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Livre Blanc Dossier Temoin Energie
Livre Blanc Dossier Temoin Energie
: BE8578 V2
Électricité photovoltaïque -
Date de publication :
10 janvier 2013 Principes
Par mail :
infos.clients@teching.com
Par téléphone :
00 33 (0)1 53 35 20 20 © Techniques de l'Ingénieur | tous droits réservés
Électricité photovoltaïque
Principes
par Abdelilah SLAOUI
Directeur de recherche
Laboratoire des Sciences de l’ingénieur, de l’informatique et de l’imagerie (ICUBE),
CNRS et Université de Strasbourg
Abréviations
CIS Chalcogénures
Cz Tirage Czochralski
HIT Hétérostructure
p-n Structure à jonction plane Le soleil a une température de surface estimée à 5 760 K.
RCC Cellule à contacts arrières Le flux énergétique, en provenance de cet astre, intercepté dans
l’angle solide représenté par la terre vaut :
Sc-Si Silicium monocristallin
E 0 = 1 350 W/m2
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O3
H2O
O2, H2O
Composante diffuse (légère brume)
H2O
H2O
H2O Composante diffuse (ciel clair)
H2O
H2O, CO2
H2O, CO2
H2O, CO2
2. Physique du composant
photovoltaïque
L’objectif de cette section est de présenter en termes simples
quelques éléments du modèle physique du schéma de bandes dans
les semi-conducteurs cristallins et de donner les formules de base
Module qui régissent la répartition des électrons à l’équilibre thermodyna-
photovoltaïque mique et les mécanismes de la conduction électrique. Pour plus de
détails sur cette partie, qui relève de la physique quantique des soli-
Albédo des, on se référera à l’ouvrage d’Alain Ricaud [1] Photopiles solai-
res, ainsi que l’ouvrage Physique de l’état solide de Kittel [2].
Figure 3 – Trois composantes du rayonnement solaire global
2.1 Électrons dans un potentiel
tout forme le rayonnement global G qui est le rayonnement pris en périodique, schéma de bandes
compte pour la détermination du rendement des cellules solaires.
Dans les régions nordiques, où le ciel est souvent couvert, le 2.1.1 Bandes d’énergie
rayonnement diffus peut représenter jusqu’à 80 % du rayon- Dans un cristal où les atomes sont liés à leurs proches voisins, il
nement global, de sorte que l’on peut poser directement les modu- faut faire appel à la solution de l’équation de Schrödinger,
les photovoltaïques au sol. Par contre, dans ce cas, on ne bénéficie proposée par Bloch en 1928, pour expliquer l’existence de bandes
plus de l’albédo (figure 3), c’est-à-dire de la fraction du rayon- d’énergies permises séparées par une bande d’énergie interdite.
nement réfléchi par un sol blanc (albedo en latin).
Pour ne pas rentrer dans des détails qui relèvent de la physique
Par convention, le rayonnement global G perçu au niveau du sol quantique des solides, il est suffisant de retenir qu’il existe une
est donné en fonction de l’épaisseur atmosphérique effectivement bande supérieure permise pour les électrons d’énergie E en
traversée (Air Mass x, AMx) par rapport à l’épaisseur normalisée à fonction du vecteur d’onde (k) de l’onde électromagnétique asso-
1 (x = 1) pour un soleil au zénith (Air Mass one, AM1). ciée au photon :
k = 2π /λ (3)
On a un soleil sous AM1,5 lorsque le soleil fait un angle α avec La bande permise pour les électrons d’énergie E est appelée
l’horizon, tel que l’épaisseur d’atmosphère effectivement traversée bande de conduction Ec avec des minimums d’énergie permise. La
est égale à une fois et demie l’épaisseur pour un soleil au zénith. bande inférieure est appelée bande de valence Ev (figure 4) avec
Énergie (ev)
Ge Si AsGa
3
Électrons de
conduction
2
∆E = 0,36 V
1
Trous Vallée
légers Eg Eg inférieure
Eg
Lourds
0
–1
–2
L Γ x L Γ x L Γ x
Figure 4 – Exemple de structures de bandes d’énergie de semi-conducteurs à gaps indirect (Ge et Si) et direct (AsGa)
