Chapitre 6 : Analyse de la capabilité ou aptitude d’un procédé

I- Généralités sur les indices

Deux qualités de base sont en général recherchées dans le suivi d’un procédé. On désire tout
d’abord que le procédé soit sous contrôle statistique. La conformité à cet objectif peut être
évaluée par l’utilisation de cartes de contrôle pour vérifier “en ligne" si les distributions des
caractéristiques mesurées sur le produit ou le procédé sont stables dans le temps.

La seconde notion est la capabilité ou aptitude du procédé. Un procédé est dit capable ou apte
si le produit qu’il fabrique répond à certains critères de qualité formulés par le producteur ou
par le client. L’analyse de capabilité a pour but de mesurer si le procédé respecte bien ces
exigences. Différents outils sont proposés pour effectuer ce type d’analyse : des outils
graphiques (histogramme ou graphe de probabilité) et des indices de capabilité.

On peut par exemple considérer qu’un procédé est capable s’il a une distribution normale de
moyenne 10 et de variance 8. Le but de l’analyse de capabilité est alors de tester ces
hypothèses. On peut également exprimer la capabilité par le pourcentage de produit conforme
c’est-à-dire dans les limites de spécifications ou encore par la dispersion du procédé.

On distingue deux types d’indices :

– Les indices de capabilité procédé CP et CPK qui évaluent la capacité d’un procédé de
production dans son ensemble, c’est-à-dire en tenant compte des 5M et cela sur une période
suffisamment longue. Le calcul de ces indices de capabilité est particulièrement important
pour l’évaluation du nombre potentielle de non conformité généré par le procédé.
– Les indices de capabilité machine CM et CMK qui évaluent la capacité instantanée d’une
machine une fois les influences des 5M éliminées. Le calcul de ces indices de capabilité est
particulièrement important lorsque l’on souhaite vérifier la capabilité machine annoncée par le
fournisseur de la machine.

Un indice de capabilité est une mesure (sans dimension) qui permet d’évaluer l’aptitude d’une
machine ou d’un procédé à réaliser des produit dont la valeur de la caractéristique qualité X
appartient à l’intervalle de spécification [LSL,USL] fixé par le cahier des charges.

Définissons différents paramètres utilisés dans la suite :

- LSL : limite de spécification ou de tolérance inférieure.
- USL : limite de spécification ou de tolérance supérieure.
- [LSL,USL] : Intervalle de tolérance ou de spécification (idéalement une grande proportion
du produit devrait se trouver dans cet intervalle).
- T : Valeur cible de la caractéristique, c’est la valeur que l’on désirerait avoir pour la
caractéristique si aucune variabilité n’était présente.
- M : Milieu de l’intervalle [LSL,USL] : M = (USL + LSL)/2. M est dans la plupart des cas
identique à T.
 = (USL - LSL)/2 : Demi-longueur de l’intervalle de spécification.
 II- Les indices de capabalité

1. Le taux de produit conforme

Une première façon de caractériser la capabilité d’un procédé est de mesurer la proportion de
produit qui est dans les limites de spécification.
Si X suit la loi normale de paramètres  et , le taux de produit conforme P se calcule
comme suit :

où Z est normale centrée et réduite.

Si le procédé est parfaitement centré (µ = M) et les limites de spécification sont mises à +/-3,
99.7% du produit est dans les spécifications.
Le taux de produit conforme n’est plus tellement utilisé actuellement comme mesure de
capabilité mais est remplacé par des mesures attachées directement aux paramètres de
position µ et de dispersion  de la distribution. Deux raisons expliquent ce choix :
-- P est très difficile à estimer avec précision (s’il est proche de 1) ;
-- P ne donne aucune indication sur les corrections à apporter au procédé, µ et  donnent
une information sur le centrage et la variabilité du procédé et donnent ainsi des indications sur
les corrections à faire pour améliorer le procédé.

2. L’indice de dispersion Cp
L’indice Cp est l’indice de capabilité le plus utilisé. Il a pour but de mesurer si la dispersion de
la caractéristique X étudiée est plus ou moins grande par rapport à l’intervalle de tolérance.
Cp est défini par :

Cp est un indice à maximiser.

