Modélisation du contrôle non destructif par

p
courants de Foucault :
approche basée sur la méthode des éléments finis

Yann Le Bihan

Laboratoire de Génie Electrique de Paris

Gif-sur-Yvette

CNRS UMR 8507 – Supelec – Université Pierre et Marie Curie – Université Paris-Sud 11

1
 Plan
• Contrôle non destructif (CND)
- définition et principe
- CND par courants de Foucault (CF)
- Apports de la modélisation

• Modélisation du CND CF
- Méthodes de modélisation
- Méthode des éléments finis
- Adaptation de maillage
- Milieux
Mili fins
fi
- Déplacement sonde/pièce

• Mise
Mi en œuvre
- Conception d’une sonde en « U »
- Caractérisation de milli-fissures

• Perspectives 2
 CND

Le Contrôle non destructif (CND)

 caractérisation de l'état d'une pièce ou d'un matériau sans porter
atteinte à son intégrité :
- détection et caractérisation de défauts Fissuration
(fissure, délaminage…)
- mesure de paramètres dimensionnels ou constitutifs
(épaisseur, état de contraintes…) Contrôle
dimensionnel
 Répond à des enjeux de sécurité, disponibilité, coûts…

 Différents domaines d’application : - transport

- énergie
-…

3
 CND

Principe du CND
 Génération par un émetteur d
d’un
un signal qui est perturbé par la pièce à
contrôler
 un récepteur permet de recueillir la réponse due à la pièce

Emetteur Récepteur

Excitation Réponse

Pièce contrôlée

Différentes techniques : ultrasons, radiographie, thermographie,

courants
t de
d Foucault,
F lt micro-ondes,
i d …
4
 CND

Principe du CND
 Génération par un émetteur d
d’un
un signal qui est perturbé par la pièce à
contrôler
 un récepteur permet de recueillir la réponse due à la pièce

Emetteur Récepteur

Excitation Réponse

Pièce contrôlée

Différentes techniques : ultrasons, radiographie, thermographie,

(milieux conducteurs) courants t de
d Foucault,
F lt micro-ondes,
i d …
5
 CND

Principe du CND
 Génération par un émetteur d
d’un
un signal qui est perturbé par la pièce à
contrôler
 un récepteur permet de recueillir la réponse due à la pièce

Emetteur Sonde Récepteur

Excitation Réponse

Pièce contrôlée

Différentes techniques : ultrasons, radiographie, thermographie,

(milieux conducteurs) courants t de
d Foucault,
F lt micro-ondes,
i d …
6
 CND

Techniques de CND
Domaines
Technique Avantages Inconvénients
d’application
Nombreuses
Majorité des
Ult
Ultrasons méthodes
éth d C
Couplant
l t
matériaux
d’auscultation
Courants de Matériaux Interprétation
automatisation
Foucault conducteurs des signaux

Matériaux Interprétation
Micro-ondes automatisation
diélectriques des signaux
Rayonnements
y Possibilité
ionisants Tous matériaux d’avoir une Coût, protection
(RX…) cartographie
Uniquement
U i t
Tous produits à
Ressuage simplicité défauts
surface accessible 7
débouchant
 CND

CND par courants de Foucault (CF)

Champ magnétique
Emetteur : bobine I1 d’excitation

(100 Hz < fréquence < 10 MHz) ~

Champ magnétique induit

Courants de
Pièce contrôlée (conducteur) Foucault

 alimentation par un courant variable

 champ magnétique d d’excitation
excitation variable
 courants induits (courants de Foucault) dans la pièce (loi de Faraday)
 champ magnétique induit
 champ magnétique résultant fonction des propriétés géométriques et
électromagnétiques (, ) de la pièce 8
 CND

CND par courants de Foucault (CF)

Champ magnétique
Emetteur : bobine I1 d’excitation

(100 Hz < fréquence < 10 MHz) ~

V2

Champ magnétique induit

Courants de
Pièce contrôlée (conducteur) Foucault

 Champ magnétique résultant fonction des propriétés géométriques

et électromagnétiques (, ) de la pièce
Récepteur : - autre bobine V2 ou Z21 = V2/I1

9
 CND

CND par courants de Foucault (CF)