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À partir de cette relation, on détermine la profondeur Figure 5 – Absorption optique des semi-conducteurs à gap direct
d’absorption (échelle reportée à droite de la figure 5) de chaque et indirect
longueur d’onde dans le matériau. Les radiations de courtes
longueurs d’onde dans l’ultraviolet sont absorbées très
rapidement, c’est-à-dire dans une zone proche de la surface du Pour les semi-conducteurs à énergie de bande de transition
semi-conducteur. Le rayonnement infrarouge est absorbé sur une directe [AsGa, CdTe, CuInSe2 ou silicium amorphe hydrogéné (a-Si :
épaisseur plus importante, d’autant plus si le matériau est à éner- H)], le front d’absorption en fonction de l’énergie des photons, ou de
gie de bande interdite indirecte, comme c’est le cas pour le sili- leur longueur d’onde, est très raide (figure 5). La transition de bande
cium cristallin (c-Si sur la figure 5). Cette dépendance de la de valence à bande de conduction est alors satisfaite sans faire
profondeur d’absorption à la longueur d’onde limite les perfor- intervenir une particule supplémentaire : le phonon, cette particule
mances des cellules (paragraphe 2.3.2). est associée aux modes vibratoires du réseau du cristal. Elle rend la
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probabilité d’absorption plus faible et le front d’absorption plus pro- 2.2.2 Semi-conducteur dopé
gressif, comme c’est le cas pour le silicium.
Exemple : il faut une épaisseur de silicium de 200 à 300 µm pour Un donneur est une impureté qui s’est substituée à l’un des
absorber le rayonnement solaire alors que quelques micromètres de atomes du réseau, c’est-à-dire un élément atomique, dont le
matière suffisent pour absorber le rayonnement pour les matériaux nombre d’électrons de valence est supérieur à celui de l’atome
dits à énergie de bande interdite directe. du réseau qu’il remplace.
2.1.3 Caractère énergétique du photon associé ■ Pour le silicium, ces éléments sont du groupe V du tableau
périodique (P, AS, Sb). Sur les cinq électrons de valence d’un
Après cette analyse du caractère optique du rayonnement, pas- atome de phosphore incorporé au réseau de silicium, quatre
sons au caractère énergétique du photon associé. Selon la loi de la servent à établir les liaisons chimiques covalentes et le cinquième
mécanique quantique d’équivalence, l’énergie minimale nécessaire se libère, sous l’effet de la température, dans la bande de
au photon pour franchir la bande d’énergie interdite est égale à conduction. L’atome donneur est alors ionisé positivement
l’énergie de propagation électromagnétique de l’onde associée : (figure 6b).
Sachant qu’à température ambiante toutes les impuretés sont
E = mc 2 = hc /λ (5) déjà ionisées et que Nd est le nombre d’atomes donneurs, le
nombre d’électrons n dans la bande de conduction est presque
égal à Nd+ . Comme ces électrons sont beaucoup plus nombreux
avec E énergie de la particule. que les électrons libérés par la température, le niveau de Fermi se
Le produit hc, où h est la constante de Planck et c la vitesse de la déplace vers la bande de conduction.
lumière, est une constante égale à 1,24 lorsque la longueur d’onde Pour le silicium, où le nombre d’atomes est de 5 × 1022 cm3, une
λ est exprimée en micromètre et l’énergie E en électron-volt concentration d’impuretés introduite d’une part par million (ppm)
(échelle reportée en haut de la figure 5). représente une concentration d’électrons dans la bande de
conduction de 5 × 1016 cm–3. Cette dernière est trois millions de
fois plus importante que celle des porteurs intrinsèques. On dit
Exemple : pour le silicium, où l’énergie de bande interdite Eg est alors que le matériau est dopé de type n, ou plus simplement qu’il
égale à 1,12 eV, l’énergie minimale à apporter pour franchir la bande est de type n (figure 6b).
