80%
∑TTR (h)
3 60% % TTR cumulé
80%
2 40%
1 20%
0 0%
C- B- F- A- E- D- G-
Application Pareto
F- 12 46 0,83636364 25
80,00%
N (nombre de pannes)
A- 3 49 0,89090909 20 60,00%
% N cumulé
B- 2 51 0,92727273 15
40,00%
80%
10
D- 2 53 0,96363636 20,00%
5
E- 1 54 0,98181818
0 0,00%
G- 1 55 1 C- F- A- B- D- E- G-
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Application Pareto
Notre étude peut encore être poussée en déterminant les composants qui ont un plus long
MTTR (Mean Time To Repear) (indicateur de maintenabilité)
N (nombre de 1,8 120%
1,2 80%
B- 2 3,3 1,65
1 MTTR (h)
C- 34 5,17 60%
0,15 0,8
% MTTR cumulé
80%
D- 2 0,5 0,25 0,6 40%
0,4
E- 1 1 1 20%
0,2
F- 12 2,4 0,2
0 0%
G- 1 0,3 0,3 B- E- A- G- D- F- C-
Objectifs
Mise en place d’actions Identifier les faiblesses
d’améliorations potentielles du système
• I
modes vraisemblables, causes possibles
Préventif et/ou correctif
c
• I
c
o
n
I
c
o
n •
o
n
I
c
o
effets de chaque défaillance selon la phase
du cycle de vie
n
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Préparation
3. Vibrations
défaillance potentielle défaillance potentielle toutes prématuré
22. Fonctionnement Fonction réalisée par
4. Ne reste pas en position les causes 23. Fonctionnement après leGRAVITE
possibles délai prévu intermittence
5. Ne s'ouvre pas (retard) G
1 2 3 4
6. Ne se ferme pas 𝑁𝐷 : Probabilité de ne pas détecter une défaillance en
24. Entrée erronée O(augmentation)
7. Défaillance en position ouverte 25. Entrée erronée (diminution) 3
fonction du plan de maintenance prévu
Application
O 1
Calculer l’indice de
8. Défaillance en criticité (𝑪) de chaque
position fermée 26.cause
Sortie de
erronée
C
(augmentation)
𝐹 : Probabilité/fréquence/période à laquelle la
9. Fuite interne 27. Sortie erronée (diminution)
défaillances potentielles par: 28. Perte de CUl'entrée 2défaillanceI est susceptible de se produire
10. Fuite externe
11. Dépasse 𝐶 = 𝐹 supérieure
la limite × 𝐺 × tolérée
𝑁𝐷 29. Perte de Rla sortie
R
12. Est en dessous de la limite inférieure 30. Court-circuit
𝐺 : Gravité de l’effet de la défaillance (temps
E 4 (électrique)
3 II
13. Fonctionnement intempestif 31. Circuit ouvert
N d’intervention, qualité, sécurité) sur la productivité
(électrique)
14. Fonctionnement intermittent C
32. Fuite (électrique)
Hiérarchiser les E 4
15. Fonctionnement irrégulier
Recensement de33. Autres
celles dontconditions
l’indicedededéfaillance
criticité Rechercher les actions correctives pour
défaillances potentielles
16. Indication erronée exceptionnelle suivant les
17. Ecoulement réduit est supérieur à la limite fixée par
caractéristiques I : dule groupe
Zone non critique
système, les
résoudre les défaillances retenues
par importance II : Zone critique
18. Mise en marche erronée conditions de fonctionnement et les
Rechercher les actions
19. Ne s'arrête pas Réévaluer les défaillances
contraintes en tenant compte des actions
opérationnelles Planifier et mettre
correctives pour résoudre les correctives : si l’indice de criticité est toujours supérieur à en œuvre les
défaillances retenues la limite fixée, rechercher d’autres actions correctives actions prévues
Préparation
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7. Défaillance
défaillance potentielle défaillance
en position potentielle
ouverte toutes 25. Entrée erronée (diminution)Fonction réalisée par
8. Défaillance en position les causes fermée
possibles intermittence
26. Sortie erronée (augmentation)
9. Fuite interne 𝑁𝐷27. Sortie erronée
: Probabilité (diminution)
de ne pas détecter une défaillance en
fonction 3de maintenance prévu
du plande
10. Fuite externe 28. Perte l'entrée
Application
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Objectif
Pour
Potentielles et Identifier préventives afin d’éviter dysfonctionnement d’un
leurs causes l’apparition de ces défaillances équipement/procédé de production
La grille AMDEC
Défaillance Criticité
Elément Fonction Action corrective
Mode Cause Effet Symptôme F G ND C
gravité
1 Moins 1 fois par an
2 Moins 1 fois par mois 1 Écart inférieur à 0.5%
Exemples de gravité
3 Moins 1 fois par semaine 2 Écart inférieur à 1%
4 Plus 1 fois par semaine 3 Écart inférieur à 5%
4 Écart supérieur à 5%
Niveau de gravité Définition
Non détection
Exemple de
d'arrêt de production
Niveau de Définition
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P rise
en com pte
Analyse Fonctions de l'état de
de l'expérience du com posant fonctionnem ent
d'exploitation du systèm e
1ère liste
Recensem ent Causes internes M odes de
de m odes de
Essais des m odes de et externes défaillance et
défaillance
de fiabilité défaillance de défaillance leurs causes
retenue
tests potentiels du com posant retenues pour
pour
du com posant l'analyse
l'analyse
Analyse
prévisionnelle
de la sûreté
de fonctionnem ent
du com posant
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L’analyse fonctionnelle est une méthode structurée qui consiste à rechercher et à caractériser les fonctions offertes
par un produit pour satisfaire les besoins de son utilisateur.
C’est une recherche systématique de toutes les composantes du besoin des utilisateurs, sous forme de fonction.
Cette phase est essentielle pour permettre de concevoir et réaliser un produit qui répond aux besoins des utilisateurs.
L’analyse fonctionnelle se fait en équipe de travail pluridisciplinaire qui suit rigoureusement la méthodologie, sous la
conduite d’un animateur.
L’AMDEC Système M Si on se contente d’une analyse fonctionnelle sommaire, le plus souvent intuitive, de nombreuses
fonctions ne seront pas identifiées, avec le risque que le produit ne réponde pas aux besoins de ses utilisateurs.
Une fonction mal exprimée entraîne le risque de conduire sur une fausse piste de travail de conception, et par
conséquent une mauvaise analyse AMDEC.
La hiérarchisation des fonctions effectuées en fin d’analyse fonctionnelle permettra de différencier les fonctions
indispensables de celles qui le sont moins pour optimiser l’étude qui suivra.
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