Champ magnétique
Emetteur : bobine I1 d’excitation

(100 Hz < fréquence < 10 MHz) V ~

1

Champ magnétique induit

Courants de
Pièce contrôlée (conducteur) Foucault

 Champ magnétique résultant fonction des propriétés géométriques

et électromagnétiques (, ) de la pièce
Récepteur : - autre bobine V2 ou Z21 = V2/I1
- même bobine V1 ou Z = V1/I1

10
 CND

CND par courants de Foucault (CF)

Champ magnétique
Emetteur : bobine I1 d’excitation Capteur de champ

(100 Hz < fréquence < 10 MHz) ~

V2

Champ magnétique induit

Courants de
Pièce contrôlée (conducteur) Foucault

 Champ magnétique résultant fonction des propriétés géométriques

et électromagnétiques (, ) de la pièce
Récepteur : - autre bobine V2 ou Z21 = V2/I1
- même bobine V1 ou Z=V1/I1
- capteur magnétique (GMR, GMI,…) V2 ou V2/I1

11
 CND

CND par courants de Foucault (CF)

Champ magnétique
Emetteur : bobine I1 d’excitation Capteur de champ

(100 Hz < fréquence < 10 MHz) ~

V2

Champ magnétique induit

Courants de
Pièce contrôlée (conducteur) Foucault

 Champ magnétique résultant fonction des propriétés géométriques

et électromagnétiques (, ) de la pièce
Récepteur : - autre bobine V2 ou Z21 = V2/I1
- même bobine V1 ou Z=V1/I1
- capteur magnétique (GMR, GMI,…) V2 ou V2/I1

 Sondes à double fonction ou à fonctions séparées 12

 CND

Structure d’une procédure de CND

Sonde Signal CF Diagnostic Etat de la pièce

Défaut

Pièce

13
 CND

Structure d’une procédure de CND

Conception
p de sondes

Sonde Signal CF Diagnostic Etat de la pièce

Défaut

Pièce

14
 CND

Structure d’une procédure de CND

Conception
p de sondes Inversion

Sonde Signal CF Diagnostic Etat de la pièce

Défaut

Pièce

15
 CND

Structure d’une procédure de CND

Conception
p de sondes Inversion

Sonde Signal CF Diagnostic Etat de la pièce

Défaut

Pièce
• Visualisation
Vi li ti des d champs
h • Inversion
I i du
d modèle
dèl
• Sensibilité aux paramètres • Insertion dans un
recherchés processus itératif
• Réjection
éjec o de l’effet
e e des • Construction de bases
paramètres influents de données
Modélisation de l’interaction
sonde - ppièce contrôlée

16
 MODELISATION

Modélisation de l’interaction
sonde - pièce contrôlée
Méthodes :
• analytiques
y q

• semi-analytiques

- Méthode des intégrales de volume (MIV)

- Méthode des intégrales de frontière (MIF)

• numériques
- Méthode des éléments finis (MEF)
- Méthode des éléments de frontière (BEM)
- Méthode des volumes finis (MVF)
-…
17
 MODELISATION

Modélisation analytique
• Permet de traiter certaines configurations de base en CND :

- bobine à air sur une pièce plane Dodd & Deed

~ 1970
- bobine à air coaxiale avec un tube

- bobine
b bi à air
i inclinée
i li é sur une pièce
iè plane
l Theodoulidis
Th d lidi
~ 2000
- Petit défaut sphérique ou fin avec onde incidente plane ~ 1990

-…

• Complexité des configurations de CND par CF :

 solution analytique souvent impossible à obtenir

 méthodes d’approximation numérique
18
 MODELISATION

Modélisation semi-analytique
Méthodes intégrales : MIF,
MIF MIV
 Ne nécessitent pas un maillage de l’ensemble du domaine d’étude :
typiquement, seul le défaut est discrétisé,
typiquement discrétisé en volume (MIV) ou en surface
(MIF)

 Discrétisation simple (si défaut de géométrie simple)

 Coût de calcul réduit (peu d’inconnues)

 Limitations concernant les configurations de sondes et de pièces

(géométrie, matériaux) :
- pièces de géométrie canonique (plaque infinie, tube…)
- so
sondes
des sa
sanss ccircuit
cu t magnétique
ag ét que (ou ccircuit
cu t magnétique
ag ét que
axisymétrique)
19
 MODELISATION