interdite est de 1,12 eV (figure 4), et toutes les longueurs d’ondes λ
inférieures à 1,12 µm sont absorbées (figure 5). La partie du rayon- ■ Un semi-conducteur de type p du groupe IV est dopé par une
nement solaire située dans l’infrarouge de longueurs d’ondes λ supé- impureté qui s’est substituée à l’un des atomes du réseau cristallin
rieures à 1,1 µm n’est pas absorbée et traverse la matière sans mais cette fois-ci, l’impureté est du groupe III (B, Al, Ga), et elle
interaction (voir le paragraphe 2.3 sur les pertes). comporte trois électrons de valence (un de moins que l’atome qu’il
remplace). Les liaisons manquantes (on parle de défauts d’élec-
trons de valence) sont décrites comme des trous positifs p, dont la
2.2 Semi-conducteurs intrinsèques concentration est égale à celle des accepteurs Na , en négligeant
les trous libérés par la température. L’impureté s’ionise négati-
et dopés vement. Le niveau de Fermi se déplace alors vers la bande de
valence (figure 6c).
Sous l’influence de la température, quelques électrons de la
bande de valence peuvent acquérir suffisamment d’énergie pour
franchir la bande d’énergie interdite et passer dans la bande de 2.2.3 Jonction de deux semi-conducteurs dopés
conduction.
Si maintenant on réunit deux semi-conducteurs de même bande
interdite (figure 7a), l’un dopé n (avec une concentration de phos-
2.2.1 Semi-conducteur intrinsèque phore Nd de 2 × 1015 cm–3), l’autre dopé p (avec une concentration
de bore Na de 1015 cm–3), il se forme à la jonction entre ces deux
matériaux une zone de transition. Afin de conserver l’équilibre des
Pour un semi-conducteur intrinsèque, la probabilité de trouver charges, on a : – qNa = qNd (figure 7b), et on appelle cette région
un trou au-dessous du niveau d’équilibre des charges, appelé zone de charge d’espace ou zone de déplétion.
niveau de Fermi (EF), est la même que celle de trouver un électron
au-dessus du niveau de Fermi. Le niveau de Fermi de la région dopée n est d’autant plus
proche de la bande de conduction que le niveau de dopage au
Pour une température donnée T, les concentrations d’électrons phosphore est élevé. De même, le niveau de Fermi de la région
dans la bande de conduction [nc (T)] et de trous [pv (T)] dans la dopée p est proche de la bande de valence. La différence d’énergie
bande de valence sont égales nc (T) = pv (T), et le niveau de Fermi entre leurs niveaux de Fermi est égale à la différence entre leurs
est situé au milieu de la bande interdite (figure 6a). potentiels chimiques. Comme ces potentiels doivent s’égaliser, il
apparaît une différence d’énergie qVb à la jonction entre les
La concentration intrinsèque des porteurs de charge (ni) est don- bandes de conduction et de valence respectives des deux
née en faisant : semi-conducteurs dopés n et p. Le niveau de Fermi résultant de la
réunion des deux matériaux est unique tout en restant proche de
ni2 = nc pv = N c N v exp (− E g /kT ) la bande de conduction dans la zone dopée n et proche de la
bande de valence dans la zone dopée p (figure 7c). Cette barrière
avec Nc et Nv densités effectives d’états qui désignent, respecti- de potentiel (figure 7d) s’oppose au courant de majoritaires,
vement, un nombre de places disponibles en bas ou en haut des c’est-à-dire aux électrons, pour les semi-conducteurs dopés n, ou
bandes de conduction et de valence. aux trous, ceux dopés p, qui tendent à diffuser vers la région où ils
sont peu nombreux. Le champ électrique qui règne dans la zone
de transition est représenté figure 7e, et les concentrations en
, × 1010 cm−3 pour le silicium
ni = 16 trous et en électrons sont données sur la figure 7f.
[ ]
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En réalité, dans une cellule photovoltaïque au silicium, la jonc- leur passage dans la région opposée à leur région d’origine. Ils don-
tion est très dissymétrique : le côté p, appelé base, est épais pour nent naissance à deux courants inverses de minoritaires qui s’addi-
absorber une grande partie du rayonnement solaire (typiquement tionnent pour s’opposer au courant de diffusion des majoritaires.
