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Exercice 1 :
1 Quelles est la différence entre un minerai et un gisement ?
Un minerai c’est une roche dont on peut extraire, avec profit, un ou plusieurs métaux ou
matériaux.
Un gisement est toute masse de substance minérale qui peut être exploité avec profit.
2 nommer et commenter les figures suivantes ?
fluorapatite Ca₁₀(PO₄)₆F₂
Chloroapatite Ca₁₀(PO₄)₆Cl₂
3 Quelles est la différence entre la production de l’acide phosphorique par voie thermique et
la voie humide ?
La voie thermique : Oxyder le phosphore préparé au four électrique, pour obtenir l’oxyde P2O5
qui sera ensuite hydraté en acide phosphorique.
La voie humide : Ce procédé consiste à attaquer directement le phosphate par l’acide sulfurique, ou
par l’acide chlorhydrique ou nitrique.
•les électrons rétrodiffusés : ces électrons appartiennent initialement au faisceau primaire et ont
subi dans l’échantillon essentiellement des chocs élastiques et peu de chocs inélastiques. Ils
ressortent de la cible avec une énergie cinétique proche de l’énergie des électrons du faisceau
incident. Leur signal est lié à la composition de la cible. En effet, la probabilité d’observer des
électrons rétrodiffusés augmente avec le numéro atomique moyen des éléments rencontrés par
les électrons sur leur trajectoire.
• les électrons secondaires : ces électrons appartiennent initialement au solide. Ils sont mis en
mouvement à la fin des différents processus en cascades impliqués dans le ralentissement du
faisceau primaire. Leur énergie cinétique est faible par rapport à celle du faisceau incident (de
0.001 à 0.1keV). Ces électrons viennent donc d’une faible épaisseur sous la surface (les
électrons de ce type, qui sont plus en profondeur, n’ont pas assez d’énergie pour sortir de
l’échantillon). Leur signal est lié à la topographie de l’échantillon.
Diffraction de rayons X
Principe
Le principe de cette méthode repose sur l’interaction entre un rayonnement X de longueur
d’onde bien définie et la matière. Le rayonnement X résulte du bombardement d’une surface
métallique, appelée anticathode, par un faisceau d’électrons produits par une cathode et accéléré
par une différence de potentiel. Les rayons X émis par l’anticathode (et donc leur longueur
d’onde) sont caractéristiques des atomes qui la constitue. L’interaction de ce rayonnement avec
la matière, lors de son absorption, provoque notamment la diffusion des rayons X ; les électrons
des atomes excités de l’échantillon vont émettre un rayonnement X de même longueur d’onde
que le rayonnement incident. On parle alors de diffraction des rayons X (DRX). Pour un solide
cristallisé, l’observation d’un rayonnement diffracté est soumise à des conditions géométriques
particulières permettant l’existence d’interférences constructives. Ainsi, pour des plans
d’atomes parallèles (hkl) séparés par une distance dhkl (distance interréticulaire), ces conditions
se traduisent par la loi de Bragg : 2dhklsinθ = nλ où θ représente l’angle d’incidence du faisceau
primaire à la surface de l’échantillon, n, l’ordre de la réflexion et λ, la longueur d’onde du
rayonnement X utilisé (figure A2). Une famille de plans d’indice (hkl) ne pourra donc diffracter
les rayons X que dans la direction définie par l’angle θ. Cette relation permet de déterminer les
distances interréticulaires du solide cristallisé analysé et donc d’identifier les phases cristallines
présentes dans un échantillon. Cette technique de caractérisation des phases ne peut donc pas
être utilisée pour identifier des phases amorphes, car celles-ci sont dépourvues de structure
cristalline.
Fluorescence de rayons
Principe :
Le principe de la fluorescence de rayons X (XRF) est semblable à ceux mis en œuvre dans les
méthodes précédentes. Les radiations primaires produites par le tube à rayons X excitent les
atomes de l’échantillon et entraînent l’émission, par ces derniers, d’un rayonnement
photonique, dit de fluorescence dans toutes les directions. Ces photons ont une longueur d’onde
caractéristique de l’élément qui a émis le rayonnement. L’intensité d’une raie de longueur
d’onde donnée est alors convertie en concentration de l’élément, ayant produit cette raie, dans
l’échantillon. Cependant, la composition des échantillons est généralement multi-élémentaire
et les effets interéléments compliquent la relation entre intensité et composition de l’échantillon
(effet de matrice) : le rayonnement de fluorescence X émis par un élément peut jouer le rôle de
faisceau incident sur un autre élément de l’échantillon. Le second élément émet alors un
rayonnement résultant de la fluorescence liée au faisceau incident et de celle liée à un élément
de l’échantillon. Le signal émis par le second élément sera renforcé et celui issu du premier
élément sera diminué du fait de son absorption partielle.