Modélisation numérique
Méthode des éléments finis (MEF)
 Prise en compte des géométries complexes, lois de comportement NL
 Maillage de l’ensemble du domaine d’étude
 nombre d’inconnues important mais matrice symétrique et creuse
 remaillage pour chaque position de la sonde (scan)

Méthodes des éléments de frontière (BEM)

 Prise en compte des géométries complexes
 Maillage des interfaces entre milieux
 nombre d’inconnues limité mais matrice pleine
 Difficultés numériques (taille des éléments)…

20
 METHODE DES ELEMENTS FINIS

Formulations éléments finis

 Equations de Maxwell en magnétodynamique (courants de
déplacement négligés, pas de propagation d’ondes) :

b
rott e  - rott h  j di b  0
div
t
(Maxwell-Faraday) (Maxwell-Ampère) (Maxwell-flux)

e : champ
h él t i
électrique (V/ )
(V/m)
h : champ magnétique (A/m) c

b : induction magnétique (T)  
o
j : densité de courant (A/m2)
 j0
div j  0 j = j0 + ji
source induits

Lois de comportement
p : b = µh ji =  e
Perméabilité Conductivité
magnétique électrique 21
 METHODE DES ELEMENTS FINIS

Décomposition en potentiels
(domaine contractile)
Approche électrique Approche magnétique

En régime harmonique :

Pot. Vect. Mag.

g Prim Pot. Scal. Elect. Pot. Vect. Elect. Pot. Scal. Mag.
g
Formulation a- Formulation t-
22
 Formulations en potentiels combinés
 METHODE DES ELEMENTS FINIS

Approche électrique – formulation a-

Résolution : et

Formulation faible :

 ’ H1  a’  H(rot)
n1
 Discrétisation aux nœuds et aux arêtes (éléments de
Whitney) : a4
•  : discrétisé aux nœuds (continuité de gradt ) a1 a6 n4
• a : discrétisé aux arêtes (continuité de at et rotn a) a5
a3
n2
NB : solution a,  non unique a2
n3
23
 METHODE DES ELEMENTS FINIS

Approche magnétique – formulation t-

Résolution : et

Formulation faible :

 ’ H1  t’  H(rot)

n1
 Discrétisation aux nœuds et aux arêtes (éléments de
Whitney) : a4
•  : discrétisé aux nœuds (continuité de gradt ) a1 a6 n4
• t : discrétisé aux arêtes (continuité de tt et rotn t) a5
a3
n2
NB : solution t,  non unique a2
n3
24
 MODELISATION

Calcul du signal de la sonde

S d à double
Sondes d bl fonction
f i (bobine
(b bi emettrice
i et réceptrice)
é i )
 Impédance Pertes joules : Energie magnétique :
Z = R + jL
P J    j dv
2
1 1 2
Wm   b dv
conducteur 2 espace 
2
1
Wm  L I
2
PJ  R I eff
2 eff

Sondes à fonctions séparées (un emetteur et un récepteur)

 Trans-impédance tension induite :

Z21 = Vrécepteur / Iémetteur Vrécepteur = j  récepteur

recepteur   b.dS
spires

25
 MODELISATION

Problématique de la modélisation MEF du CND

• Lois de comportement : milieux généralement linéaires (faibles champs)

• Géométries complexes

• Prise en compte des milieux fins

• Déplacement
p de la sonde

• Automatisation des calculs

•… B bi plate
Bobine l t Déplacement
Dé l t
Fissure
Lift-off
Revêtements,
Revêtements
dépôts...
Pièce

26
 ADAPTATION DE MAILLAGE

Adaptation de maillage
Un maillage « éléments finis » implique souvent un investissement
humain important
« effet de peau »
Un bon maillage doit prendre en considération :
 z
J(z)  J o exp  
- La complexité géométrique du problème  d
0 z
- Les phénomènes physiques (épaisseur de peau, variation du champ au
voisinage d’une bobine ou d’un défaut, …)
tout en réalisant un compromis favorable entre la précision du résultat
et le coût de calcul