de l’ordre de 200 à 300 µm) et peu dopé en atomes de bore lors de
sa fabrication (typiquement à une concentration de 5 × 1015 à
1 × 1016 cm–3). Le côté n, appelé émetteur, est exposé à la lumière 2.3 Effet photovoltaïque
et est dopé par une diffusion d’atomes de phosphore sur une très
faible épaisseur (typiquement de l’ordre de 0,3 µm) à une forte
concentration, proche de la solubilité limite de l’élément dans le 2.3.1 Génération d’une paire électron-trou
silicium (de 1 à 2 × 1020 cm–3). Ainsi la barrière de potentiel maxi-
male est de : vB = 0,9 V. Chaque photon incident de la lumière du soleil, ou de tout autre
Les porteurs minoritaires (trous de la région n et électrons de la corps lumineux, crée dans le réseau cristallin du semi-conducteur
région p) vont migrer sous l’action du champ interne qui favorise une paire électron-trou (figure 8), si son énergie est suffisante pour
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qN
Répartition
b charges d’espace réelle
Vb ⬇ 0,7 V
E (V/m)
× ×
provoquer la montée d’électrons supplémentaires aux électrons Dimensions typiques d’une cellule photovoltaïque :
d’origine thermique de la bande de valence vers la bande de
conduction. – la zone dopée, n0 , appelée émetteur (E), présente une
concentration en atomes de phosphore de 1 à 2 × 1020 cm–3, son
épaisseur est u = 0,3 µm ;
2.3.2 Courant généré dans une cellule à jonction n-p – la zone de transition (de charge d’espace ou de déplétion), w, de
l’ordre de 0,3 µm, et s’étend presque totalement dans la zone moins
La figure 9 représente la jonction n-p d’une cellule solaire p + n, dopée p0 ;
dont la hauteur de barrière, qVB , est au mieux égale à 0,9 eV (q – la zone dopée P0 , appelée base (B), a une faible concentration
désigne la charge de l’électron). Un courant y circule, dont d’atomes de bore, de 5 × 1015 à 1 × 1016 cm–3 ; son épaisseur e est
l’intensité (i) dépend des valeurs caractéristiques relatives à de l’ordre de 200 à 300 µm, afin d’absorber la partie proche infrarouge
l’émetteur, à la zone de déplétion et à la base. du rayonnement solaire.
EG silicium (T = 300 K)
n0
Eg Le facteur de forme de la courbe de la diode (défini au
paragraphe 3.1) est aussi un facteur important de pertes, ainsi que
Lumière
Ev les recombinaisons des porteurs en surface ou en volume de la
cellule (la diode n’est pas une diode parfaite) avec une résistance
qVB
série et shunt des contacts. La grille métallique de collecte des
charges sur la face frontale couvre 5 à 7 % de la surface totale.
■ Le silicium réfléchit 30 % de la lumière, les pertes optiques
–u–w –w e x peuvent être réduites par le dépôt d’une couche antireflet. Au début
de l’industrialisation, le dépôt était à base de TiO2 . Maintenant, un
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Figure 9 – Schéma de bande de la jonction n-p d’une cellule solaire dépôt de nitrure de silicium hydrogéné SiN (H) est préféré pour ses
bonnes propriétés antireflet (avec un taux résiduel de réflexion de 3
à 4 %) et surtout pour sa passivation de surface et de volume.
Le courant résulte des taux nets de génération [g (x, Φph)] et de
recombinaison [r (x, Φph)] de photoporteurs, et est donné par : D’autres procédés permettent d’améliorer le rendement :
– la structuration de la surface en pyramides inversées ou
i = g (x , Φph ) − r (x , Φph ) (6) en nid-d’abeilles augmente le piégeage de la lumière ;
– le dépôt de couches de passivation sur les surfaces et
l’introduction d’un sur-dopage n+ sous les doigts de la grille
i = iph − id (7)
de collecte réduisent les pertes par résistance série des
contacts ;
avec Φph flux de photons incidents, – l’application d’un champ électrique p+ sur la face arrière
iph courant photogénéré à une profondeur x, diminue la recombinaison des porteurs générés trop près de
id pertes de courant dans la diode à jonction n-p. cette face.