Cp peut s’interpréter comme une mesure du pourcentage de l’intervalle de tolérance utilisé par
la caractéristique ou comme une mesure de la capabilité potentielle du procédé à produire une
certaine proportion de produit dans les spécifications. En effet, si l’on désire par exemple que
99,7% du produit soit dans les spécifications, l’indice Cp doit être au moins supérieur à 1
(c’est-à-dire 6 < USL - LSL) pour permettre d’atteindre cet objectif.
Si, par contre, Cp < 1, quelle que soit la moyenne µ du procédé, le taux de non-conforme sera
toujours trop élevé.

Plus précisément, si le procédé est parfaitement centré (µ = M), une valeur de Cp ≥ 1 assure
que 99,7% du produit est dans les limites de spécification. Si, par contre, le procédé est mal
centré, l’indice Cp ne donne aucune indication sur le taux de produit conforme mais permet de
dire que potentiellement un taux de produit conforme de 99,7% peut être atteint par centrage
de la moyenne de la caractéristique. Dans le cas où Cp < 1 une révision plus complète de la
variabilité du procédé est nécessaire si un taux de 99,7% de produit conforme doit être atteint.
En général, on choisit Cp = 1,33 comme valeur minimum à atteindre. Cette valeur donne une
marge de sécurité à la moyenne µ : si µ se trouve dans M ± 1, une valeur de Cp 1,33 assure
qu’au moins 99,7% du produit est conforme.

3. L’indice de position K
L’indice de position K a pour but de mesurer si la caractéristique est bien centrée sur la
valeurs cible T.
K est dé.ni par :

et on recherche une valeur pour K proche de 0. Une valeur de K = 0 indique que le procédé est
centré sur la valeur cible T. De plus, si T = M, une valeur de K ≥ 1 (resp. K ≤ -1) indique que
la moyenne µ est sur ou en dehors de la limite de spécification USL (resp. LSL) et donc qu’au
moins 50% de produit est non conforme.
Si -1 < K < 1, K ne donne aucune indication sur le taux de produit conforme.

Les indices Cp et K sont en général utilisés conjointement pour caractériser un produit.

Quand ces deux valeurs sont connues, on peut d’ailleurs en déduire le taux de produit
conforme :

4. Les indices de capabilité unilatéraux Cpl et Cpu

Si la caractéristique étudiée ne doit pas être entre deux limites mais maximisée ou minimisée,
une seule limite de spécification est en général donnée : USL pour une caractéristique à
minimiser et LSL pour une caractéristique à maximiser. Dans ces cas, les indices Cpu et Cpl
peuvent être utilisés pour mesurer la capabilité du procédé. Ils mesurent simultanément la
dispersion et la position de la distribution par rapport à la limite de spécification.

Pour une limite inférieure, l’indice Cpl se définit comme suit :

Pour une limite supérieure, l’indice Cpu se définit comme suit :

Ces deux indices sont à maximiser. Les valeurs de Cpu ou Cpl donnent directement le taux de
produit conforme. On a pour Cpu par exemple :
Une valeur de Cpl ou Cpu = 1 indique qu’au moins 99,85% du produit est dans les
spécifications ou, de façon équivalente, assure que LSL (resp. USL) est plus grand (resp. plus
petit) que µ - 3 (resp. µ + 3). Une valeur de Cpl ou Cpu = 0 indique que la moyenne µ est
sur ou en dehors des spécifications et qu’au moins 50% du produit est hors norme.

5. L’indice de position et dispersion Cpk

Les indices Cpu et Cpl peuvent être utilisés simultanément quand des limites de spécifi.cation
bilatérales sont présentes. L’indice Cpk mesure simultanément la position et la dispersion de
la caractéristique. Il est défini par :

L’indice Cpk doit être maximisé. Une valeur de Cpk = 1 est en général choisie comme valeur
minimum requise, elle assure un taux de produit conforme d’au minimum 99,7%.
La valeur de Cpk ne permet pas de calculer exactement le taux de produit conforme
correspondant mais permet d’en donner une limite inférieure :

L’égalité est obtenue si µ = M.

Notons que pour analyser les propriétés de Cpk il est parfois utile de le réécrire en fonction de
Cp comme suit :

6. L’indice de capabilité Cpm

L’indice de capabilité Cpk, présenté ci-dessus, a comme qualité de tenir compte
simultanément de la moyenne et de l’écart-type de la caractéristique étudiée mais, utilisé seul,
il est malgré tout une mauvaise mesure du centrage du procédé.