 Développement d’une procédure réalisant un maillage adaptatif par

raffinement de maillage
27
 ADAPTATION DE MAILLAGE

C
Complémentarités
lé i é des
d formulations
f l i
t  (h = t - grad )
Formulation magnétique t-
Vérifie au sens fort Vérifie au sens faible

rot e = j (M(M.A)
A) rot e = -tb (M
(M.F)
F)
div j = 0 (conserv. du courant) div b = 0 (conserv. du flux mag.)
 (nh) = 0  (ne) = 0
 (n.j) = 0  (n.b) = 0

Vérifie au sens faible Vérifie au sens fort

Formulation électrique a- (e = - t(a + grad) )

 Procédure de maillage adaptatif basée sur la complémentarité des

formulations magnétique et électrique
 Observation
Ob i de
d l’écart
l’é entre les
l 2 formulations
f l i pour déterminer
dé i l zones
les
à raffiner
28
 ADAPTATION DE MAILLAGE

P éd
Procédure de
d raffinement
ffi
Maillage initial

Résolutions du
problème ((E,, H))
p

O i
Oui Convergence N
Non
FIN
globale ?
Critère d’erreur locale
(par élément)

Détermination des
éléments à raffiner

Raffinement du
maillage 29
 ADAPTATION DE MAILLAGE

Critères d’erreur locale

Evaluation des écarts entre formulations :
Loi de comportement B = µH
B
B = µH
1er critère (Ligurien)

Formulation électrique 2nd critère

H
Formulation magnétique

C ≡   B.dH d (J)

Prise en compte des milieux magnétiques : pondération par µ

30
 ADAPTATION DE MAILLAGE

Mise en œuvre
Sonde CF
Bobine à air sur pièce plane :
Pièce

P t Joule
Pertes J l Power losses (J)
E
Energie
i magnétique
éti Magnetic energy (J)
90 0.06
MEF Ligurien MEF Ligurien
85
Solution analytique Solution analytique

que
80 0.055

Eneergie magnétiq
Pertes Joule

75
Formulation électrique Formulation magnétique
70 0.05
65 Solution moyenne Solution moyenne
60 0 045
0.045
55
50 0.04 Formulation électrique
Formulation magnétique
45
40
1 1.2 1.4 1.6 1.8
2 2.2 2.4 2.6 2.8 3 1 1.2 1.4 1.6 1.8
2 2.2 2.4 2.6 2.8 3
Numéro d’itération Numéro d’itération

 Intérêt de la solution moyenne

31
 DEFAUTS FINS

Prise en compte de défauts fins dans la MEF

Sonde CF
Fissure de faible ouverture
et non conductrice
z

Pièce

 forte densité de maillage à proximité de la fissure

 risque d’avoir des éléments déformés
 remplacement du défaut fin par une surface non conductrice

Plan de coupe
vertical
ouverture

Défaut volumique Défaut surfacique 32

 DEFAUTS FINS

Prise en compte de défauts fins dans la MEF

Fissure

jnormal = 0
Lignes de
[jt] = jt+ - jt- ≠ 0 jt -
jt + courant

Formulation magnétique t- :

 annulation des degrés de liberté de t pour les arêtes situées sur la fissure

Formulation électrique a-ψ :

 dédoublement des degrés de liberté ψ de part et d’autre de la fissure
pour les nœuds situés sur celle-ci

33
 DEFAUTS FINS

Cas test
Sonde CF Fissure

e
(déplacement)

Benchmark JSAEM n° 2-5 Benchmark TEAM workshop n° 15-1

e< e>

Partie imaginaire
Partie imaginaire

Partie réelle
Partie réelle

Expérimentation Formulation a- Formulation t-

34
 DEFAUTS FINS

Déf
Défaut fin
fi par combinaison
bi i MEF-MIF
MEF MIF
 Réduction du coût de calcul

Signal CF sans 
0  E in (r )  j 0 G nn (r, r )p( r )dS

défaut (Zi)
r Variation du signal
Paramètres de Champ CF due au défaut
la sonde MEF électrique MIF (Z)
incident

