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Structure de l'atome
Structure de l'état solide
Bandes d'énergies
Semi-conducteur intrinsèque
Cristal
électrons
Bande
libre dans le solide
de conduction
Niveau de fermi (Ef) EG Bande interdite
Bande
de valence électrons
lié aux atome
Cristal
• Un électron dont l’énergie est située dans une bande en dessous de la bande de
valence est lié à un atome donné du solide.
• Dans la bande de valence, l’électron est commun à plusieurs atomes.
• L’électron dont l’énergie est comprise dans la bande de conduction circule librement
dans le solide.
• Le gap EG représente la quantité d’énergie minimale nécessaire pour faire grimper un
électron de la bande de valence à la bande de conduction.
• Ef le niveau dit de Fermi, qui est le niveau énergétique le plus élevé qu’un électron
puisse occuper à 0K.
Bande de
conduction
Bande de Bande de
conduction conduction
Bande interdite
Ef Bande interdite
Bande interdite
Bande de Bande de
Bande de valence valence
valence
Les semiconducteurs ont une conductivité intermédiaire entre les conducteurs et les isolants.
Ils sont isolants à T=0K.
Exemple de valeurs de gap
Semiconducteurs
Lors de la formation du cristal un atome de silicium va gagner 4 électrons en formant des liaisons
covalentes qui correspondent à la mise en commun de ses électrons avec les atomes voisins. Ainsi un atome
de silicium qui s'associe avec quatre autres atomes de silicium verra huit électrons sur sa dernière couche.
apparition des porteurs de charge « thermiques »
paires « électrons-trous »
Liaison covalente
T = 0°K
Génération thermique de paires « électron-trou » - Recombinaison
trous
Génération thermique de paires « électron-trou » - Recombinaison
T > 0°K
Génération thermique de paires « électron-trou » - Recombinaison
T > 0°K
Génération thermique de paires « électron-trou » - Recombinaison
T > 0°K
Génération thermique de paires « électron-trou » - Recombinaison
T > 0°K
Génération thermique de paires « électron-trou » - Recombinaison
T > 0°K
Génération thermique de paires « électron-trou » - Recombinaison
T > 0°K
recombinaison
Concentration des porteurs de charge dans le silicium intrinsèque
n = électrons/cm3
Ec Bande de conduction
Ev Bande de valence
p = trous /cm3
• Pour T> 0 K, des électrons peuvent devenir libre c'est à dire passer de la bande de
valence à la bande de conduction, où leur concentration est notée n.
• Ces électrons laissent des trous dans la bande de valence (avec une concentration notée
p) eux aussi libres de se déplacer.
• Un équilibre s’établit entre les phénomènes d’ionisation thermique et de recombinaison ;
les électrons libres et les ions de silicium apparaissant en quantités égales.
• La concentration en électrons libres n et en trous libres p sont égales à n i la
concentration intrinsèque.
Loi de masse : n.p = ni2
− ( Ec− EFi) − EG
( )
kT 3/2 2KT
n= Nc e n= p= ni= AT e
− (EFi− Ev)
kT
p= Nv e
Il y a environ 2 paires électron-trou pour 10 milliards d’atome à
température ordinaire (20°C)
Il y a environ dix mille milliards de milliards d’atome (10 22) dans un
gramme de silicium, donc deux mille milliards (2x10 12) d’électrons
libres par gramme de silicium
Semi conducteur dopé « N »
Semi conducteur dopé « N »
• Introduction d’atomes trivalents, environ 1 pour 10 millions
d’atome de silicium
• Arsenic, antimoine, Phosphine …
Silicium dopé « N »
Silicium dopé « N »
+
Silicium dopé « N »
+
Silicium dopé « N »
+
Silicium dopé « N »
+
Silicium dopé « N »
+
Silicium dopé « N »
+
Concentration des porteurs de charge dans le silicium dopé « N »
Bande de conduction n = Nd + ni ≈ Nd
Ec
EFn
ΔEn= EFn - EFi n = Nd: Concentration des donneurs
EFi
EG
Ev
Bande de valence p = ni2/Nd
• Les électrons sont les porteurs majoritaires et les trous les porteurs minoritaires.
• La population des électrons libres de la bande de conduction est beaucoup plus
importante que elle des trous libres dans bande de valence.
• Le niveau de Fermi EFn se déplace donc du milieu de la bande interdite (EFi) vers la bande
de conduction.
-
Silicium dopé « P »
-
Silicium dopé « P »
-
Silicium dopé « P »
-
Silicium dopé « P »
-
Silicium dopé « P »
-
Silicium dopé « P »
-
Silicium dopé « P »
-
Concentration des porteurs de charge dans le silicium dopé « P »
Na
EFi− EFp= kT ln ( )
ni