L’indice Cpm défini ici tient compte comme Cpk de µ et  mais est un meilleur indicateur du
centrage du procédé. Il est défini par :
Cet indice doit être maximisé. Il n’a d’intérêt que si T = M.

Remarque : L’hypothèse de normalité est un prérequis primordial à l’utilisation des indices

de capabilité décrits ci-dessus. Si celle-ci n’est pas vérifiée, les indices peuvent toujours être
calculés mais les valeurs critiques (du type Cp > 1.33) et les proportions de conformes
associés n’ont plus de sens et ne sont plus du tout valables. Avant tout calcul d’un indice de
capabilité, il est donc important de tester si l’hypothèse de normalité est acceptable. Si ce
n’est pas le cas, deux solutions sont possibles :
- transformer les données pour obtenir la normalité (transformation logarithme, racine
carrée, inverse ...) ;
- établir les distributions statistiques des indices de capabilité sur base de la distribution
des données récoltées.

III- Estimation d’un indice de capabilité

Les indices de capabilité définis ci-dessus sont exprimés en terme de la moyenne µ et de

l’écart-type  de la caractéristique X étudiée. En pratique, ces deux quantités ne sont pas
connues mais estimées avec les formules habituelles à partir d’un échantillon.

Des estimateurs des indices de capabilité K,Cp, Cpk ou Cpm peuvent être obtenus en
remplaçant tout simplement µ et  par leurs estimateurs et s dans les formudes données ci-
dessus. Cette méthode, très utilisée en pratique, n’est pas toujours conseillée car les
estimateurs qui en résultent sont biaisés.

Il est prudent d’utiliser ces valeurs par le biais d’intervalles de confiance ou de tests
d’hypothèses.
Etablir des intervalles de confiance et tests d’hypothèses sur les indices K et Cp est tout à fait
équivalent à en établir sur µ et  étant donné que K et Cp ne sont que des réécritures de ces
paramètres.

Nous donnons ci-dessous à titre illustratif pour les estimateurs des indices K, Cp .

Indice Estimateur ponctuel Intervalle de confiance

Cp

Remarque : sont des valeurs tabulaires.

IV- Test d’hypothèse sur un indice de capabilité

Si on désire vérifier si la caractéristique X est bien centrée sur la valeur cible T, on testera les
hypothèses suivantes :

H0 K = 0
H1 K ≠ 0

en utilisant comme statistique de test :

qui a une distribution t de Student à n - 1 degrés de libertés. La région critique du test s’établit
exactement comme pour un test sur la moyenne d’une distribution normale : on rejette
l’hypothèse à un seuil  si :

Pour l’indice Cp, le principe est le même : on peut par exemple tenter de montrer que l’indice
dépasse une valeur choisie (1.33 par exemple). Ce type de question est très souvent rencontré
en industrie quand un client demande à son fournisseur de démontrer que son procédé est
capable sur base de d’indice Cp. Les hypothèses peuvent dans ce cas s’écrire :

H0 : Cp = Cp0 (procédé non capable)

H1 : Cp > Cp0 (procédé capable)

On utilise dans ce cas pour statistique de test :

qui a une distribution de Chi-deux à n - 1 degrés de libertés.

L’hypothèse H0 est rejetée si la valeur de cette statistique est plus grande que le seuil critique
i.e :

Rappelons que les tests et intervalles définis ci-dessus sont équivalents à ceux sur les
paramètres µ et  d’une loi normale. Leur intérêt est de réexprimer les choses dans une
échelle que certains trouvent plus parlante. Les intervalles de confiance et tests d’hypothèses
pour les autres indices s’établissent suivant le même principe mais les distributions et
statistiques utilisées sont plus compliquées.

Exemple d’indices de capabilité pour des valeurs individuelles X calculées sur le Logiciel
STATGRAPHICS.
Indices de Capabilité pour X

Specifications
USL = 17,68
Nominal = 13,54
LSL = 9,4

Cp = 0,999793
Cpk = 0,999189
Cpk (upper) = 1,0004
Cpk (lower) = 0,999189
Cr = 1,00021
Cpm = 0,871933
K = -0,000603865

Based on 6.0 sigma limits.