Paramètres de la pièce
(plaque, tube) Paramètres de la fissure

Sans défaut Avec défaut

Etude de la réponse de la sonde pour différentes localisations de la sonde ou

tailles de défaut  un seul calcul éléments finis nécessaire 35
 DEFAUTS FINS

Calcul de la réponse d’une sonde en « U »

Schéma de la configuration
g :
Sonde CF
Circuit magnétique en « U » Fissure (rectangulaire
(3 mm  1 mm  1 mm) et débouchante)
y

x
Bobines Pièce
t = 3 mm
( = 0.76 MS/m)

Validation expérimentale : entailles de 100 µm de large, de

longueur et profondeur variables

36
LGEP
 DEFAUTS FINS

C
Comparaison
i calcul/expérimentation
l l/ é i t ti
Balayage 1D selon l’axe de la fissure (f = 800 kHz)
800 µm (longueur)  400 µm (profondeur) 600 µm (longueur)  400 µm (profondeur)
Variation d’ impedance (()

Variation d’ impedance (()

– : Calcul
 : Mesures

Partie
a te
Imaginaire
Partie Réelle
V

V
Fissure
y (mm) y (mm)
800 µ )  200 µ
µm ((longueur)
g µm (p
(profondeur)) 600 µ )  200 µ
µm ((longueur)
g µm (p
(profondeur))
Variaation d’ impeedance ()

Variaation d’ impeedance ()

|Zi| = 1483 
37
y (mm) y (mm)
 DEFAUTS FINS

Balayage 2D
Entaille : 800 µm (longueur)  400 µm (profondeur)
Partie réelle Partie imaginaire
Expérimentation

Partie réelle Partie imaginaire

Calcul

38
 MILIEUX FINS

C fi
Configurations
i possibles
ibl ded milieux
ili fi
fins

Lift-off Couches matérielles fines

revêtement

Lift-off

substrat
Revêtements, dépôts, stratifications…

Bobines réalisées
par gravure

Différents types de lift-off

Bobine plate
39
 Méthode des éléments finis
DEPLACEMENT

Dé l
Déplacement sonde-pièce
d iè

Sonde
Déplacement

Pièce

 éviter de remailler à chaque position de la sonde sur la

pièce
 Non-conformité de maillage entre les domaines « sonde »
et « pièce »
NB : pas d’effet de vitesse
40
 Solution
MILIEUX FINS - DEPLACEMENT

Mé h d possibles
Méthodes ibl
• Méthode du pas bloqué

• Méthodes d’interpolation
Déplacement
• Méthode mortar

• Méthode des multiplicateurs de Lagrange

• Méthode des éléments coques Milieux fins

• Méthode overlapping Déplacement +milieux fins

41
 METHODE OVERLAPPING

Mé h d « overlapping
Méthode l i »

Principe en 2D

D0 M2
M2
M1 D0
M1

42
 METHODE OVERLAPPING

Mé h d « overlapping
Méthode l i »

Principe en 2D

D0 M2
M2
0 0
M1 D0
M1

43
 METHODE OVERLAPPING

Mé h d « overlapping
Méthode l i »

Principe en 2D

1
Fonction nodale

D0 M2
M2
0 0
M1 0 0 0 D0
M1
Nœuds virtuels
Nœuds réels

44
 METHODE OVERLAPPING

Mé h d « overlapping
Méthode l i »

Principe en 2D

D0 M2
M2
0 0 0
M1 0 0
D0
M1
Nœuds virtuels Fonction nodale
1
Nœuds réels

45
 METHODE OVERLAPPING

Mé h d « overlapping
Méthode l i »

Principe en 2D
Zone d’intégration

Fonction nodale

D0 M2
M2
M1 D0
M1
Nœuds virtuels Fonction nodale
Nœuds réels

46
 METHODE OVERLAPPING

O l
Overlapping
i en 3D

M2 S2
D0

M1 D0
S1

n4 e9 Division de chaque zone d’intégration

n6 en prismes (formule de quadrature de
T2
e8 Gauss)
e7
n5
P
Élément e5 e6
« overlapping
pp g » e4
e3
n1 n3
e2
e1
T1
n2
 Cas d'une formulation en potentiel scalaire  Cas d'une formulation en potentiel vecteur
o Pas d'inconnues ajoutées o Six des inconnues de la zone d'intégration
o Les six inconnues associées à la zone g T1 et T2
sont associées aux deux triangles
d'intégration sont celles des nœuds des o Trois nouvelles inconnues sont ajoutées (trois
deux triangles T1 et T2 arêtes verticales de Pi ) 47
 METHODE OVERLAPPING