Ces opérations technologiques coûteuses permettent
d’obtenir en laboratoire un rendement élevé, avec un record
2.3.3 Pertes de paires électron-trou
de 24,7 % proche du rendement théorique [3]. Le coût reste
■ Les plus importantes pertes non compressibles sont les pertes toutefois un facteur déterminant pour les cellules industrielles,
radiatives dues aux photons trop énergétiques (ultraviolet UV) ou dont les rendements se situent au moins à 8 points de
pas assez énergétiques (infrarouge : IR) pour générer une paire rendement au-dessous de la valeur record.
d’électron-trou :
– les photons IR, qui ne sont pas absorbés par la cellule,
traversent tout le matériau (zone A de la figure 10). La perte en
énergie due aux photons IR représente 18 % de l’énergie
3. Caractéristiques
incidente ;
– les photons UV ne génèrent qu’une seule paire d’électron-trou.
et réponse spectrale
L’excédent d’énergie est transféré au réseau sous forme de chaleur
et contribue à élever la température de la cellule en fonction- 3.1 Paramètres caractéristiques
nement (zone B de la figure 10). La perte en énergie due aux pho- et rendement de conversion
tons UV représente 28 % de l’énergie incidente.
d’une cellule
Il reste donc en théorie un rendement de conversion potentiel de
54 %. Malheureusement, il existe d’autres pertes qui sont d’origine Comme nous l’avons décrit précédemment, le courant est donné
électrique et optique. par la relation (7) :
■ Parmi les plus importantes pertes d’origine électrique, on cite la i = iph − id
perte en tension. En effet, si la hauteur de barrière maximale est
de l’ordre de 0,9 V pour le silicium, les meilleures tensions en cir- où id le courant d’obscurité circulant dans la jonction est égal à :
cuit-ouvert (Voc) sont de 600 mV et au maximum de 700 mV pour
les cellules à très haut rendement. i d = i 0 [exp (qV /kT ) − 1] (8)
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La densité de courant de court-circuit icc , déterminée pour V = 0, 3.2 Rendement quantique d’une cellule
est directement proportionnelle à l’éclairement iph :
Le courant photogénéré [iph (λ)] sur toute l’épaisseur e d’une
i cc = iph (9) base d’une cellule est la somme de trois contributions :
– la première, relative à l’absorption des photons, est en
On en déduit la tension en circuit-ouvert Vco par annulation du exp (– αx) ;
courant : – la deuxième dépend de la création de paires électron-trou que
l’on peut considérer comme égal à 1 ;
Vco = kT ln (iph /i 0 + 1)/q (10) – la troisième, en rapport avec la collecte des électrons, dépend
de la longueur de diffusion des porteurs LD dans la zone où ils
sont minoritaires.
La puissance débitée par la cellule est : P = IV, et au point de
fonctionnement maximal m : La longueur de diffusion des porteurs minoritaires LD
(c’est-à-dire des électrons Ln de la base ou des trous Lp de l’émet-
teur) est déterminée par la qualité du matériau et par son niveau
Pm = ImVm (11) de dopage :
LD = (Dτ )1/ 2 = [(kT /q ) µτ ]1/ 2 (14)
Le facteur de remplissage (ou de forme) FF est défini par le
rapport : avec D = (kT/q) µ coefficient de diffusion des électrons ou des
trous,
FF = ImVm / (i cc /Vco) (12)
µ (m2 ·V–1 · s–1) mobilité des électrons et des trous,
Le rendement de conversion énergétique ηC de la cellule est le τ (s) durée de vie des électrons et des trous (τn ou τp).
plus souvent donné sous la forme suivante, en fonction des gran-
deurs mesurables : Exemple : pour le silicium, µn = 1 500 cm2/V · s et µp = 600 cm2/V · s.
η C = FFi ccVco /Pincid (13) Le rendement quantique d’une cellule [ηQ (λ)] est donné par le
rapport du courant photogénéré iph sur le flux de photons
avec Pincid puissance incidente. incidents Φph . Il est la somme des rendements quantiques des
trois zones relatives à l’émetteur (E), à la zone de charge d’espace
Par convention, le rendement de conversion d’une cellule est (ou zone déplétion) (w) et à la base (B) :
toujours mesuré pour une puissance incidente de 100 mW/cm2 et η Q (λ ) = η Q (λ )E + η Q (λ )w + η Q (λ )B (15)
un spectre solaire correspondant à un soleil sous AM1,5.
