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Ce premier chapitre apporte des informations de base sur la cristallographie qui doivent permettre
de comprendre la structure et ses conséquences sur le comportement des électrons dans un cristal.
La cristallographie est la science la plus puissante pour étudier la structure de la matière cristalline
à l’échelle atomique. Grâce aux informations qu’elle apporte, la cristallographie est indispensable
à de nombreuses disciplines, de la physique à la chimie, en passant par la biologie, et permet la
conception de matériaux aux propriétés maîtrisées. Elle est aussi une ressource précieuse pour les
industriels. L’année 2014 a été proclamée par les nations unis année internationale de la
cristallographie.
Figure 2 : Représentation d’une maille construite sur la base d’un parallélépipède défini par les
⃗ , ⃗𝒃, 𝒄
trois vecteurs non colinéaires 𝒂 ⃗.
⃗⃗ = u𝒂
- nœud : extrémité du vecteur 𝒏 ⃗ +w𝒄
⃗ + v𝒃 ⃗ ,
- plan réticulaire : tout plan passant par trois nœuds portés par trois vecteurs non colinéaires,
Parallèlement à un plan réticulaire, il existe par translation d’une combinaison linéaire des
vecteurs de base, une infinité de plans réticulaires. Ils constituent donc une famille de plans
réticulaires. C’est la raison pour laquelle il sera choisi le représentant de cette famille qui se
trouve dans la maille élémentaire portée par les trois vecteurs de base des périodicités.
- indices de Miller : le plan réticulaire est défini par son vecteur directeur qui a les
coordonnées entières suivant les 3 directions de l’espace, h, k, l. Par commodité, on
appellera ce plan (h, k, l).
Les nombres entiers relatifs, h, k, et l sont appelés indice de Miller.
La figure 3 montre la position du plan appelé (2,3,1) qui est représenté en pratique dans la
⃗ , ⃗𝒃, 𝒄
maille élémentaire parallélépipédique définie par les vecteurs 𝒂 ⃗.
Figure 3 : exemple de représentation d’un plan réticulaire dans une maille élémentaire. Le plan
d’indice (2,3,1) est représenté dans la première maille élémentaire comme indiqué sur la figure.
Un plan du cristal est désigné par les indices (hkl). De ramener la famille de plans à la première
maille permet de simplifier énormément les représentations.
Les indices de miller
Figure 4. Indices de quelques plans importants d’un cristal cubique (les plans réticulaires).
Le réseau réciproque prend toute son utilité dans l’étude des phénomènes de propagation
électromagnétique dans le réseau cristallin ; en effet, l’analyse des réseaux depuis le début de
la cristallographie s’effectue essentiellement par analyse d’un faisceau de photons diffractés.
L’interaction photon-atome transforme le faisceau et aboutit à une transformée de Fourrier du
faisceau de photon incident. L’image du réseau n’est plus dans ce cas une image directe, mais
une image transformée. Cette nouvelle image du réseau, qui sera celle observée par les
cristallographes est appelée réseau réciproque. En d’autres termes, l’image d’un réseau
cristallin, donne aussi un réseau contenant des nœuds, mailles etc.. mais qui sera de type
différent de celui du réseau dit direct.
Par définition, le réseau réciproque est défini par ses vecteurs unitaires en utilisant la
notation de Dirac :
⃗ , ⃗𝒃, 𝒄
où v est le volume d’une maille définie par les axes 𝒂 ⃗ est : v=𝒂 ⃗ 𝒄
⃗ .(𝒃 ⃗)
Pour définir correctement un vecteur orthogonal à un plan réticulaire (hkl), il convient d'introduire
la base réciproque 𝒂*, ⃗𝒃*, 𝒄 ⃗ , ⃗𝒃, 𝒄
⃗ * associée à la base 𝒂 ⃗ du réseau. La base réciproque est définie
comme suit :
⃗ 𝒄
⃗ *= 2 𝒃
𝒂 ⃗ *= 2 𝒄
⃗ /v, 𝒃 ⃗ 𝒂 ⃗ /v
⃗ 𝒃
⃗ /v, c*= 2 𝒂
Figure 6. La première zone de Brillouin est définie de manière unique comme la maille
primitive dans l'espace réciproque
V. Diffraction dans un cristal
La périodicité spatiale des atomes du réseau cristallin va permettre après diffraction d’une
onde incidente, d’obtenir, dans une direction donnée, des ondes secondaires cohérentes entre
elles, et donc des phénomènes d’interférence. La différence de chemin optique est calculée
entre deux rayons diffractés par les atomes dans la même direction, comme présenté sur la
figure 7.
est l’angle entre le faisceau incident et le plan de cristal
2 d sin = n
Cette formule est appelée formule de Bragg. L’entier n est appelé ordre de la réflexion
correspondante.
Remarque : il faut que la longueur d’onde, λ, soit du même ordre de grandeur que la distance entre
les plans réticulaires, d. Il faut donc que λ soit de quelques Angström au maximum. Il sera possible
d’observer de la diffraction avec des rayons X ou avec des faisceaux d’électrons suffisamment
énergétiques. Rappelons que la longueur d’onde associée à un faisceau d’électrons est donnée par
la formule issue des relations de PlanckEinstein :
12.4
= 𝑒𝑛 𝐴𝑛𝑔𝑠𝑡𝑟ö𝑚
(𝑒𝑉)
Il sera donc possible d’obtenir de la diffraction avec des tensions d’accélération de quelques 100V
à quelques kV, ce qui est tout à fait contrôlable dans un microscope électronique à balayage.
Figure 8 : Structure cristalline du silicium, similaire à celle du diamant. Les atomes de silicium sont disposés au
sommet d’un tétraèdre régulier.