Mili fi
Milieu fin multicouche
li h
Résistance ()
20
Air
Lift-off 18
CIVA
16 Formulation a-
Formulation t-
14
Oxide
12

10

Couche magnétique 8

6
Bobine
Zircon 4
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
Epaisseur de la couche magnétique (µm)
: overlapping Réactance ()
440

420
Rayon interne de la bobine 0.25 mm Épaisseur du zircon 0.6 mm 400
Rayon externe de la bobine 1.5 mm Conductivité du zircon 1.392 MS/m
380
Hauteur de la bobine 0.3 mm Épaisseur du lift-off 0.1 mm
360
CIVA
Fréquence 10 MHz Épaisseur de l’oxide
l oxide 0 1 mm
0.1 340 Formulation a-
Formulation t-
Nombre de spires 70 Perméabilité relative de la 10 320
couche magnétique
300

280
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
Epaisseur de la couche mgnétique (µm)

48
 METHODE OVERLAPPING

Déplacement
S
Scan d’
d’une pièce
iè
 R ()
2
experimental
Formulation t-
Air 1.5
Formulation a-
Lift-off

0.5

0
0 5 10 X (mm) 15 20
Bobine  L (mH)
2.5
Fissure Pièce
: overlapping 2
Rayon externe de la bobine 12.4 mm
1.5
Rayon interne de la bobine 6.15 mm
Hauteur de la bobine 6.15 mm
1
Nombre de spires 3790 experimental
Epaisseur de la plaque 12.22 mm Formutation t-
0.5
Conductivité de la plaque 30.6 106 Formulation a-
Largeur de la boite 92.25 mm
0
Longueur du défaut 12.6 mm 0 5 10 X (mm) 15
1 20
Profondeur du défaut 5 mm
Largeur du défaut 0.28 mm
49
Lift-off 0.88 mm
 CONCEPTION

Conception
C i d’une
d’ sonde
d pour lla mesure de
d
l’épaisseur de paroi d’aubes

Paroi externe
Cloisons
Turbine HP Aube HP

Turboréacteur Contrôle après fabrication : Vue en coupe

Solidité mécanique de l’aube vis-à-vis de la force

centrifuge et d’éventuels impacts
 Mesure par CF de l’épaisseur de la paroi externe
50
 CONCEPTION

Défi i i d’
Définition d’une sonde
d adaptée
d é
Influence perturbatrice des cloisons  sonde à champ orienté
Champ magnétique Champ magnétique Champ magnétique
d’excitation d’excitation d’excitation

Courants de Foucault Courants de Foucault Courants de Foucault

Cloison Cloison
a : Absence de b : Cloison parallèle au c : Cloison orthogonale au
cloisons champ magnétique champ
h magnétique
éti

 Sonde à circuit magnétique en « U » Dimensionnement : MEF

Circuit
Ci it 1

Mesures Simulations
magnétique 0.8

0.6

Bobines 0.4 Z
SR  e
0.2 Z
0
 0 0.5 1 1.5
Entrefer (mm)
2 2.5 3
51
Hex
 CONCEPTION

Si
Signaux CF
Signaux CF
Cale étalon f = 100kHz
(réactance normalisée)
Vue de dessus Vue de dessous
Mode // (parallèle) Mode  (orthogonal)
0.998 0 209mm
0.209mm 0.998

1,37mm 0.996 0.996

1,25mm 0.994
0.380mm
0.994
1,09mm
0 992
0.992 0 496
0.496mm 0 992
0.992
0,98mm
0.99 0.589mm 0.99
0,86mm
0.988 0.692mm 0.988
0,69mm
0,59mm 0.986 0.862mm 0.986

0,50mm 0.984 0.983mm 0.984

0,38mm 1.091mm
0.982 0.982
0 21
0,21mm 1 254mm
1.254mm
0.98 0.98
1.369mm

Epaisseurs nominales Distribution

des marches des cloisons
Distribution des cloisons Distribution des cloisons
52
 INVERSION