Afin de simplifier la résolution du système d’équations différen-
Exemple : la cellule représentée sur le graphique de la figure 11 a tielles, on considère généralement que :
une densité de courant Icc égale à 33 mA/cm2, une tension Vco de – le photocourant est essentiellement composé dans l’émetteur
0,56 V et un facteur de remplissage FF égal à 0,81. Elle a un d’un courant de trous minoritaires et dans la base d’un courant
rendement de conversion ηC de 15 %. d’électrons minoritaires ;
– dans la zone de charge d’espace, compte tenu du champ
intense qui y règne, toutes les paires y sont immédiatement sépa-
rées et collectées.
On peut ainsi exprimer le rendement quantique de la cellule
(appelé également réponse spectrale) en fonction du coefficient
d’absorption α, de l’épaisseur e et de la longueur de diffusion des
porteurs minoritaires LD . L’expression simplifiée du rendement
quantique de la cellule pour la base [ηQ (λ)B] s’exprime par (pour
l’émetteur, on remplace Ln par Lp) :
iph αLn 1
ηQ (λ)B = = 1− exp − αe 1+ (16)
qΦ0 αLn + 1 α Ln
complémentaires :
– l’émetteur exploite les photons les plus énergétiques qui ne
pénètrent que très peu dans le matériau ;
P – la zone de déplétion est sensible aux radiations intermédiaires
du visible (avec un maximum dans le jaune) ;
I
Zone de déplétion
– la profondeur de jonction ;
– la longueur de diffusion ;
– les vitesses de recombinaison des trous et des électrons res-
pectivement sur la face avant (Sp) et arrière (Sn). Il est à noter que
la recombinaison en surface est d’autant plus importante que le
dopage est élevé.
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Exemple
Les valeurs typiques pour un émetteur n+ dopé avec des atomes
Figure 14 – Courant débité et tension aux bornes d’une cellule
de phosphore à Nd = 5 × 1019 cm–3 sont :
Dp = 1 cm2/s,
Lp = 1 µm, τp = s, Sp = 10–8
cm/s ; 103
Les valeurs typiques pour une base p dopée avec des atomes de 4.1.2 Performances réelles d’une cellule solaire
bore à Na = 1,5 × 1016 cm–3 sont :
Les performances réelles d’une cellule solaire de 10 cm de côté
Dn = 20 cm2/s, Ln = 140 µm, τn = 10–5 s, Sn = 102 cm/s. (c’est-à-dire de 100 cm2), à une température maintenue à 25 oC,
sont données sur la figure 14.
Le courant de court-circuit est proportionnel à l’éclairement
4. Convertisseur (I = Iph). Le courant débité dans le circuit extérieur est de 3,2 A
pour une intensité du rayonnement solaire de 1 000 W/m2 et de
photovoltaïque l’ordre de 300 mA pour une intensité du rayonnement de
100 W/m2.
Pour une journée sans soleil direct avec un rayonnement diffus
4.1 La cellule, un élément générateur de l’ordre de 100 W/m2, la tension chute de 580 mV à une valeur
de courant de l’ordre de 520 mV. Dans ce cas, le courant Id perdu dans la
diode n’est plus négligeable.
Il est souvent très utile pour les utilisateurs et installateurs de
systèmes photovoltaïques de considérer la cellule en tant qu’un
élément générateur de courant. 4.2 Module photovoltaïque
4.1.1 Schéma équivalent d’une cellule solaire Les cellules individuelles sont assemblées en montage en série
(les tensions s’additionnent, figure 15a) ou en parallèle (les cou-
Le schéma équivalent d’une cellule solaire (figure 13) comprend rants s’additionnent, figure 15b). On réalise ainsi des modules
le générateur d’énergie, dont le courant Iph est proportionnel à photovoltaïques.
l’éclairement. Le courant I, défini par la relation (7), circule dans le Les cellules sont triées par le fabriquant afin qu’elles aient à peu
circuit extérieur (c’est-à-dire dans la charge et dans la résistance près toutes les mêmes caractéristiques et pour éviter que la plus
série Rs). Il est égal à la différence entre le courant Iph et le courant mauvaise cellule, c’est-à-dire celle de résistance série la plus
perdu dans la diode Id qui circule dans la résistance de shunt Rsh . élevée, ne détermine les performances de l’ensemble.