C
Caractérisation
é i i de d petites
i fissures
fi

Caractéristiques
Sonde CF Détection Modèle inverse de la fissure

Signal CF Base de données

(cartographie d’impédance) simulées
O til de
Outil d simulation
i l ti numérique
éi

Sonde CF
Fissure (entaille
N
Noyau éti
magnétique
rectangulaire)
( = 0,8 mm)

Validation expérimentale :
15 entailles distribuées selon :
Bobine - 5 longueurs : 800 µm, 600 µm, 400 µm, 200
µm, 100 µm
Pièce t = 3 mm
- 3 profondeurs : 400 µm, 200 µm, 100 µm
- Ouverture : 100 µm
53
 INVERSION

Mise en œuvre
Signal CF : comparaison modélisation/expérimentation
• Modélisation : hybridation (Fissure : 200 µm (longueur)  200 µm (profondeur))
MEF + MIF
– : Modélisation
• Expérimentation  : Expérimentation
Part. Imag.

Part. réel.

Surface estimée vs. surface réelle

0.35

mm²)
0.3
Mise en œuvre sur une pièce étalon

ce estimée (m
0 25
0.25

0.2

• Inversion : régression PLS 0.15

(moindre carrés partiels) 0.1

Surfac

0.05

0
0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 0.35 54
Surface de la fissure (mm²)
 Perspectives
• Sondes ((sondes multiéléments…))

Sonde multiélément
• Pièces, défauts complexes (géométrie, structure…)

Composites
Disque de turbine
• Déplacement de sonde, modification défaut sans remaillage
(Overlapping X-FEM,
(Overlapping, X FEM Mortar avec recouvrement…)
recouvrement )

• MEF stochastiques (incertitudes sur les paramètres)

• Lois de comportement couplées magnétique

magnétique-mécanique
mécanique (effet de
l’état de contraintes)
55
Merci de votre attention

56
Pourquoi une formulation en potentiels combinés ?
Graphe de convergence formulations en champs versus formulations en potentiels combinés

A
Approche
h él
électrique
t i A
Approche
h magnétique
éti
10 0 100

10-1 a* formulation 10-1 h formulation

a-v formulation t- formulation
10-2 10-2

10-3 10-3

10-4 10-4
residue

rresidue
10-5 10-5

10-6 10-6
10-7 10-7
10-8 10-8
10-99
10-9
0 50 100 150 200 250 300
0 50 100 150 200 250 300
number of iterations number of iterations

5757
 METHODE DES ELEMENTS FINIS

Diagramme de Tonti

Approche Approche
électrique  0 magnétique
grad div
j = e
e,, a j

rot rot
b = µh
b h, t

div grad
g
0 
Lois de comportement
58
 DEFAUTS FINS

Bord de pièce : approximation sur les champs

Champ E total Champ E incident Champ E de
perturbation

= +
Fissure

Bord de pièce

Signal sans
défaut (Zi)
Variation du signal
due au défaut
Paramètres de MEF Champ MIF (Z)
la sonde électrique
(avec bord) (sans bord)
incident

Paramètres de la pièce
Paramètres de la fissure

Sans défaut Avec défaut

59
 DEFAUTS FINS

C bi i
Combinaison MEF
MEF-MIF
MIF
II - Cas d’une pièce plane avec bord
Noyau magnétique

Sonde Fissure
contrat européen
Bobine B d
Bord VERDICT
(déplacement)
MEF-MIF
MEF (fissure fine)
Expérimentation
Défaut : (longueur: 0,4 mm, profondeur: 0,2 mm, ouverture: 0,1 mm )
Loin du bord
Orthogonal Crack, distance = 2 mm
à 0,5 mm du bord
Orthogonal Crack, distance = 0.5 mm
Sur le bord
Edge Crack, length = 0.4 mm, depth = 0.2 mm
0.5
0.3 1
0.4

0.2 0.3

0.1 0.2 0.5

0.1
0
X

X

X
0 0
-0.1
-0.1
-0.2
-0.2
-0.5
-0.3 -0.3

-0.4 -0.4
-1
-0.5
-0.1 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 1.2 0.5 1 1.5 2 2.5 3

R R R 60