Les valeurs de Rs résistance série et Rsh de shunt doivent être Un module relativement courant est représenté sur la figure 16.
très faibles pour la première et élevées pour la seconde. Les Ce module de 230 W [4] se compose de 54 cellules de
valeurs typiques sont : 156 mm × 156 mm et de 300 µm d’épaisseur, montées en six ran-
gées de neuf cellules. Deux rangées de neuf sont en série ; ainsi,
R s = 0,5 à 2 Ω ⋅ cm2 on peut choisir une tension maximale de l’ordre de 9 V (montage
parallèle des deux séries de 18 cellules) ou de 18 V (toutes les
R sh = 2 × 103 à 2 × 104 Ω ⋅ cm2 séries sont en série).
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Partie transparente
(vitrage)
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Lentille
primaire
Cellule
Figure 20 – Rayonnement solaire reçu en France sur un plan
d’inclinaison égal à la latitude et orienté vers le sud
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P
O
U
Électricité photovoltaïque R
Principes E
par Abdelilah SLAOUI
N
Directeur de recherche
Laboratoire des Sciences de l’ingénieur, de l’informatique et de l’imagerie (ICUBE),
CNRS et Université de Strasbourg
S
A
Sources bibliographiques
V
[1] RICAUD (A.). – Photopiles solaires « De la [2] KITTEL (C.). – Physique de l’état solide. and other recent improvements in silicon so-
O
physique de la conversion photovoltaïque Dunod Université, Paris (1994). lar cell and module performance. Proc. 12th
aux filières, matériaux et procédés ». Presses
Polytechniques et Universitaires Romandes,
[3] GREEN (M.A.), WANG (A.), ZHENG (G.F.),
ZHANG (Z.), WENHAM (S.R.), ZHAO (J.), SHI [4]
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YASUI (R.K.) et SCHMIDT (L.W.). – Proc. 8th
I
Lausanne (1997). (Z.) et HONSBERG (C.B.). – 23,5 % efficiency IEEE PV specialists Conf., p. 110 (1970).
R
À lire également dans nos bases
SLAOUI (A). – Électricité photovoltaïque – Maté-
riaux et filières technologiques. [BE 8 578]
(2013).
P
Sites Internet L
(portails, pages personnelles, forums, listes de discussion) U
Événements S
European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition International School on Materials for Renewable Energy ; Erice (Sicile) du
(EU PVSEC) tous les ans en septembre ; 27e édition à Francfort (DE) du 24 au 18 au 28 juillet 2012 ; prochaine édition aura lieu à Erice (Sicile) du 20 au 27
28 septembre 2012. juillet 2014.
IEEE Photovoltaics Specialist Conference (IEEE PVS) tous les ans en juin Journées Nationales sur le Photovoltaïque (JNPV), Dourdan (FR) du 12-14
aux États-Unis d’Amérique ; 38e édition à Austin (Texas) du 3 au 8 juin 2012. décembre 2012.
European Materials Research Society (EMRS) Conference tous les ans
sessions spéciales sur les matériaux et composants photovoltaïques ;
prochaine conférence aura à Strasbourg (FR) du 27 au 31 mai 2013.
Annuaire
Organismes – Fédérations – Associations (liste non exhaustive) Formations en projets photovoltaïques par CYTHELIA
http://www.cythelia.fr/photovoltaique.php
Syndicat des Énergies Renouvelables Formation en Énergie Solaire par TECSOL
http://www.enr.fr/ http://www.tecsol.fr/formation/
Fédération de l’énergie solaire (FEDESOL) Laboratoires – Bureaux d'études – Écoles – Centres
http://www.fedesol-cnrs.fr/uploads/PDF/FLYER-FEDESOL.pdf de recherche (liste non exhaustive)
European Photovoltaic Energy Plateforme Institut de l’Énergie Solaire, INES, Chambéry (FR)
http://www.eupvplatform.org/ http://www.ines-solaire.org/
Institut du photovoltaïque d’Île-de-France (IPVIF)
Documentation – Formation – Séminaires (liste non http://www.enscp.fr/spip.php?article509
exhaustive)
Institut d’Électronique du Solide et des Systèmes, InESS
Livre Blanc des Énergies Renouvelables 2012 ; Syndicat des Énergies Renou- http://www-iness.c-strasbourg.fr/
velables National Renewable Energy Laboratory, Golden (USA)
http://www.enr.fr/docs/2012115824_LivreBlancComplet.pdf http://www.nrel.gov/pv
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